一种适用功能测试设备的自动上下料系统技术方案

本发明专利技术公开了一种适用功能测试设备的自动上下料系统，包括：第一输送机构组、第二输送机构组和第三输送机构组；第一输送机构组沿第一方向运动；第二输送机构组沿第一方向运动；第一输送机构组和第二输送机构沿第二方向依次设置；第三输送机构组沿第二方向运动，当第三输送机构组运动至第一位置处时，第三输送机构组与第一对接端对接；当第三输送机构组运动至第二位置处时，第三输送机构组与第二对接端对接。本发明专利技术占地面积小，空间利用率高；无需停机上下料，可实现24h无间断工作模式；不与机械手臂产生干涉问题，优化了机械手臂的行走路径；大大提高了功能测试设备的产能和产出。

【技术实现步骤摘要】
一种适用功能测试设备的自动上下料系统
本专利技术涉及电子产品功能测试设备
，尤指一种适用功能测试设备的自动上下料系统。
技术介绍
由于互联网和物联网的高速发展，电子产品革新换代的周期越来越短。电子产品特别是智能产品的产品性能是决定其市场价值以及市场份额的保障。同时，电子产品为了能够满足用户的日益增长的需求，在进入市场前的各项功能测试是保证其产品性能的重要保证。但现有的电子产品功能测试设备具有以下缺点：(1)用于放置待测产品、合格产品以及不合格产品的部件平铺于功能测试设备，导致功能测试设备占地面积大，空间利用率小，导致电子产品生产商对生产电子产品的工厂建设面积的投入资本很大，在电子产品更新过快的前提，以及我国目前寸土寸金的现状下，无疑导致生产商的投资资本过重，严重制约了生产商的发展；(2)功能测试设备需要停机上下料，降低了其产出和产能；(3)功能测试设备结构复杂，使机械手臂的行走路线过于弯折，浪费产品搬运时间，进而使功能测试设备的产能和产出较低；(4)机械手臂需要对堆叠于最上方的产品进行定位、抓取，但由于该产品是堆栈在其他产品之上的，导致机械手臂对产品定位时会出现误差，浪费产品的搬运时间，进而使功能测试设备的产能和产出较低。怎样解决功能测试设备的上述缺点是本领域技术人员亟待解决的难题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种适用功能测试设备的自动上下料系统，占地面积小，空间利用率高；无需停机上下料，可实现24h无间断工作模式；不与机械手臂产生干涉问题，优化了机械手臂的行走路径；大大提高了功能测试设备的产能和产出。本专利技术提供的技术方案如下：一种适用功能测试设备的自动上下料系统，包括：第一输送机构组、第二输送机构组和第三输送机构组；所述第一输送机构组沿第一方向运动，所述第一输送机构组的一端形成进料端，所述第一输送机构组的另一端形成第一对接端；所述第二输送机构组沿第一方向运动，所述第二输送机构组的一端形成取料端，所述第二输送机构组的另一端形成第二对接端；所述第一输送机构组和所述第二输送机构组沿第二方向依次设置；其中，第一方向和第二方向垂直；所述第三输送机构组沿第二方向运动，当所述第三输送机构组运动至第一位置处时，所述第三输送机构组与所述第一对接端对接；当所述第三输送机构组运动至第二位置处时，所述第三输送机构组与所述第二对接端对接。本技术方案中，创造性地将用于输送将要进行功能测试的待测产品的输送机构组、完成功能测试的合格产品的输送机构组、以及用于用于与上述两个输送机构实现对接的输送机构组进行模块化设计，使得两者(即第一输送机构组和第二输送机构组)在空间上进行叠设(第二方向在实际应用中为高度方向)，而第三输送机构组沿高度方向对待测产品和合格产品进行输送，有效降低了本系统(或功能测试设备)的占地面积，提高了工厂的空间利用率；进而降低了生产商关于工厂建设面积的投入成本，降低了电子产品的生产成本；由于第一输送机构组和第二输送机构组在实际应用中为水平方向，因此，导致第一输送机构组和第二输送机构组除了需要与第三输送结构组对接的一端之外，另外的一端将成为对应的进料端和取料端，使得本系统无需停机上下料，降低了机台空闲率，使得本系统可实现24h无间断工作模式，大大提高了功能测试设备的产能和产出；由于是第三输送机构组沿高度方向对产品进行输送，不会对抓取产品的机械手臂产生干涉问题，优化了机械手臂的行走路径，从而减少产品搬运时间，进一步提高功能测试设备的产能和产出。