本发明专利技术属于光源设备技术领域，具体涉及一种具有导光装置的光源，包括导光装置(1)，所述导光装置(1)包括基板(11)、设置于所述基板(11)的透光结构(12)、设置于所述基板(11)并与所述透光结构(12)对接的导光结构(13)，所述基板(11)用于阻挡光的传播，所述导光结构(13)用于将来自于所述透光结构(12)的光聚集到待测物体(3)表面。该光源消除了余光干扰，提高了工作效率，且结构简单，光照利用率高，实用性强。此外还提供了一种该光源的工作流程，使得该光源的光照强度可调，提高了光源工作的稳定性。
【技术实现步骤摘要】
一种具有导光装置的光源及其工作流程
本专利技术属于光源设备
，具体涉及一种具有导光装置的光源及其工作流程。
技术介绍
在机器视觉检测中，被检测对象的形状各异，工业相机为采集到完整、清晰的图像，需要光源的密切配合，不仅要求光照能完整覆盖被检测对象，还要考虑光照效率，希望光线能集中照射在被检测对象上，减小发散,从而降低功耗。因此，需要选择合适的光源作为检测光源。现有技术中，光源一般都是采用LED作为发光器，LED水平阵列排布，由于LED本身特性，LED发光角度一般在30°以上，此种设计方案，存在以下缺陷：1.产生杂光，干扰相邻特征检测。当同一个工件，需要同时检测两个或两个以上相邻位置特征时，由于LED有一定发光角度，当光线照射到某一个特征上时，光线是分散传播的，多余的杂光会干扰到相邻特征的检测。目前的解决方案一般是将特征分开检测，每个特征检测一次，在特征较多的情况下，一个工件可能需要来回重复检测多次，效率非常低。2.单个光源无法改变照射方向：由于发光体LED水平阵列排布，当光源需要利用LED一定照射角度时，只有通过两个或多个光源组合使用，将光源倾斜一定角度安装，以达到改变光源照射角度目的，这样会导致安装空间变大，光源数量增加，进而造成成本增加。综上可知，相关技术亟待完善。
技术实现思路
本专利技术的目的之一在于：针对现有技术的不足，而提供一种具有导光装置的光源，以消除余光干扰，提高光照利用率，同时，单个光源改变照射方向，从而降低生产成本。为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种具有导光装置的光源，包括导光装置，所述导光装置包括基板、设置于所述基板的透光结构、设置于所述基板并与所述透光结构对接的导光结构，所述基板用于阻挡光的传播，所述导光结构用于将来自于所述透光结构的光聚集到待测物体表面。在对待测物体进行检测时，从透光结构中出来的光直线传播进入导光结构，在导光结构的引导下，光的传播方向发生改变，光向待测物体表面聚集，减少发散，消除了余光干扰，提高了工作效率，该光源结构简单，光照利用率高，实用性强。作为本专利技术所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述导光结构呈矩形均匀分布于所述基板。这种结构设计便于将光的传播方向向待测物体表面聚集，同时便于工业化、大批量生产。作为本专利技术所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述导光结构的个数至少为4个。根据实际生产的需求，导光结构的个数可以灵活地设置成多个。作为本专利技术所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述导光结构包含凸透镜和/或反射镜。除此之外，导光结构还可以包含其他的能够改变光的传播方向的机构。作为本专利技术所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述透光结构为通孔或镜片。除此之外，透光结构还可以是其他的能够达到相同效果的机构。作为本专利技术所述的具有导光装置的光源的一种改进，还包括光源发生装置，所述光源发生装置与所述导光装置对应。光源发生装置发出的光是分散传播的，如果直接检测待测物体，会有很多余光干扰检测结果。作为本专利技术所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述光源发生装置包括基座、发光器、控制器和电源，所述发光器设置于所述基座，所述发光器与所述透光结构对应，所述发光器与所述控制器电连接，所述控制器与所述电源电连接。电源提供了工作所需的电量，通过控制器可以控制发光器发出的光照强度。作为本专利技术所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述发光器为LED或日光灯。除此之外，发光器还可以是其他的能够达到相同效果的器件。本专利技术的目的之二在于：针对现有技术的不足，还提供一种上述具有导光装置的光源的使用方法，以提高其工作的可靠性、稳定性和效率。