一种ESD校验装置制造方法及图纸

技术编号:20051454 阅读:44 留言:0更新日期:2019-01-09 06:38
本实用新型专利技术公开了一种ESD校验装置,包括外框架,外框架内中部水平安装有隔离板,外框架内底部和隔离板顶部均安装有防静电橡胶垫,外框架内底部中央设有校验台,校验台顶部两侧均铰接有固定杆,固定杆顶端铰接有固定块,校验台沿外框架底部于校验台两侧分别安装有万用表、支撑架和接地电阻测试仪,支撑架顶部设有静电枪,隔离板顶部分别安装有示波器、表面电阻测试仪和半导体特性测试仪,表面电阻测试仪顶部安装有表面电压测试仪,半导体特性测试仪顶部安装有LCR阻抗测试仪,外框架内腔安装有导线固定管,本实用新型专利技术结构简单,操作方便,提高了工作效率,降低了校验人员的工作强度,使得校验人员工作更轻松。

【技术实现步骤摘要】
一种ESD校验装置
本技术涉及ESD校验
,尤其涉及一种ESD校验装置。
技术介绍
ESD(Electro-Staticdischarge)即静电放电,是指具有不同静电电位的物体互相靠近或直接接触引起的电荷转移。ESD是20世纪中期以来形成的以研究静电的产生、危害及静电防护等的学科。因此,国际上习惯将用于静电防护的器材统称为ESD。ESD是一种常见的近场危害源,可形成高电压,强电场,瞬时大电流,并伴有强电磁辐射,形成静电放电电磁脉冲。现有的ESD校验装置一般是将校验器具同一放置于防静电桌上,校验器具放置在防静电桌上会占用大量的空间,而且导线放置的也会十分的凌乱,致使在使用时还需要寻找导线接头,降低了工作效率,在校验时一般还需要用手将校验件固定,十分不便。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的校验器具放置在防静电桌上会占用大量的空间,而且导线放置的也会十分的凌乱,致使在使用时还需要寻找导线接头,降低了工作效率,在校验时一般还需要用手将校验件固定,十分不便的问题,而提出的一种ESD校验装置。为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:一种ESD校验装置,包括外框架,所述外框架内中部水平安装有隔离板,所述外框架内底部和所述隔离板顶部均安装有防静电橡胶垫,所述外框架内底部中央设有校验台,所述校验台顶部两侧均铰接有固定杆,所述固定杆顶端铰接有固定块,所述校验台沿所述外框架底部一侧设有万用表,所述校验台另一侧于所述外框架底部固定连接有支撑架,所述支撑架顶部设有静电枪,所述支撑架另一侧于所述外框架底部安装有接地电阻测试仪,所述隔离板顶部一侧安装有示波器,所述隔离板顶部中央安装有表面电阻测试仪,所述表面电阻测试仪顶部安装有表面电压测试仪,所述隔离板远离所述示波器的一侧顶部安装有半导体特性测试仪,所述半导体特性测试仪顶部安装有LCR阻抗测试仪,所述外框架内腔安装有导线固定管。优选的,所述隔离板顶部于所述表面电阻测试仪两侧均固定连接有隔板,两个所述隔板上均设有四个过线孔,且四个所述过线孔分别设于所述隔板四角。优选的,所述表面电阻测试仪与所述表面电压测试仪之间和所述半导体特性测试仪与所述LCR阻抗测试仪之间均设有隔离块。优选的,所述隔离板底部中央安装有风机,所述风机风力范围覆盖所述校验台。优选的,所述静电枪、所述接地电阻测试仪、所述示波器、所述表面电阻测试仪、所述表面电压测试仪、所述半导体特性测试仪和所述LCR阻抗测试仪之间均为电性连接。优选的,所述外框架靠近所述接地电阻测试仪的一侧外壁设有接地线胶套,所述外框架另一侧外壁上部设有电源线胶套。与现有技术相比,本技术提供了一种ESD校验装置,具备以下有益效果:1、该ESD校验装置,通过将大部分校验仪器均放置于隔离板上,并用隔板进行隔离放置,将校验台和万用表等放置于下方,使得校验仪器放置的更加合理,不会凌乱,影响工作效率。2、该ESD校验装置,通过在外框架内腔安装有导线固定管,并在隔板上设有多个过线孔,能够将导线全部设置于导线固定管和过线孔内,使得导线布线时更加整齐,提高了工作效率。3、该ESD校验装置,通过在校验台顶部铰接固定杆,固定杆顶端铰接有固定块,能够在进行校验时将校验件固定,不用手持校验件,减轻了校验人员的工作强度,使其校验更加轻松。该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现,本技术结构简单,操作方便,提高了工作效率,降低了校验人员的工作强度,使得校验人员工作更轻松。附图说明图1为本技术提出的一种ESD校验装置的结构示意图;图2为本技术提出的一种ESD校验装置隔板的侧视图。图中:1外框架、2隔离板、3防静电橡胶垫、4校验台、5固定杆、6固定块、7万用表、8支撑架、9静电枪、10接地电阻测试仪、11示波器、12表面电阻测试仪、13表面电压测试仪、14半导体特性测试仪、15LCR阻抗测试仪、16导线固定管、17隔板、18过线孔、19风机。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。在本技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。参照图1-2,一种ESD校验装置,包括外框架1,外框架1内中部水平安装有隔离板2,外框架1内底部和隔离板2顶部均安装有防静电橡胶垫3,外框架1内底部中央设有校验台4,校验台4顶部两侧均铰接有固定杆5,固定杆5顶端铰接有固定块6,校验台4沿外框架1底部一侧设有万用表7,校验台4另一侧于外框架1底部固定连接有支撑架8,支撑架8顶部设有静电枪9,支撑架8另一侧于外框架1底部安装有接地电阻测试仪10,隔离板2顶部一侧安装有示波器11,隔离板2顶部中央安装有表面电阻测试仪12,表面电阻测试仪12顶部安装有表面电压测试仪13,隔离板2远离示波器11的一侧顶部安装有半导体特性测试仪14,半导体特性测试仪14顶部安装有LCR阻抗测试仪15,外框架1内腔安装有导线固定管16。隔离板2顶部于表面电阻测试仪12两侧均固定连接有隔板17,两个隔板17上均设有四个过线孔18,且四个过线孔18分别设于隔板17四角,表面电阻测试仪12与表面电压测试仪13之间和半导体特性测试仪14与LCR阻抗测试仪15之间均设有隔离块,隔离板2底部中央安装有风机19,风机19风力范围覆盖校验台4,静电枪9、接地电阻测试仪10、示波器11、表面电阻测试仪12、表面电压测试仪13、半导体特性测试仪14和LCR阻抗测试仪15之间均为电性连接,外框架1靠近接地电阻测试仪10的一侧外壁设有接地线胶套,外框架1另一侧外壁上部设有电源线胶套。本技术中,在使用时,首先需要检查各个仪器的工作状态是否完好,能够正常运行,并检查接地和电源开关,在将校验件放置于校验台4上,利用两个固定杆5使得固定块6将校验件固定,此时打开风机19,将各个仪器的输出端和输入端利用导线通过导线固定管16和过线孔18连接即可。以上所述,仅为本技术较佳的具体实施方式,但本技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内,根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种ESD校验装置,包括外框架(1),其特征在于,所述外框架(1)内中部水平安装有隔离板(2),所述外框架(1)内底部和所述隔离板(2)顶部均安装有防静电橡胶垫(3),所述外框架(1)内底部中央设有校验台(4),所述校验台(4)顶部两侧均铰接有固定杆(5),所述固定杆(5)顶端铰接有固定块(6),所述校验台(4)沿所述外框架(1)底部一侧设有万用表(7),所述校验台(4)另一侧于所述外框架(1)底部固定连接有支撑架(8),所述支撑架(8)顶部设有静电枪(9),所述支撑架(8)另一侧于所述外框架(1)底部安装有接地电阻测试仪(10),所述隔离板(2)顶部一侧安装有示波器(11),所述隔离板(2)顶部中央安装有表面电阻测试仪(12),所述表面电阻测试仪(12)顶部安装有表面电压测试仪(13),所述隔离板(2)远离所述示波器(11)的一侧顶部安装有半导体特性测试仪(14),所述半导体特性测试仪(14)顶部安装有LCR阻抗测试仪(15),所述外框架(1)内腔安装有导线固定管(16)。