进一步优选地，所述第一输送机构组包括至少一对子输送机构，即第一子输送机构和第二子输送机构：所述第一子输送机构用于沿第一方向向所述第一对接端输送待测料盘，所述第二子输送机构用于沿第一方向向所述第一对接端输送空料盘；所述第二输送机构组包括至少一对子输送机构，即第三子输送机构和第四子输送机构：所述第三子输送机构用于沿第一方向向所述取料端输送废料盘，所述第四子输送机构用于沿第一方向向所述取料端输送成品料盘；所述第三输送机构组对应所述第一子输送机构和所述第三子输送机构设有第一对接机构；所述第三输送机构组对应所述第二子输送机构和所述第四子输送机构设有第二对接机构；所述第三输送机构组对应所述第一对接机构设有第一升降机构，使得所述第一升降机构驱动所述第一对接机构沿第二方向往复运动，所述第一对接机构可分别与所述第一对接端和所述第二对接端对接；所述第三输送机构组对应所述第二对接机构设有第二升降机构，使得所述第二升降机构驱动所述第二对接机构沿第二方向往复运动，所述第二对接机构可分别与所述第一对接端和所述第二对接端对接。本技术方案中，当输送的产品为小体积产品时，如SIP模组(SysteminPackage，系统级封装)，由于SIP模组的体积较小，通常需要通过料盘进行输送，因此，为了便于功能测试设备区分待测产品、合格产品，使得机械手臂能够准确地将待测产品从待测料盘中取出，并将测试完成并合格的产品放置于空料盘中，第一输送机构组分别对应待测料盘和空料盘进行了区别布置。值得说明的是，当输送的是大体积产品(如PCB、PCBA等)时，则本系统可通过料盘进行输送，也可直接对产品进行输送，只是输送的对象以及对应对象的体积大小改变本系统与该对像相适配的结构的尺寸而已，但结构布局相同，但也应属于本系统的保护范围。本技术方案中，通过第三输送机构组实现待测料、废料盘、空料盘、成品料盘的承接并换向转移，从而使得本系统实现上述料盘规律化、整齐化、互不干涉的输送，分工明确和流程明确易于实现编程化控制，大大提高了本系统运行的稳定性和可靠性。进一步优选地，所述第一子输送机构和所述第二子输送机构分别包括用于堆叠料盘的第一堆栈结构，用于输送料盘的输送结构、用于分离料盘的分离结构；所述第一堆栈结构和所述输送结构沿第二方向依次布置，其中，所述输送结构设于所述第一堆栈结构的下方；所述分离结构将设于所述第一堆栈结构的最下方的待测料盘或空料盘分离至所述输送结构，后所述输送结构将待测料盘或空料盘输送至与之对应设置的对接机构，后与所述对接机构对应设置的升降机构将待测料盘或空料盘沿第二方向输送至第三位置处，其中，待测料盘所在的第三位置处形成取料区，空料盘所在的第三位置处形成放料区。本技术方案中，子输送机构的整体布局也是沿高度方向进行设计，从而降低本系统的占地面积，提高本系统的空间利用率；更优的，通过分离机构将最底层的待测料盘进行分离，从而实现将单个待测料盘的输送至取料区，从而避免了现有的取料区的待测料盘是多个堆叠的现象，从而便于机械手臂对待测料盘、待测产品的反复定位和抓取，进而缩短了机械手臂的转移待测产品的所耗时间，进一步提高了功能测试设备的产能和产出。进一步优选地，所述第三子输送机构和所述第四子输送机构分别包括用于堆叠料盘的第一堆栈结构，用于输送料盘的输送结构、用于堆垛料盘的堆垛结构；所述第一堆栈结构和所述输送结构沿第二方向依次布置，其中，所述输送结构设于所述第一堆栈结构的下方；所述输送结构将废料盘或成品料盘从对接端输送至所述第一堆栈结构的下方，后所述堆垛结构将废料盘或成品料盘堆垛至所述第一堆栈结构的废料盘或成品料盘的最底层。