一种测试方法技术

技术编号:19487189 阅读:34 留言:0更新日期:2018-11-17 11:36
本发明专利技术提供一种测试方法,该方法包括:控制端在启动按键的状态值为第二状态值时,向测试工装发送上电指令;测试工装接收上电指令,根据上电指令给N个待测试电子产品同时进行上电,控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,控制端向测试工装发送待下载信息,测试工装接收待下载信息,利用待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,控制端向测试工装发送老化测试指令;测试工装接收老化测试指令,对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试,控制端向测试工装发送下电指令;测试工装接收下电指令,根据下电指令给N4个老化测试通过的待测试电子产品同时进行下电。

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法
本专利技术涉及一种电子
,尤其涉及一种测试方法。
技术介绍
电子产品在出厂之前,通常需要进行产品测试以确定产品的性能是否稳定和质量是否达标。现有技术中,采用人力手动进行产品测试,测试效率较低,测试效果无法保证。
技术实现思路
本专利技术旨在解决上述问题。本专利技术的主要目的在于提供一种测试方法。为达到上述目的,本专利技术的技术方案具体是这样实现的:本专利技术提供了一种测试方法,包括:控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值;所述控制端在所述启动按键的状态值为第一状态值时,继续监测并获取所述测试工装上启动按键的状态值;在所述启动按键的状态值为第二状态值时,向所述测试工装发送上电指令;所述测试工装接收所述上电指令,根据所述上电指令给N个所述待测试电子产品同时进行上电,其中,所述N为正整数;所述控制端获取所述上电的结果,根据所述上电的结果生成第一控制指令;向所述测试工装发送所述第一控制指令;所述测试工装接收所述第一控制指令,根据所述第一控制指令控制所述测试工装上与N个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自上电的结果;所述控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,所述N1为正整数且小于等于N;所述控制端获取所述过流检测的结果,根据所述过流检测的结果生成第二控制指令;向所述测试工装发送所述第二控制指令;所述测试工装接收所述第二控制指令,根据所述第二控制指令控制所述测试工装上与N1个所述上电成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的过流检测的结果;所述控制端向所述测试工装发送待下载信息,所述测试工装接收所述待下载信息,利用所述待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,所述N2为正整数且小于等于N1;所述控制端获取所述下载流程的进程,并向所述测试工装发送进程指示信息,所述进程指示信息用于指示所述下载流程的进程,所述测试工装接收到所述进程指示信息,根据所述进程指示信息控制所述测试工装上的第二指示部件指示所述下载流程的进程;所述控制端获取所述待测试电子产品的下载流程的执行结果,根据所述下载流程的执行结果生成第三控制指令;向所述测试工装发送所述第三控制指令;所述测试工装接收所述第三控制指令,根据所述第三控制指令控制所述测试工装上与N2个所述过流检测通过的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的下载流程的执行结果;所述控制端向所述测试工装发送老化测试指令;所述测试工装接收所述老化测试指令,对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试,所述N3为正整数且小于等于N2;所述控制端获取所述老化测试的结果,根据所述老化测试的结果生成第四控制指令;向所述测试工装发送所述第四控制指令;所述测试工装接收所述第四控制指令,根据所述第四控制指令控制所述测试工装上与N3个所述下载流程执行成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的老化测试的结果;所述控制端向所述测试工装发送下电指令;所述测试工装接收所述下电指令,根据所述下电指令给N4个所述老化测试通过的待测试电子产品同时进行下电,所述N4为正整数且小于等于N3。此外,在控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值之前,还包括:所述控制端获取测试工装上的当前时间;所述控制端将所述控制端的本地时间同步设置为所述测试工装上的当前时间。此外,所述待下载信息至少包括:所述控制端的本地时间和所述测试工装的标识。此外,所述控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,包括:所述控制端向所述测试工装发送第一电压调整指令,所述测试工装接收所述第一电压调整指令,并根据所述第一电压调整指令进行第一电压调整,所述第一电压调整为:将所述N1个上电成功的待测试电子产品各自的供电电压同时调整为第一电压值,所述第一电压值为所述待测试电子产品支持的供电电压范围中的最大值和最小值中的一个;所述控制端向所述测试工装发送第一流检测指令,所述测试工装接收所述第一过流检测指令,获取并向所述控制端发送经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品各自的电流值,所述控制端接收经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值,并分别判断经过所述第一电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值是否超出预设过流门限值,其中,第一过流检测的结果未通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值,第一过流检测的结果通过是指经过所述第一电压调整后的所述待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值;所述控制端再次向所述测试工装发送第二电压调整指令;所述测试工装接收所述电压调整指令,并根据所述第二电压调整指令进行第二电压调整,所述第二电压调整为将所述第一过流检测的结果通过的各个待测试电子产品各自的供电电压同时调整为第二电压值,所述第二电压值为所述待测试电子产品支持的供电电压范围中的最大值和最小值中的另一个;所述控制端向所述测试工装发送第二过流检测指令,所述测试工装接收所述第二过流检测指令,获取并向所述控制端发送经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中的电流值,所述控制端接收经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中的电流值,并分别判断经过所述第二电压调整后的各个待测试电子产品中各自的电流值是否超出预设过流门限值,其中,第二过流检测的结果未通过是指经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值,第二过流检测的结果通过是指经过所述第二电压调整后的所述待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值;其中,过流检测的结果通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值且经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值未超过预设过流门限值,过流检测的结果未通过是指经过所述第一电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值或经过所述第二电压调整后的待测试电子产品中的电流值超过预设过流门限值。此外,所述对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试包括:对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时进行预设次数的上下电。由上述本专利技术提供的技术方案可以看出,本专利技术提供了一种测试方法,可以同时对多个待测试电子产品进行上电、过流检测、信息下载、老化测试下电等一系列的测试,与现有技术中需要人工对电子产品进行逐个测试相比,节省了人力成本,实现了测试的自动化,提高了测试效率。由于整个测试过程均有控制端通过相应指令控制测试工装统一并同步对多个待测试电子产品进行测试,将减少测试过程中的出错率,改善测试效果。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他附图。图1为本专利技术实施例1提供的测试方法的流程图。具体实施方式下面结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术的保护范围。在本专利技术的描述中,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试方法,其特征在于,包括:控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值;所述控制端在所述启动按键的状态值为第一状态值时,继续监测并获取所述测试工装上启动按键的状态值;在所述启动按键的状态值为第二状态值时,向所述测试工装发送上电指令;所述测试工装接收所述上电指令,根据所述上电指令给N个所述待测试电子产品同时进行上电,其中,所述N为正整数;所述控制端获取所述上电的结果,根据所述上电的结果生成第一控制指令;向所述测试工装发送所述第一控制指令;所述测试工装接收所述第一控制指令,根据所述第一控制指令控制所述测试工装上与N个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自上电的结果;所述控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,所述N1为正整数且小于等于N;所述控制端获取所述过流检测的结果,根据所述过流检测的结果生成第二控制指令;向所述测试工装发送所述第二控制指令;所述测试工装接收所述第二控制指令,根据所述第二控制指令控制所述测试工装上与N1个所述上电成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的过流检测的结果;所述控制端向所述测试工装发送待下载信息,所述测试工装接收所述待下载信息,利用所述待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,所述N2为正整数且小于等于N1;所述控制端获取所述下载流程的进程,并向所述测试工装发送进程指示信息,所述进程指示信息用于指示所述下载流程的进程,所述测试工装接收到所述进程指示信息,根据所述进程指示信息控制所述测试工装上的第二指示部件指示所述下载流程的进程;所述控制端获取所述待测试电子产品的下载流程的执行结果,根据所述下载流程的执行结果生成第三控制指令;向所述测试工装发送所述第三控制指令;所述测试工装接收所述第三控制指令,根据所述第三控制指令控制所述测试工装上与N2个所述过流检测通过的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的下载流程的执行结果;所述控制端向所述测试工装发送老化测试指令;所述测试工装接收所述老化测试指令,对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试,所述N3为正整数且小于等于N2;所述控制端获取所述老化测试的结果,根据所述老化测试的结果生成第四控制指令;向所述测试工装发送所述第四控制指令;所述测试工装接收所述第四控制指令,根据所述第四控制指令控制所述测试工装上与N3个所述下载流程执行成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的老化测试的结果;所述控制端向所述测试工装发送下电指令;所述测试工装接收所述下电指令,根据所述下电指令给N4个所述老化测试通过的待测试电子产品同时进行下电,所述N4为正整数且小于等于N3。...

