微型芯片转移系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种微型芯片转移系统，包括用于放置微型芯片的存放装置，用于拾取微型芯片的拾取装置，用于测试微型芯片的电学测试装置以及用于接收微型芯片的接收装置；所述电学测试装置包括测试电极以及测试电路；所述测试电极的一端与所述测试电路连接，另一端为自由端；所述微型芯片包括芯片电极；还包括载体；所述电学测试装置与所述拾取装置均固定安装在所述载体上；所述测试电极的自由端在所述拾取装置拾取所述微型芯片时与所述芯片电极连接；本实用新型专利技术通过将拾取装置与电学测试装置固定安装在载体上，使电学测试装置不需要进行定位操作，就可以测试拾取装置拾取的微型芯片的电学性能，降低了电学测试装置定位不准造成误差的风险。

【技术实现步骤摘要】
微型芯片转移系统
本技术涉及微型芯片转移
，具体涉及一种微型芯片转移系统及方法。
技术介绍
微型芯片是指尺寸达到微米级的芯片。微型芯片在制造完成以后，一般会进行转移，转移到接收装置上，形成阵列。如何将微型芯片从施体基板上转移到接收基板上是本领域技术人员需要解决的问题。公开号为CN106601657A的技术专利公开了一种微元件的转移装置、转移方法、制造方法、装置和电子设备，其中微元件的转移系统，包括：主拾取装置，用于拾取或释放微元件；测试装置，具有测试平台和一系列测试电路，所述平台表面上设有一系列测试电极，与所述测试电路连接；第一载盘，用于放置原始的微元件阵列；第二载盘，用于放置接收基板；在使用所述转移系统进行转移微元件过程中，采用所述主拾取装置拾取微元件并将其移至测试装置的平台上，采用该测试装置测试微元件，根据测试结果将所述主拾取装置拾取的微元件中合格的微元件释放于接收基板上。上述专利虽然能实现微元件的转移与测试，但仍存在以下不足：测试装置未与主拾取装置设置在一起，需要经过定位再测试微元件。测试装置定位不准会增加测试装置存在测试误差的风险。公开号为CN107425101A的技术专利公开了一种微型发光二极管芯片巨量转移的方法，包括：制作若干第一MicroLED芯片，第一MicroLED芯片的P型电极和N型电极同一侧为异名磁极；在驱动电路板上安装第一MicroLED芯片的位置上设置P型电极固定块和N型电极固定块，P型电极固定块和P型电极的相对侧为异名磁极，N型电极固定块和N型电极的相对侧为异名磁极；将驱动电路板和若干第一MicroLED芯片放入同一溶液中，第一MicroLED芯片在磁力的作用下固定安装在驱动电路板上。上述专利虽然能实现微型发光二极管芯片的巨转移，但仍存在以下不足：不同的第一MicroLED芯片的P型电极与N型电极为异名磁极，可能会相互吸引在一起，进而不能被驱动电路板上的P型电极固定块与N型电极固定块吸引。
技术实现思路
本技术的第一个目的旨在提供一种微型芯片转移系统，使电学测试装置在拾取装置拾取了微型芯片之后，不经过定位就可以测试微型芯片的电学性能。为了实现本技术的第一个目的，本技术采取了如下的技术方案：微型芯片转移系统，包括用于放置微型芯片的存放装置，用于拾取微型芯片的拾取装置，用于测试微型芯片的电学测试装置以及用于接收微型芯片的接收装置；所述电学测试装置包括测试电极以及测试电路；所述测试电极的一端与所述测试电路连接，另一端为自由端；所述微型芯片包括芯片电极，其特征在于：还包括载体；所述电学测试装置与所述拾取装置均固定安装在所述载体上；所述测试电极的自由端在所述拾取装置拾取所述微型芯片时与所述芯片电极连接；所述测试电路在所述测试电极与所述芯片电极连接时输出电信号给所述芯片电极。