有机发光显示面板制造技术

提供了一种有机发光显示面板，所述有机发光显示面板包括：像素单元，连接到多条扫描线和多条数据线，包括多个像素；面板测试单元，连接到多条数据线的第一端，被构造成输出用于测试多个像素的面板测试信号；多个数据焊盘，连接到多条数据线的第二端；以及阵列测试单元，被构造成根据多个阵列测试控制信号向像素单元的像素列选择性施加多个阵列测试信号，检测从被施加多个阵列测试信号的像素列输出的信号。

【技术实现步骤摘要】
有机发光显示面板本申请是申请日为2014年3月11日、申请号为201410086791.4、题为“有机发光显示面板”的专利申请的分案申请。
本专利技术的示例性实施例涉及一种有机发光显示面板。
技术介绍
有机发光显示设备通过使用诸如有机发光二极管的自发光器件来显示图像。由于其优异的亮度和色纯度，有机发光显示设备的用途正日益增加。在制造有机发光显示设备期间，可以使用载带自动键合(TAB)法将包括驱动电路的高密度集成电路(IC)连接到包括多个像素的阵列基板，所述驱动电路产生扫描信号和数据信号并且向像素施加扫描信号和数据信号。在这种情况下，使用多条引线将驱动电路连接到阵列基板。结果，制造有机发光显示设备的过程会变得复杂，最终产品的可靠性和制造工艺的良率会低。另外，由于高密度IC，导致有机发光显示设备的制造成本会高。可选地，可以使用玻璃上芯片(COG)或板上系统(SOP)型的有机发光显示设备。这个有机发光显示设备是通过将驱动电路直接集成到其中设置有像素电路的像素电路阵列基板中来制造的。因此，可以避免将驱动电路连接到像素电路阵列基板的额外工艺，可以提高最终产品的可靠性和制造工艺的良率。
技术实现思路
本专利技术的示例性实施例提供了一种在执行阵列处理之后早期可以被检测缺陷的面板。根据本专利技术的示例性实施例，一种有机发光显示面板包括：像素单元，位于扫描线和数据线的交叉区处，在像素单元中形成显示互不相同颜色的多个像素；面板测试单元，连接到数据线的一端，并且在像素单元中形成有机发光器件之后，输出用于测试像素的面板测试信号；多个数据焊盘，分别连接到从数据线的另一端延伸的线；阵列测试单元，根据多个阵列测试控制信号，向像素单元的像素列选择性地施加阵列测试信号，检测从被施加阵列测试信号的像素列输出的电流，从而在像素单元中形成有机发光器件之前测试像素电路阵列；线测试单元，输出用于测试从数据线的另一端延伸的线中的断路或短路的出现的线测试信号。多个阵列测试控制信号可以包括面板测试信号和线测试信号。阵列测试单元可以包括：多个阵列测试焊盘，接触阵列测试设备中的探针引脚并且接收阵列测试信号；以及解复用器，将一个阵列测试焊盘连接到多个数据焊盘，并且根据多个阵列测试控制信号，向数据焊盘选择性地发送阵列测试信号。解复用器可以包括多个阵列测试开关，阵列测试开关具有与发送多个阵列测试控制信号的多条线中的一条线连接的栅极、与多个数据焊盘中的一个连接的第一端子、与多个阵列测试焊盘中的一个连接的第二端子。多个阵列测试开关可以包括：第一阵列测试开关，其栅极与供应第一阵列测试控制信号的线共同连接；第二阵列测试开关，其栅极与供应第二阵列测试控制信号的线共同连接；第三阵列测试开关，其栅极与供应第三阵列测试控制信号的线共同连接；第四阵列测试开关，其栅极与供应第四阵列测试控制信号的线共同连接。解复用器可以包括多个开关组，所述多个开关组将顺序的数据焊盘连接到一个阵列测试焊盘，顺序的数据焊盘的数量与阵列测试控制信号的数量相同，各开关组包括多个阵列测试开关，各阵列测试开关具有与供应阵列测试控制信号中的每种阵列测试控制信号的线连接的栅极，各开关组中的多个阵列测试开关响应于阵列测试控制信号顺序地导通。线测试单元可以包括多个线测试开关，所述多个线测试开关具有与供应线测试控制信号的线共同连接的栅极、分别与阵列测试焊盘连接的第一端子、接收线测试信号的第二端子。线测试单元可以在阵列测试单元执行阵列测试时保持截止状态。有机发光显示面板还可以包括向像素单元的像素列选择性施加从数据焊盘输出的数据信号的数据开关单元。有机发光显示面板还可以包括数据驱动单元，数据驱动单元利用玻璃上芯片(COG)法键合至数据焊盘并且向数据线施加数据信号。根据本专利技术的示例性实施例，一种有机发光显示面板包括：多个阵列测试焊盘，为了在像素单元中形成有机发光器件之前测试像素电路阵列，接触阵列测试设备中的探针引脚并且接收阵列测试信号；以及解复用器，设置在分别与从像素单元的数据线延伸的线连接的多个数据焊盘和多个阵列测试焊盘之间，并且根据多个阵列测试控制信号，经由数据焊盘向像素单元的像素列选择性施加从阵列测试焊盘输出的阵列测试信号。多个阵列测试控制信号可以包括：面板测试信号，从在像素单元中形成有机发光器件之后测试像素的面板测试单元输出；以及线测试信号，从线测试单元输出，线测试单元测试从数据线延伸的线中的短路或断路的出现。解复用器可以包括多个阵列测试开关，所述多个阵列测试开关具有与供应多个阵列测试控制信号的多条线中的一条线连接的栅极、与多个数据焊盘中的一个连接的第一端子、与多个阵列测试焊盘中的一个连接的第二端子。多个阵列测试开关可以包括：第一阵列测试开关，其栅极与供应第一阵列测试控制信号的线共同连接；第二阵列测试开关，其栅极与供应第二阵列测试控制信号的线共同连接；第三阵列测试开关，其栅极与供应第三阵列测试控制信号的线共同连接；第四阵列测试开关，其栅极与供应第四阵列测试控制信号的线共同连接。解复用器可以包括多个开关组，所述多个开关组将顺序的数据焊盘连接到一个阵列测试焊盘，顺序的数据焊盘的数量与阵列测试控制信号的数量相同，各开关组可以包括多个阵列测试开关，所述多个阵列测试开关具有与供应阵列测试控制信号中的每种阵列测试控制信号的线连接的栅极，各开关组中的多个阵列测试开关响应于阵列测试控制信号顺序地导通。阵列测试焊盘可以具有比数据焊盘大的尺寸，阵列测试焊盘之间的间隔可以比数据焊盘之间的间隔宽。线测试单元可以包括多个线测试开关，所述多个线测试开关具有与供应线测试控制信号的线共同连接的栅极、分别与阵列测试焊盘连接的第一端子、接收线测试信号的第二端子。线测试单元可以在执行阵列测试时保持截止状态。有机发光显示面板还可以包括向像素单元的像素列选择性施加从数据焊盘输出的数据信号的数据开关单元。有机发光显示面板还可以包括数据驱动单元，数据驱动单元利用玻璃上芯片(COG)法键合至数据焊盘并且向数据线施加数据信号。根据本专利技术的示例性实施例，一种有机发光显示面板包括：像素单元，连接到多条扫描线和多条数据线，包括多个像素；面板测试单元，连接到多条数据线的第一端，被构造成输出用于测试多个像素的面板测试信号；多个数据焊盘，连接到多条数据线的第二端；以及阵列测试单元，被构造成根据多个阵列测试控制信号向像素单元的像素列选择性施加多个阵列测试信号，检测从被施加多个阵列测试信号的像素列输出的信号。根据本专利技术的示例性实施例，一种有机发光显示面板包括：多个阵列测试焊盘，被构造成接触阵列测试设备的探针引脚并且接收阵列测试信号；以及解复用器，设置在多个数据焊盘和多个阵列测试焊盘之间，被构造成根据多个阵列测试控制信号经由多个数据焊盘向像素单元的像素列选择性施加阵列测试信号。多个数据焊盘连接到像素单元的多条数据线，由多个阵列测试焊盘输出阵列测试信号。根据本专利技术的示例性实施例，一种有机发光显示面板包括：面板测试单元，连接到多条数据线的第一端，被构造成输出用于测试有机发光显示面板中的多个像素的多个面板测试信号；多个数据焊盘，连接到多条数据线的第二端；以及阵列测试单元，被构造成根据多个阵列测试控制信号向包括多个像素的像素列选择性施加多个阵列测试信号。阵列测试单元包括被构造成接触阵列测试设备本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种有机发光显示面板，所述有机发光显示面板包括：多个阵列测试焊盘，构造为接触阵列测试设备的探针引脚并且接收阵列测试信号；以及解复用器，设置在多个数据焊盘和所述多个阵列测试焊盘之间，并且构造为根据多个阵列测试控制信号，经由所述多个数据焊盘向像素单元的像素列选择性施加所述阵列测试信号，其中，所述多个数据焊盘连接至所述像素单元的多条数据线，并且所述阵列测试信号由所述多个阵列测试焊盘输出。

