The invention belongs to the technical field of 1AF material-liquid measurement, in particular to an 1AF material-liquid measurement device, including a mixed K boundary/X fluorescence measurement device, a passive neutron measurement device is arranged at the entrance of the measuring chamber (8) of the mixed K boundary/X fluorescence measurement device, and the passive neutron measurement device includes the measuring chamber (8). A number of He3 neutron tubes (4) connected to the inlet through a measurement channel (1) of the 1AF sample (6) are arranged outside the measurement channel (1) to connect the electronic system of the He3 neutron tubes (4). Based on the existing hybrid K-boundary/X-ray fluorescence technology, the simultaneous quantitative measurement and analysis of Cm, Pu and U are realized by adding a neutron measuring device, which provides a technical approach for passive neutron analysis of uranium and plutonium in waste cladding.
【技术实现步骤摘要】
一种1AF料液测量设备
本专利技术属于1AF料液测量
,具体涉及一种1AF料液测量设备。
技术介绍
废包壳是乏燃料组件经剪切、酸浸及清洗后的残留物。乏燃料经过冷却和运输后,将进入后处理厂首端工艺线,通过机械法去壳。首先将乏燃料组件中不包含燃料芯的两个端头切掉,并运输至暂存容器内;接着将燃料剪切成小段后装入开口吊篮内,浸入硝酸等溶解液后进行溶芯,将燃料从外壳中溶出;经过反复浸取并清洗后的固体物质即为废包壳,清洗后的溶液即为1AF料液。在废包壳测量过程中,直接测量废包壳中的U/Pu同位素含量是较为困难的。因此,通常通过选定某个与铀钚含量相关联的特征信号进行测量。在有关废包壳数据分析中,其中所含的Cm244的自发裂变中子所占比例较高,为此通过测量Cm244含量并结合Cm/Pu及Cm/U比进而推算出其中的铀钚含量。现有混合式K边界/X荧光技术(HKED)可以用于测量1AF料液中的U、Pu元素浓度,但不可获取其中Cm244元素浓度。
技术实现思路
本专利技术的目的是基于现有HKED装置,设计一种能够同时测量1AF料液中的Cm、Pu、U元素的测量装置。为达到以上目的,本专利技术采用的技术方案是一种1AF料液测量设备,包括混合式K边界/X荧光测量装置,其中,在所述混合式K边界/X荧光测量装置的测量腔的入口处设置无源中子测量装置,所述无源中子测量装置包括与所述测量腔的入口相连的、能够通过1AF料液样品的测量通道,设置在所述测量通道外围的若干He3中子管,连接所述He3中子管的电子学系统。进一步,所述测量通道与所述测量腔同轴,所述He3中子管沿所述测量通道的轴向均匀设置。 ...
【技术保护点】
1.一种1AF料液测量设备,包括混合式K边界/X荧光测量装置,其特征是:在所述混合式K边界/X荧光测量装置的测量腔(8)的入口处设置无源中子测量装置,所述无源中子测量装置包括与所述测量腔(8)的入口相连的、能够通过1AF料液样品(6)的测量通道(1),设置在所述测量通道(1)外围的若干He3中子管(4),连接所述He3中子管(4)的电子学系统。
【技术特征摘要】
1.一种1AF料液测量设备,包括混合式K边界/X荧光测量装置,其特征是:在所述混合式K边界/X荧光测量装置的测量腔(8)的入口处设置无源中子测量装置,所述无源中子测量装置包括与所述测量腔(8)的入口相连的、能够通过1AF料液样品(6)的测量通道(1),设置在所述测量通道(1)外围的若干He3中子管(4),连接所述He3中子管(4)的电子学系统。2.如权利要求1所述的1AF料液测量设备,其特征是:所述测量通道(1)与所述测量腔(8)同轴,所述He3中子管(4)沿所述测量通道(1)的轴向均匀设置。3.如权利要求2所述的1AF料液测量设备,其特征是:还包括设置在所述测量通道(1)与所述He3中子管(4)之间的内层铅屏蔽体(2)。4.如权利要求3所述的1AF料液测量设备,其特征是:所述测量通道(1)通过所述内层铅屏蔽体(2)设置在所述测量腔(8)的入口处。5.如权利要求4所述的1AF料液测量设备,其特征是:还包括设置在所述内层铅屏蔽体(2)外围的外层铅屏蔽体(5),所述He3中子管(4...
【专利技术属性】
技术研发人员:柏磊,王仲奇,刘晓琳,邵婕文,李新军,
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院,
类型:发明
国别省市:北京,11
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