【技术实现步骤摘要】
中低频冲击响应谱测量装置
本专利技术属于冲击测量
，涉及一种冲击测量仪器，特别涉及一种用于测量中低频冲击谱测量装置的冲击测量仪。
技术介绍
目前，测量冲击谱的主要方法为利用压电式加速度传感器结合机械滤波的方式测量时间曲线计算冲击响应谱，但由于压电式加速度传感器的本身性质，在强冲击下会激起谐振峰，使产生的电荷无法即刻释放，从而产生零飘现象。零飘现象的出现会引起中低频冲击响应谱测量的准确性以及完整性，其误差值很大，多为一至两个数量级，不利于中低频段抗冲击技术指标的考核。需利用簧片仪和低频弹簧质量块两种传统方法测量，用以补充和验证压电式加速度传感器测量得到的冲击谱，特别是中低频冲击谱曲线。但簧片仪在测量低频谱时，由于末端集中质量对位移响应的影响较大，且簧片仪在受到强烈爆炸冲击时，易发生根部断裂情况；而传统弹簧质量块在测量中低频段时，由于爆炸冲击环境的复杂，极易受到非测量方向的冲击影响，导致测量数据失真。
技术实现思路
专利技术目的：本专利技术提供一种中低频冲击响应谱测量装置，其目的是解决以往所存在的问题。技术方案：本专利技术是通过以下技术方案实现的：一种中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：该装置包括弹簧质量单元、主导向单元及电子测量单元；弹簧质量单元包括质量块（1-3a）和螺旋弹簧（1-2a），主导向单元为主导向杆（1-1a），电子测量单元包括与质量块（1-3a）连接并联动的磁环（1-3b-3）以及与主导向杆（1-1a）连接为一体的电子仓（4-3a），磁环（1-3b-3）与主导向杆（1-1a）形成磁致伸缩位移传感器；质量块（1-3a）套在主导向杆（1-1a）...
【技术保护点】
1.一种中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：该装置包括弹簧质量单元、主导向单元及电子测量单元；弹簧质量单元包括质量块（1‑3a）和螺旋弹簧（1‑2a），主导向单元为主导向杆（1‑1a），电子测量单元包括与质量块（1‑3a）连接并联动的磁环（1‑3b‑3）以及与主导向杆（1‑1a）连接为一体的电子仓（4‑3a），，磁环（1‑3b‑3）与主导向杆（1‑1a）形成磁致伸缩位移传感器；质量块（1‑3a）套在主导向杆（1‑1a）上且质量块（1‑3a）能沿着主导向杆（1‑1a）的轴向移动，螺旋弹簧（1‑2a）套在主导向杆（1‑1a）上且螺旋弹簧（1‑2a）的一端与质量块（1‑3a）连接，螺旋弹簧（1‑2a）的另一端与固定在主导向杆（1‑1a）上的弹簧端支座（2‑1b）连接。
【技术特征摘要】
1.一种中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：该装置包括弹簧质量单元、主导向单元及电子测量单元；弹簧质量单元包括质量块（1-3a）和螺旋弹簧（1-2a），主导向单元为主导向杆（1-1a），电子测量单元包括与质量块（1-3a）连接并联动的磁环（1-3b-3）以及与主导向杆（1-1a）连接为一体的电子仓（4-3a），，磁环（1-3b-3）与主导向杆（1-1a）形成磁致伸缩位移传感器；质量块（1-3a）套在主导向杆（1-1a）上且质量块（1-3a）能沿着主导向杆（1-1a）的轴向移动，螺旋弹簧（1-2a）套在主导向杆（1-1a）上且螺旋弹簧（1-2a）的一端与质量块（1-3a）连接，螺旋弹簧（1-2a）的另一端与固定在主导向杆（1-1a）上的弹簧端支座（2-1b）连接。2.根据权利要求1所述的中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：弹簧质量单元分为两种结构类型：双螺旋压簧质量型与单螺旋拉伸弹簧质量型；两者选其一；单螺旋拉伸弹簧质量型：主导向杆（1-1a）上设置一个弹簧端支座（2-1b），螺旋弹簧（1-2a）套在弹簧端支座（2-1b）与质量块（1-3a）之间，且两端分别连接弹簧端支座（2-1b）与质量块（1-3a）；双螺旋压簧质量型：主导向杆（1-1a）上设置两个弹簧端支座（2-1b），质量块（1-3a）设置在两个弹簧端支座（2-1b）之间，两个弹簧端支座（2-1b）与质量块（1-3a）之间均分别套有一根螺旋弹簧（1-2a）。3.根据权利要求2所述的中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：双螺旋压簧质量型弹簧质量单元中的两根螺旋弹簧（1-2a）在安装时预压缩，其预压缩量大于或等于该测量装置的量程值；以保证质量块（1-3a）在量程范围内运动时，两根螺旋弹簧（1-2a）时刻都处于压缩状态。4.根据权利要求1所述的中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：主导向单元中的主导向杆既作为弹簧质量单元的导向，也是电子测量单元中的磁致伸缩位移传感器测量杆的外壳。5.根据权利要求4所述的中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：质量块（1-3a）由质量块弹簧卡位（1-3b-1）、直线轴承（1-3b-2）、磁环（1-3b-3）和法兰盘（1-3b-4）；直线轴承（1-3b-2）、磁环（1-3b-3）在质量块内部，质量块通过直线轴承（1-3b-2）套在主导向杆（1-1a）上，磁环（1-3b-3）套在主导向杆（1-1a）上，磁环（1-3b-3）本身既为质量块一部分，又做为电子测量单元中磁致伸缩位移传感器的磁源。6.根据权利要求4所述的中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：在法兰盘（1-3b-4）的外沿设置有U型槽（1-3b-5），在U型槽（1-3b-5）内穿过穿过刻有刻度的副导向杆（4-2-1），副导向杆（4-2-1）与主导向杆（1-1a）平行；在副导向杆（4-2-1）上还套有卡环（4-2-2）和滑动定位胶环（4-2-3），卡环（4-2-2）设置在U型槽（1-3b-5）两侧，滑动定位胶环（4-2-3）套在卡环（4-2-2）外；卡环（4-2-2）外径大于U型槽（1-3b-5）的宽度，滑动定位胶环（4-2-3）外径大于卡环（4-2-2）内径，且内径与幅导向杆（4-2-1）外径过盈配合，以防止卡环（4-2-2）与滑动定位胶环（4-2-3）在未受扰动时随意窜动...
【专利技术属性】
技术研发人员：闫明，惠安民，金映丽，孙自强，梁松，王鹏，张明远，
申请(专利权)人：沈阳工业大学，
类型：发明
国别省市：辽宁,21
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