电子设备的测试系统与方法技术方案

技术编号:20021988 阅读:42 留言:0更新日期:2019-01-06 02:34
一种电子设备的测试系统,用于对所述电子设备进行测试,所述测试系统包括连接启动模块、图片获取模块及比对判断模块。连接启动模块用于将所述电子设备与测试组件通信连接,并启动所述测试组件的测试程序,以对所述电子设备进行测试。图片获取模块用于获取所述电子设备的测试结果图像。比对判断模块用于将所述测试结果图像与模板图像进行比较,以获取测试结果。本发明专利技术还提供一种电子设备的测试方法。上述电子设备的测试系统与方法,通过在测试过程中获取测试结果图像并与模板图像进行比对,来实现自动获取测试结果,避免人为测试中的疏漏及误差,同时可节省测试人力成本。

【技术实现步骤摘要】
电子设备的测试系统与方法
本专利技术涉及测试领域,尤其涉及一种电子设备的测试系统与方法。
技术介绍
产品质量的可靠度是产品能成功销售的关键,现有的电子设备在完成生产后,需要做多种可靠性能测试,且某些可靠性性能测试需要做重复多次测试,测试过程较繁琐,且在每次测试完成后,测试人员需要手动记录测试结果,进而需要花费大量的人力与时间来完成产品测试。
技术实现思路
有鉴于此,有必要提供一种电子设备的测试系统与方法,其能实现节省测试人力成本。本专利技术一实施方式提供一种电子设备的测试系统,用于对电子设备进行测试,所述测试系统包括:连接启动模块,用于将所述电子设备与测试组件通信连接,并启动所述测试组件的测试程序,以对所述电子设备进行测试;图片获取模块,用于获取所述电子设备的测试结果图像;及比对判断模块,用于将所述测试结果图像与模板图像进行比较,以获取测试结果。优选地,所述测试系统还包括统计生成模块,用于统计对所述电子设备的测试次数并根据每一次的测试结果来生成测试报表。优选地,所述测试组件包括上位机及IO控制模组,所述IO控制模组电连接于所述电子设备,所述连接启动单元用于启动所述上位机的测试程序控制IO控制模组的打开与关闭,以对所述电子设备进行测试。优选地,所述测试组件包括上位机及信号发生器,所述连接启动单元用于启动所述上位机的测试程序控制所述信号发生器根据预设的调制参数输出射频信号至所述电子设备,以对所述电子设备进行测试。优选地,所述测试系统还包括坐标获取模块,所述坐标获取模块用于获取并存储所述模板图像的坐标信息;所述比对判断模块用于将所述测试结果图像与所述模板图像进行比较,以从所述测试结果图像中找到匹配区域;所述坐标获取模块还用于获取所述匹配区域的坐标信息;及所述比对判断模块还用于将所述模板图像的坐标信息与所述匹配区域的坐标信息进行比较,以获取测试结果。本专利技术一实施方式提供一种电子设备的测试方法,所述测试方法包括以下步骤:将电子设备与测试组件通信连接,并启动所述测试组件的测试程序,以对所述电子设备进行测试;获取所述电子设备的测试结果图像;及将所述测试结果图像与模板图像进行比较,以获取测试结果。优选地,所述测试方法还包括:统计对所述电子设备的测试次数并根据每一次的测试结果来生成测试报表。优选地,所述测试组件包括上位机及IO控制模组,所述启动所述测试组件的测试程序,以对所述电子设备进行测试的步骤包括:启动所述上位机的测试程序控制IO控制模组的打开与关闭,以对所述电子设备进行测试。优选地,所述测试组件包括上位机及信号发生器,所述启动所述测试组件的测试程序,以对所述电子设备进行测试的步骤包括:启动所述上位机的测试程序控制所述信号发生器根据预设的调制参数输出射频信号至所述电子设备,以对所述电子设备进行测试。优选地,所述将所述测试结果图像与模板图像进行比较,以获取测试结果的步骤包括:获取并存储所述模板图像的坐标信息;将所述测试结果图像与所述模板图像进行比较,以从所述测试结果图像中找到匹配区域;获取所述匹配区域的坐标信息;及将所述模板图像的坐标信息与所述匹配区域的坐标信息进行比较,以获取测试结果。与现有技术相比,上述电子设备的测试系统与方法,通过在测试过程中获取测试结果图像并与模板图像进行比对,来实现自动获取测试结果,避免人为测试中的疏漏及误差,同时可节省测试人力成本。附图说明图1是本专利技术一实施方式的电子设备的测试系统的应用环境图。图2是本专利技术一实施方式的电子设备的测试系统的功能模块图。图3是本专利技术一实施方式的测试组件的功能模块图。图4是本专利技术另一实施方式的测试组件的功能模块图。图5是本专利技术一实施方式的电子设备的测试方法的步骤流程图。主要元件符号说明连接启动模块10图片获取模块20比对判断模块30统计生成模块40坐标获取模块50测试系统100电子设备200测试组件300上位机302IO控制模块304信号发生器306如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式请参阅图1-4,在一实施方式中,一种测试系统100用于对电子设备200进行测试。电子设备200可以是手机、平板电脑、电视等设备。测试系统100包括连接启动模块10、图片获取模块20及比对判断模块30。连接启动模块10用于建立电子设备200与测试组件300之间的通信连接,并启动测试组件300的测试程序,以对电子设备200进行测试。图片获取模块20用于获取电子设备200的测试结果图像。比对判断模块30用于将图片获取模块20获取的测试结果图像与预存的模板图像进行比较,以获取测试结果。在一实施方式中,图片获取模块20可以通过启动一相机(图未示)来拍摄电子设备200的测试结果图像。比对判断模块30可以通过计算机视觉类库技术(OpenSourceComputerVisionLibrary、OpenCV)来实现图像比对。在一实施方式中,测试系统100还包括统计生成模块40。统计生成模块40用于统计对电子设备200的测试次数并根据每一次的测试结果来生成测试报表。测试系统100可以根据图像比对结果即可判断本次测试是否合格,并将测试结果进行存储,实现自动化测试。在本专利技术的其他实施方式中,测试报表还可以包括其他信息,例如测试周期、开始测试时间、结束测试时间、总通过测试次数及总失败测试次数。在一实施方式中,测试系统100还包括坐标获取模块50。坐标获取模块50用于获取并存储模板图像的坐标信息。比对判断模块30用于将测试结果图像与模板图像进行比较,以从测试结果图像中找到匹配区域。进一步地,坐标获取模块50还用于获取匹配区域的坐标信息。比对判断模块30还用于将模板图像的坐标信息与匹配区域的坐标信息进行比较,进而根据坐标比较结果来获取测试结果。当比对判断模块30判断模板图像的坐标信息与匹配区域的坐标信息相同时,表示当前测试为PASS(通过),否则当前测试为FAIL(不通过)。需要说明的是,本专利技术所称的模块(连接启动模块10、图片获取模块20、比对判断模块30、统计生成模块40及坐标获取模块50)可以是完成一特定功能的程序段,其可以存储在存储器(图未示)中并被处理器(图未示)执行。举例而言,电子设备200为平板电脑,测试系统100对平板电脑进行开关机测试。测试组件300包括上位机302及IO控制模块304。上位机302与IO控制模块304连接,IO控制模块304与电子设备200的电源开关键连接。当测试系统100对电子设备200进行测试时,上位机302读取测试指令并控制IO控制模块304内的继电器进行关闭与打开,进而可以控制电子设备200的电源开关键的开关动作。图片获取模块20启动相机来拍摄电子设备200的测试结果图像并将测试结果图像回传至上位机302。比对判断模块30将图片获取模块20获取的测试结果图像与预存的模板图像进行比较,来获取当前测试结果。在本实施方式中,图片获取模块20及比对判断模块30可以是上位机302中的完成一特定功能的程序段。举例而言,电子设备200为电视,测试系统100对电视进行屏幕画面测试。测试组件300包括上位机302及信号发生器306。信号发生器306用于输出射频信号至电子设备200。当测试系统100对电子设备200进行测试时,上位机读取并执行预存的信号调制参数命本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子设备的测试方法,其特征在于,所述测试方法包括以下步骤:将电子设备与测试组件通信连接,并启动所述测试组件的测试程序,以对所述电子设备进行测试;获取所述电子设备的测试结果图像;及将所述测试结果图像与模板图像进行比较,以获取测试结果。

