一种晶体振荡器测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种晶体振荡器测试装置，包括：底座；对称设置于所述底座上的支架；穿设于所述支架之间并伸出所述支架两侧的旋转轴；设置于所述旋转轴上的安装板；以及固定于所述支架内侧的圆盘；其中，所述安装板用于承接所述晶体振荡器，所述圆盘位于所述支架与所述安装板之间，所述圆盘与所述旋转轴同心设置，所述圆盘上设置有以圆心为中心轴向对称均匀分布的多个调节孔。本发明专利技术提高了测试的精确度以及测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种晶体振荡器测试装置
本专利技术涉及通信
，特别是涉及一种晶体振荡器测试装置
技术介绍
石英晶体振荡器是加速度敏感器件，在振动环境下，晶体振荡器的稳定度大幅度降低相位噪声严重恶化，使通讯设备的误码率、雷达探测灵敏度和武器系统的制导精度大幅度下降。晶体是晶振中加速度灵敏度最大的器件，当晶体受到振动、冲击作用时，晶体的支架等机械结构发生变形，同时也会引起晶片变形扭曲，晶体的等效参数会发生变化，使晶体频率发生变化。提高晶振的振动下的稳定度，除了从晶体和晶振的设计方面进行考虑外，还需要对晶振的加速度灵敏度进行测试，以确认晶振是否满足系统要求。振动引起的晶体频率相对变化与所受振动加速度的大小成正比为加速度量级，为晶体的加速度灵敏度，晶体加速度灵敏度是一个矢量，可通过测量3个互相正交轴中每一轴的矢量分量来确定。当晶体振荡器沿一个水平的轴向(垂直于重力方向)旋转180°，对振荡器来说相当于其所受的加速度变化量为2g。因此可以采用一个简单的2g翻转测试装置测试晶体振荡器的加速度灵敏度。2g翻转测试法为在三个互相正交的轴向上，将晶振各翻转180°，翻转前后晶振的频率分别为fmax与fmin，则晶振在这个方向上的加速度敏感度为：依次分别得到三个互成正交轴方向上的加速度敏感度，于是晶振的加速度敏感度即：由于晶振的加速度灵敏度较小，一般为10-9～10-10量级，因此测试中很容易受到空气对流引起的温度变化、晶振放置状态变化引起的热传导变化、翻转操作引起的晶振结构见和测试线缆等的变化等引起的频率变化影响，从而使2g翻转测试结果存在较大误差。因此，需要提供一种能够精确测试晶振加速度灵敏度的晶体振荡器测试装置。
技术实现思路
为达到上述目的，本专利技术第一方面提出一种晶体振荡器测试装置，包括：底座；对称设置于所述底座上的支架；穿设于所述支架之间并伸出所述支架两侧的旋转轴；设置于所述旋转轴上的安装板；以及固定于所述支架内侧的圆盘；其中，所述安装板用于承接所述晶体振荡器，所述圆盘位于所述支架与所述安装板之间，所述圆盘与所述旋转轴同心设置，所述圆盘上设置有以圆心为中心轴向对称均匀分布的多个调节孔。优选地，所述圆盘上设置有第一固定孔，所述支架上设置有与所述第一固定孔对应的第二固定孔，所述圆盘与支架通过螺栓穿设所述第一固定孔以及第二固定孔进行固定。优选地，所述安装板上设置有以旋转轴圆心为中心相互对称的第三固定孔，所述第三固定孔与轴向对称设置在所述圆盘上的的调节孔相互对应，所述圆盘与所述安装板通过螺栓穿设所述第三固定孔以及调节孔进行固定。优选地，所述安装板上设置有用于固定所述晶体振荡器的转接夹具，所述转接夹具上设置有用于为晶体振荡器进行加电并输出测试频率的电路板。优选地，所述转接夹具相对于固定所述晶体振荡器的表面以及相邻的两侧面上均设置有第四固定孔，所述安装板上设置有与所述第四固定孔相对应的第五固定孔，所述转接夹具与所述安装板通过螺栓穿过所述第四固定孔以及所述第五固定孔进行固定。优选地，所述调节孔的数目为12个。优选地，所述旋转轴伸出于所述支架两侧的端部设置有把手。优选地，所述底座的材料包括硬铝铣。本专利技术的有益效果如下：本专利技术所述的技术方案原理清晰、方案简单，本专利技术可以降低工作人员在采用2g翻转测试法对晶体振荡器进行加速度灵敏度测试时，因晶体振荡器状态变化所引起的频率变化而导致对测试结果的不良影响，从而提高了测试的精确度以及测试效率。附图说明下面结合附图对本专利技术的具体实施方式作进一步详细的说明。图1为本专利技术的一个实施例中提出的一种晶体振荡器测试装置的正视图；图2为本专利技术的一个实施例中提出的圆盘的正视图；图3为本专利技术的一个实施例中提出的安装板的侧视图；图4为本专利技术的一个实施例中提出的安装板的正视图；图5为本专利技术的一个实施例中提出的转接夹具的结构示意图。