双连接下测量间隙的配置方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种双连接下测量间隙的配置方法及系统。UE与第一基站和第二基站进行双连接，第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，所述方法包括：第一基站为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；第二基站为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。本发明专利技术能够避免UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。

【技术实现步骤摘要】
双连接下测量间隙的配置方法及系统
本专利技术涉及无线通信
，尤其涉及一种双连接下测量间隙的配置方法及系统。
技术介绍
在LTE系统的测量间隙配置中，UE按照如下公式配置测量间隙：SFNmodT＝FLOOR(gapOffset/10)；subframe＝gapOffsetmod10；T＝MGRP/10；其中，SFN是系统帧号，subframe是子帧号，在满足上述公式的SFN和subframe上UE被配置测量间隙。基站通过为UE配置MGRP(MeasurementGapRepetitionPeriod，测量间隙重复周期)来指示测量间隙周期，比如每40ms或者每80ms有一次测量间隙。基站通过为UE配置gapOffset来指示测量间隙位置，包括对应的系统帧号和子帧。基站通过为UE配置MGL(MeasurementGapLength，测量间隙长度)来指示一次测量间隙时长，比如6ms。目前，在LTE-NR双连接的场景下，例如LTE基站为主基站、NR基站为辅基站。主基站可以为UE配置测量间隙，辅基站侧也可以为UE配置测量间隙。从而，一种可以预期的情况是：当主基站需要为UE配置异频测量或者异系统测量时，主基站可以为UE配置一种测量间隙，在该测量间隙期间UE会中断与主基站服务小区的通信；当辅基站需要为UE配置异频测量或者异系统测量时，辅基站也可以为UE配置一种测量间隙，在该测量间隙期间UE会中断与辅基站服务小区的通信。当主基站和辅基站为UE分别配置上述两种测量间隙时，可能会产生上述两种测量间隙在时间上重叠或者部分重叠的问题，导致出现UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。
技术实现思路
本专利技术提供的双连接下测量间隙的配置方法及系统，能够避免UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。第一方面，本专利技术提供一种双连接下测量间隙的配置方法，UE与第一基站和第二基站进行双连接，第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，所述方法包括：第一基站为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；第二基站为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。可选地，所述第一周期T1＝2(m1-1)T0，所述第一偏移值为O1，所述第一时长为W1；所述第二周期T2＝2(m2-1)T0，所述第二偏移值为O2，所述第二时长为W2；其中，T0为基本周期，m1和m2为正整数，O1为小于T1的非负整数，O2为小于T2的非负整数，W1为小于T1的正整数，W2为小于T2的正整数。可选地，当T1＝T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1且O2<＝O1+T1-W2。可选地，当T1<T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1+(n-1)*T1且O2<＝O1+n*T1-W2，n为不大于N1的正整数，N1＝T2/T1。可选地，当T1>T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2-(n-1)*T2，或者O2>＝O1+W1-(n-1)*T2且O2<＝O1+T1-W2-(n-1)*T2，n为不大于N2的正整数，N2＝T1/T2。第二方面，本专利技术提供一种双连接下测量间隙的配置系统，所述系统包括第一基站和第二基站，所述第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，UE与所述第一基站和第二基站进行双连接，其中，所述第一基站，用于为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；所述第二基站，用于为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。可选地，所述第一周期T1＝2(m1-1)T0，所述第一偏移值为O1，所述第一时长为W1；所述第二周期T2＝2(m2-1)T0，所述第二偏移值为O2，所述第二时长为W2；其中，T0为基本周期，m1和m2为正整数，O1为小于T1的非负整数，O2为小于T2的非负整数，W1为小于T1的正整数，W2为小于T2的正整数。可选地，当T1＝T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1且O2<＝O1+T1-W2。可选地，当T1<T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1+(n-1)*T1且O2<＝O1+n*T1-W2，n为不大于N1的正整数，N1＝T2/T1。可选地，当T1>T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2-(n-1)*T2，或者O2>＝O1+W1-(n-1)*T2且O2<＝O1+T1-W2-(n-1)*T2，n为不大于N2的正整数，N2＝T1/T2。本专利技术实施例提供的双连接下测量间隙的配置方法及系统，对于处于双连接场景下的UE，当第一基站已经为UE配置了测量间隙时，第二基站为UE配置的测量间隙与第一基站为UE配置的测量间隙在时间上不重叠，从而可以避免UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。附图说明图1为本专利技术一实施例双连接下测量间隙的配置方法的流程图；图2为本专利技术另一实施例双连接下测量间隙的配置方法的示意图；图3为本专利技术又一实施例双连接下测量间隙的配置方法的示意图；图4为本专利技术实施例双连接下测量间隙的配置系统的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供一种双连接下测量间隙的配置方法，UE与第一基站和第二基站进行双连接，第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，如图1所示，所述方法包括：S11、第一基站为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长。其中，所述第一周期T1＝2(m1-1)T0，所述第一偏移值gapOffset1为O1，所述第一时长为W1；T0为基本周期，例如可以为40ms；m1为正整数；O1为小于T1的非负整数，W1为小于T1的正整数。S12、第二基站为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双连接下测量间隙的配置方法，UE与第一基站和第二基站进行双连接，第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，其特征在于，所述方法包括：第一基站为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；第二基站为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。

【技术特征摘要】
1.一种双连接下测量间隙的配置方法，UE与第一基站和第二基站进行双连接，第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，其特征在于，所述方法包括：第一基站为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；第二基站为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一周期T1＝2(m1-1)T0，所述第一偏移值为O1，所述第一时长为W1；所述第二周期T2＝2(m2-1)T0，所述第二偏移值为O2，所述第二时长为W2；其中，T0为基本周期，m1和m2为正整数，O1为小于T1的非负整数，O2为小于T2的非负整数，W1为小于T1的正整数，W2为小于T2的正整数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当T1＝T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1且O2<＝O1+T1-W2。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当T1<T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1+(n-1)*T1且O2<＝O1+n*T1-W2，n为不大于N1的正整数，N1＝T2/T1。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当T1>T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2-(n-1)*T2，或者O2>＝O1+W1-(n-1)*T2且O2<＝O1+T1-W2-(n-1)*T2，n为不大于N2的正整数，N2＝T1/T2。6.一种双连接下测量间隙的...

【专利技术属性】
技术研发人员：田文强，顾祥新，
申请(专利权)人：北京展讯高科通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11