显示装置残影的测试方法制造方法及图纸

一种显示装置残影的测试方法，包括：在t1～t2时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面；分别采集t1～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t1～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)；根据C(t)＝Y2(t)‑K*L1(t)，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。由于Y2(t)和KL1(t)之差恰好去除了噪音，C(t)的值为去除噪音后的值，使得残影的测试结果不受噪音的影响。

Test method for residual shadows of display devices

A test method for the residual image of a display device includes: displaying the first picture in the first test area in T1-T2 time, displaying the second picture in the second test area, displaying the first picture in both the first test area and the second test area in T2-T3 time, and collecting the first test area in T1-T3 time, respectively. The change of brightness L1 with time is L1 (t), and the change of test parameter Y2 with time is Y2 (t) in the second test area in time from T1 to t3. According to C (t) = Y2 (t) K * L1 (t), the change of residual parameter C with time after noise removal in time from T1 to T3 is calculated. Because the difference between Y2 (t) and KL1 (t) just eliminates the noise, the value of C (t) is the value after eliminating the noise, which makes the test result of residual shadow unaffected by the noise.

【技术实现步骤摘要】
显示装置残影的测试方法
本专利技术涉及显示
，特别是涉及一种显示装置残影的测试方法。
技术介绍
为了提高显示装置的性能和质量，在生产过程中，需要对显示装置的分辨率、亮度、对比度、色域、响应时间、残像等级等性能指标进行检测和评定。其中，残像是指影像残留。具体地，当显示装置长时间驱动特定静止画面后，其中的薄膜晶体管受到应力(biasstress)影响或者其中的发光二极管亮度的衰减，造成显示装置发光亮度会发生改变，如此，会导致显示面板显示图像时出现差异，如当显示画面切换至下一个画面时，显示面板上会残留上一个画面的图像，从而造成影响残留的现象，即出现残影。残影会严重影响显示器的画面品质。现有技术可以通过人眼或测试设备对显示装置的残影进行测试。在用测试设备对显示装置的残影进行测试时，由于电源噪音的影响，亮度的变化存在一定的波动，导致测试的亮度被噪音掩盖，数据分析的难度增加，容易导致误判。
技术实现思路
基于此，有必要针对在对显示装置的残影进行测试时，由于电源噪音的影响，亮度的变化存在一定的波动，导致测试的亮度被噪音掩盖，数据分析的难度增加，容易导致误判的技术问题，提供一种显示装置残影的测试方法。一种显示装置残影的测试方法，其中，所述显示装置的显示区域至少包括第一测试区域和第二测试区域，所述显示装置残影的测试方法包括：控制显示步骤：在t1～t2时间内，控制所述第一测试区域显示第一画面，控制所述第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制所述第一测试区域和所述第二测试区域均显示第一画面；数据采集步骤：分别采集t1～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t1～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数与亮度呈线性关系；计算结果步骤：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。在其中一个实施例中，所述测试参数Y2为亮度L2，K＝1。在其中一个实施例中，所述测试参数Y2为电流I2，在其中一个实施例中，在控制显示步骤中，在t1～t2时间内之前，还包括：在t0～t1时间内，控制所述第一测试区域和所述第二测试区域均显示第一画面；数据采集步骤为：采集t0～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t0～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数与亮度呈线性关系；计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t0～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。在其中一个实施例中，所述测试参数Y2为电流，在其中一个实施例中，计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)+KB，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。在其中一个实施例中，在控制显示步骤中，在t2～t3时间之后，还包括：在t3～t4时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第三画面，在t4～t5时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面；数据采集步骤为：采集t0～t5时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t0～t5时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数Y2与亮度呈线性关系；计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t0～t5时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。在其中一个实施例中，所述第一画面为灰色画面，所述第二画面为黑色画面或白色画面。在其中一个实施例中，所述第一画面为灰色画面，所述第二画面为黑色画面，所述第三画面为白色画面。在其中一个实施例中，所述第一画面为灰色画面，所述第二画面为白色画面，所述第三画面为黑色画面。上述显示装置残影的测试方法，在t1～t2以及t2～t3时间内，使第一测试区域一直显示第一画面，使第二测试区域从显示第二画面到显示第一画面，这样，第一测试区域作为包含噪音的基准区域，第二测试区域作为包含噪音的被测试区域，根据测量的第一测试区域及第二测试区域从第二画面恢复到第一画面的亮度L1及测试参数Y2随时间变化的变化值，即可知道残影参数C随时间变化的变化值，从而得出显示装置残影的严重程度，而由于在t1～t2以及t2～t3时间内，第一测试区域和第二测试区域在任一时刻所包含的噪音相同，根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，计算出在t1～t3时间内的C(t)的值，由于Y2(t)和KL1(t)均包含相同的噪音，Y2(t)和KL1(t)之差恰好去除了噪音，使得最终C(t)的值为去除噪音后的值，使得残影的测试结果不受噪音的影响。附图说明图1为一个实施例中显示装置残影的测试方法的步骤图；图2为另一个实施例中显示装置残影的测试方法的步骤图；图3为另一个实施例中显示装置残影的测试方法的步骤图；图4为另一个实施例中显示装置残影的测试方法的步骤图；图5为一个实施例中显示装置的结构示意图；图6为图1所示实施例中残影参数随时间的变化关系图；图7为图1所示实施例中残影参数随时间的变化关系图；图8为图1所示实施例中残影参数随时间的变化关系图；图9为图1所示实施例中残影参数随时间的变化关系图。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本专利技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似改进，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。例如，本专利技术一实施例公开一种显示装置残影的测试方法，其中，所述显示装置的显示区域至少包括第一测试区域和第二测试区域，所述显示装置残影的测试方法包括：控制显示步骤：在t1～t2时间内，控制所述第一测试区域显示第一画面，控制所述第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制所述第一测试区域和所述第二测试区域均显示第一画面；数据采集步骤：分别采集t1～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t1～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示装置残影的测试方法，其中，所述显示装置的显示区域至少包括第一测试区域和第二测试区域，其特征在于，所述显示装置残影的测试方法包括：控制显示步骤：在t1～t2时间内，控制所述第一测试区域显示第一画面，控制所述第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制所述第一测试区域和所述第二测试区域均显示第一画面；数据采集步骤：分别采集t1～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t1～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数与亮度呈线性关系；计算结果步骤：根据C(t)＝Y2(t)‑K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

【技术特征摘要】
1.一种显示装置残影的测试方法，其中，所述显示装置的显示区域至少包括第一测试区域和第二测试区域，其特征在于，所述显示装置残影的测试方法包括：控制显示步骤：在t1～t2时间内，控制所述第一测试区域显示第一画面，控制所述第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制所述第一测试区域和所述第二测试区域均显示第一画面；数据采集步骤：分别采集t1～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t1～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数与亮度呈线性关系；计算结果步骤：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。2.根据权利要求1所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，所述测试参数Y2为亮度L2，K＝1。3.根据权利要求1所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，所述测试参数Y2为电流I2，4.根据权利要求1所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，在控制显示步骤中，在t1～t2时间内之前，还包括：在t0～t1时间内，控制所述第一测试区域和所述第二测试区域均显示第一画面；数据采集步骤为：采集t0～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t0～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数与亮度呈线性关系；计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t0～t3时间内的去除噪音后...

【专利技术属性】
技术研发人员：阮伟文，张家朝，吴锦坤，胡君文，谢志生，苏君海，李建华，
申请(专利权)人：信利惠州智能显示有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44