图像获取方法、图像获取装置、结构光组件及电子装置制造方法及图纸

技术编号:20050000 阅读:33 留言:0更新日期:2019-01-09 05:52
本申请公开了一种图像获取方法、图像获取装置、结构光组件和电子装置。图像获取方法包括:控制结构光摄像头接收出射时经显示屏的显示区衍射并被目标物体反射后入射时再经所述显示区衍射的结构光以得到散斑图像;滤除第二测量斑点及第三测量斑点以得到第一测量斑点;根据第一测量斑点与参考图像中的参考斑点获取深度图像。本申请实施方式的图像获取方法在结构光投射器和结构光均位于显示屏下,且显示屏未开设通槽时,先滤除第二测量斑点以及第三测量斑点,仅根据剩余的第一测量斑点来计算深度图像,减少了处理器的数据处理量,有利于加快深度图像的获取进程。

【技术实现步骤摘要】
图像获取方法、图像获取装置、结构光组件及电子装置
本申请涉及消费性电子
,更具体而言,涉及一种图像获取方法、图像获取装置、结构光组件及电子装置。
技术介绍
移动终端中可以配置有深度相机和显示屏,深度相机可用于获取物体的深度信息,显示屏可用于显示文字、图案等内容,通常需要在显示屏上开窗,例如形成刘海屏,以使显示屏的显示区与深度相机的位置错开,而显示屏的这一设置导致移动终端的屏占比较低。并且,显示屏会对深度相机中的结构光投射器投射的结构光产生衍射,使得投射到场景中的散斑图案发生变化。
技术实现思路
本申请实施方式提供一种图像获取方法、图像获取装置、结构光组件及电子装置。本申请实施方式的图像获取方法包括:控制结构光摄像头接收出射时经显示屏的显示区衍射并被目标物体反射后入射时再经所述显示区衍射的结构光以得到散斑图像,所述散斑图像中包括多个测量斑点,多个所述测量斑点包括激光仅被结构光投射器的衍射光学元件衍射并被所述目标物体反射形成的第一测量斑点、激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射形成的第二测量斑点、及激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射后又一次由所述显示屏三次衍射形成的第三测量斑点;滤除所述散斑图像中的所述第二测量斑点及所述第三测量斑点以得到所述第一测量斑点;根据所述第一测量斑点与参考图像中的参考斑点获取深度图像。本申请实施方式的图像获取装置包括控制模块和计算模块。所述控制模块用于控制结构光摄像头接收出射时经显示屏的显示区衍射并被目标物体反射后入射时再经所述显示区衍射的结构光以得到散斑图像,所述散斑图像中包括多个测量斑点,多个所述测量斑点包括激光仅被结构光投射器的衍射光学元件衍射并被所述目标物体反射形成的第一测量斑点、激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射形成的第二测量斑点、及激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射后又一次由所述显示屏三次衍射形成的第三测量斑点。所述计算模块用于滤除所述散斑图像中的所述第二测量斑点及所述第三测量斑点以得到所述第一测量斑点,及根据所述第一测量斑点与参考图像中的参考斑点获取深度图像。本申请实施方式的结构光组件包括结构光投射器、结构光摄像头和处理器。处理器用于:控制结构光摄像头接收出射时经显示屏的显示区衍射并被目标物体反射后入射时再经所述显示区衍射的结构光以得到散斑图像,所述散斑图像中包括多个测量斑点,多个所述测量斑点包括激光仅被结构光投射器的衍射光学元件衍射并被所述目标物体反射形成的第一测量斑点、激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射形成的第二测量斑点、及激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射后又一次由所述显示屏三次衍射形成的第三测量斑点;滤除所述散斑图像中的所述第二测量斑点及所述第三测量斑点以得到所述第一测量斑点;根据所述第一测量斑点与参考图像中的参考斑点获取深度图像。本申请实施方式的电子装置包括壳体、显示屏和上述的结构光组件。所述显示屏安装在所述壳体上。所述结构光组件安装在所述壳体上。本申请实施方式的图像获取方法、图像获取装置、结构光组件及电子装置在结构光投射器和结构光均位于显示屏下,且显示屏未开设通槽时,先滤除第二测量斑点以及第三测量斑点,仅根据剩余的第一测量斑点来计算深度图像,减少了处理器的数据处理量,有利于加快深度图像的获取进程。