一种寄存器传输级电路的功能验证方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种寄存器传输级电路的功能验证方法及装置，用以解决了现有技术寄存器传输级电路的功能验证耗时太长的问题。该方法包括：将寄存器传输级电路划分为若干计算单元，以及用于控制各计算单元协同以实现电路功能的控制单元；对所述计算单元进行测试；对所述控制单元进行测试；当确定每一计算单元及控制单元均测试通过时，确定寄存器传输级电路的功能验证通过。

【技术实现步骤摘要】
一种寄存器传输级电路的功能验证方法及装置
本专利技术涉及数字电路
，尤其涉及一种寄存器传输级电路的功能验证方法及装置。
技术介绍
随着数字电路技术的高速发展，其应用范围越来越广泛，芯片规模变得越来越大、功能变得越来越复杂，从而使得电路验证这一工作变得更重要、更艰巨。而如果在验证阶段不能及时发现错误，将会造成巨大的损失。针对寄存器传输级(RegisterTransferLevel，RTL)的硬件设计，一般的验证方法，会从以下几个方面进行：全遍历验证，全随机验证，临界参数(corner)验证，以及大量拷机验证。一般来说，如果一个设计可以做到全覆盖验证的话，那么这个设计的可靠性是非常高的，但是对于算法类的设计来说，因为输入的参数非常多，每一个参数的范围值又很大，如果全部验证到，那么仿真所需要的测试用例(case)量是巨大的，时间可能需要很长，对于项目的工期来说是一个很大的考验。现有的验证流程如图1所示，全遍历测试、定向遍历测试、全随机测试是三个主要的测试过程。全遍历测试是指针对每一功能的所有输入情况的遍历测试，定向遍历测试是指针对特殊输入情况下的测试，全随机测试是指完全随机参数条件下的测试。其中，全遍历测试由于要遍历每一功能的所有输入情况，花费时间太长。如何在保障验证效果的同时降低验证所需时间，现有技术还没有给出解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种寄存器传输级电路的功能验证方法及装置，用以解决目前RTL电路功能验证耗时太长的问题。本专利技术实施例提供的具体方案如下：第一方面，一种寄存器传输级电路的功能验证方法，包括：将寄存器传输级电路划分为若干计算单元，以及用于控制各计算单元协同以实现电路功能的控制单元；对所述计算单元进行测试；对所述控制单元进行测试；当确定每一计算单元及控制单元均测试通过时，确定寄存器传输级电路的功能验证通过。结合第一方面，在第一种可能的实现方式中，对所述计算单元进行测试，包括：确定所述计算单元对应的各个输入参数；确定所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合；根据所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合，依次对所述计算单元进行测试。结合第一方面的第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中，根据所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合，依次对所述计算单元进行测试，包括：设置与所述计算单元计算功能相同的探针单元；将所述探针单元的输入端与所述计算单元的输入端连接；依次输入所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合，比较探针单元的输出结果和计算单元的输出结果；当确定所有输出结果相同时，确定所述计算单元测试通过。结合第一方面，在第三种可能的实现方式中，对所述控制单元进行测试，包括：依次针对寄存器传输级电路的每一种功能，确定出当前功能对应的各个输入参数；选取所述当前功能对应的各个输入参数的取值组合，对所述控制单元进行测试。结合第一方面的第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，选取所述当前功能对应的各个输入参数的取值组合，对所述控制单元进行测试，包括：按照预设的步长为所述当前功能对应的各个输入参数分别取值；根据各个输出参数按照预设步长取值结果的组合，依次对所述控制单元进行测试。第二方面，一种寄存器传输级电路的功能验证装置，包括：划分模块，用于将寄存器传输级电路划分为若干计算单元，以及用于控制各计算单元协同以实现电路功能的控制单元；计算单元测试模块，用于对所述计算单元进行测试；控制单元测试模块，用于对所述控制单元进行测试；结果确定模块，用于当确定每一计算单元及控制单元均测试通过时，确定寄存器传输级电路的功能验证通过。结合第二方面，在第一种可能的实现方式中，所述计算单元测试模块，包括：第一参数识别模块，用于确定所述计算单元对应的各个输入参数；取值确定模块，用于确定所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合；第一参数测试模块，用于根据所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合，依次对所述计算单元进行测试。结合第二方面的第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中，所述第一参数测试模块具体用于：设置与所述计算单元计算功能相同的探针单元；将所述探针单元的输入端与所述计算单元的输入端连接；依次输入所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合，比较探针单元的输出结果和计算单元的输出结果；当确定所有输出结果相同时，确定所述计算单元测试通过。