电子元器件测试设备制造技术

本发明专利技术公开一种电子元器件测试设备，该电子元器件测试设备包括转盘装置、自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置和自动下料装置；其中，转盘装置包括驱动部件及多工位转盘；自动上料装置包括第一进出盘部件及取料部件，取料部件横跨于第一进出盘部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动；物料测试装置包括测试仪及测试探针；物料扫描装置用于读取条形码中储存的信息，其包括第一扫描机构和第二扫描机构；自动下料装置包括第二进出盘部件、物料盒移送部件以及送料部件，送料部件横跨于第二进出盘部件与物料盒移送部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动。本发明专利技术电子元器件测试设备可有效的提高电子元器件的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
电子元器件测试设备
本专利技术涉及电子元器件测试领域，具体涉及一种电子元器件测试设备。
技术介绍
近年来，随着电子元器件的高度集成及不断的升级细化，使得电子产品朝着小型化、低能耗、高精度及智能化的方向发展。而作为电子产品组成基础的各类电子元器件，在工厂生产加工后，需对其电性能参数进行测试，以保证电子元器件的安全性、稳定性及可靠性，进而保证电子产品的质量。然而，传统电子元器件的电性能测试，其主要依靠人工将待检测电子元器件与对应的测试仪器进行电连接，通过测试仪器的显示屏，显示正在检测的电子元器件的电性能参数，以供检测人员参考；检测完成后，再由检测人员依据检测结果，手动筛选出成品与次品并将其置于不同的区域。此种检测方式，虽可满足对电子元器件的电性能参数测试，但其自动化程度较低，导致了测试效率相对较低的缺陷，其无法满足市场对于各类电子元器件的产量需求。因此，亟需一种自动化程度较高的电子元器件测试设备。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提出一种电子元器件测试设备，以解决传统的电子元器件的测试效率相对较低的技术问题。为解决上述技术问题，本专利技术提出一种电子元器件测试设备，该电子元器件测试设备包括用于传送物料的转盘装置以及沿所述转盘装置的转动方向依次布置的自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置和自动下料装置；其中，所述转盘装置包括驱动部件以及与所述驱动部件的执行端连接的多工位转盘；所述自动上料装置包括用于自动进出所述物料盘的第一进出盘部件以及用于将所述物料盘中的物料转移至所述转盘上的取料部件，所述取料部件横跨于所述第一进出盘部件的上方且可沿垂直所述物料盘的移动方向运动；所述物料测试装置包括用于对物料的电性能参数进行检测的测试仪以及用于连接所述测试仪与待测物料的测试探针；所述物料扫描装置用于读取所述条形码中储存的信息，其包括可沿平行、垂直所述物料盘的移动方向运动的第一扫描机构，以及位于所述第一扫描机构下方的第二扫描机构；所述自动下料装置包括用于自动进出所述物料盘的第二进出盘部件、与所述第二进出盘部件并排设置的物料盒移送部件以及用于将所述转盘上的物料转移至所述物料盘或物料盒中的送料部件，所述送料部件横跨于所述第二进出盘部件与物料盒移送部件的上方且可沿垂直所述物料盘的移动方向运动。优选地，所述电子元器件测试设备还包括设置在所述物料测试装置和物料扫描装置之间的视觉检测装置，所述视觉检测装置包括CCD相机和光源组件，所述CCD相机设置在所述转盘上方且所述CCD相机的镜头朝向所述转盘，所述光源组件位于所述CCD相机正下方。优选地，所述电子元器件测试设备还包括用于将所述取料部件上的物料转移至所述转盘上的上料转送装置及用于将所述转盘上的物料转移至所述送料部件上的下料转送装置；其中，所述上料转送装置位于所述自动上料装置和转盘装置之间，所述上料转送装置包括用于自所述取料部件上吸取物料并将其放置在所述转盘上的第一吸附机构，以及与所述第一吸附机构连接用于驱动所述第一吸附机构在所述取料部件与转盘之间执行取料、放料动作的第一驱动机构；所述下料转送装置位于所述转盘装置和自动下料装置之间，所述下料转送装置包括用于自所述转盘上吸取物料并将其放置在所述送料部件上的第二吸附机构，以及与所述第二吸附机构连接用于驱动所述第二吸附机构在所述转盘与送料部件之间执行取料、放料动作的第二驱动机构。