本申请的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实施方式的实践了解到。附图说明本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解,其中:图1是本申请某些实施方式的电子装置的结构示意图。图2是本申请某些实施方式的电子装置的部分结构示意图。图3是本申请某些实施方式的电子装置沿图2所示的A-A线的截面示意图。图4是本申请某些实施方式的结构光投射器的结构示意图。图5是本申请某些实施方式的电子装置沿与图2所示的A-A线对应位置的截面示意图。图6和图7是本申请某些实施方式的电子装置的部分结构示意图。图8是本申请某些实施方式的电子装置沿与图2所示的A-A线对应位置的截面示意图。图9和图10是本申请某些实施方式的电子装置的部分结构示意图。图11至图15是本申请某些实施方式的电子装置沿与图2所示的A-A线对应位置的截面示意图。图16是本申请某些实施方式的图像获取方法的流程示意图。图17是本申请某些实施方式的图像获取装置的模块示意图。图18和图19是本申请某些实施方式的图像获取方法的流程示意图。图20是本申请某些实施方式的图像获取方法的场景示意图。图21是本申请某些实施方式的图像获取方法的流程示意图。图22是本申请某些实施方式的图像获取方法的场景示意图。图23至图27是本申请某些实施方式的图像获取方法的流程示意图。图28是本申请某些实施方式的图像获取方法的场景示意图。图29是本申请某些实施方式的图像获取方法的流程示意图。图30是本申请某些实施方式的图像获取方法的场景示意图。图31至图34是本申请某些实施方式的图像获取方法的流程示意图。图35是本申请某些实施方式的结构光投射器发射的结构光的光路示意图。图36至图41是本申请某些实施方式的图像获取方法的流程示意图。具体实施方式以下结合附图对本申请的实施方式作进一步说明。附图中相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。另外,下面结合附图描述的本申请的实施方式是示例性的,仅用于解释本申请的实施方式,而不能理解为对本申请的限制。在本申请中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。请参阅图1及图2,本申请实施方式的电子装置1000包括显示屏10及结构光组件20。电子装置1000还可以包括壳体30,壳体30可用于安装显示屏10、结构光组件20等功能器件,功能器件还可以是主板、双摄模组、受话器等。电子装置1000的具体形式可以是手机、平板电脑、智能手表、头显设备等,本申请以电子装置1000为手机进行说明,可以理解,电子装置1000的具体形式不限于手机,在此不作限制。显示屏10可以安装在壳体30上,具体地,显示屏10可以安装在壳体30的一个面上,或者同时安装在壳体30的相背的两个面上。在如图1所示的例子中,显示屏10安装在壳体30的前面,显示屏10的可以覆盖该前面的面积的85%及以上,例如达到85%、86%、87%、88%、89%、90%、91%、92%、93%、95%甚至是100%。显示屏10可以用于显示影像,影像可以是文字、图像、视频、图标等信息。显示屏10的具体类型可以是液晶显示屏、OLED显示屏、MicroLED显示屏等。显示屏10包括显示区本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图像获取方法,其特征在于,所述图像获取方法包括:控制结构光摄像头接收出射时经显示屏的显示区衍射并被目标物体反射后入射时再经所述显示区衍射的结构光以得到散斑图像,所述散斑图像中包括多个测量斑点,多个所述测量斑点包括激光仅被结构光投射器的衍射光学元件衍射并被所述目标物体反射形成的第一测量斑点、激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射形成的第二测量斑点、及激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射后又一次由所述显示屏三次衍射形成的第三测量斑点;滤除所述散斑图像中的所述第二测量斑点及所述第三测量斑点以得到所述第一测量斑点;及根据所述第一测量斑点与参考图像中的参考斑点获取深度图像。

【技术特征摘要】