结合第二方面，在第三种可能的实现方式中，所述控制单元测试模块，包括：第二参数识别模块，用于依次针对寄存器传输级电路的每一种功能，确定出当前功能对应的各个输入参数；第二参数测试模块，用于选取所述当前功能对应的各个输入参数的取值组合，对所述控制单元进行测试。结合第二方面的第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，所述第二参数测试模块具体用于：按照预设的步长为所述当前功能对应的各个输入参数分别取值；根据各个输出参数按照预设步长取值结果的组合，依次对所述控制单元进行测试。本专利技术实施例，将寄存器传输级电路划分为若干计算单元，以及用于控制各计算单元协同以实现电路功能的控制单元，对所述计算单元进行测试，对所述控制单元进行测试，当确定每一计算单元及控制单元均测试通过时，确定寄存器传输级电路的功能验证通过；相比于现有技术直接对电路功能展开测试，大幅减少了每一次测试的输入参数的个数，从而降低了各参数之间组合的种数，进而降低了测试用例的数目，同时，对控制单元进行测试，保障各计算单元能够正常协同工作，本专利技术实施例最终从整体上达到了以更快的速度完成对电路功能测试的效果。附图说明图1是本专利技术实施例提供的现有技术中RTL验证测试的流程示意图；图2是本专利技术实施例提供的一种寄存器传输级电路的功能验证方法的流程示意图；图3是本专利技术实施例提供的计算单元测试方法的流程示意图；图4为本专利技术具体实施例提供的RTL电路结构示意图；图5为本专利技术具体实施例提供的RTL验证测试的流程示意图；图6为本专利技术具体实施例提供的验证计算单元时的RTL电路结构示意图；图7为本专利技术实施例提供的一种寄存器传输级电路的功能验证装置的结构示意图；图8为本专利技术实施例提供的一种寄存器传输级电路的功能验证装置的另一结构示意图；图9为本专利技术实施例提供的一种确定图形中最大相似区域的装置的又一结构示意图。具体实施方式本专利技术实施例提供了一种寄存器传输级电路的功能验证方法及装置，解决了现有技术寄存器传输级电路的功能验证耗时太长的问题。参见图2，本专利技术实施例提供的一种寄存器传输级电路的功能验证方法包括：S210、将寄存器传输级电路划分为若干计算单元，以及用于控制各计算单元协同以实现电路功能的控制单元。划分方式可以按照预设程序自动划分，也可以由人工输入划分结果。其中，计算单元的特点在于每一组固定的输入对应固定的输出，设定输入、输出参数对应的测试用例即可；而控制单元则涉及多个计算单元的协同，因此需要在功能层面进行验证，包括对涉及多个计算单元的输入以及最终输出结果的验证。S220、对所述计算单元进行测试。较佳地，S220包括：确定所述计算单元对应的各个输入参数；确定所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合；根据所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合，依次对所述计算单元进行测试。即是对计算单元进行全遍历测试。具体本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种寄存器传输级电路的功能验证方法，其特征在于，包括：将寄存器传输级电路划分为若干计算单元，以及用于控制各计算单元协同以实现电路功能的控制单元；对所述计算单元进行测试；对所述控制单元进行测试；当确定每一计算单元及控制单元均测试通过时，确定寄存器传输级电路的功能验证通过。

【技术特征摘要】
1.一种寄存器传输级电路的功能验证方法，其特征在于，包括：将寄存器传输级电路划分为若干计算单元，以及用于控制各计算单元协同以实现电路功能的控制单元；对所述计算单元进行测试；对所述控制单元进行测试；当确定每一计算单元及控制单元均测试通过时，确定寄存器传输级电路的功能验证通过。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述计算单元进行测试，包括：确定所述计算单元对应的各个输入参数；确定所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合；根据所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合，依次对所述计算单元进行测试。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合，依次对所述计算单元进行测试，包括：设置与所述计算单元计算功能相同的探针单元；将所述探针单元的输入端与所述计算单元的输入端连接；依次输入所述计算单元对应的各个输入参数的全部取值组合，比较探针单元的输出结果和计算单元的输出结果；当确定所有输出结果相同时，确定所述计算单元测试通过。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述控制单元进行测试，包括：依次针对寄存器传输级电路的每一种功能，确定出当前功能对应的各个输入参数；选取所述当前功能对应的各个输入参数的取值组合，对所述控制单元进行测试。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，选取所述当前功能对应的各个输入参数的取值组合，对所述控制单元进行测试，包括：按照预设的步长为所述当前功能对应的各个输入参数分别取值；根据各个输出参数按照预设步长取值结果的组合，依次对所述控制单元进行测试。6.一种寄存器传输级电路的功能验证装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张明瑞，
申请(专利权)人：合肥君正科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34