一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法以及评价页岩储层孔隙特征的方法技术

技术编号:19775637 阅读:34 留言:0更新日期:2018-12-15 10:25
一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法以及评价页岩储层孔隙特征的方法,涉及孔隙表征技术领域。一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,包括:确定电子显微镜能够观察到有机孔隙的最小放大倍数;确定孔隙参数趋于稳定时的电子显微镜图像的观察视域数;利用软件定量统计观察视域数的孔隙参数;建立孔隙参数的数学分布图。该方法能较准确地定量表征出页岩储层的微‑纳米孔隙结构特征。一种评价页岩储层孔隙特征的方法,利用上述的页岩储层孔隙体系的定量表征方法得到的数学分布图来对孔隙特征进行评价。其评价结果较为准确。

【技术实现步骤摘要】
一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法以及评价页岩储层孔隙特征的方法
本专利技术涉及孔隙表征
,且特别涉及一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法以及评价页岩储层孔隙特征的方法。
技术介绍
富有机质页岩微孔隙属于微-纳米孔隙体系,储集油气的孔隙尺度跨度大,纳米级孔隙占总孔隙的约80%,微米级孔隙占总孔隙的约20%,其统计结果如图1所示。采用常规的薄片技术不能观察,通常采用电子显微技术观察。但利用电子显微镜观察主要存在以下问题:同一样品,不同尺度、不同视域观察的微孔隙特征、大小等不同,结果存在差异;缺乏合适的定量统计标准。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,该方法能较准确地定量表征出页岩储层的微-纳米孔隙结构特征。本专利技术的另一目的在于提供一种评价页岩储层孔隙特征的方法,根据上述的定量表征方法可以得到孔隙结构的数学分布图,利用该数学分布图可以对孔隙结构特征进行评价,其评价结果较为准确。本专利技术解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。本专利技术提出一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,包括:确定电子显微镜能够观察到有机孔隙的最小放大倍数;确定孔隙参数趋于稳定时的电子显微镜图像的最小观察视域数;利用软件定量统计最小观察视域数的孔隙参数;建立孔隙参数的数学分布图。本专利技术还提出一种评价页岩储层孔隙特征的方法,利用上述的页岩储层孔隙体系的定量表征方法得到的数学分布图来对孔隙特征进行评价。本专利技术实施例的有益效果是:一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,确定电子显微镜能够观察到有机孔隙的最小放大倍数。在最小放大倍数以上,统计得到的微孔隙参数没有大的变化,统计得到孔隙参数能够反应页岩储层中的微-纳米孔隙特征。确定孔隙参数趋于稳定时的电子显微镜图像的最小观察视域数。在该观察视域范围内,得到页岩储层的微-纳米孔隙参数才能较为真实的反应页岩储层孔隙的实际特征。最后结合孔隙参数的数学分布图可以定量地表征页岩储层孔隙体系的特征。一种评价页岩储层孔隙特征的方法,利用上述的页岩储层孔隙体系的定量表征方法得到的数学分布图来对孔隙特征进行评价。其评价结果较为准确。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为
技术介绍
里的孔径区间统计图;图2为本专利技术具体实施方式和实施例1中的页岩储层在不同放大倍数下电子显微镜图像与统计的页岩储层中微-纳米孔隙平均直径的关系图;图3为本专利技术具体实施方式的页岩储层经氩离子抛光后放大3万倍的电子显微镜图像中1-64个视域观察到的孔隙变化;图4为本专利技术具体实施方式和实施例1中的页岩储层放大3万倍时电子显微镜图像观察视域数与统计的面孔率、平均孔径之间关系;图5为本专利技术实施例1中64个观察视域单元的示意图;图6为本专利技术实施例1中页岩储层微纳米孔隙的孔径概率密度分布函数及曲线图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。实施例中未注明具体条件者,按照常规条件或制造商建议的条件进行。所用试剂或仪器未注明生产厂商者,均为可以通过市售购买获得的常规产品。下面对本专利技术实施例的一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法以及评价页岩储层孔隙特征的方法进行具体说明。一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,包括:(1)确定电子显微镜能够观察到有机孔隙的最小放大倍数。页岩储层中的微-纳米孔隙,不同的放大倍数,观察到的微孔隙不同,具体如图2所示。