【技术特征摘要】
1.一种测试方法,其特征在于,包括:控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值;所述控制端在所述启动按键的状态值为第一状态值时,继续监测并获取所述测试工装上启动按键的状态值;在所述启动按键的状态值为第二状态值时,向所述测试工装发送上电指令;所述测试工装接收所述上电指令,根据所述上电指令给N个所述待测试电子产品同时进行上电,其中,所述N为正整数;所述控制端获取所述上电的结果,根据所述上电的结果生成第一控制指令;向所述测试工装发送所述第一控制指令;所述测试工装接收所述第一控制指令,根据所述第一控制指令控制所述测试工装上与N个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自上电的结果;所述控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,所述N1为正整数且小于等于N;所述控制端获取所述过流检测的结果,根据所述过流检测的结果生成第二控制指令;向所述测试工装发送所述第二控制指令;所述测试工装接收所述第二控制指令,根据所述第二控制指令控制所述测试工装上与N1个所述上电成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的过流检测的结果;所述控制端向所述测试工装发送待下载信息,所述测试工装接收所述待下载信息,利用所述待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,所述N2为正整数且小于等于N1;所述控制端获取所述下载流程的进程,并向所述测试工装发送进程指示信息,所述进程指示信息用于指示所述下载流程的进程,所述测试工装接收到所述进程指示信息,根据所述进程指示信息控制所述测试工装上的第二指示部件指示所述下载流程的进程;所述控制端获取所述待测试电子产品的下载流程的执行结果,根据所述下载流程的执行结果生成第三控制指令;向所述测试工装发送所述第三控制指令;所述测试工装接收所述第三控制指令,根据所述第三控制指令控制所述测试工装上与N2个所述过流检测通过的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的下载流程的执行结果;所述控制端向所述测试工装发送老化测试指令;所述测试工装接收所述老化测试指令,对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试,所述N3为正整数且小于等于N2;所述控制端获取所述老化测试的结果,根据所述老化测试的结果生成第四控制指令;向所述测试工装发送所述第四控制指令;所述测试工装接收所述第四控制指令,根据所述第四控制指令控制所述测试工装上与N3个所述下载流程执行成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的老化测试的结果;所述控制端向所述测试工装发送下电指令;所述测试工装接收所述下电指令,根据所述下电指令给N4个所述老化测试通过的待测试电子产品同时进行下电,所述N4为正整数且小于等于N3。2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,在控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值之前,还包括:所述控制端获取测试工装上的当前时间;所述控制端将所述控制端的本地时间...

【专利技术属性】
技术研发人员:李东声
申请(专利权)人:天地融电子天津有限公司
类型:发明
国别省市:天津,12

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