上电断电测试器制造技术

本实用新型专利技术提供了一种上电断电测试器，包括MCU芯片、按键模块、天线、电源模块、继电器模块、数码管显示模块；所述MCU芯片的输入端分别接天线和按键模块，所述MCU芯片的输出端分别接继电器模块的输入端和数码管显示模块的输入端，所述MCU芯片的电源端接电源模块，所述继电器模块的输出端与被测试设备的电源端连接。本实用新型专利技术通过天线、MCU芯片、继电器模块来控制被测试设备的随机上电断电情况，通过按键模块、MCU芯片、继电器模块来控制被测试设备的定时上电断电情况，能够给被测试设备在上电断电方面得到全方位的测试环境。

Power-on and power-off tester

The utility model provides an on-power and off-power tester, which comprises a MCU chip, a key module, an antenna, a power supply module, a relay module and a digital tube display module. The input end of the MCU chip is connected with an antenna and a key module respectively, and the output end of the MCU chip is connected with the input end of the relay module and the input end of the digital tube display module respectively, and the power end of the MCU chip is connected with electricity. The output end of the relay module is connected with the power end of the tested device. The utility model controls the random power-on and power-off situation of the tested equipment through antenna, MCU chip and relay module, and controls the timing power-on and power-off situation of the tested equipment through button module, MCU chip and relay module, so as to provide the tested equipment with a comprehensive test environment in power-on and power-off.

