一种元器件温升的测试方法及其系统技术方案

本发明专利技术适用于元器件测试技术领域，提供了一种元器件温升的测试方法及其系统，方法包括：测试控制终端获取用户输入的测试参数；将测试参数发送至设备标识对应的温升测试装置；温升测试装置根据测试参数包含的温升测试参数以及预设的温度采集规则对待测元器件进行温升测试，并将所述温升测试的测试结果发送至测试控制终端；测试控制终端根据测试结果以及预设的温升分析规则，生成待测元器件的温升测试报告，并将温升测试报告输出给用户。本发明专利技术实施例通过测试控制终端将测试参数发送给测试标识对应的温升测试装置，温升测试装置自动执行温升测试并将获取得到的测试结果反馈给用户，解决了现有的温升测试方法，检测效率较低以及人工成本较大的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种元器件温升的测试方法及其系统
本专利技术属于元器件测试
，尤其涉及一种元器件温升的测试方法及其系统。
技术介绍
随着电子产品的快速发展，元器件的使用寿命以及稳定度也越来越受用户重视。而为了验证元器件的使用寿命、稳定性等特性，通常会测试该元器件的温升效应。然而现有元器件温升的测试方法，主要通过人工进行测试环境的搭建，以及需要测试人员在测试装置前手动记录测试数据，并人工对测试数据进行分析。可见，现有元器件温升的测试技术，检测效率较低以及人工成本较大。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种元器件温升的测试方法及其系统，旨在解决现有元器件温升的测试方法，主要通过人工进行测试环境的搭建，以及需要测试人员在测试装置前手动记录测试数据，并人工对测试数据进行分析，检测效率较低以及人工成本较大的问题。第一方面，本专利技术实施例提供一种元器件温升的测试方法，应用于元器件温升的测试系统，所述元器件温升的测试系统包括测试控制终端以及至少一个温升测试装置；所述元器件温升的测试方法包括：所述测试控制终端获取用户输入的测试参数；其中，所述测试参数包括设备标识以及温升测试参数；所述测试控制终端将所述测试参数发送至所述设备标识对应的温升测试装置；所述温升测试装置根据所述测试参数包含的温升测试参数以及预设的温度采集规则对待测元器件进行温升测试，并将所述温升测试的测试结果发送至所述测试控制终端；所述测试控制终端根据所述测试结果以及预设的温升分析规则，生成所述待测元器件的温升测试报告；所述测试控制终端将所述温升测试报告输出给所述用户。第二方面，本专利技术实施例提供一种元器件温升的测试系统，所述元器件温升的测试系统包括测试控制终端以及至少一个温升测试装置；所述测试控制终端，用于获取用户输入的测试参数；其中，所述测试参数包括设备标识以及温升测试参数；所述测试控制终端，用于将所述测试参数发送至所述设备标识对应的温升测试装置；所述温升测试装置，用于根据所述测试参数包含的温升测试参数以及预设的温度采集规则对待测元器件进行温升测试，并将所述温升测试的测试结果发送至所述测试控制终端；所述测试控制终端，用于根据所述测试结果以及预设的温升分析规则，生成所述待测元器件的温升测试报告；所述测试控制终端，用于将所述温升测试报告输出给所述用户。实施本专利技术实施例提供的一种元器件温升的测试方法及其系统具有以下有益效果：本专利技术实施例通过测试控制终端向温升测试装置发送测试参数，温升测试装置自动执行温升测试并将获取得到的测试结果反馈给用户，从而无需用户手动记录温升测试数据与人工确定元器件的温升测试结果，提高了测试的效率并实现了测试的自动化，减少了人工成本。另一方面，由于用户可以将测试参数发送给测试控制终端，因此用户无需在温升测试装置前对每项测试参数进行手动调节，测试控制终端将直接进行测试参数的转发并自动执行对应温升测试，进一步提高了测试的效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例与现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一实施例提供的一种元器件温升的测试方法的交互流程图；图2是本专利技术另一实施例提供的一种元器件的温升测试方法的具体实现流程图；图3是本专利技术另一实施例提供的一种元器件温升的测试方法的交互流程图；图4是本专利技术另一实施例提供的一种元器件的温升测试方法S103的实现流程图；图5是本专利技术另一实施例提供的一种元器件的温升测试方法的具体实现流程图；图6是本专利技术一实施例提供的一种元器件温升的测试系统的结构示意图；图7是本专利技术一实施例提供的一种温升测试装置的结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术实施例通过用户将测试项目对应的测试参数发送给测试控制终端，测试控制终端根据测试参数中的设备标识，将测试参数发送给测试标识对应的温升测试装置，温升测试装置自动执行温升测试并将获取得到的测试结果反馈给用户，解决了现有元器件温升的测试方法，主要通过人工进行测试环境的搭建，以及需要测试人员在测试装置前手动记录测试数据，并人工对测试数据进行分析，检测效率较低以及人工成本较大的问题。在本专利技术实施例中，该元器件温升的测试方法应用于元器件温升的测试系统，流程的执行主体主要为测试控制装置以及温升测试装置。其中，在本实施例中，待测元器件包括但不限于：基础元器件，如三极管、电容、电感等电路基础元件；一体封装的集成芯片，如FPGA、ARM等集成多个逻辑元件的集成芯片；优选地，待测元器件可包含多个独立的元器件的组合，即元器件温升的测试系统将对多个独立元器件的组合进行温升测试。举例性地，元器件温升的测试系统可对多个独立元器件组成的模块、电路或子系统进行温升测试。需要说明的是，该元器件温升的测试系统包括测试控制终端以及至少一个温升测试装置，该测试控制终端可以为设有测试控制软件的计算机或移动终端，举例性地，该测试控制软件为Labview；该温升测试装置可以为将测试环境搭建模块以及数据采集模块封装一体的集成测试装置，举例性地，该温升测试装置包括电源输出模块、恒温环境搭建模块、负载接入模块以及温度采集模块；同样的，温升测试装置也可以为具有某一温升测试功能的装置，举例性地，该温升测试装置为输入电源可变的温升测试装置或温度采集装置。在本实施例中，温升测试装置与测试控制终端进行通信连接，该通信连接可以为无线通信连接或有线通信连接。具体地，若温升测试装置与测试控制终端为无线通信连接，则温升测试装置通过无线通信模块与测试控制终端进行通信；若温升测试装置与测试控制终端为有线通信连接，则温升测试装置可通过有线网络与测试控制终端进行通信，也可以通过总线或串口接口等直连端口与测试控制终端进行通信。图1示出了本专利技术实施例提供的元器件温升的测试方法的交互流程图，详述如下：在S101中，所述测试控制终端获取用户输入的测试参数；其中，所述测试参数包括设备标识以及温升测试参数。在本实施例中，用户可通过测试控制终端包含的交互界面输入测试参数，用户在完成输入操作后，测试控制终端将直接通过交互界面获取到用户所需进行测试的测试参数；用户也可以通过本地设备，将输入测试参数，然后本地设备将该测试参数进行封装后，发送给测试控制终端，测试控制终端在接收到用户的本地设备发送的信息后，将提取该信息中包含的测试参数。在本实施例中，由于测试控制终端将控制至少一个温升测试装置，因此为了将测试参数发送给对应的温升测试装置，用户输入的测试参数中将包含设备标识，该设备标识用于指定对应的温升测试装置。可选地，在本实施例中，该设备标识可以为温升测试装置的设备编号或型号名称，若该设备标识为设备标号，则设备编号为预先设定的，只在该测试控制装置输入时有效。举例性地，某一温升测试装置对于第一测试控制装置的设备编号为1，则用户在输入设备标识时，只需输入1，则第一测试控制装置将确定将要执行温升测试的装置为该温升测试装置；而该温升测试装置也与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种元器件温升的测试方法，应用于元器件温升的测试系统，其特征在于，所述元器件温升的测试系统包括测试控制终端以及至少一个温升测试装置；所述元器件温升的测试方法包括：所述测试控制终端获取用户输入的测试参数；其中，所述测试参数包括设备标识以及温升测试参数；所述测试控制终端将所述测试参数发送至所述设备标识对应的温升测试装置；所述温升测试装置根据所述测试参数包含的温升测试参数以及预设的温度采集规则对待测元器件进行温升测试，并将所述温升测试的测试结果发送至所述测试控制终端；所述测试控制终端根据所述测试结果以及预设的温升分析规则，生成所述待测元器件的温升测试报告；所述测试控制终端将所述温升测试报告输出给所述用户。

