一种影响低序级断层识别精度的定量分析方法技术

本发明专利技术公开了一种影响低序级断层识别精度的定量分析方法，在深入分析低序级断层地质特点和地震响应特征的基础上，针对低序级断层识别的影响因素，设计低序级断层地质模型，通过地震正演模拟研究了低序级断层在地震资料中的主要特征，通过分析不同级别断层的地震响应特征，归纳总结出不同地震子波主频的断层识别模版、含不同比例噪音的断层识别模版、不同断面倾角的断层识别模版、不同地层倾角的断层识别模板、断面倾角与地层倾角的断层识别模板、不同深度下常规资料与高精度资料的断层分辨力识别模版、常规地震资料与高精度地震资料断层断距分辨率力与深度交会综合曲线对比图，并通过拟合公式计算得到断层断距分辨力与深度关系量板表，从而形成了一套完整的影响低序级断层识别精度的定量分析方法，为低序级断层的识别和解释提供了可靠的依据及其指导作用。

A Quantitative Analysis Method Affecting the Recognition Accuracy of Low Sequence Faults

The invention discloses a quantitative analysis method for affecting the identification accuracy of low-order faults. On the basis of in-depth analysis of geological characteristics and seismic response characteristics of low-order faults, aiming at the influencing factors of low-order faults identification, a low-order faults geological model is designed. The main characteristics of low-order faults in seismic data are studied through seismic forward simulation, and different levels are analyzed. Seismic response characteristics of faults are summarized. Fault recognition templates with different wavelet principal frequencies, fault recognition templates with different proportions of noise, fault identification templates with different dips of sections, fault identification templates with different dips of strata, fault identification templates with dips of sections and strata, and fault resolution identification templates with conventional and high-precision data at different depths are summarized. Comparing the comprehensive curves of fault resolution and depth intersection between conventional seismic data and high-precision seismic data, and calculating the relationship between fault resolution and depth by fitting formula, a complete quantitative analysis method affecting the identification accuracy of low-order faults is formed, which provides reliable basis and guidance for the identification and interpretation of low-order faults. Effect.