图中：1、底座；2、支架；21、第二固定孔；3、圆盘；31、圆心孔；32、调节孔；33、第一固定孔；4、旋转轴；41、把手；5、安装板；51、中心孔；52、第三固定孔；53、第五固定孔；6、转接夹具；61、线路板；62、第四固定孔；7、晶体振荡器具体实施方式为了更清楚地说明本专利技术，下面结合优选实施例和附图对本专利技术做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本专利技术的保护范围。图1为本专利技术的一个实施例提出的一种晶体振荡器测试装置的正视图，如图1所示，包括水平设置的底座，所述底座的上表面上竖直固定有对称的支架，支架通过螺钉固定在底座上，支架之间穿设有旋转轴，旋转轴的两端伸出于支架两侧，旋转轴可在支架之间进行旋转，安装板的中心设置有中心孔，旋转轴通过中心孔穿设安装板，从而也就将安装板安装在旋转轴上，安装板位于支架之间，且安装板可随着旋转轴进行旋转，支架内侧固定设置有圆盘，圆盘夹设在支架与安装板之间，且圆盘的圆心与旋转轴为同心设置，在这里，圆盘的圆心处设置有圆心孔，也就是说，旋转轴穿设过圆盘的圆心孔，圆盘的数量可设置为两个，两个圆盘分别位于支架的两个内侧面上；或者圆盘设置为一个，位于支架的其中一个内侧面上，本实施例对此不做限定。圆盘上设置有以圆心为中心轴向对称均匀分布的多个调节孔。在本实施例的具体实施中，安装板用于承接晶体振荡器，也就是说安装板是承担载具的作用，在使用本实施例提出的晶体振荡器测试装置时，首先将晶体振荡器安装在安装板上并进行固定，由于旋转轴的两端伸出于支架两侧，所以通过旋转旋转轴能够带动安装板进行旋转，也就能够带动晶体振荡器进行旋转，在这里，圆盘上设置的调节孔由于是以圆盘的圆心为中心轴向对称均匀分布的，多个调节孔将整个圆周进行均匀的分割，所相邻的调节孔之间所形成的角度是固定的，我们可以将调节孔作为参考点，示例性的，将所述调节孔的数目设置为12个，也就是说，相邻之间的调节孔之间的角度为30°，这样我们在测试晶体振荡器时，就可以根据调节孔的位置来对旋转轴进行旋转，这样就能将安装板进行精准的翻转，从而实现对晶体振荡器的翻转，进一步的对晶体振荡器进行加电开始测试，可以提高测试的精确度。在本实施例的一个可选的实施方式中，所述支架为可伸缩结构。在进行对晶体振动器的测试实验中，由于支架为可伸缩结果，因此能够根据需要来进行调节，提高试验过程中的便利性。在本实施例的一个可选的实施方式中，所述圆盘上设置有第一固定孔，支架上设置有与第一固定孔对应的第二固定孔，所述圆盘与支架通过螺栓穿设所述第一固定孔以及第二固定孔进行固定。在这里，通过将螺栓穿设第一固定孔以及第二固定孔来实现将圆盘固定在支架的内侧面上，安装简单，减少了操作难度。在本实施例的一个可选的实施方式中，所述安装板上设置有以旋转轴圆心为中心相互对称的第三固定孔，所述第三固定孔与轴向对称设置在所述圆盘上的的调节孔相互对应，所述圆盘与所述安装板通过螺栓穿设所述第三固定孔以及调节孔进行固定。安装板上开设有以旋转轴圆心为中心相互对称的第三固定孔，也就是说第三固定孔为以安装板上的中心孔为中心对称设置的，且第三固定孔与圆盘上的调节孔相互对应，由于圆盘上的调节孔为对称均匀设置的，所以通过螺栓穿过第三固定孔以及调节孔能够将圆盘以及安装板进行固定，在进行测试时，首先通过旋转旋本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶体振荡器测试装置，其特征在于，包括：底座；对称设置于所述底座上的支架；穿设于所述支架之间并伸出所述支架两侧的旋转轴；设置于所述旋转轴上的安装板；以及固定于所述支架内侧的圆盘；其中，所述安装板用于承接所述晶体振荡器，所述圆盘位于所述支架与所述安装板之间，所述圆盘与所述旋转轴同心设置，所述圆盘上设置有以圆心为中心轴向对称均匀分布的多个调节孔。

【技术特征摘要】
1.一种晶体振荡器测试装置，其特征在于，包括：底座；对称设置于所述底座上的支架；穿设于所述支架之间并伸出所述支架两侧的旋转轴；设置于所述旋转轴上的安装板；以及固定于所述支架内侧的圆盘；其中，所述安装板用于承接所述晶体振荡器，所述圆盘位于所述支架与所述安装板之间，所述圆盘与所述旋转轴同心设置，所述圆盘上设置有以圆心为中心轴向对称均匀分布的多个调节孔。2.根据权利要求1所述的晶体振荡器测试装置，其特征在于，所述圆盘上设置有第一固定孔，所述支架上设置有与所述第一固定孔对应的第二固定孔，所述圆盘与支架通过螺栓穿设所述第一固定孔以及第二固定孔进行固定。3.根据权利要求1所述的晶体振荡器测试装置，其特征在于，所述安装板上设置有以旋转轴圆心为中心相互对称的第三固定孔，所述第三固定孔与轴向对称设置在所述圆盘上的的调节孔相互对应，所述圆盘与所述安装板通过螺栓穿设...

【专利技术属性】
技术研发人员：乔志峰，彭慧丽，陈金和，于德江，郄莉，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11