用于样品的分析检查的测试元件分析系统技术方案

公开了用于样品、特别是体液的分析检查的测试元件分析系统（130）。测试元件分析系统（130）包括：至少一个评估装置（158），所述至少一个评估装置具有至少一个测试元件固持件（142）和至少一个测量装置（160），所述测试元件固持件用于定位容纳所述样品的测试元件（110），所述测量装置用于测量所述测试元件（110）的测量区域（118）中的变化，所述变化表征所述分析物；至少一个电加热元件（132），其被构造成电加热所述测试元件（110）；至少一个电力供应源（148），其用于向所述电加热元件（132）供应电能；至少一个温度传感器（140），其被连接到所述测试元件固持件（142）以用于检测所述测试元件固持件（142）的温度；至少一个间隙检测装置（150），其被构造成监测由所述电力供应源（148）供应到所述电加热元件（132）以用于达到由所述温度传感器（140）测量的预定目标温度的电能Espez。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于样品的分析检查的测试元件分析系统
本专利技术涉及用于样品的分析检查的测试元件分析系统以及用于确被定位在用于样品的分析检查的测试元件分析系统的测试元件固持件内部的测试元件与被构造成电加热所述测试元件的电加热元件是否具有足够的热接触的方法。根据本专利技术的装置和方法可以主要用于定性或定量检测样品（例如体液样品）中的至少一种分析物和/或用于确定样品的至少一个参数的领域中。其他应用领域也是可行的。
技术介绍
在医学技术和诊断的领域中，用于确定样品、特别是流体样品（例如体液）中的一种或多种分析物的存在性和/或浓度和/或用于确定样品的至少一个参数的许多装置和方法是公知的。在下文中，在不限制本专利技术的范围的情况下，主要参考血液样品中的凝固参数或血糖浓度的确定。但是，应当注意的是，可以以类似的方式来使用其他类型的样品或者其他类型的分析物或参数。为了执行快速且简单的测量，多种类型的测试元件是公知的，其主要是基于使用适于执行用于检测分析物或确定参数的检测反应的一种或多种测试化学品，即，基于使用一种或多种化学物质、一种或多种化学化合物或者一种或多种化学混合物。测试化学品通常也被称为测试物质、测试试剂、测试化学物、或称为检测器物质。关于也可被用于本专利技术中的潜在测试化学品和包括这样的测试化学品的测试元件的细节，可以参考J.Hoenesetal.:TheTechnologyBehindGlucoseMeters:TestStrips、DiabetesTechnology&Therapeutics、Vol.10、Supplement1、2008、S-10至S-26（J.Hoenes等人在《DiabetesTechnology&Therapeutics》2008年增刊1第10卷第S-10至S-26页的文章“TheTechnologyBehindGlucoseMeters:TestStrips”）。其他类型的测试元件和/或测试物质也是可行的并且可被用于本专利技术中。通过使用一种或多种测试化学品，可启动检测反应，其进程依赖于至少一种分析物的存在性和/或浓度或者依赖于待确定的参数。检测反应优选地可以是分析物特定（analyte-specific）的。通常，如在本专利技术中也可能出现的情况，测试化学品适于当分析物存在于体液中时执行至少一种检测反应，其中，检测反应的幅度和/或程度通常取决于分析物的浓度。通常，测试化学品可适于在存在分析物的情况下执行检测反应，其中，由于该检测反应，体液和测试化学品中的至少一者的至少一个可检测的性质发生变化。至少一个可检测的性质通常可选自物理性质和化学性质。在下文中，在不限制潜在的其他实施例的情况下，将可主要参考如下检测反应，其中由于检测反应，一个或多个物理性质发生变化，例如至少一个电性质和至少一个光学性质中的一者或多者发生变化。此外，在不限制替代性方案的情况下，将参考如下检测反应，其中能够被电检测的至少一个化学性质发生变化，即，参考电化学测试元件。但是，诸如光学测试元件的其他测试元件也是可使用的。如在化学分析的领域中众所周知的，检测反应以及因此测量结果可能很大程度上依赖于测试元件的温度、特别是测试元件和/或样品的反应区域或测量区域中的温度。