【技术特征摘要】
1.一种电子设备的测试方法,其特征在于,所述测试方法包括以下步骤:将电子设备与测试组件通信连接,并启动所述测试组件的测试程序,以对所述电子设备进行测试;获取所述电子设备的测试结果图像;及将所述测试结果图像与模板图像进行比较,以获取测试结果。2.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述测试方法还包括:统计对所述电子设备的测试次数并根据每一次的测试结果来生成测试报表。3.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述测试组件包括上位机及IO控制模组,所述启动所述测试组件的测试程序,以对所述电子设备进行测试的步骤包括:启动所述上位机的测试程序控制IO控制模组的打开与关闭,以对所述电子设备进行测试。4.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述测试组件包括上位机及信号发生器,所述启动所述测试组件的测试程序,以对所述电子设备进行测试的步骤包括:启动所述上位机的测试程序控制所述信号发生器根据预设的调制参数输出射频信号至所述电子设备,以对所述电子设备进行测试。5.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述将所述测试结果图像与模板图像进行比较,以获取测试结果的步骤包括:获取并存储所述模板图像的坐标信息;将所述测试结果图像与所述模板图像进行比较,以从所述测试结果图像中找到匹配区域;获取所述匹配区域的坐标信息;及将所述模板图像的坐标信息与所述匹配区域的坐标信息进行比较,以获取测试结果。6.一种电子设备的测试系统,用于对所述电子...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨进维
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业武汉有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:湖北,42

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