用于单元放置的方法以及执行该方法的计算机系统技术方案

技术编号:19778589 阅读:18 留言:0更新日期:2018-12-15 11:24
本发明专利技术的实施例描述了用于集成电路(IC)布局设计中的单元放置的示例性方法以及执行该方法的计算机系统。该方法包括将布局区域划分为一个或多个连续单元,其中,每个单元包括多个放置位置。该方法还包括将第一组引脚位置和第二组引脚位置映射到一个或多个连续单元中的每一个。该方法还包括将单元放置在一个或多个连续单元中,其中,从包括单元的多个引脚位置的单元库中检索得到该单元。该单元的放置基于将与单元相关联的一个或多个引脚分配到来自第一多个引脚位置的引脚轨迹、来自第二多个引脚位置的引脚轨迹或上述的组合中的至少一个引脚轨迹。

【技术实现步骤摘要】
用于单元放置的方法以及执行该方法的计算机系统
本专利技术的实施例总体涉及电子电路设计领域,更具体地,涉及单元置放的方法以及执行该方法的计算机系统。
技术介绍
电子设计自动化(EDA)工具可以用于集成电路(IC)设计流程。例如,EDA工具可以用于在IC布局设计中放置标准单元(例如,实现逻辑或其他电子功能的单元)。随着技术的不断增长和对按比例IC的需求的不断增长,EDA工具对于帮助设计复杂的IC布局设计变得越来越重要。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面,提供了一种用于单元放置的方法,包括:将布局区域划分为一个或多个连续单元,其中,每个单元均包括多个放置位置;将第一多个引脚位置和第二多个引脚位置映射到所述一个或多个连续单元中的每一个,其中,所述一个或多个连续单元中的每一个中的所述多个放置位置中的每一个均包括来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹、来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹或来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹和来自所述第二多个引脚位置的组合;以及基于将与单元相关联的一个或多个引脚分配到来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹、来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹或来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹和来自所述第二多个引脚位置的组合中的至少一个引脚轨迹,将所述单元放置到所述一个或多个连续单元中,其中,从包括所述单元的多个引脚位置的单元库中检索得到所述单元。根据本专利技术的又一个方面,提供了一种计算机系统,包括:存储器,配置为存储指令;以及处理器,当执行所述指令时,所述处理器被配置为实施以下的操作,包括;将布局区域划分为一个或多个连续单元,其中,每个单元均包括多个放置位置;将第一多个引脚位置和第二多个引脚位置映射到所述一个或多个连续单元中的每一个,其中,所述一个或多个连续单元中的每一个中的所述多个放置位置中的每一个均包括来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹、来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹或来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹和来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹的组合;和基于将与单元相关联的一个或多个引脚分配到来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹、来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹或来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹和来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹的组合中的至少一个引脚轨迹,将所述单元放置到所述一个或多个连续单元中,其中,从包括所述单元的多个引脚位置的单元库中检索得到所述单元。根据本专利技术的另一个方面,提供了一种具有存储在其上的指令的非暂时性计算机可读介质,当计算设备执行所述指令时,所述指令使所述计算设备实施操作,所述操作包括:将布局区域划分为一个或多个连续单元,其中,每个单元均包括多个放置位置;将第一多个引脚位置和第二多个引脚位置映射到所述一个或多个连续单元中的每一个,其中,所述一个或多个连续单元中的每一个中的所述多个放置位置中的每一个均包括来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹、来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹或来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹和来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹的组合;以及基于将与单元相关联的一个或多个引脚分配到来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹、来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹或来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹和来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹的组合中的至少一个引脚轨迹,将所述单元放置到所述一个或多个连续单元中,其中,从包括所述单元的多个引脚位置的单元库中检索得到所述单元。附图说明当结合附图进行阅读时,从以下详细描述可最佳地理解本专利技术的各个方面。应该注意,根据工业中的标准实践,各个部件未按比例绘制。实际上,为了清楚的讨论,各种部件的尺寸可以被任意增大或减小。图1是根据本专利技术的一些实施例的划分成多个连续放置单元的示例性布局区域的图示。图2是根据本专利技术的一些实施例的示出基于不同标准单元库的标准单元的放置位置的示例性表格的图示。图3是根据本专利技术的一些实施例的具有不同引脚位置定义的示例性奇数宽度标准单元的图示。图4是根据本专利技术的一些实施例的具有不同引脚位置定义的示例性偶数宽度标准单元的图示。图5是根据本专利技术的一些实施例的用于将标准单元放置在布局中的方法的图示。图6是根据本专利技术的一些实施例的其中可以实现本专利技术的各种实施例的示例性计算机系统的图示。具体实施方式以下公开内容提供了用于实现所提供主题的不同特征的许多不同实施例或实例。下面描述了组件和布置的特定实例以简化本专利技术。当然,这些仅仅是实例,而不旨在限制本专利技术。此外,本专利技术可在各个实例中重复参考标号和/或字符。该重复是为了简单和清楚的目的,并且除非另有声明,其本身并不指示所讨论的各个实施例和/或配置之间的关系。以下公开内容涉及在集成电路(IC)布局设计中优化标准单元(例如,实现逻辑或其他电子功能的单元)的放置。在一些实施例中,可以在不同的标准单元库中定义标准单元,其定义标准单元的不同引脚位置。基于不同的引脚位置,可以实现标准单元放置的灵活性,从而优化IC布局设计。电子设计自动化(EDA)工具可以用于将标准单元放置在IC布局设计中。标准单元可以是具有预先设计好的布局的逻辑模块。例如,设计的布局区域可以用于放置具有固定高度但具有取决于标准单元的功能的不同宽度的标准单元。标准单元可以按行排列,其中,可以在行之间保留布线通道以将互连件布线至标准单元。互连件可以通过与标准单元相关的端子或引脚耦合(或电连接)到输入和输出。图1是根据本专利技术的一些实施例的划分成连续放置单元1020至1022的示例性布局区域100的图示。布局区域100可以是较大IC布局设计(未示出)的一部分。每个放置单元1020至1022可以包括放置位置S1至S4。可以由诸如用于布局一个或多个标准单元的EDA工具来使用一个或多个放置位置S1至S4。在一些实施例中,标准单元可以跨越一个或多个放置位置S1至S4进行放置。例如,具有低复杂度逻辑功能(例如,反相器逻辑功能)的标准单元可以占据单个放置位置,例如放置位置S1至S4中的任何一个。具有中等复杂度逻辑功能的标准单元(例如,彼此连接以实施特定功能的多个逻辑门)可以占用一个或多个放置单元1020至1022内的多个放置位置。为了便于参考,跨越奇数个放置位置(例如,跨越1、3、5或7个放置位置)来放置的标准单元在本文中被称为“奇数宽度标准单元”。跨越偶数个放置位置(例如,跨越2、4、6或8个放置位置)来放置的标准单元在本文中被称为“偶数宽度标准单元”。参照图1,根据本专利技术的一些实施例,可以将第一组引脚位置1040至1042(显示为虚线)和第二组引脚位置1060至1062(显示为实线)映射到每个放置单元1020至1022。为了说明的目的并且如图1所示,来自第一组引脚位置1040的引脚轨迹可以映射到放置位置S1,来自第一组引脚位置1041的引脚轨迹和来自第二组引脚位置1060的引脚轨迹可以映射到放置位置S1,来自第二组引脚位置1061的引脚轨迹可以映射到放置位置S3,并且来自第一组引脚位置1042的引脚轨迹和来自第二组引脚位置1062的引脚轨迹可以映射到放置位置S4。在一些实施例中,针对每个放置单元1020至1022重复该引脚轨迹图案。放置位置S1和S3中的每一个均具有分别映射到它们的单个引脚轨迹(例如,引脚轨迹1040和引脚轨迹1061)。这些引脚轨迹图案在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于单元放置的方法,包括:将布局区域划分为一个或多个连续单元,其中,每个单元均包括多个放置位置;将第一多个引脚位置和第二多个引脚位置映射到所述一个或多个连续单元中的每一个,其中,所述一个或多个连续单元中的每一个中的所述多个放置位置中的每一个均包括来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹、来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹或来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹和来自所述第二多个引脚位置的组合;以及基于将与单元相关联的一个或多个引脚分配到来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹、来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹或来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹和来自所述第二多个引脚位置的组合中的至少一个引脚轨迹,将所述单元放置到所述一个或多个连续单元中,其中,从包括所述单元的多个引脚位置的单元库中检索得到所述单元。

