摩尔纹量化评价方法及产品设计方法、计算机可读介质及电子设备技术

技术编号:19747322 阅读:47 留言:0更新日期:2018-12-12 05:06
本发明专利技术的实施例提供一种摩尔纹量化评价方法及产品设计方法、计算机可读介质及电子设备,涉及显示技术领域,可在产品设计阶段对产品的摩尔纹进行评估。一种摩尔纹量化评价方法,包括:获取至少两幅待评价图像,所述至少两幅待评价图像中的每一幅均包括周期性排列的单元图案;将所述至少两幅待评价图像叠加,得到第二图像;根据所述第二图像和观看距离,得到摩尔纹图像;根据所述摩尔纹图像,得到第一摩尔纹周期和第一对比敏感度。

【技术实现步骤摘要】
摩尔纹量化评价方法及产品设计方法、计算机可读介质及电子设备
本专利技术涉及显示
,尤其涉及一种摩尔纹量化评价方法及产品设计方法、计算机可读介质及电子设备。
技术介绍
在显示领域,为达到特定显示或触控效果,常会采用不同的周期性结构组合,比如为制备触控显示屏,需在显示基板上增设触控结构。仍以触控显示屏为例,在当前主流的触控产品中,由于触控结构与显示基板中的黑矩阵为两种不同周期性结构,因而会导致出现高频率的摩尔纹现象,从而影响触控产品的显示效果。为解决摩尔纹问题,在新产品开发过程中,需设计多种方案并制备样品进行验证,所需成本高且开发时间长。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种摩尔纹量化评价方法及产品设计方法、计算机可读介质及电子设备,可在产品设计阶段对产品的摩尔纹进行评估。为达到上述目的,本专利技术的实施例采用如下技术方案:第一方面,提供一种摩尔纹量化评价方法,包括:获取至少两幅待评价图像,所述至少两幅待评价图像中的每一幅均包括周期性排列的单元图案;将所述至少两幅待评价图像叠加,得到第二图像;根据所述第二图像和观看距离,得到摩尔纹图像;根据所述摩尔纹图像,得到第一摩尔纹周期和第一对比敏感度。可选的,所述摩尔纹量化评价方法,还包括:显示以摩尔纹周期为横坐标,对比敏感度为纵坐标的坐标系;在该坐标系中,标识出所述第一摩尔纹周期和所述第一对比敏感度的坐标点位置,并显示对比敏感度函数曲线。在此基础上,可选的,所述摩尔纹量化评价方法,还包括:根据标识出的所述第一摩尔纹周期和所述第一对比敏感度的坐标点与所述对比敏感度函数曲线,判断所述坐标点与所述对比敏感度函数曲线的相对位置;若所述坐标点位于所述对比敏感度函数曲线的上方,则生成所述至少两幅待评价图像产生的摩尔纹不易被人眼识别的提示;若所述坐标点位于所述对比敏感度函数曲线的下方,则生成所述至少两幅待评价图像产生的摩尔纹容易被人眼识别的提示。可选的,根据所述摩尔纹图像,得到第一摩尔纹周期,包括:对所述摩尔纹图像进行傅立叶变换,得到至少一个对比度值,并获取与所述至少一个对比度值中的每一个对比度值对应的第二摩尔纹周期;将每一个对比度值与对比敏感度函数相乘,得到等效对比度值;选取等效对比度最大值对应的第二摩尔纹周期作为所述第一摩尔纹周期。可选的,根据所述摩尔纹图像,得到第一对比敏感度,包括;对所述摩尔纹图像进行灰度直方图处理,以获得对应的直方图图像;选取最大灰度值和最小灰度值,并利用公式一计算得到所述第一对比敏感度。公式一为:其中,CS为所述第一对比敏感度,Lmax为最大灰度值,Lmin为最小灰度值。可选的,获取至少两幅待评价图像,所述至少两幅待评价图像中的每一幅均包括周期性排列的单元图案,包括:获取至少两种周期性结构中每种周期性结构的设计参数,分别制作单元图案;针对任一所述单元图案,对所述单元图案进行阵列后,得到一幅待评价图像。可选的,获取至少两幅待评价图像,所述至少两幅待评价图像中的每一幅均包括周期性排列的单元图案,包括:输入至少两种周期性结构的设计图;分别截取每个设计图中的一个单元图案;针对任一所述单元图案,对所述单元图案进行阵列后,得到一幅待评价图像。可选的,将所述至少两幅待评价图像叠加,得到第二图像,包括:将所述至少两幅待评价图像分别对应的图像数据阵列,在空间域中作卷积或在频域中作乘积,得到所述第二图像。可选的,根据所述第二图像和观看距离,得到摩尔纹图像,包括:对所述第二图像进行傅立叶变换,根据观看距离,用对比敏感度函数进行滤波;并进行傅立叶逆变换,得到所述摩尔纹图像。可选的,待评价图像为黑矩阵图案、触控图案、光栅图案中的一种。第二方面,提供一种产品设计方法,包括:第一方面所述的摩尔纹量化评价方法;其中,通过改变至少两幅待评价图像中,至少一幅待评价图像的单元图案的参数,得到多组第一摩尔纹周期和第一对比敏感度。可选的,所述产品设计方法,还包括:选取最优的一组第一摩尔纹周期和第一对比敏感度对应的参数,作为应用于所述产品中的所述至少两种周期性结构的参数。第三方面,提供一种计算机可读介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被执行时,实现如第一方面所述的摩尔纹量化评价方法。第四方面,提供一种电子设备,包括:处理器、存储器;所述存储器用于存储一个或多个程序;当所述一个或多个程序被所述处理器执行时,实现如第一方面所述的摩尔纹量化评价方法。本专利技术的实施例提供一种摩尔纹量化评价方法及装置、产品设计方法、计算机可读介质及电子设备,通过将至少两幅待评价图像叠加得到第二图像,而由于每一幅待评价图像均包括周期性排列的单元图案,因而,当得到第二图像后,根据观看距离可得到摩尔纹图像,基于此,通过摩尔纹图像得到第一摩尔纹周期和第一对比敏感度后,便可知该至少两幅待评价图像所对应的周期性结构所产生的摩尔纹的严重程度。由于该方法可在产品设计阶段对产品的摩尔纹进行评估,因而,可大大降低成本以及开发时间。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术提供的一种摩尔纹量化评价方法的流程示意图;图2为本专利技术提供的另一种摩尔纹量化评价方法的流程示意图;图3为本专利技术提供的一种在以摩尔纹周期为横坐标,对比敏感度为纵坐标的坐标系中,第一摩尔纹周期和第一对比敏感度的坐标点以及对比敏感度函数曲线的示意图;图4a为本专利技术提供的一个单元图案的示意图;图4b对图4a中的单元图案进行阵列后得到的一幅待评价图像;图5a为本专利技术提供的另一个单元图案的示意图;图5b对图5a中的单元图案进行阵列后得到的另一幅待评价图像;图6为本专利技术提供的将两幅待评价图像叠加后得到的第二图像的示意图;图7为本专利技术提供的一种摩尔纹图像的示意图;图8为本专利技术提供的一种根据摩尔纹图像得到第一摩尔纹周期的流程示意图;图9为本专利技术提供的一种对比度分布示意图;图10为本专利技术提供的一种将对比度值与对比敏感度函数相乘得到等效对比度值的示意图;图11为本专利技术提供的一种根据摩尔纹图像得到第一对比敏感度的流程示意图;图12为本专利技术提供的一种灰度直方图的示意图;以及图13为本专利技术提供的针对具体的至少两种周期性结构,不同参数所对应的摩尔纹评价结果。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。在实际的产品中,两种或更多不同的周期性结构的叠加将产生摩尔纹效应。而该摩尔纹效应所呈现出来的为摩尔纹图像。针对这种具有至少两种周期性结构的产品,本专利技术目的在于,对设计中的产品存在的摩尔纹进行量化评价,以便无需在产品上实际去观看,便可了解产品的摩尔纹问题。从而在产品设计阶段,为解决摩尔纹问题提供方便。基于此,本专利技术实施例提供一种摩尔纹量化评价方法,如图1所示,包括:S10、获取至少两幅待评价图像,所述至少两幅待评价图像中的每一幅均包括周期性排本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种摩尔纹量化评价方法,其特征在于,包括:获取至少两幅待评价图像,所述至少两幅待评价图像中的每一幅均包括周期性排列的单元图案;将所述至少两幅待评价图像叠加,得到第二图像;根据所述第二图像和观看距离,得到摩尔纹图像;根据所述摩尔纹图像,得到第一摩尔纹周期和第一对比敏感度。

