一种新的RTC芯片自动分选系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种新的RTC芯片自动分选系统包括FPGA单元、ARM单元、时钟源单元、静态功耗测量单元、RTC操作台、RTC芯片、PC端和电源，其中，PC端配置RTC主控软件，电源为FPGA单元、ARM单元、静态功耗测量单元和RTC芯片供电。本实用新型专利技术的RTC芯片自动分选系统自动能够完成RTC芯片静态电流的有效测量，自动剔除静态电流过大的RTC芯片，减少不合格RTC芯片芯片进入后续的生产环节，节省经济成本。而且，本实用新型专利技术的RTC芯片自动分选系统能够实现对RTC芯片功能测量，利用RTC操作机台自动剔除功能异常的RTC芯片，节约测试时间。

【技术实现步骤摘要】
一种新的RTC芯片自动分选系统
本技术涉及芯片封装、测试
，尤其涉及一种新的RTC芯片自动分选系统。
技术介绍
实时时钟（Real-TimeClock，以下简称RTC），是一种可以像时钟一样输出实际时间的电子设备，一般会是集成电路，因此也称为时钟芯片。RTC芯片通常被用于提供可靠精准的系统时间，在电表、工业、通信等诸多领域得到广泛的应用。高低温补偿测试是RTC芯片生产过程中一个关键的流程，该流程需要花费较多的人力和物力。设计一种自动分选系统，让RTC芯片进行高低温测试前自动筛除有功能不合格、静态功耗不合格等缺陷的芯片，可有效避免这类不合格的芯片进行无效的高低温补偿等生产流程，节省芯片生产的时间成本和经济成本。如图1所示，为现有的一种RTC芯片分选系统，包括主控单元11、温箱12、FPGA单元13、电源14、PC端15和外部时钟源16，温箱12内置RTC子控单元12a和RTC芯片12b。现有的RTC芯片分选系统，对生产出来的RTC芯片，直接进入温度补偿系统，根据补偿测试系统测试的结果，将不同温度点的补偿值写入RTC芯片中，芯片使用时直接调用这些补偿点，以确保芯片在不同温度时处于被校正状态，输出的各项指标如时钟频率，为精确的值，保证RTC芯片的性能。由于生产环节不可避免的存在生产良品率的问题，无法确保每颗生产出来的RTC芯片功能都完备，甚至当某一个生产环节出问题时，同一批次芯片都出现功能不完善，这时直接将芯片送入补偿系统是没有意义的。而且，在RTC芯片在封装过程中，由于外界因素如ESD击穿，导致静态功耗超过正常值的范围，或功能出现故障，芯片被损坏，即使经过后续的生产流程，也无法成为合格的产品。有必要提供一种解决方案，自动筛查出这些有问题的芯片，避免其进入后续的生产流程，在节约生产时间成本的同时解决芯片生产过程的资金开销。这种方案可尽早发现RTC芯片研发过程和生产过程存在的问题，最大限度地保证进行高低温补偿测试前的芯片静态功耗等各方面在合理的范围内，提高进入高低温补偿前芯片的良品率。
技术实现思路
针对上述现有技术中存在的不足，本技术的目的是提供一种新的RTC芯片自动分选系统，以高精度频率晶振的输出作为测试RTC芯片频率时的参考频率，尤其通过静态功耗测量单元、ARM单元、FPGA单元和RTC操作台的操作，控制硬件单元进行功耗测量和功能测量，并将测试结果下发给RTC操作台，利用RTC操作台的分选机构剔除不合格的RTC芯片，避免RTC芯片进入后续生产环节。为了达到上述技术目的，本技术所采用的技术方案是：一种新的RTC芯片分选系统包括FPGA单元、ARM单元、时钟源单元、静态功耗测量单元、RTC操作台、RTC芯片、PC端和电源，其中，PC端配置RTC主控软件，电源为FPGA单元、ARM单元、静态功耗测量单元和RTC芯片供电；PC端通过USB转串口相互连接ARM单元并通信，向ARM单元发出指令，并将FPGA单元的测试数据通过串口发送给PC端，PC端通过其RTC主控软件设置RTC芯片的电压值，将RTC芯片的电压值发送给ARM单元，由ARM单元控制输出不同电压等级的电源供RTC芯片使用，以验证RTC芯片在电压1.8V~5.0V范围内是否能够正常工作；FPGA单元还控制RTC芯片输出指定频率信号，以供FPGA单元进行时钟频率测量，时钟源单元为FPGA单元提供高精度的10Mhz信号作为参考时钟基准，以测量RTC芯片的时钟频率；静态功耗测量单元连接RTC芯片，并测量RTC芯片的静态电流值，通过串口将测量的电流值发送给PC端；ARM单元通过I2C接口相互连接FPGA单元并通信，FPGA单元与RTC芯片相互连接，控制RTC芯片输出指定频率信号，以供FPGA单元进行时钟频率测量，ARM单元向FPGA单元发出指令，控制FPGA单元测试RTC芯片的频率，并将RTC芯片频率的测试结果发送到ARM单元，RTC操作机台根据ARM单元反馈的测试结果，判断被测试的RTC芯片是否合格，并利用其机械装置，自动对被测试的RTC芯片进行分类，筛选出合格与不合格的RTC芯片。本专利技术由于采用了上述新的RTC芯片自动分选系统，所获得的有益效果是，本专利技术的RTC芯片自动分选系统实现对RTC芯片的输出频率进行高精度测量，确保RTC芯片出厂前的频率满足设计要求；另外，本专利技术的RTC芯片自动分选系统自动能够完成RTC芯片静态电流的有效测量，自动剔除静态电流过大的RTC芯片，减少不合格RTC芯片芯片进入后续的生产环节，节省经济成本。