【技术特征摘要】
2017.06.07 US 62/516,532;2018.01.29 US 15/882,2881.一种用于单元放置的方法,包括:将布局区域划分为一个或多个连续单元,其中,每个单元均包括多个放置位置;将第一多个引脚位置和第二多个引脚位置映射到所述一个或多个连续单元中的每一个,其中,所述一个或多个连续单元中的每一个中的所述多个放置位置中的每一个均包括来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹、来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹或来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹和来自所述第二多个引脚位置的组合;以及基于将与单元相关联的一个或多个引脚分配到来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹、来自所述第二多个引脚位置的引脚轨迹或来自所述第一多个引脚位置的引脚轨迹和来自所述第二多个引脚位置的组合中的至少一个引脚轨迹,将所述单元放置到所述一个或多个连续单元中,其中,从包括所述单元的多个引脚位置的单元库中检索得到所述单元。2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述一个或多个连续单元中的每一个均包括四个放置位置S1至S4,并且,所述划分包括以连续的方式布置所述放置位置S1、所述放置位置S2、所述放置位置S3和所述放置位置S4。3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述映射包括:将来自所述第一多个引脚位置的第一引脚轨迹映射到所述放置位置S1;将来自所述第二多个引脚位置的第二引脚轨迹和来自所述第一多个引脚位置的第三引脚轨迹映射到所述放置部位S2;将来自所述第二多个引脚位置的第四引脚轨迹映射到所述放置位置S3;以及将来自所述第一多个引脚位置的第五引脚轨迹和来自所述第二多个引脚位置的第六引脚轨迹映射到所述放置位置S4。4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述映射包括:将所述第一多个引脚位置映射到具有第一电特性的第一局部互连件,其中,所述第一局部互连件被布线为电连接到与所述单元相关联的所述一个或多个引脚中的至少一个;以及将所述第二多个引脚位置映射到具有与所述第一电特性不同的第二电特性的第二局部互连件,其中,所述第二局部互连件被布线以电连接到与所述单元相关联的所述一个或多个引脚中的至少另一个。5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述第一局部互连件和所述第二局部互连件中的每一个均包括金属M0互连件或金属M1互连件。6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述单元库包括基本单元库、具有第一引脚偏移的基本单元库和具有第二引脚偏移的基本单元库,并且,所述基本单元库、所述具有第一引脚偏移的基本单元库、以及所述具有第二引脚偏移的基本单元库中的每一个均包括所述单元...

【专利技术属性】
技术研发人员:林彦宏王中兴侯元德
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾,71

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