电位器测试机的整足模组的整足爪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电位器测试机的整足模组的整足爪，包括用于与整足爪连接块连接的连接头和设置在连接头下方的用于梳理引脚的爪主体，所述爪主体为楔形体结构，尖端朝下，所述爪主体根据需要的引脚数量和位置设置有数量和位置对应的校正槽，所述校正槽使爪主体形成若干的爪。本实用新型专利技术通过爪和爪间的校正槽，配合整足垫片，实现了引脚的校正和定型，由此为基础，完全代替了传统人工整足，克服了由工具，工人熟练度、疲劳度和情绪造成的整理效率、效果不稳定，整体效率低下的问题，极大的提高了整足的效率和准确率，极大的降低了工人的劳动强度，节省和解放了劳动力。同时也对降低电位器整体成本发挥了作用。

【技术实现步骤摘要】
电位器测试机的整足模组的整足爪
本技术涉及测试
，具体涉及电位器的测试设备。
技术介绍
目前，在测试电位器时，基本用手工测试。如图11所示的一种电位器14，该电位器14是一种多圈电位器，带有一个调节螺杆14a和三根引脚14b。测试时，多采用内置单片机的老式仪表连接各引脚14b，并手动旋转调节螺杆14a。因为要旋转多圈，而且仪表也不稳定。因此，测试效率低下，测试结果不稳定。对于军用多圈电位器，因要求严格，采用示波器手工测试，效率更低。只有军品采用该方式，民品不采用。总之，不论民品还是军品，都还采用手工测试的方式测试电位器，效率很低，劳动强度大，测试结果也应仪表和人员情绪因素有误差。例如：如果测试人员带情绪操作，很可能将不合格产品判作合格，或者合格产品判作不合格。再有，因生产完成后的电位器14的引脚14b都是歪斜、交叉的，在测试前都需要整理。该电位器14的各引脚14b的只有2.5mm，间距小，间距精度和平直度要求高，只有±0.2mm。目前，多是采用人工用两个对称的像梳子一样的工具相对靠拢来梳理引脚。该工具梳齿部基本为四棱柱形状，末端是平的，厚度为几毫米。操作时从各引脚14b的根部附近相互插入后向引脚14b末端梳理，将引脚14b梳理平直。如果遇到引脚14b交叉过多的情况，经常容易拉伤引脚。而且因人员操作熟练度各不相同，也存在整理效率、效果不稳定，整体效率低下的问题。以上在整理引脚和测试两个工序中存在的效率低下，引脚整理效果难保证，测试准确率(因人工)难保证的问题，已经严重制约的多圈电位器的生产效率提高，产量增加和成本降低。为解决现有技术中的上述缺陷，本技术提出了一种新的解决方案。我们开发了一种电位器测试机用于电位器整足和检测的设备。其中涉及到如何完成整足工序中具体如何校正和定型引脚14b的问题。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是：电位器测试前都需要整理，而现在都是通过人工用简易的工具手工完成，如果遇到引脚交叉过多的情况，经常容易拉伤引脚，而且因人员操作熟练度各不相同，也存在整理效率、效果不稳定，整体效率低下的问题。本技术所提出的技术问题是这样解决的：提供了一种电位器测试机的整足模组的整足爪，其特征在于：包括用于与整足爪连接块连接的连接头和设置在连接头下方的用于梳理引脚的爪主体，所述爪主体为楔形体结构，尖端朝下，所述爪主体根据需要的引脚数量和位置设置有数量和位置对应的校正槽，所述校正槽使爪主体形成若干的爪。所述校正槽从下至上分为依次连接为一体的三段，分别为梳理段、归直段和定型槽；梳理段为下大上小的喇叭口形，喇叭口下开口宽度与引脚间距匹配，喇叭口上开口与引脚的直径匹配，梳理段用于配合由该梳理段形成的尖、细且朝向引脚根部倾斜的爪端头部分插入引脚根部间隙后将歪斜，甚至相互交叉的引脚在整足爪下降过程向中正的位置校正；所述归直段为一段平时的槽，宽度与引脚的直径匹配，用于进一步的将引脚保持为校正姿态；所述定型槽为一横截面为等腰直角三角形的槽，其长度与引脚长度匹配，用于与整足垫片配合而相互挤压引脚，将引脚定型为校正后姿态。本技术具有如下优点：本技术通过爪和爪间的校正槽，配合整足垫片，实现了引脚的校正和定型，并且不会拉伸和刮伤引脚，由此为基础，完全代替了传统人工整足，克服了由工具，工人熟练度、疲劳度和情绪造成的整理效率、效果不稳定，整体效率低下的问题，极大的提高了整足的效率和准确率，极大的降低了工人的劳动强度，节省和解放了劳动力。同时也对降低电位器整体成本发挥了作用。