一种滑台式发射率测试装置制造方法及图纸

技术编号:19671813 阅读:23 留言:0更新日期:2018-12-08 01:06
本实用新型专利技术涉及一种滑台式发射率测试装置,包括X电机,X轴,X平移台,样品,Y电机,Y轴,Y平移台,环形夹。所述X电机、X轴和X平移台组成一个整体,位于底部,所述样品放置于X平移台上,所述Y电机、Y轴、Y平移台和环形夹组成一个整体,垂直放置于X平移台上方,环形夹的环口恰好位于样品的正上方。本实用新型专利技术通过设计一种滑台式发射率测试装置,能够在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间,并提供连续可选的表面单元,可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率,还可直接得到特定发射率,提高测量发射率的精度,小巧简单,操作方便。

【技术实现步骤摘要】
一种滑台式发射率测试装置
本技术涉及仪器仪表领域,尤其涉及发射率测试装置。
技术介绍
发射率作为一项能够表征材料辐射能力的热物性参数,在很多高科技领域中都有着不可替代的作用。一方面,准确的发射率数据与红外技术等基础研究息息相关。另一方面,发射率的研究在工业、军事、航空航天等工程
有着宝贵的研究价值。在测温过程中,为了先确定表面发射率,常用辅助方法是采用发射率已知的物体作为参考物。然而目前得到的发射率只能是单一或几个数值,不能得到近似从0到1连续的一系列数值,不能直接得到特定的发射率,劳动量大,十分不便。现阶段对于发射率测试的装置不是很多,现技术有三个缺点,一是测温区间不够宽,不能近似从0到1;二是在工作温度区间内,参考物体发射率是一个定值或区域值,不能连续调节;三是不能直接得到特定发射率,使测量发射率精度受到影响。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服现有发射率测试装置的不足,提供了一种滑台式发射率测试装置。本技术包括X电机,X轴,X平移台,样品,Y电机,Y轴,Y平移台,环形夹。所述X电机、X轴和X平移台组成一个整体,位于底部,所述样品放置于X平移台上,所述Y电机、Y轴、Y平移台和环形夹组成一个整体,垂直放置于X平移台上方,环形夹的环口恰好位于样品的正上方。作为本技术的优选技术方案,所述X电机通过X轴连接X平移台,X电机工作时通过X轴的转动控制X平移台在X轴方向左右移动。作为本技术的优选技术方案,所述样品为对称式深度连续渐变空腔阵列,作为发射率参考物。作为本技术的优选技术方案,所述Y电机通过Y轴连接Y平移台,Y电机工作时通过Y轴的转动控制Y平移台在Y轴方向上下移动。作为本技术的优选技术方案,所述环形夹被固定在Y平移台表面中心处,环口恰好位于样品的正上方。本技术通过设计一种滑台式发射率测试装置,能够在红外测温
提供比较广泛的发射率区间,并提供连续可选的表面单元,可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率,还可直接得到特定发射率,提高测量发射率的精度,小巧简单,操作方便。附图说明图1为本技术的结构示意图。图2为本技术底部的结构示意图。图中:1.X电机;2.X轴;3.X平移台;4.样品;5.Y电机;6.Y轴;7.Y平移台;8.环形夹。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。请参阅图1,图1为本技术的结构示意图。一种滑台式发射率测试装置,包括X电机1,X轴2,X平移台3,样品4,Y电机5,Y轴6,Y平移台7,环形夹8,所述X电机1、X轴2和X平移台3组成一个整体,位于底部;所述样品4放置于X平移台3上,所述Y电机5、Y轴6、Y平移台7和环形夹8组成一个整体,垂直放置于X平移3台上方,环形夹8的环口恰好位于样品4的正上方。将样品4放置在X平移台3上,由于样品4为对称式深度连续渐变空腔阵列,作为发射率参考物拥有近似从0到1连续的发射率,用环形夹8将红外测温仪夹住,使红外测温仪的测温探头朝下对准样品4。通过Y电机5控制Y轴6转动,进而控制Y平移台7上下移动,在环形夹8内的红外测温仪随之上下移动,调整红外测温仪与样品4之间的焦距到合理距离。通过X电机1控制X轴2转动,进而控制X平移台3左右移动,在X平移台3上放置的样品4随之左右移动,先将X平移台移动至红外测温仪测温探头对准样品4的最左侧,开始测量其发射率,然后控制X平移台缓缓向右移动,直至红外测温仪测温探头对准样品4的最右侧,再通过匹配法计算,便可得到一系列近似从0到1的发射率,还可通过红外测温仪的读数找到特定发射率,提高了测量发射率的精度,小巧简单,操作方便。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已,并不用以限制本技术,凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种滑台式发射率测试装置,其特征是包括X电机,X轴,X平移台,样品,Y电机,Y轴,Y平移台,环形夹,所述X电机、X轴和X平移台组成一个整体,位于底部,所述样品放置于X平移台上,所述Y电机、Y轴、Y平移台和环形夹组成一个整体,垂直放置于X平移台上方,环形夹的环口恰好位于样品的正上方。

【技术特征摘要】
1.一种滑台式发射率测试装置,其特征是包括X电机,X轴,X平移台,样品,Y电机,Y轴,Y平移台,环形夹,所述X电机、X轴和X平移台组成一个整体,位于底部,所述样品放置于X平移台上,所述Y电机、Y轴、Y平移台和环形夹组成一个整体,垂直放置于X平移台上方,环形夹的环口恰好位于样品的正上方。2.根据权利要求1所述的一种滑台式发射率测试装置,其特征在于:所述X电机通过X轴连接X平移台,X电机工作时通过X轴的转动控制X平移...

【专利技术属性】
技术研发人员:王潇楠李文军
申请(专利权)人:中国计量大学
类型:新型
国别省市:浙江,33

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