为实现上述目的，本专利技术提供一种具有导光装置的光源的工作流程，包括如下步骤：S1、所述发光器产生的光穿过所述透光结构，然后进入所述导光结构；S2、在所述导光结构中凸透镜和/或反射镜的作用下，光的传播方向发生变化，光被聚集到待测物体表面；S3、通过调节所述控制器，可以改变所述发光器产生的光照强度，从而改变了待测物体表面的光照强度；通过调整导光结构的出光角度，达到调整光照角度的目的。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1为本专利技术中实施例1的主视的结构示意图；图2为本专利技术中实施例1的侧视的结构示意图；图3为本专利技术中导光结构的结构示意图之一；图4为本专利技术中导光结构的结构示意图之二；图5为本专利技术中导光结构的结构示意图之三；图6为本专利技术中实施例2的主视的结构示意图；图7为本专利技术中实施例2的侧视的结构示意图；图8为本专利技术中实施例3的主视的结构示意图；图9为本专利技术中实施例3的侧视的结构示意图；其中：1-导光装置；11-基板；12-透光结构；13-导光结构；2-光源发生装置；21-基座；22-发光器；23-控制器；24-电源；3-待测物体；4-凸透镜；5-反射镜。具体实施方式如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接受的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题，基本达到所述技术效果。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。以下结合附图对本专利技术作进一步详细说明，但不作为对本专利技术的限定。实施例1如图1-5所示，一种具有导光装置的光源，包括导光装置1，导光装置1包括基板11、设置于基板11的透光结构12、设置于基板11并与透光结构12对接的导光结构13，基板11用于阻挡光的传播，导光结构13用于将来自于透光结构12的光聚集到待测物体3表面。在对待测物体3进行检测时，从透光结构12中出来的光直线传播进入导光结构13，在导光结构13的引导下，光的传播方向发生改变，光向待测物体3表面聚集，减少发散，消除了余光对物体测量的干扰，提高了工作效率，该光源结构简单，光照利用率高，实用性强。优选的，导光结构13呈矩形均匀分布于基板11。这种结构设计便于将光的传播方向向待测物体3表面聚集，同时便于工业化、大批量生产。优选的，导光结构13呈两排两列均匀排列。这种设计用于测量较小的物体。优选的，导光结构13包含凸透镜4和/或反射镜5。除此之外，导光结构13还可以包含其他的能够改变光的传播方向的机构。优选的，透本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种具有导光装置的光源，其特征在于：包括导光装置(1)，所述导光装置(1)包括基板(11)、设置于所述基板(11)的透光结构(12)、设置于所述基板(11)并与所述透光结构(12)对接的导光结构(13)，所述基板(11)用于阻挡光的传播，所述导光结构(13)用于将来自于所述透光结构(12)的光聚集到待测物体(3)表面。
【技术特征摘要】
1.一种具有导光装置的光源，其特征在于：包括导光装置(1)，所述导光装置(1)包括基板(11)、设置于所述基板(11)的透光结构(12)、设置于所述基板(11)并与所述透光结构(12)对接的导光结构(13)，所述基板(11)用于阻挡光的传播，所述导光结构(13)用于将来自于所述透光结构(12)的光聚集到待测物体(3)表面。2.如权利要求1所述的具有导光装置的光源，其特征在于：所述导光结构(13)呈矩形均匀分布于所述基板(11)。3.如权利要求1所述的具有导光装置的光源，其特征在于：所述导光结构(13)的个数至少为4个。4.如权利要求1所述的具有导光装置的光源，其特征在于：所述导光结构(13)包含凸透镜(4)和/或反射镜(5)。5.如权利要求1所述的具有导光装置的光源，其特征在于：所述透光结构(12)为通孔或镜片。6.如权利要求1所述的具有导光装置的光源，其特征在于：还包括光源发生装置(2)，所述光源发生装置(2)与所述导光装置(1)对应。7.如权...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟超，易德强，孙顷，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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