【技术实现步骤摘要】
一种incell产品银浆导通测试方法
本专利技术涉及液晶显示模组测试
,尤其涉及一种incell产品银浆导通测试方法。
技术介绍
现有检测银浆是否导通的技术分两种,第一种是针对非incell的IPS产品或者是镀高阻膜的incell产品,使用万用表直接测量ITO到FPC上的GND来判断导通性;第二种是针对没有镀高阻膜而使用导电偏光片的incell产品,通过外观检查其点银浆的效果进行判定。第一种方法只适用于非incell产品或者是带高阻膜的incell产品,第二种方法只能通过外观检查来进行电性能的导通性判断,存在漏检的可能,而银浆未良好导通将导致产品装在整机上后出现电荷聚集,影响显示和触控效果。因此,现有技术存在缺陷,需要改进。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术的不足,提供一种incell产品银浆导通测试方法。本专利技术的技术方案如下:本专利技术提供一种incell产品银浆导通测试方法,该方法包括以下步骤:步骤1,提供一显示模组,所述显示模组一侧点有第一银浆和第二银浆,所述第一银浆从偏光片侧面延伸至TFT上的导电区域,所述第二银浆设于所述偏光片侧面中部上;步骤2,提供一用于测量电阻的测量设备,将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触,将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆接触;步骤3,读取测量设备的测试结果,如果测量设备的显示屏上显示有电阻值,发出“滴滴”的声音,则判断为银浆导通,产品OK;如果测量设备的显示屏无反应且未发出声音,则银浆未导通,产品NG。进一步地,所述第一银浆的数量为2个,所述第二银浆的数量为1个。进一步地,2个第一 ...
【技术保护点】
1.一种incell产品银浆导通测试方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤1,提供一显示模组,所述显示模组一侧点有第一银浆和第二银浆,所述第一银浆从偏光片侧面延伸至TFT基板上的导电区域,所述第二银浆设于所述偏光片侧面中部上;步骤2,提供一用于测量电阻的测量设备,将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触,将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆接触;步骤3,读取测量设备的测试结果,如果测量设备的显示屏上显示有电阻值,发出“滴滴”的声音,则判断为银浆导通,产品OK;如果测量设备的显示屏无反应且未发出声音,则银浆未导通,产品NG。
【技术特征摘要】
1.一种incell产品银浆导通测试方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤1,提供一显示模组,所述显示模组一侧点有第一银浆和第二银浆,所述第一银浆从偏光片侧面延伸至TFT基板上的导电区域,所述第二银浆设于所述偏光片侧面中部上;步骤2,提供一用于测量电阻的测量设备,将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触,将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆接触;步骤3,读取测量设备的测试结果,如果测量设备的显示屏上显示有电阻值,发出“滴滴”的声音,则判断为银浆导通,产品OK;如果测量设备的显示屏无反应且未发出声音,则银浆未导通,产品NG。2.根据权利要求1所述的incell产品银浆导通测试方法,其特征在于,所述第一银浆的数量为2个,所述第二银浆的数量为1个。3.根据权利要求2所述的incell产品银浆导通测试方法,其特征在于,2个第一银浆对称设于所述显示模组的侧面上。4.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:魏镜贤,骆志锋,卢建灿,夏明星,
申请(专利权)人:深圳同兴达科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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