一种校正装置及点胶机制造方法及图纸

本发明专利技术涉及点胶及校正技术领域，具体涉及一种校正装置及点胶机，其中，校正装置包括壳体，及：安装于壳体中的用于测量点胶针头X轴坐标的X轴光传感器、Y轴坐标的Y轴光传感器以及Z轴坐标的Z轴光传感器；X轴光传感器和Y轴光传感器发出的光束位于壳体的顶部表面，Z轴光传感器发出的光束位于壳体内部，并位于X轴光传感器与Y轴光传感器发出的光束下方；辅助机构，设于Z轴光传感器上方，包括设于壳体中的辅助本体，及偏压件；辅助本体具有位于Z轴光传感器发出的光束的上方的初始位置，及遮挡Z轴光传感器发出的光束的检测位置；偏压件施加给辅助本体一个恢复至初始位置的偏压力。本发明专利技术的校正装置测量Z轴坐标校正时间短且操作容易。

A correcting device and dispensing machine

The invention relates to the field of dispensing and correction technology, in particular to a correcting device and dispensing machine, in which the correcting device includes a shell and X-ray sensor installed in the shell for measuring X-axis coordinates of dispensing needles, Y-axis optical sensor for Y-axis coordinates and Z-axis optical sensor for Z-axis coordinates, X-axis optical sensor and Y-axis optical sensor for measuring X-axis coordinates of dispensing needles. The beam emitted by the optical sensor is located on the top surface of the shell, and the beam emitted by the Z-axis optical sensor is located inside the shell and below the beam emitted by the X-axis optical sensor and the Y-axis optical sensor; the auxiliary mechanism is located above the Z-axis optical sensor, including the auxiliary body in the shell and the bias part; the auxiliary body has a position. The initial position above the beam emitted by the Z-axis optical sensor and the detection position of the beam occluding the Z-axis optical sensor are applied to the auxiliary body with a bias pressure restored to the initial position. The calibration device of the invention has short calibration time and easy operation for measuring Z axis coordinates.

