光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统技术方案

本发明专利技术适用于光通信器件测试技术领域，提供一种光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统，可以根据不同待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，自动的从同一插损测量系统中选择对应的测试链路来测量插损值并进行校正，测试效率高，可有效减少测试机台的数量，对不同光通信器件的不同测试需求可以统一考量和实现，并且测试结果精度高。

【技术实现步骤摘要】
光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统
本专利技术属于光通信器件测试
，尤其涉及一种光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统。
技术介绍
随着光通信技术的不断发展，光通信器件的结构趋于复杂化，用于测试光通信器件性能的测试系统的光信号链路和电信号链路的结构也随之复杂化。通常光通信器件是指光模块、光有源器件、光无源器件，而光通信器件的光功率损失需精确控制及测量，测量光通信器件的插损非常重要，传统的测试方法通常采用分拆测试项目的方式来测量插损，以达到简化测试链路的目的，插损可以通过这种方式直接简单测量，但测试效率较低，需要使用较多的测试机台；还可以采用多模块测试板，在一套测试机台上尽量实现多项功能测试，由于插损的测量过程较为复杂，一套测试机台通常存在多个同类型的测试仪器，对于不同光通信器件的不同测试需求难以统一考量和实现，并且通常是手动操作测试仪器，然后自动计算插损值，测量结果精度低。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统，以解决传统的测试方法测试效率较低，需要使用较多的测试机台，对于不同光通信器件的不同测试需求难以统一考量和实现，并且测量结果精度低的问题。本专利技术实施例的第一方面提供了一种光通信器件的插损校正方法，基于光通信器件的插损测量系统实现，所述插损测量系统包括多种测试链路，所述方法包括：当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率；根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。本专利技术实施例的第二方面提供了一种光通信器件的插损校正系统，基于光通信器件的插损测量系统实现，所述系统包括：波长信息获取模块，用于当至少一个光通信器件接入测试链路时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；显示模块，用于当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；第一选择模块，用于针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；第二选择模块，用于针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；第一校正模块，用于根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率；第二校正模块，用于根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。本专利技术实施例的第三方面提供了一种光通信器件的插损测量系统，其包括至少五个光开关、第一波分复用器、第二波分复用器、第一～第三分光器、示波器、光接收器件、单模长光纤、第一光衰减器、第二光衰减器、光功率计和光网络单元，所述至少五个光开关包括第一～第五光开关；光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第二光开关、所述第一分光器和所述示波器依次连接，所述第一分光器还与所述光接收器件连接，所述第一波分复用器还通过所述第三光开关与所述第二光开关连接，所述第三光开关、所述第四光开关、所述第一光衰减器、所述第二分光器、所述第二波分复用器和所述光网络单元依次连接，所述第三光开关还通过所述单模长光纤与所述第四光开关连接，所述第二分光器还与所述光功率计连接，所述第二波分复用器、所述第五光开关、所述第二光衰减器、所述第三分光器和所述第一波分复用器依次连接，所述光网络单元还与所述第五光开关连接；所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第二光开关、所述第一分光器、所述示波器和所述光接收器件构成第一发射插损链路；所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第三光开关、所述第一分光器、所述示波器和所述光接收器件构成第二发射插损链路；所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第三光开关、所述第四光开关、所述第一光衰减器、所述第二分光器、所述光功率计、所述第二波分复用器和所述光网络单元构成发射不经过长光纤的传输代价插损链路；所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第三光开关、所述单模长光纤、所述第四光开关、所述第一光衰减器、所述第二分光器、所述光功率计、所述第二波分复用器和所述光网络单元构成发射经过长光纤的传输代价插损链路；所述光网络单元、所述第二波分复用器、所述第五光开关、所述第二光衰减器、所述第三分光器、所述第一波分复用器、所述第一光开关和所述光通信器件构成第一接收插损链路；所述光网络单元、所述第五光开关、所述第二光衰减器、所述第三分光器、所述第一波分复用器、所述第一光开关和所述光通信器件构成第二接收插损链路；当所述光通信器件为光收发一体器件时，所述发射不经过长光纤的传输代价插损链路和所述第二接收插损链路构成第一发射接收自环插损链路，所述发射经过长光纤的传输代价插损链路和所述第二接收插损链路构成第二发射接收自环插损链路。在一个实施例中，所述第一发射插损链路为所述光通信器件发射第一波长光信号的发射插损链路；所述第二发射插损链路为所述光通信器件发射第二波长光信号的发射插损链路；所述发射不经过长光纤的传输代价插损链路为所述第二波长光信号发射不经过长光纤的传输代价插损链路；所述发射经过长光纤的传输代价插损链路为所述第二波长光信号发射经过长光纤的传输代价插损链路；所述第一接收插损链路为第三波长光信号的接收插损链路；所述第二接收插损链路为第四波长光信号的接收插损链路；当所述光通信器件为光收发一体器件时，所述第一发射接收自环插损链路和所述第二发射接收自环插损链路均为第二波长光信号和第四波长光信号的发射接收自环插损链路。在一个实施例中，所述第一光开关为M×1光开关、所述第一波分复用器为1×N波分复用器、所述第二光开关为I×1光开关、所述第三光开关为1×J光开关、所述第四光开关为K×1光开关、所述第二波分复用器为1×m波分复用器、所述第五光开关为n本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光通信器件的插损校正方法，其特征在于，基于光通信器件的插损测量系统实现，所述插损测量系统包括多种测试链路，所述方法包括：当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率；根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。...

【技术特征摘要】
1.一种光通信器件的插损校正方法，其特征在于，基于光通信器件的插损测量系统实现，所述插损测量系统包括多种测试链路，所述方法包括：当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率；根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。2.如权利要求1所述的光通信器件的插损校正方法，其特征在于，当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息之前，包括：根据预设命名规则对用于构建插损测量系统的所有测试仪器进行命名；其中，所述预设命名规则包括将测试仪器的名称命名为：测试仪器的功能代码+测试链路代码+测试仪器的编号。3.如权利要求1或2所述的光通信器件的插损校正方法，其特征在于，所述插损测量系统包括发射插损链路、发射不经过长光纤的传输代价插损链路、发射经过长光纤的传输代价插损链路、接收插损链路和发射接收自环插损链路共五种测试链路。4.如权利要求1或2所述的光通信器件的插损校正方法，其特征在于，当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面之前，包括：判断是否需要对所述光通信器件进行插损校正；当所述至少一个光通信器件中没有需要进行插损校正的待测光通信器件时，结束测试。5.如权利要求1或2所述的光通信器件的插损校正方法，其特征在于，针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路之前，包括：根据所述待测光通信器件的插损链路类型和波长，判断所述待测光通信器件是否为首次进行插损校正；根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率之前，包括：获取上一次测量的与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的插损值。6.一种光通信器件的插损校正系统，其特征在于，基于光通信器件的插损测量系统实现，所述系统包括：波长信息获取模块，用于当至少一个光通信器件接入测试链路时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；显示模块，用于当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；第一选择模块，用于针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；第二选择模块，用于针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；第一校正模块，用于根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖思雄，鲁佳，何志龙，莫育霖，庄礼杰，
申请(专利权)人：深圳市亚派光电器件有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44