一种快速鉴定荧光粉质量的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种快速鉴定荧光粉质量的方法及装置，快速鉴定荧光粉质量的方法包括：待测荧光粉配置成荧光胶体并设置于测温仪的感温端上，所述蓝光LED发光体与荧光胶体分离设置，所述凸透镜设置于蓝光LED发光体与荧光胶体之间，使得蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上；检测荧光胶体未被激发时的初始温度T1以及待测荧光粉在一定激发时间的稳定温度T2；T2与T1的差值即为该待测荧光粉的激发温度；对比不同荧光粉的激发温度，激发温度高则表示该荧光粉的光衰较为严重。

【技术实现步骤摘要】
一种快速鉴定荧光粉质量的方法及装置
本专利技术涉及LED封装领域，具体涉及一种能够快速鉴定荧光粉质量的方法及装置。
技术介绍
荧光粉的质量与LED灯珠光参数的多少及使用寿命的长短息息相关，对于荧光胶内荧光粉的检测目前有多种方法，如将荧光胶置于高温高压环境中一段时间后，测试荧光粉的光衰情况；其中将荧光胶封装在灯珠内部进行长时间老化是目前现有方法中最为常规并广泛运用的手段。但由于以上方法所需要的检验周期较长，即老化一般为1000小时后再对荧光粉进行初步判断，并且老化过程中，封装胶水、支架等的老化带来实验误差。再者，因周围环境因素的影响，温度越高，光衰越大，在常规实验中，不同的放置位置或放置时间段的环境温度均不同，且LED芯片产生的热量对荧光粉及周围环境温度影响最大，所以对环境的恒温控制较难，给研究人员带来较大的实验数据误差。为减少以上误差往往是多做几组整灯，甚至多次验证以达到实验目的。以上问题给实验人员带来数据不准确，实验周期长的缺点。
技术实现思路
为此，本专利技术根据荧光粉受激发自身产生温度大小与光衰程度的关系，即荧光粉受激发自身产生温度越大，光衰越严重。提供一种能够快速鉴定荧光粉质量的方法及装置，且检测结果准确度高。为实现上述目的，本专利技术提供的一种快速鉴定荧光粉质量的方法，包括如下步骤：A1，提供暗腔、蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪，将蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪的感温端设置于暗腔内，待测荧光粉配置成荧光胶体并设置于测温仪的感温端上，所述蓝光LED发光体与荧光胶体分离设置，所述凸透镜设置于蓝光LED发光体与荧光胶体之间，使得蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上；A2，检测荧光胶体未被激发时的初始温度T1；A3，控制蓝光LED发光体发光，蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上进行激发，测温仪检测待测荧光粉在一定激发时间的稳定温度T2；A4，求得稳定温度T2与初始温度T1的差值△T，该差值△T即为该待测荧光粉的激发温度；A5，取等量的不同荧光粉进行重复A1至A4步骤，取得等量的不同荧光粉的激发温度并进行比较，激发温度较高的荧光粉的光衰即较为严重。进一步的，所述暗腔为椭球腔体，所述蓝光LED发光体和荧光胶体分别设置于该椭球腔体的二焦点位置；所述暗腔的内壁设有反光层。进一步的，在步骤A1和步骤A2之间，还包括步骤A1-2：对暗腔进行抽真空处理。再进一步的，在步骤A3和步骤A4之间，还包括步骤A3-4：对暗腔进行充气冷却至室温，重复步骤A1-2至步骤A3，取得多组初始温度T1和稳定温度T2；步骤A4的具体为：求得稳定温度T2的平均温度与初始温度T1的平均温度的差值△T，该差值△T即为该待测荧光粉的激发温度。进一步的，还包括散热机构，所述散热机构将蓝光LED发光体产生的热量传导至暗腔外。本专利技术还提供一种快速鉴定荧光粉质量的装置，包括暗腔、蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪，所述暗腔为不透光壳体所围合而成的密闭腔体，所述蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪的感温端均设置在暗腔内，待测荧光粉配置成荧光胶体并设置于测温仪的感温端上，所述蓝光LED发光体与待测荧光粉分离设置，所述凸透镜设置于蓝光LED发光体与待测荧光粉之间，使得蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上，从而进行激发，所述测温仪检测待测荧光粉的激发温度。进一步的，所述暗腔为椭球腔体，所述蓝光LED发光体和荧光胶体分别设置于该椭球腔体的二焦点位置。再进一步的，所述暗腔的内壁设有反光层。进一步的，还包括抽真空机构，所述抽真空机构的真空抽取端连接至暗腔，以对暗腔进行抽真空。进一步的，还包括散热机构，所述蓝光LED发光体封装于该散热机构上，且散热机构的散热端延伸至暗腔外。通过本专利技术提供的技术方案，具有如下有益效果：1.在暗腔内进行测试，防止外界环境中的光线对其进行干扰；2.将蓝光LED发光体与待测荧光粉分离设置，有效避免蓝光LED发光体产生的热量对荧光粉的影响，使荧光粉周围环境容易保持恒温进行测试，保证准确性；3.蓝光LED发光体发出的光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上，使待测荧光粉完全受到激发，以模拟正常灯具的激发程度，使结果更为准确；4.测温仪检测待测荧光粉在一定激发时间的稳定温度T2，再与未被激发时的初始温度T1对比得到差值△T，该差值△T即为该待测荧光粉的激发温度；荧光粉的激发温度越大，即该荧光粉光衰越严重，质量越差。只要测量待测荧光粉在一定激发时间的稳定温度即可，测量时间短，速度快。附图说明图1所示为实施例中快速鉴定荧光粉质量的方法的步骤框图；图2所示为实施例中快速鉴定荧光粉质量的装置的结构示意图。具体实施方式为进一步说明各实施例，本专利技术提供有附图。这些附图为本专利技术揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本专利技术的优点。图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。现结合附图和具体实施方式对本专利技术进一步说明。参照图1所示，本实施例提供的一种快速鉴定荧光粉质量的方法，包括如下步骤：A1，提供暗腔、蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪，将蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪的感温端设置于暗腔内，待测荧光粉配置成荧光胶体并设置于测温仪的感温端上，所述蓝光LED发光体与荧光胶体分离设置，所述凸透镜设置于蓝光LED发光体与荧光胶体之间，使得蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上。进一步的，本步骤中，所述暗腔为不透光壳体所围合而成的密闭腔体，在暗腔内进行测试，防止外界环境中的光线对其进行干扰。进一步的，本步骤中，待测荧光粉配置成荧光胶体为常规的技术手段，如将单种或多种荧光粉按比例混合，再与胶水(如硅胶)进行混合配置成常规用于LED封装的荧光胶体，此是本领域的技术人员早已掌握的，在此不再详述。A2，检测荧光胶体未被激发时的初始温度T1。A3，控制蓝光LED发光体发光，蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上进行激发，测温仪检测待测荧光粉在一定激发时间的稳定温度T2。A4，求得稳定温度T2与初始温度T1的差值△T，该差值△T即为该待测荧光粉的激发温度。A5，取等量的不同荧光粉进行重复A1至A4步骤，取得等量的不同荧光粉的激发温度并进行比较，激发温度较高的荧光粉的光衰即较为严重。如第一荧光粉的激发温度大于第二荧光粉的激发温度，则可以得出第一荧光粉的质量较差，即光衰较为严重。进一步的，本实施例中，所述暗腔为椭球腔体，所述蓝光LED发光体和荧光胶体分别设置于该椭球腔体的二焦点位置。如此设置，未经凸透镜聚焦的光线照射至暗腔的内壁时，也会较多的反射至荧光胶体上进行激发荧光粉。具体的，凸透镜的放置位置只要满足将蓝光LED发光体的光线聚焦至荧光胶体上即可，其具体的位置是本领域的技术人员能够根据不同焦距的凸透镜轻易实现摆放的。再进一步的，所述暗腔的内壁设有反光层，发光效果更好。进一步的，本实施例中，在步骤A1和步骤A2之间，还包括步骤A1-2：对暗腔进行抽真空处理，对暗腔进行抽真空处理，避免由蓝光LED发光体的热量通过空气介质传导至荧光胶体处，影响数据准确性，再者，抽取空气中的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种快速鉴定荧光粉质量的方法，其特征在于，包括如下步骤：A1，提供暗腔、蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪，将蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪的感温端设置于暗腔内，待测荧光粉配置成荧光胶体并设置于测温仪的感温端上，所述蓝光LED发光体与荧光胶体分离设置，所述凸透镜设置于蓝光LED发光体与荧光胶体之间，使得蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上；A2，检测荧光胶体未被激发时的初始温度T1；A3，控制蓝光LED发光体发光，蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上进行激发，测温仪检测待测荧光粉在一定激发时间的稳定温度T2；A4，求得稳定温度T2与初始温度T1的差值△T，该差值△T即为该待测荧光粉的激发温度；A5，取等量的不同荧光粉进行重复A1至A4步骤，取得等量的不同荧光粉的激发温度并进行比较，激发温度较高的荧光粉的光衰即较为严重。