【技术实现步骤摘要】
一种影响低序级断层识别精度的定量分析方法
本专利技术涉及低序级断层地震识别的勘探开发领域，特别是涉及到一种影响低序级断层识别精度的定量分析方法。
技术介绍
随着油田勘探开发程度的不断提高，断块型油气藏的地位越来越重要，其中的低序级断层日益受到重视，因为它改造了构造细节，控制了油水关系和剩余油分布，严重影响油藏开发技术的应用，因而这种低序级断层成为了油田勘探开发不能回避和绕不过的问题，必须开展针对性的研究。在低序级断层研究方面，除了利用钻井资料识别断点做井间对比之外，完整的断层和断裂系统研究还是要依靠三维地震资料及相应的解释技术。由于低序级断层的水平断距和垂直落差都很小，一般只有5-10m甚至更小，因而在地震剖面上很难有明显的同相轴错断特征，通常只有微错断甚至是微扭动，在一般的构造解释中很容易被当作局部构造变化而被忽略，因而需要专门的解释技术来提取和强化小断层的地震特征，得到关于断层的清晰和直观的图像，避免因为解释人员经验所导致的结果不合理性。目前低序级断层识别面临的难题主要有：(1)低序级断层识别难度较大，因为其水平断距和垂直落差都较小，在地震剖面上很难有明显的同相轴错断特征；(2)影响低序级断层识别的因素多，不同精度的地震资料、不同深度、不同速度结构、不同噪音、不同地层倾角、不同断层倾角等因素对低序级断层识别有多大影响不清；(3)低序级断层在剖面上的组合形式多样、平面组合方式多解性强，如何合理的断裂系统组合，也是低序级断层解释中的难题。在小断层识别的影响因素分析方面，现有的文献资料主要是通过建立全波场正演地质模型，对采集处理过程中影响地质构造识别的主频、速度误差、横向分辨率、自由地表等因素进行了探讨，可以对地震勘探中采集和处理参数提供有益的参考。与本专利技术相关的现有文献资料和应用技术中，尚没有用于影响低序级断层识别精度的定量分析方法，因而无法为低序级断层的地震识别和解释提供有效的指导。
技术实现思路
本专利技术的目的是要针对低序级断层识别的研究难点，提供一种影响低序级断层识别精度的定量分析方法，为低序级断层的识别和解释提供可靠的依据及其指导作用。为达到上述目的，本专利技术是按照以下技术方案实施的：一种影响低序级断层识别精度的定量分析方法，包括以下步骤：步骤1，在深入分析低序级断层地质特点和地震响应特征的基础上，针对低序级断层识别的影响因素，设计低序级断层地质模型；步骤2，通过地震正演模拟，研究低序级断层在地震资料中的主要特征；步骤3，开展对低序级断层识别精度的影响分析，归纳总结不同影响因素下的断层识别模版、断层断距分辨率力与深度交会综合曲线及其量板表。在步骤1中，低序级断层地质特点如下：(1)如果地层界面及地震反射连续性较好，其表现为断层特征不明显，难以识别；如果界面及反射连续性较差，分叉、合并、断开现象严重，似乎随处可开断层，同样难以识别；(2)断层在剖面上的组合形式多样，且信号分布离散，相互影响，使得断层解释困难。因此，在进行低序级断层识别精度的影响因素分析过程中，在进行低序级断层识别精度的影响因素分析过程中，分别针对埋藏深度、速度结构、地震子波主频、信噪比、断面倾角、地层产状、地层和断面的夹角影响低序级断层识别精度的因素，设计不同类型的低序级断层地质模型。具体地，在步骤2中针对步骤1设计的低序级断层地质模型，通过模拟野外观测系统，确定激发点和接收点的位置，模拟震源激发，得到共炮点地震记录，然后对模拟得到的共炮点地震记录进行叠前深度偏移成像，最终得到给定地质模型的地震响应结果，分析断层模型的地震响应特征，为断层的识别和解释提供依据。具体地，在步骤3中是通过对步骤1中设计的低序级断层地质模型的地震正演模拟，研究了低序级断层在地震资料中的主要特征，经归纳总结，分别得到了不同地震子波主频的断层识别模版、含不同比例噪音的断层识别模版、不同断面倾角的断层识别模版、不同地层倾角的断层识别模板、断面倾角与地层倾角的断层识别模板、不同深度下常规资料与高精度资料的断层分辨力识别模版、常规地震资料与高精度地震资料断层断距分辨率力与深度交会综合曲线对比图，通过最小二乘拟合得到断层分辨率力随深度变化的函数关系，并经计算得到断层断距分辨力与深度关系量板表，为实际地震资料低序级断层的识别和解释提供指导。与现有技术相比，本专利技术的有益效果为：本专利技术中的影响低序级断层识别精度的定量分析方法充分考虑了低序级断层地质特点，通过地震正演模拟研究了低序级断层在地震资料中的主要特征，对影响低序级断层识别精度的诸多因素如埋藏深度、速度结构、地震子波主频、信噪比、断面倾角、地层产状、以及地层和断面的夹角等开展了分析和研究，归纳总结出了不同地震子波主频的断层识别模版、含不同比例噪音的断层识别模版、不同断面倾角的断层识别模版、不同地层倾角的断层识别模板、断面倾角与地层倾角的断层识别模板、不同深度下常规资料与高精度资料的断层分辨力识别模版、常规地震资料与高精度地震资料断层断距分辨率力与深度交会综合曲线对比图，并通过拟合公式计算得到断层断距分辨力与深度关系量板表，为实际地震资料低序级断层的识别和解释提供了可靠的依据及其指导作用。