微波泄漏检测方法及微波设备技术

本发明专利技术公开了一种用于微波设备的微波泄漏检测方法和微波设备。微波设备包括至少一个微波源。微波泄露检测方法包括：启动所有微波源；检测所有微波源的反射功率；计算所有微波源的反射功率之和；判断反射功率之和是否小于反射功率阈值；在反射功率之和小于反射功率阈值并且反射功率之和小于反射功率阈值的持续时长大于预设时长时，控制微波设备提示微波泄漏并关闭所有微波源。本发明专利技术实施方式的微波泄漏检测方法，使得微波设备在使用过程中可以实现微波泄漏的自检，提高检测效率；进一步地，在检测到有微波泄漏时，控制微波设备停止工作，可以避免微波大量泄漏，从而避免造成电磁污染以及确保用户的安全。

【技术实现步骤摘要】
微波泄漏检测方法及微波设备
本专利技术涉及微波设备
，特别涉及一种微波泄漏检测方法及微波设备。
技术介绍
随着生活水平的提高，微波炉成为常用的家用电器。在微波炉的使用过程中，微波有可能从微波炉的腔体缝隙泄漏出来，微波泄漏超标会造成电磁污染且对人体有害。在相关技术中，通常使用微波泄漏仪在微波炉的腔体外侧扫描，通过检测到的微波信号的大小来判断是否微波泄漏超标。若用户家中没有微波泄漏仪，则无法进行检测。而且，使用微波泄漏仪检测微波泄漏时，需要手动操作微波泄漏仪，检测效率较低。
技术实现思路
本专利技术的实施方式提供了一种微波泄漏检测方法及微波设备。本专利技术实施方式的微波泄露检测方法用于微波设备，所述微波设备包括至少一个微波源，所述微波泄露检测方法包括：启动所有所述微波源；检测所有所述微波源的反射功率；计算所有所述微波源的反射功率之和；判断所述反射功率之和是否小于反射功率阈值；在所述反射功率之和小于所述反射功率阈值并且所述反射功率之和小于所述反射功率阈值的持续时长大于预设时长时，控制所述微波设备提示微波泄漏并关闭所有所述微波源。本专利技术实施方式的微波泄漏检测方法，当所有微波源的反射功率之和小于反射功率阈值并且所有微波源的反射功率之和小于反射功率阈值的持续时长大于预设时长时，判断微波设备存在微波泄漏，此时提示微波泄漏并控制微波设备停止工作。如此，微波设备在使用过程中可以实现微波泄漏的自检，提高检测效率；进一步地，在检测到有微波泄漏时，控制微波设备停止工作，可以避免微波大量泄漏，从而避免造成电磁污染以及确保用户的安全。在某些实施方式中，所述微波泄漏检测方法包括：检测所有所述微波源的入射功率；在判断所述反射功率之和是否小于反射功率阈值之前，所述微波泄漏检测方法包括：计算所有所述微波源的入射功率之和；判断所述入射功率之和是否大于入射功率阈值；在所述入射功率之和大于所述入射功率阈值时，进入判断所述反射功率之和是否小于反射功率阈值的步骤。在某些实施方式中，所述微波泄漏检测方法包括：在所述入射功率之和不大于所述入射功率阈值时，控制所述微波设备提示故障并关闭所有所述微波源。在某些实施方式中，所述微波泄漏检测方法包括：在所述反射功率之和不小于所述反射功率阈值时，将所述反射功率之和小于所述反射功率阈值的持续时长清零并返回检测所有所述微波源的入射功率及反射功率的步骤。在某些实施方式中，所述微波泄漏检测方法包括：在所述反射功率之和小于所述反射功率阈值的持续时长不大于所述预设时长时，返回检测所有所述微波源的入射功率及反射功率的步骤。在某些实施方式中，在所述微波设备的腔体内放置有负载时，检测所有所述微波源的入射功率及反射功率。在某些实施方式中，所述微波源为半导体微波源。本专利技术实施方式的微波设备包括至少一个微波源、控制器和检测模块，所述控制器用于启动所有所述微波源，所述检测模块用于检测所有所述微波源的入射功率，所述控制器用于检测所有所述微波源的反射功率，及用于计算所有所述微波源的反射功率之和，及用于判断所述反射功率之和是否小于反射功率阈值，以及用于在所述反射功率之和小于所述反射功率阈值并且所述反射功率之和小于所述反射功率阈值的持续时长大于预设时长时，控制所述微波设备提示微波泄漏并关闭所有所述微波源。本专利技术实施方式的微波设备，当所有微波源的反射功率之和小于反射功率阈值并且所有微波源的反射功率之和小于反射功率阈值的持续时长大于预设时长时，判断微波设备存在微波泄漏，此时提示微波泄漏并控制微波设备停止工作。如此，微波设备在使用过程中可以实现微波泄漏的自检，提高检测效率；进一步地，在检测到有微波泄漏时，控制微波设备停止工作，可以避免微波大量泄漏，从而避免造成电磁污染以及确保用户的安全。在某些实施方式中，所述检测模块用于检测所有所述微波源的入射功率，在判断所述反射功率之和是否小于反射功率阈值之前，所述控制器用于计算所有所述微波源的入射功率之和，及用于判断所述入射功率之和是否大于入射功率阈值，以及用于在所述入射功率之和大于所述入射功率阈值时，判断所述反射功率之和是否小于反射功率阈值。在某些实施方式中，所述控制器用于在所述入射功率之和不大于所述入射功率阈值时，控制所述微波设备提示故障并关闭所有所述微波源。在某些实施方式中，所述检测模块用于在所述微波设备的腔体内放置有负载时，检测所有所述微波源的入射功率及反射功率。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是本专利技术实施方式的微波泄漏检测方法的流程示意图；图2是本专利技术实施方式的微波设备的模块示意图；图3是本专利技术实施方式的微波设备的另一模块示意图；图4是本专利技术实施方式的微波泄漏检测方法的另一流程示意图。主要元件符号说明：微波设备100、微波源10、信号源12、功率放大电路14、微带天线142、环形器144、控制器20、检测模块30、腔体40。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施方式，所述实施方式的实施方式在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的实施方式的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本专利技术的实施方式的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本专利技术的实施方式的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术的实施方式中的具体含义。请参阅图1至图3，本专利技术实施方式的微波泄露检测方法用于微波设备100。微波设备100包括至少一个微波源10、控制器20和检测模块30。微波泄露检测方法包括：步骤S10：启动所有微波源10；步骤S12：检测所有微波源10的反射功率；步骤S14：计算所有微波源10的反射功率之和；步骤S16：判断所有微波源10的反射功率之和是否小于反射功率阈值；步骤S18：在所有微波源10的反射功率之和小于反射功率阈值并且所有微波源10的反射功率之和小于反射功率阈值的持续时长大于预设时长时，控制微波设备100提示微波泄漏并关闭所有微波源10。本专利技术实施方式的微波泄漏检测方法，当所有微波源10的反射功率之和小于反射功率阈值并且所有微波源10的反射功率之和小于反射功率阈值的持续时长大于预设时长时，判断微波设备100存在微波泄漏，此时提示微波泄漏并控制微波设备100停止工作。如此，微波设备100在使用过程中可以实现微波泄漏的自检，提高检测效率；进一步地，在检测到有微波泄漏时，控制微波设备100停止工作，可以避本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微波泄露检测方法，用于微波设备，其特征在于，所述微波设备包括至少一个微波源，所述微波泄露检测方法包括：启动所有所述微波源；检测所有所述微波源的反射功率；计算所有所述微波源的反射功率之和；判断所述反射功率之和是否小于反射功率阈值；在所述反射功率之和小于所述反射功率阈值并且所述反射功率之和小于所述反射功率阈值的持续时长大于预设时长时，控制所述微波设备提示微波泄漏并关闭所有所述微波源。