优选地，所述第一进出盘部件与所述第二进出盘部件结构相同，分别包括：布置有直线导轨的两第一支撑板、位于两第一支撑板之间用于驱动物料盘在所述直线导轨上沿进盘口至出盘口方向移动的拨盘机构、位于所述进盘口处用于自叠放的物料盘中分离一物料盘至所述直线导轨上的分盘机构、以及位于所述出盘口处用于将所述直线导轨上的空物料盘叠放至预设位置的收盘机构；所述取料部件与送料部件结构相同，分别包括：吸嘴、可转动的圆盘治具以及与所述吸嘴连接用于带动所述吸嘴自物料盘中吸取物料并置于所述圆盘治具中的摆臂机构。优选地，所述分盘机构包括分别设置在所述两第一支撑板上的承载组件以及用于举升或下降所述物料盘至预设高度的第一升降组件；其中，所述物料盘的两侧设有凹槽；所述承载组件包括可沿垂直第一支撑板的方向往复运动的联动板，所述联动板包括在物料盘移动方向上间隔设置并位于所述第一支撑板的上端面之上的两连接部以及设置在所述连接部上的定位凸板，所述定位凸板与所述凹槽相匹配；所述第一升降组件包括可沿垂直工作台的方向往复运动的第一传动板以及设于所述第一传动板上且贯穿所述工作台的第一导柱，在所述第一导柱的顶端设置有第一升降板。优选地，所述拨盘机构包括布置在工作台上的线性模组以及与所述线性模组的执行端连接的拨杆。优选地，所述收盘机构包括在所述第一支撑板上并沿物料盘移动方向设置的定位支撑组件，以及与所述定位支撑组件的位置相对应的第二升降组件；其中，所述第二升降组件包括可沿垂直工作台的方向往复运动的第二传动板以及设于所述第二传动板上且贯穿所述工作台的第二导柱，在所述第二导柱的顶端设置有第二升降板；所述定位支撑组件包括固定座、贯穿所述固定座设置的旋转轴以及套设在所述旋转轴上的旋转凸板，所述旋转凸板可在位于其下方的物料盘的推动下朝向所述支撑板的外侧翻转至预设角度并复位。优选地，所述摆臂机构包括竖向设置的第一皮带传动单元、与所述第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两活动曲柄以及位于所述两活动曲柄之间的连杆，所述两活动曲柄中的一个与所述连杆转动连接，另一个与所述连杆滑动连接且可相对转动，所述连杆还与所述吸嘴连接。优选地，所述物料盒移送部件包括其上布置有盖板的两第二支撑板、位于两第二支撑板之间的直线传动组件以及与所述直线传动组件的执行端连接的载盒框，所述盖板上开设有与所述吸嘴相匹配的通孔。优选地，所述电子元器件测试设备还包括用于在所述转盘装置与物料测试装置之间转移物料的旋转装置，所述旋转装置包括第二皮带传动单元、与所述第二皮带传动单元的输出轴连接的旋转座以及设置在所述旋转座上且可沿上下方向运动的第三吸附机构。本专利技术所提出的电子元器件测试设备，在工作台上沿着装盘装置的转动方向，依次布置有自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置及自动下料装置。自动上料装置将待检测的物料转移至转盘装置上，转盘装置转动预设角度，将待检测物料传送至物料测试装置下方；物料测试装置通过测试探针，将待检测物料与测试仪电性连接，以通过测试仪检测物料的电性能参数(电流、电压、相位等)；测试完成后，各物料的检测结果将被录入至其表面贴设的条形码中；而后，转盘装置再次转动，将已检测完毕的物料转移至物料扫描装置的下方，通过物料扫描装置的扫描枪读取条形码中储存的信息，并上传至电子元器件测试设备的控制系统；最后，控制系统依据各物料的检测结果，控制自动下料装置，自转盘装置上吸取物料并将其放置在不同的区域(即成品放置区与次品放置区)。如此，本专利技术所提出的电子元器件测试设备，其自动化程度较高，可有效的提高电子元器件的测试效率。