因此，本专利技术的方法具有良好的应用效果和推广前景。附图说明图1是本专利技术影响低序级断层识别精度的定量分析方法的流程图。图2a是浅层(1000-1500m)地质模型；图2b是中浅层(1500-2000m)地质模型；图2c是中深层(2000-2500m)地质模型；图2d是深层(2800-3300m)地质模型。图3a是浅层(1000-1500m)地质模型的地震正演模拟剖面；图3b中浅层(1500-2000m)地质模型的地震正演模拟剖面；图3c是中深层(2000-2500m)地质模型的地震正演模拟剖面；图3d是深层(2800-3300m)地质模型的地震正演模拟剖面。图4是不同地震子波主频的断层识别模版。图5是含不同比例噪音的断层识别模版。图6是不同深度下常规资料与高精度资料的断层分辨力模版。图7是常规资料、高精度资料的断层断距分辨率力与深度交会综合曲线图。图8是不同断层倾角的地质模型。图9是不同断层倾角的正演模拟剖面。图10是不同断层倾角的断层识别模版。图11a是地层深度递增具有不同地层倾角的地质模型的正向断层地质模型；11b是地层深度递增具有不同地层倾角的地质模型的正演模拟剖面。图12a是地层深度递减具有不同地层倾角的地质模型的反向断层地质模型；12b是地层深度递减具有不同地层倾角的地质模型的正演模拟剖面。图13a是不同地层倾角正向正断层的识别模板；图13b是不同地层倾角反向正断层的识别模板。图14是断面倾角与地层倾角的断层识别模块。图15是断层识别的各种影响因素的权重。具体实施方式下面结合具体实施例对本专利技术作进一步描述，在此专利技术的示意性实施例以及说明用来解释本专利技术，但并不作为对本专利技术的限定。如图1所示，本专利技术的一种影响低序级断层识别精度的定量分析方法，包括以下步骤：步骤1，在深入分析低序级断层地质特点和地震响应特征的基础上，针对低序级断层识别的影响因素，设计低序级断层地质模型：低序级断层地质特点如下：(1)如果地层界面及地震反射连续性较好，其表现为断层特征不明显，难以识别；如果界面及反射连续性较差，分叉、合并、断开现象严重，似乎随处可开断本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种影响低序级断层识别精度的定量分析方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，在深入分析低序级断层地质特点和地震响应特征的基础上，针对低序级断层识别的影响因素，设计低序级断层地质模型；步骤2，通过地震正演模拟，研究低序级断层在地震资料中的主要特征；步骤3，开展对低序级断层识别精度的影响分析，归纳总结不同影响因素下的断层识别模版、断层断距分辨率力与深度交会综合曲线及其量板表。

【技术特征摘要】
1.一种影响低序级断层识别精度的定量分析方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，在深入分析低序级断层地质特点和地震响应特征的基础上，针对低序级断层识别的影响因素，设计低序级断层地质模型；步骤2，通过地震正演模拟，研究低序级断层在地震资料中的主要特征；步骤3，开展对低序级断层识别精度的影响分析，归纳总结不同影响因素下的断层识别模版、断层断距分辨率力与深度交会综合曲线及其量板表。2.根据权利要求1所述的影响低序级断层识别精度的定量分析方法，其特征在于：所述步骤1中在进行低序级断层识别精度的影响因素分析过程中，分别针对埋藏深度、速度结构、地震子波主频、信噪比、断面倾角、地层产状、地层和断面的夹角影响低序级断层识别精度的因素，设计不同类型的低序级断层地质模型。3.根据权利要求1所述的影响低序级断层识别精度的定量分析方法，其特征在于：所述步骤2中针对步骤1设计的低序级断层地质模型，通过模拟野外观测系统，确定激发点...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏朝光，马玉歌，孙明江，韩宏伟，王兴谋，乐友喜，顿宗萍，尹兵祥，刘启亮，张健，汤梦静，陈雨茂，王蓬，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司物探研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11