【技术实现步骤摘要】
一种校正装置及点胶机
本专利技术涉及点胶及校正
，具体涉及一种校正装置及点胶机。
技术介绍
点胶机又称涂胶机、滴胶机、打胶机、灌胶机等，点胶机主要用于产品工艺中的胶水、油漆以及其他液体精确点、注、涂、点滴到每个产品精确位置，可以用来实现打点、画线、圆型或弧型。现有技术中的点胶机通常包括带点胶产品的载台、点胶针头、驱动点胶针头运动的机械手、连接点胶针头和机械手的点胶组件等，通常情况下机械手在重复运动后，点胶组件与机械手以及点胶针头之间的连接结构会发生微小位移，至各部件之间的相对位置会产生微小偏差，从而容易导致机械手按预定指令驱动点胶针头运动后，使点胶针头的实际点胶位置和工件的待点胶位置出现偏差，导致实际点胶位置不准确。为此，现有技术中提供了一种使用光传感器测量点胶针头X轴坐标、Y轴坐标以及Z轴坐标的校正装置，所述校正装置可以将点胶针头的现有的坐标信息更正为经校正装置测量后的正确的坐标信息，以解决上述问题，但通常现有技术中的校正装置中测量Z轴坐标的光传感器与测量X轴坐标以及Y轴坐标的光传感器位于同一平面内，这样的校正装置在测量X轴坐标以及Y轴坐标时点胶针头均是横向运动来遮挡相应的光束，比较好实现，而测量Z轴坐标时，点胶针头需要纵向运动来遮挡相应的光束，即沿垂直于相应光束的方向运动，由于点胶针头较细，从上向下运动来对准同样较细的光束，很难一下就与光束对准并将其遮挡住，需要来回运动多次，尝试很多次才能对准光束将其遮挡，因此，这样的设计在测量Z轴坐标时操作困难，无疑浪费了很多校正Z轴坐标的时间，影响了的工作效率。
技术实现思路
因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的点胶机的校装置中对Z轴坐标的校正时间长、操作困难的技术缺陷，从而提供一种对Z轴坐标的校正时间短、操作容易的校正装置及点胶机。为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案如下：本专利技术提供了一种校正装置，适于对点胶针头的点胶位置的坐标值进行校正，包括壳体，及：传感器组件，安装于所述壳体中，包括用于测量所述点胶针头X轴坐标的X轴光传感器，用于测量所述点胶针头Y轴坐标的Y轴光传感器，以及用于测量所述点胶针头Z轴坐标的Z轴光传感器；所述X轴光传感器和所述Y轴光传感器发出的光束位于所述壳体的顶部表面，所述Z轴光传感器发出的光束位于所述壳体内部，并位于所述X轴光传感器与所述Y轴光传感器发出的光束下方；辅助机构，设于所述Z轴光传感器上方，包括设于所述壳体中的辅助本体，及设于所述辅助本体与所述壳体之间的偏压件；所述辅助本体具有位于所述Z轴光传感器发出的光束的上方的初始位置，及在所述点胶针头的作用下遮挡所述Z轴光传感器发出的光束的检测位置；所述偏压件施加给所述辅助本体一个使所述辅助本体恢复至所述初始位置的偏压力。所述壳体包括内壳，所述内壳在其顶面及所述Z轴光传感器发出的光束之间设有容置腔，所述容置腔在靠近所述内壳的顶面的一端设有开口，在靠近所述Z轴光传感器发出的光束的一端设置有安装板，所述安装板上成型有安装通孔；所述辅助本体包括容置于所述容置腔中的传动杆件，及设于所述传动杆件远离所述Z轴光传感器一端的探测部；所述传动杆件的另一端为穿过所述安装通孔、并可遮挡所述Z轴光传感器发出的光束的遮挡端，所述探测部远离所述传动杆件的一侧具有适于与所述点胶针头接触的探测平面；所述偏压件为压簧，所述压簧套设于所述遮挡端上，且所述压簧的底端与所述安装板相抵，顶端固定在所述传动杆件上。所述探测部的外径大于所述传动杆件的外径，所述校正装置还包括限位结构，所述限位结构包括：套筒，可拆卸地固定套设于所述传功杆件外部，且远离所述安装板设置；限位槽，形成于所述套筒与所述探测部之间；限位板，一端固定设置于所述内壳的顶面上，另一端容置于所述限位槽中，且所述限位板的厚度小于所述限位槽的槽宽。所述容置腔的横截面大小及形状与所述套筒的横截面大小及形状相匹配，所述安装通孔的孔径小于所述套筒的外径。所述X轴光传感器发出的光束与所述X轴垂直，所述Y轴光传感器发出的光束与所述Y轴垂直，所述Z轴光传感器发出的光束与所述Z轴垂直。所述X轴、所述Y轴以及所述Z轴分别为空间直角坐标系上的三个坐标轴；所述X轴光传感器发出的光束与所述Y轴光传感器发出的光束，相互垂直且位于同一水平面内。所述X轴光传感器发出的光束与所述Y轴光传感器发出的光束不相交。所述壳体还包括外壳，套设于所述内壳外部，所述外壳的顶面上成型有：L型凹槽通道，可供所述点胶针头在其中运动，包括与所述X轴光传感器发出的光束垂直的第一支通道，及与所述Y轴光传感器发出的光束垂直、并与所述第一支通道连通的第二支通道；让位通孔，设于所述探测平面上方，可供所述点胶针头穿过以与所述探测平面接触。所述X轴光传感器以及所述Y轴光传感器分别为光纤传感器，所述Z轴光传感器为光电传感器。本专利技术还提供了一种点胶机，包括：上述的校正装置，及所述点胶针头。本专利技术的技术方案相比现有技术，具有如下优点：1.本专利技术提供的校正装置，适于对点胶针头的点胶位置的坐标值进行校正，包括壳体，及：传感器组件，安装于所述壳体中，包括用于测量所述点胶针头X轴坐标的X轴光传感器，用于测量所述点胶针头Y轴坐标的Y轴光传感器，以及用于测量所述点胶针头Z轴坐标的Z轴光传感器；所述X轴光传感器和所述Y轴光传感器发出的光束位于所述壳体的顶部表面，所述Z轴光传感器发出的光束位于所述壳体内部，并位于所述X轴光传感器与所述Y轴光传感器发出的光束下方；辅助机构，设于所述Z轴光传感器上方，包括设于所述壳体中的辅助本体，及设于所述辅助本体与所述壳体之间的偏压件；所述辅助本体具有位于所述Z轴光传感器发出的光束的上方的初始位置，及在所述点胶针头的作用下遮挡所述Z轴光传感器发出的光束的检测位置；所述偏压件施加给所述辅助本体一个使所述辅助本体恢复至所述初始位置的偏压力。这样的结构设计避免了直接用点胶针头自上而下来遮挡很细的光束导致操作困难、操作时间长的情况，而通过使用辅助机构，使辅助本体在没有外力作用时位于Z轴光传感器发出的光束的上方，与Z轴光传感器发出的光束直接对准，这样点胶针头可以直接通过按压辅助本体来遮挡Z轴光传感器发出的光束即可实现对点胶针头的Z轴坐标值的校正，由于辅助本体与点胶针头的接触面可以使用较大的结构，因此点胶针头可以很快的与辅助本体接触并施加压力，操作简单，且减小了点胶针头校正Z轴坐标值的时间，提高了点胶针头的校正效率。2.本专利技术提供的校正装置，所述探测部的外径大于所述传动杆件的外径，所述校正装置还包括限位结构，所述限位结构包括：套筒，可拆卸地固定套设于所述传功杆件外部，且远离所述安装板设置；限位槽，形成于所述套筒与所述探测部之间；限位板，一端固定设置于所述内壳的顶面上，另一端容置于所述限位槽中，且所述限位板的厚度小于所述限位槽的槽宽。当点胶针头与辅助本体相抵并推动辅助本体向下运动，至遮挡端将Z轴光传感器发出的光束遮挡住时，点胶针头采集到Z轴坐标信息；在点胶针头离开探测部后，辅助本体在压簧的恢复弹力作用下向上运动，直至套筒上表面与限位板下表面接触并相抵，辅助本体及点胶针头停止向上运动，限位板可以起到一个限制辅助机构继续向上运动的作用，避免了探测部随传动杆件向上运动的幅度过大，可以限制探测部向上运动的行程，缩短辅助机构本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种校正装置，适于对点胶针头的点胶位置的坐标值进行校正，其特征在于，包括壳体，及：传感器组件，安装于所述壳体中，包括用于测量所述点胶针头X轴坐标的X轴光传感器(12)，用于测量所述点胶针头Y轴坐标的Y轴光传感器(13)，以及用于测量所述点胶针头Z轴坐标的Z轴光传感器(3)；所述X轴光传感器(12)和所述Y轴光传感器(13)发出的光束位于所述壳体的顶部表面，所述Z轴光传感器(3)发出的光束位于所述壳体内部，并位于所述X轴光传感器(12)与所述Y轴光传感器(13)发出的光束下方；辅助机构，设于所述Z轴光传感器(3)上方，包括设于所述壳体中的辅助本体，及设于所述辅助本体与所述壳体之间的偏压件；所述辅助本体具有位于所述Z轴光传感器(3)发出的光束的上方的初始位置，及在所述点胶针头的作用下遮挡所述Z轴光传感器(3)发出的光束的检测位置；所述偏压件施加给所述辅助本体一个使所述辅助本体恢复至所述初始位置的偏压力。