【技术实现步骤摘要】
上电断电测试器
本技术涉及测试器
，更具体的说，涉及一种用于电子产品的上电断电测试器。
技术介绍
在现有技术中，由于很多被测电子产品内部电路中都包含有电容，而电容大小不相同，导致产品在断电后部分电容放电时间不确定，而电容的放电延迟导致定时上下电会掩盖一些电路上的缺陷问题，无法发现电路存在的隐患。当前电子产品的上电及断电测试器存在着由于电容放电时间不确定而导致产品不能及时发现隐患的技术缺陷，成为本领域技术人员急待解决的技术问题。
技术实现思路
本技术的技术目的是克服现有技术中，当前电子产品的上电断电测试器存在着固定开关时间而造成不能全面测试出电路隐患的技术问题；提供一种能够随机或定时上电断电，给被测试设备在上电断电方面得到全方位的测试的一种上电断电测试器。为实现以上技术目的，本技术的技术方案是：一种上电断电测试器，包括MCU芯片、按键模块、天线、电源模块、继电器模块、数码管显示模块；所述MCU芯片的输入端分别接天线和按键模块，所述MCU芯片的输出端分别接继电器模块的输入端和数码管显示模块的输入端，所述MCU芯片的电源端接电源模块，所述继电器模块的输出端与被测试设备的电源端连接；所述继电器模块包括继电器、三极管、第一电阻、第二电阻，所述继电器的第一输入端接三极管的集电极，其第二输入端接地，其第一输出端与被测试设备的电源端连接，其第二输出端连接被测试设备的供电电源，所述三极管的发射极接第一电阻的一端，其基极接第二电阻的一端，所述第一电阻的另一端接电源电压，所述第二电阻的另一端为继电器模块的输入端且与MCU芯片的输出端连接。进一步的，所述电源模块包括电源接口、变压芯片、第一电容-第三电容、第三电阻、第四电阻，所述电源接口的一端为电源输入端且接电源电压，其还与所述变压芯片的输入端、第一电容的一端、第二电容的一端连接，所述电源接口的另一端接地，所述变压芯片的接地端和输出端之间接第四电阻，所述变压芯片的接地端还与第三电阻的一端连接，所述变压芯片的输出端为电源模块的输出端且与MCU芯片的电源端连接，所述变压芯片的输出端还接第三电容的一端，所述第一电容、第二电容、第三电容的另一端都接地，所述第三电阻的另一端也接地。进一步的，所述按键模块选用至少2个按键。进一步的，所述数码管显示模块选用5位数码管显示器。进一步的，所述MCU芯片选用STM8L151型号。进一步的，所述MCU芯片内部集成定时器、EEPROM。本技术的上电断电测试器，具有以下有益效果：1、本技术通过天线、MCU芯片、继电器模块来控制被测试设备的随机上电断电情况，通过按键模块、MCU芯片、继电器模块来控制被测试设备的定时上电断电情况，进而给被测试设备在上电断电方面得到全方位的测试环境，通过观察被测试设备内的所有电容的放电时间；从而得到被测试设备整体的放电时间，避免由于电容的放电延迟导致定时上下电会掩盖一些电路上的缺陷问题，无法发现电路存在的隐患。2、本技术将天线与MCU芯片连接，使干扰信号通过天线，引起MCU芯片的输入端的电平波动，从而产生随机的电压输入到MCU芯片中，MCU芯片根据输入的随机电压，随机控制继电器的通断，进而控制被测试设备随机上电断电，且产生随机上电断电的效果好，有利于观察被测试设备在随机上电断电的情况下电容放电时间。3、本技术通过数码管显示模块显示随机或定时上电断电的次数，有利于与在随机上电断电的情况下观察到的被测试设备的电容放电情况进行对比，帮助工作人员测试被测试设备。4、本技术可以在电容放电的任何时间随机控制被测试设备上电和断电，可以使被测试设备上电放电得到全方位的测试，也与产品实际应用场景相符。5、本技术的所采用的器件均为市面上常用的器件，其价格低廉，大大降低了制造成本，还便于更换，减小了维修成本。6、本技术的上电断电测试器还可以跟另外的电容检测设备搭配起来共同监测被测试设备的各个电容放电时间，得到更加准确的被测试设备整体的放电时间，也可以应用于其他需要随机或定时断电的场景，其应用范围非常广泛。本技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。附图说明图1是技术的结构框图；图2是技术的电路原理图；图3是技术的电源模块的电路原理图；图4是技术的上电断电测试器的具体工作流程图。图中，1、MCU芯片；2、按键模块；3、天线；4、电源模块；5、继电器模块；6、数码管显示模块；K1、继电器；Q1、三极管；R3、第一电阻；R4、第二电阻；J1、电源接口；U2、变压芯片；C1、第一电容；C2、第二电容；C3、第三电容；R1、第三电阻；R2、第四电阻。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。本技术的一个实施例中，如图1-4所示，一种上电断电测试器，包括MCU芯片1、按键模块2、天线3、电源模块4、继电器模块5、数码管显示模块6；MCU芯片1的输入端分别接天线3和按键模块2，MCU芯片1的输出端分别接继电器模块5的输入端和数码管显示模块6的输入端，MCU芯片1的电源端接电源模块4，继电器模块5的输出端与被测试设备的电源端连接；继电器模块5包括继电器K1、三极管Q1、第一电阻R3、第二电阻R4，继电器K1的第一输入端接三极管Q1的集电极，其第二输入端接地，其第一输出端与被测试设备的电源端连接，其第二输出端连接被测试设备的供电电源，三极管Q1的发射极接第一电阻R3的一端，其基极接第二电阻R4的一端，第一电阻R3的另一端接电源电压，第二电阻R4的另一端为继电器模块5的输入端且与MCU芯片1的输出端连接。进一步的，电源模块4包括电源接口J1、变压芯片U2、第一电容C1-第三电容C3、第三电阻R1、第四电阻R2，电源接口J1的一端为电源输入端且接电源电压，其还与变压芯片U2的输入端、第一电容C1的一端、第二电容C2的一端连接，电源接口J1的另一端接地，变压芯片U2的接地端和输出端之间接第四电阻R2，变压芯片U2的接地端还与第三电阻R1的一端连接，变压芯片U2的输出端为电源模块4的输出端且与MCU芯片1的电源端连接，变压芯片U2的输出端还接第三电容C3的一端，第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3的另一端都接地，第三电阻R1的另一端也接地。本技术的另一个实施例中，按键模块2选用至少2个按键，优先选用2个按键，如图2所示。本技术的另一个实施例中，数码管显示模块6优先选用5位数码管显示器。本技术的另一个实施例中，MCU芯片1选用STM8L151型号。本技术的另一个实施例中，MCU芯片1内部集成定时器、EEPROM（可编程序存储器）。工作原理：当对被测试设备进行随机上电断电时，将天线与MCU芯片的输入端连接，干扰信号通过天线，使得MCU芯片的输入端的电平有所波动，从而影响MCU芯片输入端采集的电压值的随机变化，相当于，以MCU芯片输入端采集的电压值为种子，产生随机数，可以将该随机数的设置最大值为10S，最小为0.1S本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种上电断电测试器，其特征在于：包括MCU芯片、按键模块、天线、电源模块、继电器模块、数码管显示模块；所述MCU芯片的输入端分别接天线和按键模块，所述MCU芯片的输出端分别接继电器模块的输入端和数码管显示模块的输入端，所述MCU芯片的电源端接电源模块，所述继电器模块的输出端与被测试设备的电源端连接；所述继电器模块包括继电器、三极管、第一电阻、第二电阻，所述继电器的第一输入端接三极管的集电极，其第二输入端接地，其第一输出端与被测试设备的电源端连接，其第二输出端连接被测试设备的供电电源，所述三极管的发射极接第一电阻的一端，其基极接第二电阻的一端，所述第一电阻的另一端接电源电压，所述第二电阻的另一端为继电器模块的输入端且与MCU芯片的输出端连接。

【技术特征摘要】
1.一种上电断电测试器，其特征在于：包括MCU芯片、按键模块、天线、电源模块、继电器模块、数码管显示模块；所述MCU芯片的输入端分别接天线和按键模块，所述MCU芯片的输出端分别接继电器模块的输入端和数码管显示模块的输入端，所述MCU芯片的电源端接电源模块，所述继电器模块的输出端与被测试设备的电源端连接；所述继电器模块包括继电器、三极管、第一电阻、第二电阻，所述继电器的第一输入端接三极管的集电极，其第二输入端接地，其第一输出端与被测试设备的电源端连接，其第二输出端连接被测试设备的供电电源，所述三极管的发射极接第一电阻的一端，其基极接第二电阻的一端，所述第一电阻的另一端接电源电压，所述第二电阻的另一端为继电器模块的输入端且与MCU芯片的输出端连接。2.如权利要求1所述的上电断电测试器，其特征在于：所述电源模块包括电源接口、变压芯片、第一电容-第三电容、第三电阻、...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷军平，
申请(专利权)人：深圳市创荣发电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44