而且，本专利技术的RTC芯片自动分选系统能够实现对RTC芯片功能测量，利用RTC操作机台自动剔除功能异常的RTC芯片，节约测试时间。此外，本专利技术中的PC端配置RTC主控软件，可以能够根据测试需求配置测试参数，控制该RTC芯片自动分选系统的测试动作，并根据返回的测量数据分析被测量RTC芯片的性能和数据，完成对测量过程的记录，自动化程度高。下面结合附图和具体实施方式对本技术做进一步说明。附图说明图1是现有的一种RTC芯片分选系统结构图。图2是本技术具体实施的一种新的RTC芯片分选系统结构图。具体实施方式参看图2，为本技术具体实施的一种新的RTC芯片分选系统结构图。该新的RTC芯片分选系统包括FPGA单元21、ARM单元22、时钟源单元23、静态功耗测量单元24、RTC操作台25、RTC芯片26、PC端27和电源28，其中，PC端27配置RTC主控软件，电源28为FPGA单元21、ARM单元22、静态功耗测量单元24和RTC芯片26供电。参看图2，在该新的RTC芯片分选系统中，PC端27通过USB转串口相互连接ARM单元22并通信，向ARM单元22发出指令，并将FPGA单元22的测试数据通过串口发送给PC端27，PC端27通过其RTC主控软件设置RTC芯片26的电压值，将RTC芯片26的电压值发送给ARM单元22，由ARM单元22控制输出不同电压等级的电源供RTC芯片26使用，以验证RTC芯片26在电压1.8V~5.0V范围内是否能够正常工作。参看图2，在该新的RTC芯片分选系统中，FPGA单元21还控制RTC芯片26输出指定频率信号，以供FPGA单元21进行时钟频率测量，时钟源单元23为FPGA单元21提供高精度的10Mhz信号作为参考时钟基准，以测量RTC芯片26的时钟频率；静态功耗测量单元24连接RTC芯片26，并测量RTC芯片26的静态电流值，通过串口将测量的电流值发送给PC端27。参看图2，在该新的RTC芯片分选系统中，ARM单元22通过I2C接口相互连接FPGA单元21并通信，FPGA单元21与RTC芯片26相互连接，控制RTC芯片26输出指定频率信号，以供FPGA单元21进行时钟频率测量，ARM单元22向FPGA单元21发出指令，控制FPGA单元21测试RTC芯片26的频率，并将RTC芯片26频率的测试结果发送到ARM单元22，RTC操作机台25根据ARM单元22反馈的测试结果，判断被测试的RTC芯片26是否合格，并利用其机械装置，自动对被测试的RTC芯片26进行分类，筛选出合格与不合格的RTC芯片26。本技术并不限于上文讨论的实施方式。基于本技术启示的显而易见的变换或替代也应当被认为本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新的RTC芯片分选系统，其特征在于，所述RTC芯片分选系统包括FPGA单元、ARM单元、时钟源单元、静态功耗测量单元、RTC操作台、RTC芯片、PC端和电源，其中，PC端配置RTC主控软件，电源为FPGA单元、ARM单元、静态功耗测量单元和RTC芯片供电；PC端通过USB转串口相互连接ARM单元并通信，向ARM单元发出指令，并将FPGA单元的测试数据通过串口发送给PC端，PC端通过其RTC主控软件设置RTC芯片的电压值，将RTC芯片的电压值发送给ARM单元，由ARM单元控制输出不同电压等级的电源供RTC芯片使用，以验证RTC芯片在电压1.8V~5.0V范围内是否能够正常工作；FPGA单元还控制RTC芯片输出指定频率信号，以供FPGA单元进行时钟频率测量，时钟源单元为FPGA单元提供高精度的10Mhz信号作为参考时钟基准，以测量RTC芯片的时钟频率；静态功耗测量单元连接RTC芯片，并测量RTC芯片的静态电流值，通过串口将测量的电流值发送给PC端；ARM单元通过I2C接口相互连接FPGA单元并通信，FPGA单元与RTC芯片相互连接，控制RTC芯片输出指定频率信号，以供FPGA单元进行时钟频率测量，ARM单元向FPGA单元发出指令，控制FPGA单元测试RTC芯片的频率，并将RTC芯片频率的测试结果发送到ARM单元，RTC操作机台根据ARM单元反馈的测试结果，判断被测试的RTC芯片是否合格，并利用其机械装置，自动对被测试的RTC芯片进行分类，筛选出合格与不合格的RTC芯片。...

【技术特征摘要】
1.一种新的RTC芯片分选系统，其特征在于，所述RTC芯片分选系统包括FPGA单元、ARM单元、时钟源单元、静态功耗测量单元、RTC操作台、RTC芯片、PC端和电源，其中，PC端配置RTC主控软件，电源为FPGA单元、ARM单元、静态功耗测量单元和RTC芯片供电；PC端通过USB转串口相互连接ARM单元并通信，向ARM单元发出指令，并将FPGA单元的测试数据通过串口发送给PC端，PC端通过其RTC主控软件设置RTC芯片的电压值，将RTC芯片的电压值发送给ARM单元，由ARM单元控制输出不同电压等级的电源供RTC芯片使用，以验证RTC芯片在电压1.8V~5.0V范围内是否能够正常工作；FPGA单元还控制RTC芯片输出指定频率信号，以供FPG...

【专利技术属性】
技术研发人员：李阳，陈震，王强，杨宇宁，杨松，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11