一种电子墨水屏缺陷检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种电子墨水屏缺陷检测方法及系统，其方法包括以下步骤：获取电子墨水屏图像；对图像进行处理，只留下红色区域；将图像转换成CV_32F，然后计算当前像素值；对图像进行傅里叶变换，得到F(u,v)；对F(u,v)求幅值，并将幅值图像素值做对数变换并进行归一化处理；对归一化图像做高斯滤波以及中值滤波；对两个滤波结果做差并进行二值化处理；将二值化处理结果分别与傅里叶变换得到的实部、虚部进行卷积运算；对图像进行傅里叶逆变换，并对逆变换中的实部做中心化处理并转换到CV_8U；对图像进行均值滤波，计算得到两者的差值图，并对差值图进行二值化处理；设置缺陷大小进行缺陷筛选。本发明专利技术能够快速、精准地检测出电子墨水屏缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种电子墨水屏缺陷检测方法及系统
本专利技术涉及缺陷检测
，特别涉及一种电子墨水屏缺陷检测方法及系统。
技术介绍
目前针对电子墨水屏的外观缺陷检测，主流方法依然是人工目视检测。此方法不仅需要大量人力，而且效率比较低，同时对人的眼睛伤害比较大；另一方面利用人力目视检测，主观性比较大，容易造成过检以及漏检情况。虽然有部分厂家采用了自动检测系统。但是市场上的自动检测系统主要针对特定画面或有一定共性的缺陷，采用有针对性的视觉成像技术，使缺陷在图像中呈现出来，再结合对应的图像处理算法检测出缺陷形态及位置，达到替代人工检测的效果。但电子墨水屏画面类型以及型号比较多，缺陷类型繁琐，一般的缺陷检测系统基本上不可能达到同时检测所有缺陷的效果。同时，电子墨水屏的需求量大，生产周期短，按画面类型设计多套检测系统的方法不能满足客户需求。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本专利技术目的之一在于提供一种快速、精准、检测效率高的电子墨水屏缺陷检测方法，其采用如下技术方案。一种电子墨水屏缺陷检测方法，其包括以下步骤：S1、获取电子墨水屏图像；S2、对图像进行处理，只留下红色区域；S3、将图像转换成CV_32F，然后利用公式(P(x，y)＝F(x,y)*(-1)^(x+y),计算当前像素值；S4、对图像进行傅里叶变换，得到F(u,v)；S5、对F(u,v)求幅值，并将幅值图像素值做对数变换并进行归一化处理；S6、对归一化图像做高斯滤波以及中值滤波；S7、对两个滤波结果做差并进行二值化处理；S8、将二值化处理结果分别与傅里叶变换得到的实部、虚部进行卷积运算；S9、对图像进行傅里叶逆变换，并对逆变换中的实部做中心化处理并转换到CV_8U；S10、对图像进行均值滤波，计算得到两者的差值图，并对差值图进行二值化处理；S11、设置缺陷大小进行缺陷筛选。作为本专利技术的进一步改进，S2、对图像进行处理，只留下红色区域，具体包括：将BGR空间转到HSV空间，确定HSV三个通道的取值范围；定义一个大小相同的掩膜图像；遍历全图，判断当前位置是否是红色区域，若是，则令掩膜图像当前像素值为255，最后对掩膜图像做形态学闭操作，寻找掩膜图像最大轮廓并保存轮廓外接矩形框。作为本专利技术的进一步改进，所述S10、对图像进行均值滤波，计算得到两者的差值图，并对差值图进行二值化处理，具体包括：对图像进行均值滤波得到滤波图，用原图减去滤波图寻找白色缺陷，用滤波图减去原图寻找黑色缺陷，并根据缺陷类型设置阈值对差值图做二值化处理。作为本专利技术的进一步改进，所述阈值为：黑色20，白色35。本专利技术目的之二在于提供一种快速、精准、检测效率高的电子墨水屏缺陷检测系统，其采用如下技术方案。一种电子墨水屏缺陷检测系统，其包括：图像采集模块，用于获取电子墨水屏图像；图像处理模块，用于对图像进行处理，只留下红色区域；将图像转换成CV_32F，然后利用公式(P(x，y)＝F(x,y)*(-1)^(x+y),计算当前像素值；对图像进行傅里叶变换，得到F(u,v)；对F(u,v)求幅值，并将幅值图像素值做对数变换并进行归一化处理；对归一化图像做高斯滤波以及中值滤波；对两个滤波结果做差并进行二值化处理；将二值化处理结果分别与傅里叶变换得到的实部、虚部进行卷积运算；对图像进行傅里叶逆变换，并对逆变换中的实部做中心化处理并转换到CV_8U；对图像进行均值滤波，计算得到两者的差值图，并对差值图进行二值化处理；设置缺陷大小进行缺陷筛选。作为本专利技术的进一步改进，所述图像采集模块包括工业面阵彩色相机单元。作为本专利技术的进一步改进，所述对图像进行处理，只留下红色区域，具体包括：将BGR空间转到HSV空间，确定HSV三个通道的取值范围；定义一个大小相同的掩膜图像；遍历全图，判断当前位置是否是红色区域，若是，则令掩膜图像当前像素值为255，最后对掩膜图像做形态学闭操作，寻找掩膜图像最大轮廓并保存轮廓外接矩形框。作为本专利技术的进一步改进，所述对图像进行均值滤波，计算得到两者的差值图，并对差值图进行二值化处理，具体包括：对图像进行均值滤波得到滤波图，用原图减去滤波图寻找白色缺陷，用滤波图减去原图寻找黑色缺陷，并根据缺陷类型设置阈值对差值图做二值化处理。本专利技术的有益效果：本专利技术的电子墨水屏缺陷检测方法及系统能够快速、精准、稳定地检测出电子墨水屏外观的所有缺陷，替代甚至超越人工检测，达到降低工人劳动强度、节约人力成本，提高生产效率的目的。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。