进一步地，所述拾取装置包括磁性吸嘴；所述微型芯片包括磁性引脚；所述磁性引脚为所述微型芯片的具有磁性的引脚；所述磁性吸嘴在拾取所述微型芯片时具有与所述磁性引脚不同的磁性；所述磁性吸嘴在释放所述微型芯片时具有与所述磁性引脚相同的磁性或磁性消失；所述测试电极在所述磁性吸嘴拾取所述微型芯片时与所述芯片电极连接。进一步地，所述磁性吸嘴包括电源电路以及螺线管；所述电源电路与所述螺线管组成闭合回路；所述电源电路可以输出不同方向的电流给所述螺线管，使所述螺线管产生吸引所述磁性引脚的磁力或排斥所述磁性引脚的磁力，使所述拾取装置可以拾取所述微型芯片或释放所述被拾取的微型芯片，或，所述电源电路可以输出电流或停止输出电流给所述螺线管，使所述螺线管产生吸引所述磁性引脚的磁力或停止产生吸引所述磁性引脚的磁力，使所述拾取装置可以拾取所述微型芯片或释放所述微型芯片；所述测试电极在所述螺线管拾取所述微型芯片时，与所述芯片电极连接。进一步地，所述测试电极插入所述螺线管；所述芯片电极为所述微型芯片的磁性引脚；所述测试电极在所述螺线管拾取所述磁性引脚，即芯片电极时，与所述芯片电极连接；所述测试电极在所述螺线管释放所述磁性引脚，即所述芯片电极时，与所述芯片电极断开连接。进一步地，所述测试电极为金属材料，用于增强所述螺线管的磁性。进一步地，所述磁性吸嘴还包括金属芯；所述金属芯插入所述螺线管，用于增强所述螺线管的磁性。进一步地，所述微型芯片的磁性引脚具有相同磁性。进一步地，所述存放装置具有与所述微型芯片的磁性引脚相同的磁性。进一步地，还包括至少一个配送装置；所述配送装置用于运送所述拾取装置拾取的合格的微型芯片；所述配送装置可以翻转所述拾取装置拾取的合格的微型芯片，使所述拾取装置拾取的合格的微型芯片的芯片电极与所述接收装置相对。进一步地，所述配送装置包括可以平移和翻转的真空吸嘴；所述真空吸嘴通过真空压力吸附或释放所述拾取装置拾取的合格的微型芯片。进一步地，所述配送装置为可以平移和翻转的机械手臂；所述机械手臂可以抓取或释放所述拾取装置拾取的合格的微型芯片。进一步地，还包括光学测试装置；所述光学测试装置用于检测所述微型芯片的光学性能。进一步地，所述存放装置包括振动机构；所述振动机构通过振动防止所述微型芯片堆积。本技术的第二个目的旨在提供一种基于所述微型芯片转移系统的微型芯片转移方法，使电学测试装置在拾取装置拾取了微型芯片之后，不经过定位就可以测试微型芯片的电学性能。为了实现本技术的第二个目的，本技术采取了如下的技术方案：一种微型芯片转移方法，包括以下步骤：(1)拾取装置拾取微型芯片，测试电极与芯片电极连接；(2)测试电路输出电信号检测微型芯片的电学性能；(3)拾取了电学性能不合格的微型芯片的拾取装置释放电学性能不合格的微型芯片。进一步地，所述拾取装置包括磁性吸嘴；所述微型芯片包括磁性引脚；所述步骤(1)中拾取装置的磁性吸嘴产生与微型芯片的磁性引脚不同的磁性，吸引微型芯片的磁性引脚，进而拾取微型芯片，测试电极与芯片电极连接；所述步骤(3)中拾取装置的磁性吸嘴产生与微型芯片的磁性引脚相同的磁性，与微型芯片的磁性引脚相互排斥，进而释放电学性能不合格的微型芯片，或，拾取装置的磁性吸嘴的磁性消失，释放电学性能不合格的微型芯片。