1.一种图像获取方法,其特征在于,所述图像获取方法包括:控制结构光摄像头接收出射时经显示屏的显示区衍射并被目标物体反射后入射时再经所述显示区衍射的结构光以得到散斑图像,所述散斑图像中包括多个测量斑点,多个所述测量斑点包括激光仅被结构光投射器的衍射光学元件衍射并被所述目标物体反射形成的第一测量斑点、激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射形成的第二测量斑点、及激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射后又一次由所述显示屏三次衍射形成的第三测量斑点;滤除所述散斑图像中的所述第二测量斑点及所述第三测量斑点以得到所述第一测量斑点;及根据所述第一测量斑点与参考图像中的参考斑点获取深度图像。2.根据权利要求1所述的图像获取方法,其特征在于,所述滤除所述散斑图像中的所述第二测量斑点及所述第三测量斑点以得到所述第一测量斑点,包括:计算每个所述测量斑点与预设亮度之间的实际比值;将所述实际比值大于第一预设比值的所述测量斑点归类为所述第一测量斑点,将所述实际比值小于所述第一预设比值且大于第二预设比值的所述测量斑点归类为所述第二测量斑点,将所述实际比值小于所述第二预设比值的所述测量斑点归类为所述第三测量斑点;及从所有所述测量斑点中滤除所述第二测量斑点和所述第三测量斑点以得到所述第一测量斑点。3.根据权利要求2所述的图像获取方法,其特征在于,所述图像获取方法还包括:在标定所述参考图像时,控制所述结构光摄像头接收从所述结构光投射器出射后直接被标定物体反射并直接入射的结构光以得到第一参考图像,所述第一参考图像中包括多个所述参考斑点,多个所述参考斑点包括多个激光仅被所述衍射光学元件衍射并被所述标定物体反射形成的所述第一参考斑点;在标定所述参考图像时,控制所述结构光摄像头接收出射时经所述显示区衍射并被所述标定物体反射后直接入射的结构光以得到第二参考图像,所述第二参考图像中包括多个所述参考斑点,多个所述参考斑点包括激光仅被所述衍射光学元件衍射并被所述标定物体反射后形成的所述第一参考斑点和激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述标定物体反射形成的所述第二参考斑点;在标定所述参考图像时,控制所述结构光摄像头接收出射时经所述显示区衍射并被所述标定物体反射后在经过所述显示区入射时被所述显示区衍射的结构光以得到第三参考图像,所述第三参考图像中包括多个所述参考斑点,多个所述参考斑点包括激光仅被所述衍射光学元件衍射并被所述标定物体反射后形成的第一参考斑点、激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述标定物体反射后形成的所述第二参考斑点、及激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由显示屏二次衍射并被所述标定物体反射后又一次由所述显示屏三次衍射形成的第三参考斑点;比对所述第一参考图像与所述第二参考图像以获取所述第二参考斑点,及比对所述第三参考图像与所述第二参考图像以获取所述第三参考斑点;及计算多个所述第二参考斑点的亮度的平均值与多个所述第一参考斑点的亮度的平均值之间的比值作为所述第一预设比值,计算多个所述第三参考斑点的亮度的平均值与多个所述第一参考斑点的亮度的平均值之间的比值作为所述第二预设比值,及计算多个所述第一参考斑点的亮度的平均值并作为所述预设亮度。4.根据权利要求1所述的图像获取方法,其特征在于,所述图像获取方法还包括:在标定所述参考图像时,控制所述结构光摄像头接收从所述结构光投射器出射后直接被标定物体反射并直接入射的结构光以得到第一参考图像,所述第一参考图像中包括多个所述参考斑点,多个所述参考斑点包括多个激光仅被所述衍射光学元件衍射并被所述标定物体反射形成的所述第一参考斑点;所述根据所述第一测量斑点与参考图像中的参考斑点获取深度图像,包括:计算所述第一测量斑点相对于所述第一参考斑点的偏移量;及根据所述偏移量计算深度数据以得到所述深度图像。5.一种图像获取装置,其特征在于,所述图像获取装置包括:控制模块,用于控制结构光摄像头接收出射时经显示屏的显示区衍射并被目标物体反射后入射时再经所述显示区衍射的结构光以得到散斑图像,所述散斑图像中包括多个测量斑点,多个所述测量斑点包括激光仅被结构光投射器的衍射光学元件衍射并被所述目标物体反射形成的第一测量斑点、激光经过所述衍射光学元件一次衍射再由所述显示屏二次衍射并被所述目标物体反射形成...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨鑫
申请(专利权)人:OPPO广东移动通信有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1