附图说明图1是本技术的立体结构示意图；图2是本技术的俯视结构示意图；图3是整足模组1和上料模组2的立体结构示意图；图4是整足模组1和上料模组2的主视结构示意图；图5是整足爪1a的立体结构示意图；图6是整足爪1a的主视结构示意图；图7是整足爪1a的仰视结构示意图；图8是检测模组3的立体结构示意图(主要显示正面结构)；图9是检测模组3的立体结构示意图(主要显示背面面结构)；图10是螺杆旋转驳接头32a的立体结构示意图；图11是电位器的主视结构示意图；图12是电位器载具(7)的结构示意图；图13是图12的局部放大图，主要显示了电位器引脚槽(72a)结构和排料杆(78)的上端面的吹气通孔(78a)；其中，其中，整足模组(1)、上料模组(2)、检测模组(3)、排料模组(4)、下料模组(5)、裁切模组(6)、电位器载具(7)、包装模组(8)、人机界面(9)、机柜(10)、振动盘(11)、转盘(12)、底板(13)、电位器(14)、缓冲器(100)、缓冲块(101)、第一流道流道(200a)、第二流道(200b)、第三流道(200c)、流道上盖板(201)、流道止档块(202)、流道下板(203)、第一就位传感器(301)、第二就位传感器(302)、限位器(400)、滑杆(501)、滚珠滑套(502)、电位器(14)：旋转蜗杆(14a)、引脚(14b)、引脚(14b)：引脚根部(14b1)、引脚梢部(14b2)、整足模组(1)：整足爪(1a)、整足下滑台(1b)、电位器止滑块(1c)、整足垫片(1d)、流道切换气缸(1e)、整足爪连接块(1f)、整足爪(1a)：连接头(1a1)、爪主体(1a2)、校正槽(1a3)、爪(1a4)校正槽(1a3)：定型槽(1a3a)、归直段(1a3b)、梳理段(1a3c)、上料模组(2)：拨料机构(2a)、上料推杆(2b)、上料推爪(2c)、拨料机构(2a)：拨料转盘(2a1)、拨料转盘弹簧(2a2)、拨料电机(2a3)、载具上料机构：上料推爪(2c)、流道止档块(202)、检测模组(3)：检测头(31)、螺杆旋转部件(32)、检测模组机架(33)、检测头(31)：探针(31a)、探针安装板(31b)、限位块(31c)、缓冲器(100)、缓冲块(101)、探针绝缘块(31f)、探针气缸(31g)、电位器压块(31h)、螺杆旋转部件(32)：螺杆旋转驳接头(32a)、同步齿轮箱(32b)、传动件(32c)、同步带调节板(32d)、调节螺栓(32e)、轴承压块(32f)、滑台(32g)、滑台气缸(32h)、蜗杆旋转头伺服电机(32j)螺杆旋转驳接头(32a)：蜗杆套嘴(32a1)、蜗杆旋转头(32a2)、蜗杆旋转套(32a3)、驳接头外壳(32a4)、防转销钉(32a5)、防转浮动槽(32a6)、传动件(32c)：同步带(32c1)、同步轮(32c2)、下料模组(5)：下料刮板(51)、电位器载具(7)：电位器载具块(71)、引脚定位绝缘块(72)、电位器定位块(73)、塞片弹簧(74)、塞片(75)、排料弹簧止挡块(76)、排料弹簧(77)、排料杆(78)、电位器载具块(71)：套嘴通过槽(71a)、引脚定位绝缘块(72)：电位器引脚槽(72a)、电位器引脚槽(72a)：喇叭口(72a1)、引导段(72a2)、暴露段(72a3)、排料杆(78)：吹气通孔(78a)。具体实施方式下面结合附图对本技术作进一步的说明。【整足爪1a】如图5至7所示，该整足爪1a包括用于与整足爪连接块1f连接的连接头1a1和设置在连接头1a1下方的用于梳理引脚14b的爪主体1a2，所述爪主体1a2为楔形体结构，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.电位器测试机的整足模组的整足爪，其特征在于：包括用于与整足爪连接块(1f)连接的连接头(1a1)和设置在连接头(1a1)下方的用于梳理引脚(14b)的爪主体(1a2)，所述爪主体(1a2)为楔形体结构，尖端朝下，所述爪主体(1a2)根据需要的引脚(14b)数量和位置设置有数量和位置对应的校正槽(1a3)，所述校正槽(1a3)使爪主体(1a2)形成若干的爪(1a4)。

【技术特征摘要】
1.电位器测试机的整足模组的整足爪，其特征在于：包括用于与整足爪连接块(1f)连接的连接头(1a1)和设置在连接头(1a1)下方的用于梳理引脚(14b)的爪主体(1a2)，所述爪主体(1a2)为楔形体结构，尖端朝下，所述爪主体(1a2)根据需要的引脚(14b)数量和位置设置有数量和位置对应的校正槽(1a3)，所述校正槽(1a3)使爪主体(1a2)形成若干的爪(1a4)。2.如权利要求1所述的电位器测试机的整足模组的整足爪，其特征在于：所述校正槽(1a3)从下至上分为依次连接为一体的三段，分别为梳理段(1a3c)、归直段(1a3b)和定型槽(1a3a)；梳理段(1a3c)为下大上小的喇叭...

【专利技术属性】
技术研发人员：颜成梁，邢胜利，
申请(专利权)人：成都新诚华创电子有限公司，
类型：新型
国别省市：四川,51