In the embodiment of this application, a liquid crystal module detection device includes: a pallet with a liquid crystal module holding groove; a transfer substrate is arranged on the pallet, and the transfer substrate is located below the liquid crystal module holding groove; a plurality of test points are arranged on the transfer substrate; and a lower part of the transfer substrate is arranged for measuring. A probe assembly for detection by a liquid crystal module; the plurality of test points correspond to a plurality of probe matches on the probe assembly. The technical scheme described in this application integrates multiple probe assemblies into a single probe assembly, and presses the entire probe assembly onto the test points of the transfer assembly, thereby eliminating the relative tolerance, processing tolerance and assembly tolerance of multiple probe assemblies, realizing accurate positioning and avoiding the problem of asynchronism in the compression of multiple probe assemblies.
【技术实现步骤摘要】
一种液晶模组检测装置
本申请涉及液晶模组检测领域,尤其涉及一种用于OLED液晶模组的检测装置中探针的定位方案。
技术介绍
近年来,液晶显示器(ThinFilmTransistor-LiquidCrystalDisplay,TFT-LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点,已经广泛地应用于人们的生产和生活当中。随着用户对液晶显示器品质和性能要求的提高,各液晶显示器的生产商均在努力提高各自产品的质量和性能,以适应市场的需求。OLED液晶模组作为液晶显示器的重要组成部分,其直接影响了液晶显示器的性能和质量。因此,对于液晶模组的检测的精准度成为液晶模组生产工序中重要的步骤之一。液晶模组检测的过程中,探针定位的精准度直接影响探针对液晶模组检测的准确度。通常对于液晶模组探针的定位采用多点同时压接技术,即液晶模组通过探针对液晶模组的转接基板上的多个测试点进行压接。当所有的测试点都能和每根探针同时接触,就能实现液晶模组信号的传输检测。传统的压接方式采用多动作式操作压接,如图1所示,第一探针组件和第二探针组件需要两次压接,且第一探针组件和第二探针组件有相对公差,加工公差和装配公差,很难保证精确定位,压接不良率较高。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本申请提供了一种液晶模组检测装置,该装置包括:具有液晶模组容纳槽1的托盘2;所述托盘2上设有转接基板4,所述转接基板4位于液晶模组容纳槽1的下方;所述转接基板4上设有多个测试点5;所述转接基板4的下方设有用于对待测液晶模组进行检测的探针组件6;所述多个测试点5与所述探针组件6上的多个测试点5匹配对应。优选地,所述液晶模组容纳槽1为在 ...
【技术保护点】
1.一种液晶模组检测装置,其特征在于,该装置包括:具有液晶模组容纳槽(1)的托盘(2);所述托盘(2)上设有转接基板(4),所述转接基板(4)位于液晶模组容纳槽(1)的下方;所述转接基板(4)上设有多个测试点(5);所述转接基板(4)的下方设有用于对待检测液晶模组(3)进行检测的探针组件(6);所述多个测试点(5)与所述探针组件(6)上的多个测试点(5)匹配对应。
【技术特征摘要】
1.一种液晶模组检测装置,其特征在于,该装置包括:具有液晶模组容纳槽(1)的托盘(2);所述托盘(2)上设有转接基板(4),所述转接基板(4)位于液晶模组容纳槽(1)的下方;所述转接基板(4)上设有多个测试点(5);所述转接基板(4)的下方设有用于对待检测液晶模组(3)进行检测的探针组件(6);所述多个测试点(5)与所述探针组件(6)上的多个测试点(5)匹配对应。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述液晶模组容纳槽(1)为在所述托盘(2)上沿铅锤方向开设的通槽;待检测液晶模组(3)置于所述通槽内,并能够被留置在预定位置。3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述液晶模组容纳槽(1)的槽壁上设有阻挡部,用于阻挡所述待检测液晶模组(3)沿铅垂方向向下运动,并使待检测液晶模组(3)留置在预定位置。4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述阻挡部为设置在液晶模组容纳槽(1)槽壁上的凸缘。5.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈文源,魏伟,江斌,
申请(专利权)人:苏州华兴源创电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏,32
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