一种机械设备的测试系统技术方案

技术编号:20019585 阅读:28 留言:0更新日期:2019-01-06 01:21
本发明专利技术公开一种机械设备的测试系统,中央控制系统、测试器Ⅰ、测试器Ⅱ、测试器Ⅲ、测试器Ⅳ和测试器Ⅴ,测试器Ⅰ、测试器Ⅱ、测试器Ⅲ、测试器Ⅳ和测试器Ⅴ串联在一起,中央控制系统与测试器Ⅰ、测试器Ⅱ、测试器Ⅲ、测试器Ⅳ和测试器Ⅴ连接在一起,可以一次性的测试所有的元器件,不会出现各个之间的元器件在联通发面也是不流程情况的发生,不会出现数据上的缺损,使测试的时间大大缩短,提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种机械设备的测试系统
本专利技术涉及一种测试系统,具体是一种机械设备的测试系统。
技术介绍
随着科技的飞速发展,在机械制造的中使用全自动化的生产已经是现在机械制造的一种趋势,但是在全自动化的生产的同时会出现很多的问题所在,尤其是在机器刚使用的时候,工作人员在需要将机器进行测试,但是在测试的过程中工作人员需要将测试的系统依次测试,这样花费的时间会非常长,而且在各个之间的元器件在联通发面也是不流程,有时候会出现数据上的缺损,如何能弥补这一缺陷是现在最需要解决的问题。
技术实现思路
针对上述现有技术存在的问题,本专利技术提供一种机械设备的测试系统,可以一次性的测试所有的元器件,不会出现各个之间的元器件在联通发面也是不流程情况的发生,不会出现数据上的缺损,使测试的时间大大缩短,提高了工作效率。为了实现上述目的,本专利技术采用的一种机械设备的测试系统,包括中央控制系统、测试器Ⅰ、测试器Ⅱ、测试器Ⅲ、测试器Ⅳ和测试器Ⅴ,测试器Ⅰ、测试器Ⅱ、测试器Ⅲ、测试器Ⅳ和测试器Ⅴ串联在一起,中央控制系统与测试器Ⅰ、测试器Ⅱ、测试器Ⅲ、测试器Ⅳ和测试器Ⅴ连接在一起。所述的中央控制系统是由单片机、功率放大器和处理器组成,单片机连接功率放大器,功率放大器连接处理器。可以一次性的测试所有的元器件,不会出现各个之间的元器件在联通发面也是不流程情况的发生,不会出现数据上的缺损,使测试的时间大大缩短,提高了工作效率。附图说明图1为本专利技术的结构示意图;图中:1、中央控制系统,2、测试器Ⅰ,3、测试器Ⅱ,4、测试器Ⅲ,5、测试器Ⅳ,6、测试器Ⅴ。具体实施方式为使本专利技术的目的技术方案和优点更加清楚明了,下面通过附图中及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。但是应该理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限制本专利技术的范围。如图1所示,本专利技术采用的一种机械设备的测试系统,包括中央控制系统1、测试器Ⅰ2、测试器Ⅱ3、测试器Ⅲ4、测试器Ⅳ5和测试器Ⅴ6,测试器Ⅰ2、测试器Ⅱ3、测试器Ⅲ4、测试器Ⅳ5和测试器Ⅴ6串联在一起,中央控制系统1与测试器Ⅰ2、测试器Ⅱ3、测试器Ⅲ4、测试器Ⅳ5和测试器Ⅴ6连接在一起。所述的中央控制系统1是由单片机、功率放大器和处理器组成,单片机连接功率放大器,功率放大器连接处理器。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已,并不用以限制本专利技术,凡在本专利技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换或改进等,均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种机械设备的测试系统,包括中央控制系统(1)、测试器Ⅰ(2)、测试器Ⅱ(3)、测试器Ⅲ(4)、测试器Ⅳ(5)和测试器Ⅴ(6),其特征在于,测试器Ⅰ(2)、测试器Ⅱ(3)、测试器Ⅲ(4)、测试器Ⅳ(5)和测试器Ⅴ(6)串联在一起,中央控制系统(1)与测试器Ⅰ(2)、测试器Ⅱ(3)、测试器Ⅲ(4)、测试器Ⅳ(5)和测试器Ⅴ(6)连接在一起。

【技术特征摘要】
1.一种机械设备的测试系统,包括中央控制系统(1)、测试器Ⅰ(2)、测试器Ⅱ(3)、测试器Ⅲ(4)、测试器Ⅳ(5)和测试器Ⅴ(6),其特征在于,测试器Ⅰ(2)、测试器Ⅱ(3)、测试器Ⅲ(4)、测试器Ⅳ(5)和测试器Ⅴ(6)串联在一起,中央控制系统(1)与...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙娟陈艳陈丽
申请(专利权)人:徐州巨业机械制造有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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