【技术特征摘要】
1.一种摩尔纹量化评价方法,其特征在于,包括:获取至少两幅待评价图像,所述至少两幅待评价图像中的每一幅均包括周期性排列的单元图案;将所述至少两幅待评价图像叠加,得到第二图像;根据所述第二图像和观看距离,得到摩尔纹图像;根据所述摩尔纹图像,得到第一摩尔纹周期和第一对比敏感度。2.根据权利要求1所述的摩尔纹量化评价方法,其特征在于,还包括:显示以摩尔纹周期为横坐标,对比敏感度为纵坐标的坐标系;在该坐标系中,标识出所述第一摩尔纹周期和所述第一对比敏感度的坐标点位置,并显示对比敏感度函数曲线。3.根据权利要求2所述的摩尔纹量化评价方法,其特征在于,还包括:根据标识出的所述第一摩尔纹周期和所述第一对比敏感度的坐标点与所述对比敏感度函数曲线,判断所述坐标点与所述对比敏感度函数曲线的相对位置;若所述坐标点位于所述对比敏感度函数曲线的上方,则生成所述至少两幅待评价图像产生的摩尔纹不易被人眼识别的提示;若所述坐标点位于所述对比敏感度函数曲线的下方,则生成所述至少两幅待评价图像产生的摩尔纹容易被人眼识别的提示。4.根据权利要求1所述的摩尔纹量化评价方法,其特征在于,根据所述摩尔纹图像,得到第一摩尔纹周期,包括:对所述摩尔纹图像进行傅立叶变换,得到至少一个对比度值,并获取与所述至少一个对比度值中的每一个对比度值对应的第二摩尔纹周期;将每一个对比度值与对比敏感度函数相乘,得到等效对比度值;选取等效对比度最大值对应的第二摩尔纹周期作为所述第一摩尔纹周期。5.根据权利要求1所述的摩尔纹量化评价方法,其特征在于,根据所述摩尔纹图像,得到第一对比敏感度,包括;对所述摩尔纹图像进行灰度直方图处理,以获得对应的直方图图像;选取最大灰度值和最小灰度值,并利用公式一计算得到所述第一对比敏感度;公式一为:其中,CS为所述第一对比敏感度,Lmax为最大灰度值,Lmin为最小灰度值。6.根据权利要求1所述的摩尔纹量化评价方法,其特征在于,获取至少两幅待评价图像,所述至少两幅待评价图像中的每一幅均...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙雪菲柳在健王新星姚继开
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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