页岩储层中有机孔隙是重要的储集油气空间,有机孔在储层中含油气空隙中孔径最小,经统计其孔径主要分布在10-1000nm之间,显微观察必须要能够看到有机孔隙,因此需要确定最小放大倍数,在最小放大倍数以上,统计得到的微孔隙参数不应该有大的变化。对同一个样品,利用电子显微镜在不同放大倍数的条件下观察了页岩储层的微-纳米孔隙特征,以及对孔径参数进行了定量统计,建立了不同放大倍数与统计的微孔隙孔径之间关系,其关系也如图2所示。从图2的结果中可以表明:当放大倍数小于3万倍时,通过64幅电子显微图像拼接后得到图像统计结果,微孔隙参数因观察到的微孔隙不同而变化。具体地,低放大倍数下,主要看到相对较大的孔隙,统计的孔径也较大;随着放大倍数的增加,能观察到的微孔隙孔径变小,统计出的平均孔径变小;到放大倍数达到3万倍以上时,可以观察到孔径在10个nm以上的绝大部分有机孔,统计出的页岩储层微-纳米孔隙的平均孔径在35-45nm范围内,且平均孔径在40nm左右趋于稳定。因此,从上述的分析可以得出,在进行页岩储层的微-纳米孔隙定量统计时,最小放大倍数必须大于等于3万倍。在此放大倍数下,统计得到孔隙参数能够反应页岩储层中的微-纳米孔隙特征。当放大倍数小于3万倍时,不同放大倍数下统计得到的结果不同,不能客观反应页岩储层的微-纳米孔隙特征。(2)确定孔隙参数趋于稳定时的电子显微镜图像的最小观察视域数。对同一个样品,在确定出最小放大倍数这一条件后,对显微图像的观察视域个数进行了研究,其结果如图3所示。从图3的结果可以看出,不同的观察视域,观察到的孔隙特征及统计得到的面孔率是不同的。在电子显微镜放大倍数为3万倍的情况下,再一次对同一样品对在不同观察视域条件下的微-纳米孔隙参数与观察视域数之间的关系进行了统计,其结果如图4所示。由图3的结果可以看出:当观察视域数小于56个时,统计得到页岩储层中的微-纳米孔隙的孔径、面孔率参数变化较大;当观察视域数大于等于56个时,孔径、面孔率参数变化显著减小,均趋于稳定。因此,对于放大3万倍以上的电子显微图像,最小观察视域数不能少于56个,得到页岩储层的微-纳米孔隙参数才能较为真实的反应页岩储层孔隙的实际特征。进一步地,观察视域也不能太多,过多的观察视域会增加统计孔隙参数时的工作量,因此,优选地,最小观察视域数为56-64个。(3)利用软件定量统计观察视域数的孔隙参数。利用已知的JMicroVision和ImageJ等软件定量统计在观察视域内的不同微孔类型数量、孔径、面孔率、形状系数等孔隙参数。(4)建立孔隙参数的数学分布图。利用上述得到的不同微孔类型数量、孔径、面孔率、形状系数等孔隙参数建立起页岩储层的孔隙参数的数学分布函数及统计分布图。一种评价页岩储层孔隙特征的方法,利用上述的页岩储层的孔隙体系的定量表征方法得到的数学分布图来对孔隙特征进行评价。利用上述的页岩储层孔隙体系的定量表征方法得到的数学分布图其定量表征结果精确可靠,因此利用该数学分布图来对孔隙特征进行评价的结果较为准确。另外,需要说明的是,数学分布图包括了数学分布函数以及统计分布图。以下结合实施例对本专利技术的特征和性能作进一步的详细描述。实施例1一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,包括:(1)确定电子显微镜能够观察到有机孔隙的最小放大倍数。对同一个样品,利用电子显微镜在不同放大倍数条件下的观察页岩微-纳米孔隙特征,以及对孔径参数进行了定量统计,建立了不同放大倍数与统计的微孔隙孔径之间关系,其关系如图2所示。从图2的结果中可以表明:当放大倍本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,其特征在于,包括:确定电子显微镜能够观察到有机孔隙的最小放大倍数;确定孔隙参数趋于稳定时的电子显微镜图像的最小观察视域数;利用软件定量统计所述最小观察视域数的孔隙参数;建立所述孔隙参数的数学分布图。

【技术特征摘要】
1.一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,其特征在于,包括:确定电子显微镜能够观察到有机孔隙的最小放大倍数;确定孔隙参数趋于稳定时的电子显微镜图像的最小观察视域数;利用软件定量统计所述最小观察视域数的孔隙参数;建立所述孔隙参数的数学分布图。2.根据权利要求1所述的页岩储层孔隙体系的定量表征方法,其特征在于,所述最小放大倍数的确定方法:针对同一样品,在电子显微镜不同放大倍数的条件下对页岩储层的孔隙特征和孔径进行定量统计,建立不同放大倍数与所述孔径之间的统计图,确定能够观察到有机孔隙的最小放大倍数。3.根据权利要求2所述的页岩储层孔隙体系的定量表征方法,其特征在于,所述有机孔隙的平均孔径在35-45nm范围内。4.根据权利要求3所述的页岩储层孔隙体系的定量表征方法,其特征在于,所述最小放大倍数在3万倍及以上。5.根据权利要求1所述的页岩储层孔隙体系的定量表征方法,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:邓虎成周文陈文玲周秋媚徐浩
申请(专利权)人:成都理工大学
类型:发明
国别省市:四川,51

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