一种集成电路测试仪制造技术

本实用新型专利技术涉及机械设备技术领域，尤其为一种集成电路测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体，所述测试仪本体的上表面设有第一矩形槽，所述第一矩形槽内设有滑动装置，所述滑动装置包括设置在所述第一矩形槽内部的保护盒，所述第二矩形槽与第三矩形槽内设有转动装置，所述转动装置包括设置在所述第二矩形槽内的插线接口和两个相互对称的转轴，所述转动按钮的上方设有卡位机构，本实用新型专利技术结构简单，使用方便，通过设置的滑槽以及滑动装置，更加方便插线，解决了一般的插线接口在插线时非常不便的问题；另外通过设置的转动装置和卡位机构，避免插线接口表面积累灰尘，解决了一般的集成电路测试仪上的插线接口容易积累灰尘的问题。

An Integrated Circuit Tester

The utility model relates to the technical field of mechanical equipment, in particular to an integrated circuit tester, including a tester body, which has a first rectangular groove on the upper surface of the tester body and a sliding device in the first rectangular groove. The sliding device comprises a protective box arranged in the first rectangular groove, the second rectangular groove and the third rectangle. There is a rotating device in the groove, which includes an insertion interface arranged in the second rectangular groove and two mutually symmetrical rotating axes. On the top of the rotating button, there is a clamping mechanism. The utility model has simple structure and convenient use. Through the sliding groove and sliding device, it is more convenient to insert wires, thus solving the very inconvenient problem of inserting wires in the general insertion interface. In addition, by setting the rotating device and clamping mechanism, the dust accumulation on the surface of the plug-in interface is avoided, which solves the problem that the plug-in interface on the general integrated circuit tester is easy to accumulate dust.

