一种按键基底消除方法、电容式按键检测电路和智能终端技术

本申请涉及电容式按键技术领域，提供了一种按键基底消除方法，应用于一种电容式按键检测电路，电容式按键检测电路包括：驱动电压端、电容检测电路和可变电容，可变电容的一端连接待检测按键；在充电阶段，可变电容的两端同时连接驱动电压端；在放电阶段，可变电容连接待检测按键的一端连接电容检测电路的负输入端，另一端接地；按键基底消除方法包括：检测电容式按键检测电路的输出电压；判断输出电压是否符合预设条件；若输出电压不符合预设条件，则调整可变电容的容值，直至输出电压符合预设条件。本申请实施例使得同一电容式按键检测电路可以动态抵消不容容值的寄生电容，适用于不同的电容式按键，保证电容式按键的工作状态更优，且应用广泛。

A Key Base Elimination Method, Capacitive Key Detection Circuit and Intelligent Terminal

The application relates to the technical field of capacitive key press, and provides a method for eliminating the base of key press, which is applied to a capacitive key press detection circuit. The capacitive key press detection circuit includes driving voltage terminal, capacitance detection circuit and variable capacitance, one end of variable capacitance is connected with the key to be tested, and in charging stage, variable capacitance. In the discharge stage, the variable capacitor connects one end of the key to be detected with the negative input end of the capacitance detection circuit, and the other end is grounded. The key base elimination methods include: detecting the output voltage of the capacitive key detection circuit; judging whether the output voltage meets the preset conditions; and if the output voltage meets the preset conditions. If the voltage does not meet the preset conditions, the capacitance of the variable capacitor will be adjusted until the output voltage meets the preset conditions. The embodiment of the application enables the same capacitive key detection circuit to dynamically offset the parasitic capacitance of the intolerance value, and is suitable for different capacitive keys to ensure that the capacitive keys work better and are widely used.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】一种按键基底消除方法、电容式按键检测电路和智能终端
本申请涉及电容式按键
，特别涉及一种电容式按键的检测及基底消除技术。
技术介绍
现阶段，随着电容式触摸按键在外形美观和使用寿命等方面都优于传统的机械按键，电容式触摸按键的应用领域也日益广泛，包括家电、消费电子、工业控制和移动设备等，而电容式按键所有检测都是电量的微小变化，所以相对于机械按键而言干点按键对各种干扰会更加敏感，因此在电容按键的电路设计上会更加复杂，成本更高。由于电容式按键更加敏感的特性，为保证检测的精准，现有电容式按键检测电路中设有基底消除电路，通过消除电容对电容式按键的寄生/基准电容进行抵消。本申请的专利技术人在分析现有技术后发现，设置消除电路的按键检测电路在实际应用中的消除效果并不理想，尤其是在针对不同电容式按键的检测中，消除效果也不相同。本专利技术人在进一步分析后发现，电容式按键在生产和装配过程中，由于装配和工艺的影响，会产生不同的初始电容，也就是说，不同按键的初始电容不可避免地存在偏差，偏差大小与工艺和应用等方面均相关，实际偏差甚至可能大于10％。因此，同一基底消除电路针对不同电容式按键时，消除效果自然产生不同。那么，本申请的专利技术人继而提出可以提供一种可以覆盖不同初始电容偏差按键的解决方案。
技术实现思路
本申请部分实施方式的目的在于提供一种按键基底消除方法、电容式按键检测电路和智能终端，使得同一电容式按键检测电路可以动态抵消不容容值的寄生电容，适用于不同的电容式按键，保证电容式按键的工作状态更优，且应用广泛。本申请实施方式提供了一种按键基底消除方法，应用于一种电容式按键检测电路，所述电容式按键检测电路包括：驱动电压端、电容检测电路和可变电容，所述可变电容的一端连接待检测按键；在充电阶段，所述可变电容的两端同时连接所述驱动电压端；在放电阶段，所述可变电容连接所述待检测按键的一端连接所述电容检测电路的负输入端，另一端接地；所述按键基底消除方法包括：检测所述电容式按键检测电路的输出电压；判断所述输出电压是否符合预设条件；若所述输出电压不符合预设条件，则调整所述可变电容的容值，直至所述输出电压符合所述预设条件。本申请实施方式还提供了一种电容式按键检测电路，包括：驱动电压端、电容检测电路和可变电容，所述可变电容的一端连接待检测按键；在充电阶段，所述可变电容的两端同时连接所述驱动电压端；在放电阶段，所述可变电容连接所述待检测按键的一端连接所述电容检测电路的负输入端，另一端接地。本申请实施方式还提供了一种智能终端，包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如上述的按键基底消除方法。本申请实施方式还提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的按键基底消除方法。