【技术特征摘要】
1.一种微波泄露检测方法，用于微波设备，其特征在于，所述微波设备包括至少一个微波源，所述微波泄露检测方法包括：启动所有所述微波源；检测所有所述微波源的反射功率；计算所有所述微波源的反射功率之和；判断所述反射功率之和是否小于反射功率阈值；在所述反射功率之和小于所述反射功率阈值并且所述反射功率之和小于所述反射功率阈值的持续时长大于预设时长时，控制所述微波设备提示微波泄漏并关闭所有所述微波源。2.如权利要求1所述的微波泄漏检测方法，其特征在于，所述微波泄漏检测方法包括：检测所有所述微波源的入射功率；在判断所述反射功率之和是否小于反射功率阈值之前，所述微波泄漏检测方法包括：计算所有所述微波源的入射功率之和；判断所述入射功率之和是否大于入射功率阈值；在所述入射功率之和大于所述入射功率阈值时，进入判断所述反射功率之和是否小于反射功率阈值的步骤。3.如权利要求2所述的微波泄漏检测方法，其特征在于，所述微波泄漏检测方法包括：在所述入射功率之和不大于所述入射功率阈值时，控制所述微波设备提示故障并关闭所有所述微波源。4.如权利要求2所述的微波泄漏检测方法，其特征在于，所述微波泄漏检测方法包括：在所述反射功率之和不小于所述反射功率阈值时，将所述反射功率之和小于所述反射功率阈值的持续时长清零并返回检测所有所述微波源的入射功率及反射功率的步骤。5.如权利要求2所述的微波泄漏检测方法，其特征在于，所述微波泄漏检测方法包括：在所述反射功率之和小于所述反射功率阈值的持续时长不大于所述预设时长时，返回检测所有所...

【专利技术属性】
技术研发人员：史龙，
申请(专利权)人：广东美的厨房电器制造有限公司，美的集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44