【技术特征摘要】
1.一种ESD校验装置,包括外框架(1),其特征在于,所述外框架(1)内中部水平安装有隔离板(2),所述外框架(1)内底部和所述隔离板(2)顶部均安装有防静电橡胶垫(3),所述外框架(1)内底部中央设有校验台(4),所述校验台(4)顶部两侧均铰接有固定杆(5),所述固定杆(5)顶端铰接有固定块(6),所述校验台(4)沿所述外框架(1)底部一侧设有万用表(7),所述校验台(4)另一侧于所述外框架(1)底部固定连接有支撑架(8),所述支撑架(8)顶部设有静电枪(9),所述支撑架(8)另一侧于所述外框架(1)底部安装有接地电阻测试仪(10),所述隔离板(2)顶部一侧安装有示波器(11),所述隔离板(2)顶部中央安装有表面电阻测试仪(12),所述表面电阻测试仪(12)顶部安装有表面电压测试仪(13),所述隔离板(2)远离所述示波器(11)的一侧顶部安装有半导体特性测试仪(14),所述半导体特性测试仪(14)顶部安装有LCR阻抗测试仪(15),所述外框架(1)内腔安装有导线固定管(16)。2.根据权利要求1所述的一种ESD校验装置,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭国平郁奇雷杨顺家
申请(专利权)人:敦吉电子上海有限公司
类型:新型
国别省市:上海,31

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