【技术特征摘要】
1.一种快速鉴定荧光粉质量的方法，其特征在于，包括如下步骤：A1，提供暗腔、蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪，将蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪的感温端设置于暗腔内，待测荧光粉配置成荧光胶体并设置于测温仪的感温端上，所述蓝光LED发光体与荧光胶体分离设置，所述凸透镜设置于蓝光LED发光体与荧光胶体之间，使得蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上；A2，检测荧光胶体未被激发时的初始温度T1；A3，控制蓝光LED发光体发光，蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上进行激发，测温仪检测待测荧光粉在一定激发时间的稳定温度T2；A4，求得稳定温度T2与初始温度T1的差值△T，该差值△T即为该待测荧光粉的激发温度；A5，取等量的不同荧光粉进行重复A1至A4步骤，取得等量的不同荧光粉的激发温度并进行比较，激发温度较高的荧光粉的光衰即较为严重。2.根据权利要求1所述的快速鉴定荧光粉质量的方法，其特征在于：所述暗腔为椭球腔体，所述蓝光LED发光体和荧光胶体分别设置于该椭球腔体的二焦点位置；所述暗腔的内壁设有反光层。3.根据权利要求1所述的快速鉴定荧光粉质量的方法，其特征在于：在步骤A1和步骤A2之间，还包括步骤A1-2：对暗腔进行抽真空处理。4.根据权利要求3所述的快速鉴定荧光粉质量的方法，其特征在于：在步骤A3和步骤A4之间，还包括步骤A3-4：对暗腔进行充气冷却至室温，重复步骤A1-2至步骤A3，取得多组初...

【专利技术属性】
技术研发人员：高春瑞，郑剑飞，官小飞，郑文财，
申请(专利权)人：厦门多彩光电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：福建,35