本申请实施方式相对于现有技术而言，主要区别及其效果在于：本申请改进了电容式按键检测电路的结构，将现有用于消除寄生电容的电容改为可变电容，由于根据电容式按键检测电路的输出电压可以确定所述电容式按键电容中的寄生电容是否被消除，所以在需要消除时，动态调整可变电容的容值，使得电容式按键的寄生电容可以被抵消。由于调整量可由输出电压反馈，所以电容式按键即使具有不同的初始电容，也可以利用本申请实施方式中的按键基底消除方法和电容式按键检测电路被尽量抵消。可见，本申请实施方式中的按键基底消除方法、电容式按键检测电路和智能终端，使得同一电容式按键检测电路可以动态抵消不容容值的寄生电容，适用于不同的电容式按键，保证电容式按键的工作状态更优，且应用广泛。另外，由于本申请实施方式中利用软件方式实现电容值的动态调整，大大降低了硬件电路的设计成本。作为进一步改进，检测电容式按键检测电路的输出电压，具体为：在所述电容式按键检测电路上电时，检测所述电容式按键检测电路输出电压；所述判断输出电压是否符合预设条件中，所述预设条件包括：所述输出电压与设定值的差小于或等于预设值；其中，所述预定值和所述电容式按键检测电路的驱动电压有关。本申请实施方式限定在上电时调整可变电容的电容值，且调整方法是使得输出电压尽量接近所设定的目标值，使得在上电时快速消除按键在装配及工艺中的寄生电容。作为进一步改进，预定值可以为所述驱动电压的一半。本申请实施方式限定所设定的目标值为驱动电压的一半，尽可能保证按键的动态范围最大。作为进一步改进，调整可变电容的容值，可以具体为：利用二分法调整所述可变电容的容值。本申请实施方式可以利用二分法尽快得到一个接近的电容值。作为进一步改进，检测电容式按键检测电路输出电压，可以具体为：在所述电容式按键检测电路处于工作状态时，检测所述电容式按键检测电路输出电压；所述判断输出电压是否符合预设条件中，所述预设条件包括：所述输出电压在预设范围内。本申请实施方式限定在工作状态时可以动态调整，抵消按键在工作状态中受人手或环境影响产生的寄生电容，尽可能提升按键的灵敏度。作为进一步改进，判断输出电压是否符合预设条件，具体为：在检测到的所述输出电压稳定时，判断所述输出电压是否符合预设条件。本申请实施方式限定在输出电压稳定时再进行电容调整，避免调节导致无法检测到数据变化。作为进一步改进，检测电容式按键检测电路输出电压之后，在所述判断输出电压是否符合预设条件之前，还包括：将所述输出电压进行模数转换；所述判断输出电压是否符合预设条件，具体为：判断经模数转换后的输出电压是否符合预设条件。本申请实施方式限定根据输出电压模数转换后的数字判断，便于利用软件的方法对电压进行比较等分析，便于数据处理。附图说明一个或多个实施方式通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施方式的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。图1是根据本申请第一实施方式中的按键基底消除方法中应用的电容式按键检测电路的电路图；图2是根据本申请第一实施方式中的按键基底消除方法流程图；图3是根据本申请第一实施方式中的按键基底消除方法中可变电容容值的调整流程图；图4是根据本申请第一实施方式中专利技术人对本实施方式中可变容值调整后的验证效果图；图5是根据本申请第五实施方式中的按键检测电路示意图。具体实施方式为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施方式，对本申请部分实施方式进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。本申请第一实施方式涉及一种按键基底消除方法。本实施方式中的按键基底消除方法可以应用于电容式按键检测电路，如图1所示，该电容式按键检测电路具体包括：驱动电压端Vch、电容检测电路20和可变电容10。其中，Cs表示寄生电容。可变电容10的一端连接待检测按键(即：图1中的KEY)，同时，可变电容10连接KEY的一端通过开关30连接Vch，通过开关40连接电容检测电路20的负输入端；可变电容10的另一端通过连接开关50连接Vch，同时通过开关60接地。具体的说，在充电阶段，开关30和50闭合，开关40和60打开；在放电阶段，开关30和50打开，开关4本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种按键基底消除方法，其特征在于，应用于一种电容式按键检测电路，所述电容式按键检测电路包括：驱动电压端、电容检测电路和可变电容，所述可变电容的一端连接待检测按键；在充电阶段，所述可变电容的两端同时连接所述驱动电压端；在放电阶段，所述可变电容连接所述待检测按键的一端连接所述电容检测电路的负输入端，另一端接地；所述按键基底消除方法包括：检测所述电容式按键检测电路的输出电压；判断所述输出电压是否符合预设条件；若所述输出电压不符合预设条件，则调整所述可变电容的容值，直至所述输出电压符合所述预设条件。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种按键基底消除方法，其特征在于，应用于一种电容式按键检测电路，所述电容式按键检测电路包括：驱动电压端、电容检测电路和可变电容，所述可变电容的一端连接待检测按键；在充电阶段，所述可变电容的两端同时连接所述驱动电压端；在放电阶段，所述可变电容连接所述待检测按键的一端连接所述电容检测电路的负输入端，另一端接地；所述按键基底消除方法包括：检测所述电容式按键检测电路的输出电压；判断所述输出电压是否符合预设条件；若所述输出电压不符合预设条件，则调整所述可变电容的容值，直至所述输出电压符合所述预设条件。2.如权利要求1所述的按键基底消除方法，其特征在于，所述检测电容式按键检测电路的输出电压，具体为：在所述电容式按键检测电路上电时，检测所述电容式按键检测电路输出电压；所述判断输出电压是否符合预设条件中，所述预设条件包括：所述输出电压与设定值的差小于或等于预设值；其中，所述预定值和所述电容式按键检测电路的驱动电压有关。3.如权利要求2所述的按键基底消除方法，其特征在于，所述预定值为所述驱动电压的一半。4.如权利要求2所述的按键基底消除方法，其特征在于，所述调整可变电容的容值，具体为：利用二分法调整所述可变电容的容值。5.如权利要求1所述的按键基底消除方法，其特征在于，所述检测电容式按键检测电路输出电压，具体为：在所述电容式按键检测电路处于工作状态时，检测所述电容式按键检测电路输出电压；所述判断输出电压是否符合预设条件中，所述预设条件包括：所述输出电压在预设范围内。6.如权利要求5所述的按键基...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑引香，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44