因此，期望实现测试元件的精确温度控制和/或测试元件的温度的精确监测，以便增加测量的精度。因此，多种公知的装置通常提供用于加热测试元件的加热装置并且还被配备成监测测试元件的温度，以便保卫加热装置与测试元件之间的足够的热联接。特别地，在测试元件分析系统的处理期间的机械位移可能会导致测试元件与加热元件之间的热接触变差，所述机械位移例如是由在其中设置有测试元件的分析系统掉落所导致的机械冲击。此外，在其中未设置有测试元件的测试元件分析系统的处理期间，可能发生测试元件固持件和/或电加热元件的机械位移，例如由于分析系统掉落而发生。因此，在测试元件与测试元件分析系统的接触件之间的热接触可能会受到影响。在US2005/0135968Al和EP1543935A2中，提供了用于产生塑料注塑部件的方法，所述塑料注塑部件具有由不同于塑料材料的材料制成的插入件，所述方法包括以下步骤：（a）将插入件引入并定位在注模的腔中；（b）将注模在夹持机构上的夹持力设置成由插入件的材料预先确定的最大力；以及（c）利用在注模内部的塑料注塑部件的塑料材料来无缝地包封该插入件，其中，该包封是无缝的或者完全的。除了其他之外，还公开了将用作的加热元件的插入件无缝地嵌入到由塑料材料制成的壳体本体内部的系统临界区域（system-criticalarea）中。在US8,491,185B2中以及在EP2199792B1中，公开了用于核查分析仪的测量单元与恒温元件之间的热联接的质量的方法。测量单元可以被可更换地插入到分析仪中以测量样品的至少一个参数，并且在测量通道中设置有至少一个传感器元件。尽管存在由这些装置和方法暗含的优势，但是用于温度控制的公知装置和方法也暗含了多个技术挑战。因此，公知的装置和方法总体上依赖于使用位于测试元件自身上的温度传感器或温度敏感元件。在这些设置中，附加的温度传感器必须被实施到测试元件中，这通常使得测试元件以及接触测试元件的评估评估装置更复杂且因此更昂贵。替代性地，已经存在于测试元件上的传感器元件可附加地被用于温度控制，如在US8,491,185B2中或在EP2199792B1中的那样。但是，该替代方案需要附加电子器件和评估装置以用于施加附加测量信号到测试元件以及用于评估测试元件对于该测量信号的响应，以便评估在测试元件与评估装置的恒温元件之间的热联接。待解决的问题因此本专利技术的目的在于提出至少部分地解决上述技术挑战的装置和方法。特别地，应当公开用于样品的分析检查的测试元件分析系统，其使得能够简单且成本有效地监测在加热元件与测试元件之间的热联接，优选地不具有依赖于在测试元件内部或测试元件上的测量的附加测试设置。
技术实现思路
该问题通过具有独立权利要求的特征的用于样品的分析检查的测试元件分析系统、以及用于确定被定位在用于样品的分析检查的测试元件分析系统的测试元件固持件内部的测试元件与被构造成电加热所述测试元件的电加热元件是否具有足够的热接触的方法来解决。在从属权利要求中列出了优选实施例，其可以单独的方式或以任何任意组合的方式来实现。如在下文中所使用的，术语“具有”、“包括”或“包含”或其任何意语法变形以非排他性的方式被使用。因此，这些术语可指代如下两种情形：除了由这些术语引入的特征之外，在该上下文中描述的实体中不存在其他特征的情形；以及存在一个或多个其他特征的情形。举例来说，表述“A具有B”、“A包括B”和“A包含B”可以指代如下两种情形：除了B之外，在A中不存在其他元素的情形（即，A仅仅地且排他地包括B的情形）；以及除了B之外，在实体A中存在一个或多个其他元素，例如，元素C、元素C和D或甚至更多元素的情形。此外，应当注意的是，术语“至少一个”、“一个或多个”或表明特征或元素可能出现一次或多于一次的类似表述通常将仅在引入相应特征或元素时被使用一次。在下文中，在大多数情况下，当指代相应特征或元素时，表述“至少一个”或“一个或多个”将不被重复，尽管事实上相应的特征或元件可能出现一次或多于一次。