附图说明图1为本专利技术电子元器件测试设备一实施例的结构示意图；图2为本专利技术电子元器件测试设备中转盘装置、物料测试装置、物料扫描装置、上料转送装置及视觉检测装置一实施例的结构示意图；图3为本专利技术电子元器件测试设备中转盘装置一实施例的结构示意图；图4为本专利技术电子元器件测试设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元器件测试设备，所述电子元器件的表面贴设有用于储存信息的条形码并被放置在物料盘或物料盒中，其特征在于，所述电子元器件测试设备包括用于传送物料的转盘装置以及沿所述转盘装置的转动方向依次布置的自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置和自动下料装置；其中，所述转盘装置包括驱动部件以及与所述驱动部件的执行端连接的多工位转盘；所述自动上料装置包括用于自动进出物料盘的第一进出盘部件以及用于将所述物料盘中的物料转移至所述转盘上的取料部件，所述取料部件横跨于所述第一进出盘部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动；所述物料测试装置包括用于对物料的电性能参数进行检测的测试仪以及用于连接所述测试仪与待测物料的测试探针；所述物料扫描装置用于读取所述条形码中储存的信息，其包括可沿平行、垂直物料盘的移动方向运动的第一扫描机构，以及位于所述第一扫描机构下方的第二扫描机构；所述自动下料装置包括用于自动进出所述物料盘的第二进出盘部件、与所述第二进出盘部件并排设置的物料盒移送部件以及用于将所述转盘上的物料转移至所述物料盘或物料盒中的送料部件，所述送料部件横跨于所述第二进出盘部件与物料盒移送部件的上方且可沿垂直所述物料盘的移动方向运动。...

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件测试设备，所述电子元器件的表面贴设有用于储存信息的条形码并被放置在物料盘或物料盒中，其特征在于，所述电子元器件测试设备包括用于传送物料的转盘装置以及沿所述转盘装置的转动方向依次布置的自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置和自动下料装置；其中，所述转盘装置包括驱动部件以及与所述驱动部件的执行端连接的多工位转盘；所述自动上料装置包括用于自动进出物料盘的第一进出盘部件以及用于将所述物料盘中的物料转移至所述转盘上的取料部件，所述取料部件横跨于所述第一进出盘部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动；所述物料测试装置包括用于对物料的电性能参数进行检测的测试仪以及用于连接所述测试仪与待测物料的测试探针；所述物料扫描装置用于读取所述条形码中储存的信息，其包括可沿平行、垂直物料盘的移动方向运动的第一扫描机构，以及位于所述第一扫描机构下方的第二扫描机构；所述自动下料装置包括用于自动进出所述物料盘的第二进出盘部件、与所述第二进出盘部件并排设置的物料盒移送部件以及用于将所述转盘上的物料转移至所述物料盘或物料盒中的送料部件，所述送料部件横跨于所述第二进出盘部件与物料盒移送部件的上方且可沿垂直所述物料盘的移动方向运动。2.如权利要求1所述的电子元器件测试设备，其特征在于，还包括设置在所述物料测试装置和物料扫描装置之间的视觉检测装置，所述视觉检测装置包括CCD相机和光源组件，所述CCD相机设置在所述转盘上方且所述CCD相机的镜头朝向所述转盘，所述光源组件位于所述CCD相机正下方。3.如权利要求1所述的电子元器件测试设备，其特征在于，还包括用于将所述取料部件上的物料转移至所述转盘上的上料转送装置及用于将所述转盘上的物料转移至所述送料部件上的下料转送装置；其中，所述上料转送装置位于所述自动上料装置和转盘装置之间，所述上料转送装置包括用于自所述取料部件上吸取物料并将其放置在所述转盘上的第一吸附机构，以及与所述第一吸附机构连接用于驱动所述第一吸附机构在所述取料部件与转盘之间执行取料、放料动作的第一驱动机构；所述下料转送装置位于所述转盘装置和自动下料装置之间，所述下料转送装置包括用于自所述转盘上吸取物料并将其放置在所述送料部件上的第二吸附机构，以及与所述第二吸附机构连接用于驱动所述第二吸附机构在所述转盘与送料部件之间执行取料、放料动作的第二驱动机构。4.如权利要求1所述的电子元器件测试设备，其特征在于，所述第一进出盘部件与所述第二进出盘部件结构相同，分别包括：布置有直线导轨的两第一支撑板、位于两第一支撑板之间用于驱动物料盘在所述直线导轨上沿进盘口至出盘口方向移动的拨盘机构、位于所述进盘口处用于自叠放的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘丹，
申请(专利权)人：深圳市易胜德机械设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44