【技术特征摘要】
1.一种元器件温升的测试方法，应用于元器件温升的测试系统，其特征在于，所述元器件温升的测试系统包括测试控制终端以及至少一个温升测试装置；所述元器件温升的测试方法包括：所述测试控制终端获取用户输入的测试参数；其中，所述测试参数包括设备标识以及温升测试参数；所述测试控制终端将所述测试参数发送至所述设备标识对应的温升测试装置；所述温升测试装置根据所述测试参数包含的温升测试参数以及预设的温度采集规则对待测元器件进行温升测试，并将所述温升测试的测试结果发送至所述测试控制终端；所述测试控制终端根据所述测试结果以及预设的温升分析规则，生成所述待测元器件的温升测试报告；所述测试控制终端将所述温升测试报告输出给所述用户。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试控制终端将所述测试参数发送至所述设备标识对应的温升测试装置之后还包括：所述温升测试装置向所述测试控制终端返回温升测试装置的设备标识以及温升参数可调范围；所述测试控制终端将所述测试参数包含的设备标识与所述温升测试装置的设备标识进行匹配；若所述测试参数包含的设备标识与所述温升测试装置的设备标识匹配成功，则所述测试控制终端判断所述测试参数包含的所述温升测试参数是否在温升参数可调范围内；若所述温升测试参数在所述温升参数可调范围内，则所述测试控制终端向所述温升测试装置发送测试开始指令。3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试控制终端接收用户输入的温升测试参数具体为：所述测试控制终端获取用户输入的至少两组测试参数；所述测试控制终端根据所述测试结果以及预设的温升分析规则，生成所述待测元器件的温升测试报告具体包括：所述测试控制终端接收每组所述测试参数对应的测试结果；所述测试控制终端根据所述每组所述测试参数对应的测试结果以及所述预设的温升分析规则，生成所述待测元器件的温升测试报告。4.根据权利要求1-3任一项所述的测试方法，其特征在于，所述温升测试参数还包括温度采集频率以及至少一个温度采集通道；所述温升测试装置根据所述测试参数包含的温升测试参数以及预设的温度采集规则对待测元器件进行温升测试包括：所述温升测试装置以所述温度采集频率获取每个所述温度采集通道对应的待测元器件的温度数据；所述温升测试装置根据多个所述温度数据生成待测元器件的所述测试结果。5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述温升测试参数还包括输入电源参数以及接入负载参数；所述温升测试装置根据所述测试参数包含的温升测试参数以及预设的温度采集规则对待测元器件进行温升测试之前还包括：所述温升测试装置根据所述测试参数包含的所述输入电源参数调整所述待测元器件所在电路的输入电源；所述温升测试装置根据测试参数包含的所述接入负载参数调...

【专利技术属性】
技术研发人员：莫业良，王传瑞，胡建业，朱日真，
申请(专利权)人：中国长城科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44