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试仪
本技术涉及机械设备
，具体为一种集成电路测试仪。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，集成电路在被生产制造出来之后首先需要对其进行测试，在测试的时候就需要用到集成电路测试仪，而一般的集成电路测试仪上的插线接口是暴露在外的，其很容易积累灰尘，另外一般的插线接口其是固定在集成电路测试仪上的，在插线的时候非常不便。鉴于此，我们提出一种集成电路测试仪。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种集成电路测试仪，以解决上述
技术介绍
中提出的一般的集成电路测试仪上的插线接口容易积累灰尘以及插线时非常不便问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体，所述测试仪本体的上表面设有第一矩形槽，所述第一矩形槽的左右两侧槽壁上对称设置有滑槽，每个所述滑槽的槽口处均固定安装有两个相互对称的限位块；所述第一矩形槽内设有滑动装置，所述滑动装置包括设置在所述第一矩形槽内部的保护盒，所述保护盒的前侧面上开设有第二矩形槽以及第三矩形槽，所述保护盒的左右两侧面上固定安装有滑块，所述滑块与所述滑槽之间滑动连接，所述第二矩形槽与第三矩形槽内设有转动装置；所述转动装置包括设置在所述第二矩形槽内的插线接口和两个相互对称的转轴，且所述插线接口和所述第二矩形槽槽壁之间通过转轴转动连接，其中一个所述转轴活动贯穿所述第二矩形槽的槽壁并伸至所述第三矩形槽内，位于所述第三矩形槽内的所述转轴的轴体上固定安装有转动按钮。优选的，每个所述滑块的末端均固定安装有两个相互对称的防脱块，且两个所述防脱块之间的距离大于两个所述限位块之间的距离。优选的，所述转动按钮的上方设有卡位机构。优选的，所述卡位机构包括固定安装在所述第三矩形槽顶壁上的固定块，所述固定块的下方设有卡位块。优选的，所述卡位块的顶面开设有方形槽，所述方形槽内设有两个相互对称的压簧。优选的，每个所述压簧的一端均紧密粘接在所述方形槽的槽壁上，另一端均紧密粘接在所述固定块的下表面。优选的，所述卡位块的底端设有凸块，且所述卡位块底端凸块的截面呈V字形。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1、本技术结构简单，使用方便，通过设置的滑槽以及滑动装置，滑槽以及滑块之间滑动连接，实现将安装在保护盒内部的插线接口向外拖动，更加方便插线，解决了一般的插线接口其是固定在集成电路测试仪上的，在插线时非常不便的问题。2、本技术通过设置的转动装置和卡位机构，实现在使用时将插线接口转动到靠近人体面前的方向，在不使用时将其转动到保护盒内部，从而避免其表面积累灰尘，解决了一般的集成电路测试仪上的插线接口是暴露在外的，很容易积累灰尘的问题。附图说明图1为本技术的立体图；图2为本技术图1中A处的放大图；图3为本技术保护盒的立体图；图4为本技术滑动装置的立体图；图5为本技术转动装置的立体图；图6为本技术卡位机构的爆炸图。图中：1、测试仪本体；11、第一矩形槽；12、滑槽；121、限位块；2、滑动装置；20、保护盒；21、第二矩形槽；22、第三矩形槽；23、滑块；231、防脱块；3、转动装置；31、插线接口；311、转轴；32、转动按钮；33、卡位机构；331、固定块；332、卡位块；3321、方形槽；3322、压簧。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。请参阅图1-6，本技术提供一种技术方案：一种集成电路测试仪，如图1和图2所示，包括测试仪本体1，测试仪本体1，测试仪本体1的上表面设有第一矩形槽11，第一矩形槽11的左右两侧槽壁上对称设置有滑槽12，每个滑槽12的槽口处均固定安装有两个相互对称的限位块121。值得说明的是，测试仪本体1采用北京正达时代电子技术有限公司生产的ZD240系列在线电路测试仪，其配套的电路和电源也由该厂家提供；此外，本技术中涉及到测试仪本体1为现有技术，本领域的技术人工完全可以实现，无需赘言，本技术保护的内容也不涉及对测试仪本体1的结构和工作原理的改进。如图2、图3和图4所示，第一矩形槽11内设有滑动装置2，滑动装置2包括设置在第一矩形槽11内部的保护盒20，保护盒20的前侧面上开设有第二矩形槽21以及第三矩形槽22，保护盒20的左右两侧面上固定安装有滑块23，每个滑块23的末端均固定安装有两个相互对称的防脱块231，滑块23与滑槽12之间滑动连接，第二矩形槽21与第三矩形槽22内设有转动装置3。具体的，两个防脱块231之间的距离大于两个限位块121之间的距离，避免保护盒20从第一矩形槽11过度拉出，对防脱块231的滑动距离起到限制的作用。进一步的，第二矩形槽21与第三矩形槽22位于同一平面上。如图3、图4、图5和图6所示，转动装置3包括设置在第二矩形槽21内的插线接口31和两个相互对称的转轴311，且插线接口31和第二矩形槽21槽壁之间通过转轴311转动连接，其中一个转轴311活动贯穿第二矩形槽21的槽壁并伸至第三矩形槽22内，位于第三矩形槽22内的转轴311的轴体上固定安装有转动按钮32，转动按钮32的上方设有卡位机构33，卡位机构33包括固定安装在第三矩形槽22顶壁上的固定块331，固定块331的下方设有卡位块332，卡位块332的顶面开设有方形槽3321，方形槽3321内设有两个相互对称的压簧3322，每个压簧3322的一端均紧密粘接在方形槽3321的槽壁上，另一端均紧密粘接在固定块331的下表面。进一步的，第二矩形槽21的左右两侧槽壁上开设有让转轴311贯穿的通孔。值得说明的是，卡位块332的底端设有凸块，且卡位块332底端凸块的截面呈V字形，保证转动按钮32的正常转动，避免转动按钮32被卡位块332底端的凸块卡死。值得注意的是，转动按钮32上设有两条红色标记线，在转动到红色标记线暴露在外的时候便不能继续转动转动按钮32，避免转动按钮32转动的时候，插线接口3本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试仪，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)，所述测试仪本体(1)的上表面设有第一矩形槽(11)，所述第一矩形槽(11)的左右两侧槽壁上对称设置有滑槽(12)，每个所述滑槽(12)的槽口处均固定安装有两个相互对称的限位块(121)；所述第一矩形槽(11)内设有滑动装置(2)，所述滑动装置(2)包括设置在所述第一矩形槽(11)内部的保护盒(20)，所述保护盒(20)的前侧面上开设有第二矩形槽(21)以及第三矩形槽(22)，所述保护盒(20)的左右两侧面上固定安装有滑块(23)，所述滑块(23)与所述滑槽(12)之间滑动连接，所述第二矩形槽(21)与第三矩形槽(22)内设有转动装置(3)；所述转动装置(3)包括设置在所述第二矩形槽(21)内的插线接口(31)和两个相互对称的转轴(311)，且所述插线接口(31)和所述第二矩形槽(21)槽壁之间通过转轴(311)转动连接，其中一个所述转轴(311)活动贯穿所述第二矩形槽(21)的槽壁并伸至所述第三矩形槽(22)内，位于所述第三矩形槽(22)内的所述转轴(311)的轴体上固定安装有转动按钮(32)。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试仪，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)，所述测试仪本体(1)的上表面设有第一矩形槽(11)，所述第一矩形槽(11)的左右两侧槽壁上对称设置有滑槽(12)，每个所述滑槽(12)的槽口处均固定安装有两个相互对称的限位块(121)；所述第一矩形槽(11)内设有滑动装置(2)，所述滑动装置(2)包括设置在所述第一矩形槽(11)内部的保护盒(20)，所述保护盒(20)的前侧面上开设有第二矩形槽(21)以及第三矩形槽(22)，所述保护盒(20)的左右两侧面上固定安装有滑块(23)，所述滑块(23)与所述滑槽(12)之间滑动连接，所述第二矩形槽(21)与第三矩形槽(22)内设有转动装置(3)；所述转动装置(3)包括设置在所述第二矩形槽(21)内的插线接口(31)和两个相互对称的转轴(311)，且所述插线接口(31)和所述第二矩形槽(21)槽壁之间通过转轴(311)转动连接，其中一个所述转轴(311)活动贯穿所述第二矩形槽(21)的槽壁并伸至所述第三矩形槽(22)内，位于所述第三矩形槽(22)内的所述转轴(311)的轴体上固定安装有...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：深圳市众合和科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44