此外，如在下本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于样品、特别是体液的分析检查的测试元件分析系统（130），所述测试元件分析系统包括：‑ 至少一个评估装置（158），所述评估装置具有至少一个测试元件固持件（142）和至少一个测量装置（160），所述测试元件固持件用于定位容纳所述样品的测试元件（110），所述测量装置用于测量所述测试元件（110）的测量区域（118）中的变化，所述变化表征所述分析物；‑ 至少一个电加热元件（132），所述电加热元件被构造成电加热所述测试元件（110）；‑ 至少一个电力供应源（148），所述电力供应源用于向所述电加热元件（132）供应电能；‑ 至少一个温度传感器（140），所述温度传感器被连接到所述测试元件固持件（142）以用于检测所述测试元件固持件（142）的温度；‑ 至少一个间隙检测装置（150），所述间隙检测装置被构造成监测由所述电力供应源（148）供应到所述电加热元件（132）以用于达到由所述温度传感器（140）测量的预定目标温度的电能Espez。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.03.08 EP 16159147.41.一种用于样品、特别是体液的分析检查的测试元件分析系统（130），所述测试元件分析系统包括：-至少一个评估装置（158），所述评估装置具有至少一个测试元件固持件（142）和至少一个测量装置（160），所述测试元件固持件用于定位容纳所述样品的测试元件（110），所述测量装置用于测量所述测试元件（110）的测量区域（118）中的变化，所述变化表征所述分析物；-至少一个电加热元件（132），所述电加热元件被构造成电加热所述测试元件（110）；-至少一个电力供应源（148），所述电力供应源用于向所述电加热元件（132）供应电能；-至少一个温度传感器（140），所述温度传感器被连接到所述测试元件固持件（142）以用于检测所述测试元件固持件（142）的温度；-至少一个间隙检测装置（150），所述间隙检测装置被构造成监测由所述电力供应源（148）供应到所述电加热元件（132）以用于达到由所述温度传感器（140）测量的预定目标温度的电能Espez。2.根据前述权利要求所述的测试元件分析系统（130），其中，所述间隙检测装置（150）被构造成评估由所述电力供应源（148）供应到所述电加热元件（132）以用于达到所述预定目标温度的电能Espez，并且基于所述电能Espez的评估来得到关于所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间的热接触的信息的至少一个条目。3.根据前述权利要求所述的测试元件分析系统（130），其中，所述间隙检测装置（150）还被构造成将关于所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间的热接触的信息的至少一个条目与至少一个阈值进行比较，以便确定是否给出了足够的热接触以用于利用所述测试元件分析系统（130）和被定位在所述测试元件固持件（142）中的测试元件（110）来执行精确测量。4.根据前述权利要求所述的测试元件分析系统（130），其中，所述间隙检测装置（150）被构造成用于包括如下的组中的一者或多者：在检测到所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间的热接触不足的情况下，中止所述测量、防止所述测量、标示所述测量、以及发出警告。5.根据前述权利要求中任一项所述的测试元件（110）分析系统（130），其中，所述间隙检测装置（150）被构造成将所述电能Espez或者从其得到的至少一个值与至少一个阈值进行比较，以便确定在所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间是否存在足够的热接触。6.根据前述权利要求中任一项所述的测试元件分析系统（130），其中，所述间隙检测装置（150）被构造成将所述电能Espez标准化以及将所述电能Espez的标准化值与至少一个阈值进行比较，以便确定在所述电加热元件（132）与...

【专利技术属性】
技术研发人员：K黑贝斯特赖特，S萨克，K托梅，A韦勒，R克纳普斯坦，W海特，S利德，
申请(专利权)人：豪夫迈·罗氏有限公司，
类型：发明
国别省市：瑞士,CH