附图说明图1是本专利技术实施例中电子墨水屏缺陷检测方法的示意图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本专利技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本专利技术的限定。如图1所示，为本专利技术实施例中的电子墨水屏缺陷检测方法，该方法包括以下步骤：S1、获取电子墨水屏图像；S2、对图像进行处理，只留下红色区域；具体包括：将BGR空间转到HSV空间，确定HSV三个通道的取值范围；定义一个大小相同的掩膜图像；遍历全图，判断当前位置是否是红色区域，若是，则令掩膜图像当前像素值为255，最后对掩膜图像做形态学闭操作，寻找掩膜图像最大轮廓并保存轮廓外接矩形框。优选的，上述取值范围为：H空间0-10或156-180，S空间43-255，V空间46-255。S3、将图像转换成CV_32F，然后利用公式(P(x，y)＝F(x,y)*(-1)^(x+y),计算当前像素值；S4、对图像进行傅里叶变换，得到F(u,v)；S5、对F(u,v)求幅值，并将幅值图像素值做对数变换并进行归一化处理；S6、对归一化图像做高斯滤波以及中值滤波；S7、对两个滤波结果做差并进行二值化处理；S8、将二值化处理结果分别与傅里叶变换得到的实部、虚部进行卷积运算；S9、对图像进行傅里叶逆变换，并对逆变换中的实部做中心化处理并转换到CV_8U；S10、对图像进行均值滤波，计算得到两者的差值图，并对差值图进行二值化处理；具体包括：对图像进行均值滤波得到滤波图，用原图减去滤波图寻找白色缺陷，用滤波图减去原图寻找黑色缺陷，并根据缺陷类型设置阈值对差值图做二值化处理。在本实施例中，阈值为：黑色20，白色35。在本专利技术的其他实施例中，阈值可根据实际需求进行设置。S11、设置缺陷大小进行缺陷筛选。本专利技术实施例中的电子墨水屏缺陷检测系统包括：图像采集模块，用于获取电子墨水屏图像；优选的，图像采集模块包括工业面阵彩色相机单元。图像处理模块，用于对图像进行处理，只留下红色区域；将图像转换成CV_32F，然后利用公式(P(x，y)＝F(x,y)*(-1)^(x+y),计算当前像素值；对图像进行傅里叶变换，得到F(u,v)；对F(u,v)求幅值，并将幅值图像素值做对数变换并进行归一化处理；对归一化图像做高斯滤波以及中值滤波；对两个滤波结果做差并进行二值化处理；将二值化处理结果分别与傅里叶变换得到的实部、虚部进行卷积运算；对图像进行傅里叶逆变换，并对逆变换中的实部做中心化处理并转换到CV_8U；对图像进行均值滤波，计算得到两者的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子墨水屏缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、获取电子墨水屏图像；S2、对图像进行处理，只留下红色区域；S3、将图像转换成CV_32F，然后利用公式(P(x，y)＝F(x,y)*(‑1)^(x+y),计算当前像素值；S4、对图像进行傅里叶变换，得到F(u,v)；S5、对F(u,v)求幅值，并将幅值图像素值做对数变换并进行归一化处理；S6、对归一化图像做高斯滤波以及中值滤波；S7、对两个滤波结果做差并进行二值化处理；S8、将二值化处理结果分别与傅里叶变换得到的实部、虚部进行卷积运算；S9、对图像进行傅里叶逆变换，并对逆变换中的实部做中心化处理并转换到CV_8U；S10、对图像进行均值滤波，计算得到两者的差值图，并对差值图进行二值化处理；S11、设置缺陷大小进行缺陷筛选。

【技术特征摘要】
1.一种电子墨水屏缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、获取电子墨水屏图像；S2、对图像进行处理，只留下红色区域；S3、将图像转换成CV_32F，然后利用公式(P(x，y)＝F(x,y)*(-1)^(x+y),计算当前像素值；S4、对图像进行傅里叶变换，得到F(u,v)；S5、对F(u,v)求幅值，并将幅值图像素值做对数变换并进行归一化处理；S6、对归一化图像做高斯滤波以及中值滤波；S7、对两个滤波结果做差并进行二值化处理；S8、将二值化处理结果分别与傅里叶变换得到的实部、虚部进行卷积运算；S9、对图像进行傅里叶逆变换，并对逆变换中的实部做中心化处理并转换到CV_8U；S10、对图像进行均值滤波，计算得到两者的差值图，并对差值图进行二值化处理；S11、设置缺陷大小进行缺陷筛选。2.如权利要求1所述的电子墨水屏缺陷检测方法，其特征在于，所述S2、对图像进行处理，只留下红色区域，具体包括：将BGR空间转到HSV空间，确定HSV三个通道的取值范围；定义一个大小相同的掩膜图像；遍历全图，判断当前位置是否是红色区域，若是，则令掩膜图像当前像素值为255，最后对掩膜图像做形态学闭操作，寻找掩膜图像最大轮廓并保存轮廓外接矩形框。3.如权利要求1所述的电子墨水屏缺陷检测方法，其特征在于，所述S10、对图像进行均值滤波，计算得到两者的差值图，并对差值图进行二值化处理，具体包括：对图像进行均值滤波得到滤波图，用原图减去滤波图寻找白色缺陷，用滤波图减去原图寻找黑色缺陷，并根据缺陷类型设置阈值对差值图做二值化处理。4.如权利要求3所述的电子墨水屏缺陷检测方法，其特征在于，所述阈值...

【专利技术属性】
技术研发人员：许照林，郭善亮，
申请(专利权)人：苏州富鑫林光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32