【技术特征摘要】
1.一种校正装置，适于对点胶针头的点胶位置的坐标值进行校正，其特征在于，包括壳体，及：传感器组件，安装于所述壳体中，包括用于测量所述点胶针头X轴坐标的X轴光传感器(12)，用于测量所述点胶针头Y轴坐标的Y轴光传感器(13)，以及用于测量所述点胶针头Z轴坐标的Z轴光传感器(3)；所述X轴光传感器(12)和所述Y轴光传感器(13)发出的光束位于所述壳体的顶部表面，所述Z轴光传感器(3)发出的光束位于所述壳体内部，并位于所述X轴光传感器(12)与所述Y轴光传感器(13)发出的光束下方；辅助机构，设于所述Z轴光传感器(3)上方，包括设于所述壳体中的辅助本体，及设于所述辅助本体与所述壳体之间的偏压件；所述辅助本体具有位于所述Z轴光传感器(3)发出的光束的上方的初始位置，及在所述点胶针头的作用下遮挡所述Z轴光传感器(3)发出的光束的检测位置；所述偏压件施加给所述辅助本体一个使所述辅助本体恢复至所述初始位置的偏压力。2.根据权利要求1所述的校正装置，其特征在于：所述壳体包括内壳(7)，所述内壳(7)在其顶面及所述Z轴光传感器(3)发出的光束之间设有容置腔(15)，所述容置腔(15)在靠近所述内壳(7)的顶面的一端设有开口，在靠近所述Z轴光传感器(3)发出的光束的一端设置有安装板(10)，所述安装板(10)上成型有安装通孔(11)；所述辅助本体包括容置于所述容置腔(15)中的传动杆件(14)，及设于所述传动杆件(14)远离所述Z轴光传感器(3)一端的探测部；所述传动杆件(14)的另一端为穿过所述安装通孔(11)、并可遮挡所述Z轴光传感器(3)发出的光束的遮挡端(1)，所述探测部远离所述传动杆件(14)的一侧具有适于与所述点胶针头接触的探测平面(4)；所述偏压件为压簧(2)，所述压簧(2)套设于所述遮挡端(1)上，且所述压簧(2)的底端与所述安装板(10)相抵，顶端固定在所述传动杆件(14)上。3.根据权利要求2所述的校正装置，其特征在于：所述探测部的外径大于所述传动杆件(14)的外径，所述校正装置还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴加富，缪磊，林杰，文太平，马纪飞，朱平，
申请(专利权)人：苏州富强科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32