本技术方案中，子输送机构的整体布局也是沿高度方向进行设计，从而降低本系统的占地面积，提高本系统的空间利用率；更优的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用功能测试设备的自动上下料系统，其特征在于，包括：第一输送机构组、第二输送机构组和第三输送机构组；所述第一输送机构组沿第一方向运动，所述第一输送机构组的一端形成进料端，所述第一输送机构组的另一端形成第一对接端；所述第二输送机构组沿第一方向运动，所述第二输送机构组的一端形成取料端，所述第二输送机构组的另一端形成第二对接端；所述第一输送机构组和所述第二输送机构组沿第二方向依次设置；其中，第一方向和第二方向垂直；所述第三输送机构组沿第二方向运动，当所述第三输送机构组运动至第一位置处时，所述第三输送机构组与所述第一对接端对接；当所述第三输送机构组运动至第二位置处时，所述第三输送机构组与所述第二对接端对接。

【技术特征摘要】
1.一种适用功能测试设备的自动上下料系统，其特征在于，包括：第一输送机构组、第二输送机构组和第三输送机构组；所述第一输送机构组沿第一方向运动，所述第一输送机构组的一端形成进料端，所述第一输送机构组的另一端形成第一对接端；所述第二输送机构组沿第一方向运动，所述第二输送机构组的一端形成取料端，所述第二输送机构组的另一端形成第二对接端；所述第一输送机构组和所述第二输送机构组沿第二方向依次设置；其中，第一方向和第二方向垂直；所述第三输送机构组沿第二方向运动，当所述第三输送机构组运动至第一位置处时，所述第三输送机构组与所述第一对接端对接；当所述第三输送机构组运动至第二位置处时，所述第三输送机构组与所述第二对接端对接。2.根据权利要求1所述的适用功能测试设备的自动上下料系统，其特征在于：所述第一输送机构组包括至少一对子输送机构，即第一子输送机构和第二子输送机构：所述第一子输送机构用于沿第一方向向所述第一对接端输送待测料盘，所述第二子输送机构用于沿第一方向向所述第一对接端输送空料盘；所述第二输送机构组包括至少一对子输送机构，即第三子输送机构和第四子输送机构：所述第三子输送机构用于沿第一方向向所述取料端输送废料盘，所述第四子输送机构用于沿第一方向向所述取料端输送成品料盘；所述第三输送机构组对应所述第一子输送机构和所述第三子输送机构设有第一对接机构；所述第三输送机构组对应所述第二子输送机构和所述第四子输送机构设有第二对接机构；所述第三输送机构组对应所述第一对接机构设有第一升降机构，使得所述第一升降机构驱动所述第一对接机构沿第二方向往复运动，所述第一对接机构可分别与所述第一对接端和所述第二对接端对接；所述第三输送机构组对应所述第二对接机构设有第二升降机构，使得所述第二升降机构驱动所述第二对接机构沿第二方向往复运动，所述第二对接机构可分别与所述第一对接端和所述第二对接端对接。3.根据权利要求2所述的适用功能测试设备的自动上下料系统，其特征在于：所述第一子输送机构和所述第二子输送机构分别包括用于堆叠料盘的第一堆栈结构，用于输送料盘的输送结构、用于分离料盘的分离结构；所述第一堆栈结构和所述输送结构沿第二方向依次布置，其中，所述输送结构设于所述第一堆栈结构的下方；所述分离结构将设于所述第一堆栈结构的最下方的待测料盘或空料盘分离至所述输送结构，后所述输送结构将待测料盘或空料盘输送至与之对应设置的对接机构，后与所述对接机构对应设置的升降机构将待测料盘或空料盘沿第二方向输送至第三位置处，其中，待测料盘所在的第三位置处形成取料区，空料盘所在的第三位置处形成放料区。4.根据权利要求2所述的适用功能测试设备的自动上下料系统，其特征在于：所述第三子输送机构和所述第四子输送机构分别包括用于堆叠料盘的第一堆栈结构，用于输送料盘的输送结构、用于堆垛料盘的堆垛结构；所述第一堆栈结构和所述输送结构沿第二方向依次布置，其中，所述输送结构设于所述第一堆栈结构的下方；所述输送结构将废料盘或成品料盘从对接端输送至所述第一堆栈结构的下方，后所述堆垛结构将废料盘或成品料盘堆垛至所述第一堆栈结构的废料盘或成品料盘的最底层。5.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾耀興，李冠儒，沈霞，
申请(专利权)人：环旭电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31