进一步地，所述磁性吸嘴包括电源电路以及螺线管；所述步骤(1)中电源电路输出电流给螺线管，使螺线管靠近微型芯片的一端产生与微型芯片的磁性引脚不同的磁性，吸引微型芯片的磁性引脚，进而拾取微型芯片，测试电路与芯片电极连接；所述步骤(3)中拾取了电学性能不合格的微型芯片的拾取装置的电源电路输出另一方向的电流给该拾取装置的螺线管，使该拾取装置的螺线管靠近微型芯片的一端产生与微型芯片的磁性引脚相同的磁性，与微型芯片磁性引脚相互排斥，进而释放相应的微型芯片，或，所述步骤(3)中拾取了电学性能不合格的微型芯片的拾取装置的电源电路停止输出电流给该拾取装置的螺线管，使螺线管的磁性消失，进而释放相应的微型芯片。进一步地，所述电学测试装置的测试电极插入所述磁性吸嘴的螺线管；所述微型芯片的磁性引脚为所述微型芯片的芯片电极；所述步骤(1)中设置于螺线管内部的测试电极在螺线管拾取微型芯片时，与所述微型芯片的芯片电极连接。进一步地，所述测试电极为金属材料，用于增强所述螺线管的磁力。进一步地，所述转移系统还包括光学测试装置；所述步骤本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.微型芯片转移系统，包括用于放置微型芯片的存放装置，用于拾取微型芯片的拾取装置，用于测试微型芯片的电学测试装置以及用于接收微型芯片的接收装置；所述电学测试装置包括测试电极以及测试电路；所述测试电极的一端与所述测试电路连接，另一端为自由端；所述微型芯片包括芯片电极，其特征在于：还包括载体；所述电学测试装置与所述拾取装置均固定安装在所述载体上；所述测试电极的自由端在所述拾取装置拾取所述微型芯片时与所述芯片电极连接；所述测试电路在所述测试电极与所述芯片电极连接时输出电信号给所述芯片电极。

【技术特征摘要】
1.微型芯片转移系统，包括用于放置微型芯片的存放装置，用于拾取微型芯片的拾取装置，用于测试微型芯片的电学测试装置以及用于接收微型芯片的接收装置；所述电学测试装置包括测试电极以及测试电路；所述测试电极的一端与所述测试电路连接，另一端为自由端；所述微型芯片包括芯片电极，其特征在于：还包括载体；所述电学测试装置与所述拾取装置均固定安装在所述载体上；所述测试电极的自由端在所述拾取装置拾取所述微型芯片时与所述芯片电极连接；所述测试电路在所述测试电极与所述芯片电极连接时输出电信号给所述芯片电极。2.根据权利要求1所述的微型芯片转移系统，其特征在于：所述拾取装置包括磁性吸嘴；所述微型芯片包括磁性引脚；所述磁性引脚为所述微型芯片的具有磁性的引脚；所述磁性吸嘴在拾取所述微型芯片时具有与所述磁性引脚不同的磁性；所述磁性吸嘴在释放所述微型芯片时具有与所述磁性引脚相同的磁性或磁性消失；所述测试电极在所述磁性吸嘴拾取所述微型芯片时与所述芯片电极连接。3.根据权利要求2所述的微型芯片转移系统，其特征在于：所述磁性吸嘴包括电源电路以及螺线管；所述电源电路与所述螺线管组成闭合回路；所述电源电路可以输出不同方向的电流给所述螺线管，使所述螺线管产生吸引所述磁性引脚的磁力或排斥所述磁性引脚的磁力，使所述拾取装置可以拾取所述微型芯片或释放所述被拾取的微型芯片，或，所述电源电路可以输出电流或停止输出电流给所述螺线管，使所述螺线管产生吸引所述磁性引脚的磁力或停止产生吸引所述磁性引脚的磁力，使所述拾取装置可以拾取所述微型芯片或释放所述微型芯片；所述测试电极在所述螺线管拾取所述微型芯片时，与所述芯片电极连接。4.根据权利要求3所述的微型芯片转移系统，其特征在于：所述测试电极插入所述螺线管；所述芯片电极为所...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨涛，陶贤文，许晋源，
申请(专利权)人：惠州雷通光电器件有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44