【技术特征摘要】
2013.05.31 KR 10-2013-00630781.一种有机发光显示面板，所述有机发光显示面板包括：多个阵列测试焊盘，构造为接触阵列测试设备的探针引脚并且接收阵列测试信号；以及解复用器，设置在多个数据焊盘和所述多个阵列测试焊盘之间，并且构造为根据多个阵列测试控制信号，经由所述多个数据焊盘向像素单元的像素列选择性施加所述阵列测试信号，其中，所述多个数据焊盘连接至所述像素单元的多条数据线，并且所述阵列测试信号由所述多个阵列测试焊盘输出。2.如权利要求1所述的有机发光显示面板，所述有机发光显示面板还包括：面板测试单元，构造为将面板测试信号输出至所述有机发光显示面板的测试像素；以及线测试单元，构造为输出线测试信号以用于测试所述多条数据线处的短路或断路的出现，其中，所述多个阵列测试控制信号包括所述面板测试信号和所述线测试信号。3.如权利要求1所述的有机发光显示面板，其中，所述解复用器包括多个阵列测试开关，每个阵列测试开关具有与发送所述多个阵列测试控制信号的多条线中的一条线连接的栅极、与所述多个数据焊盘中的一个数据焊盘连接的第一端子、与所述多个阵列测试焊盘中的一个阵列测试焊盘连接的第二端子。4.如权利要求3所述的有机发光显示面板，其中，所述多个阵列测试开关包括：多个第一阵列测试开关，具有与供应所述多个阵列测试控制信号中的第一阵列测试控制信号的线共同连接的栅极；多个第二阵列测试开关，具有与供应所述多个阵列测试控制信号中的第二阵列测试控制信号的线共同连接的栅极；多个第三阵列测试开关，具有与供应所述多个阵列测试控制信号中的第三阵列测试控制信号的线共同连接的栅极；多个第四阵列测试开关，具有与供应所述多个阵...

【专利技术属性】
技术研发人员：金知惠，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR