用于芯片的测试插座制造技术

本发明专利技术涉及一种用于芯片的测试插座，其包括：凹部，其用于放置所述芯片；和两个推动机构。所述凹部被四个区段包围。所述两个推动机构分别布置于两个相邻区段处。所述两个推动机构中的每一个包括：推按按钮，其中所述推按按钮的底部连接到垂直弹性部件；推动器，其与所述推按按钮相互配合运作，其中所述推动器的一端延伸到所述凹部中，且所述推动器的相对端连接到横向弹性部件。当所述垂直弹性部件向上推动所述推按按钮时，所述推按按钮的顶部从所述区段的顶部表面突出，且所述推动器将与所述推按按钮接合。当按压所述推按按钮并使其向下移动时，所述横向弹性部件推动所述推动器朝向所述凹部移动。

【技术实现步骤摘要】
用于芯片的测试插座
本专利技术涉及一种用于芯片的测试插座，更确切地说，涉及一种用于定位将被测试的芯片的设备。
技术介绍
用于芯片的常规测试插座在同一水平面处需要分别由两个气压缸驱动的两个推动器。当芯片安置于测试插座内时，两个气压缸将分别驱动两个推动器，使得两个推动器推动芯片在X轴方向和Y轴方向上移动直到芯片正确地定位为止。然而，由于推动器受气压缸驱动，所以常规测试插座需要用于接纳气压缸的较大空间。因此，常规测试插座的大小通常都很大。
技术实现思路
根据本专利技术的一个示范性实施例，一种用于芯片的测试插座包括：凹部，其用于接纳所述芯片；第一推动机构；和第二推动机构。所述凹部被第一区段、第二区段、第三区段和第四区段包围，其中所述第一区段连接到所述第二区段和所述第四区段，且所述第三区段连接到所述第二区段和所述第四区段。所述第一推动机构布置于所述第一区段处且包括第一推按按钮、第一垂直弹性部件、第一推动器和第一横向弹性部件。所述第一推按按钮具有在其顶部处的第一突出部。所述第一垂直弹性部件连接到所述第一推按按钮的底部。所述第一推动器与所述第一推按按钮相互配合运作，其中所述第一推动器具有延伸到所述凹部中的第一推动端。所述第一横向弹性部件连接到所述第一推动器的第一邻接端，其中所述第一邻接端与所述第一推动端相对。当没有力施加到所述第一推按按钮时，所述第一垂直弹性部件向上推动所述第一推按按钮，使得所述第一突出部从所述第一区段的顶部表面突出，且所述第一推按按钮与所述第一推动器接合，使得所述第一横向弹性部件无法推动所述第一推动器。当按压所述第一推按按钮的所述第一突出部时，所述第一推按按钮向下移动，且所述第一横向弹性部件推动所述第一推动器朝向所述凹部移动。所述第二推动机构布置于所述第二区段处且包括：第二推按按钮、第二垂直弹性部件、第二推动器和第二横向弹性部件。所述第二推按按钮具有在其顶部处的第二突出部。所述第二垂直弹性部件连接到所述第二推按按钮的底部。所述第二推动器与所述第二推按按钮相互配合运作，其中所述第二推动器具有延伸到所述凹部中的第二推动端。所述第二横向弹性部件连接到所述第二推动器的第二邻接端，其中所述第二邻接端与所述第二推动端相对。当没有力施加到所述第二推按按钮时，所述第二垂直弹性部件向上推动所述第二推按按钮，使得所述第二突出部从所述第二区段的顶部表面突出，且所述第二推按按钮与所述第二推动器接合，使得所述第二横向弹性部件无法推动所述第二推动器。当按压所述第二推按按钮的所述第二突出部时，所述第二推按按钮向下移动，且所述第二横向弹性部件推动所述第二推动器朝向所述凹部移动。根据本专利技术的另一示范性实施例，一种用于芯片的测试插座包括用于接纳所述芯片的凹部和两个推动机构。所述凹部被四个区段包围。所述两个推动机构分别布置于两个相邻区段处。所述两个推动机构中的每一个包括：推按按钮和与所述推按按钮相互配合运作的推动器，其中所述推按按钮的底部连接到垂直弹性部件，且其中所述推动器的一端延伸到所述凹部中，且所述推动器的相对端连接到横向弹性部件。当所述垂直弹性部件向上推动所述推按按钮时，所述推按按钮的顶部从所述区段的顶部表面突出，且所述推动器将与所述推按按钮接合。当按压所述推按按钮并使其向下移动时，所述横向弹性部件推动所述推动器朝向所述凹部移动。为了进一步理解本专利技术，提供以下实施例以及说明以促进对本专利技术的了解；然而，所述附图仅出于参考和说明目的提供且并不意图用于限制本专利技术的范围。附图说明图1A为根据本专利技术的实施例的测试插座以及芯片和按压装置的透视示意图。图1B为推动机构的透视截面示意图。图2A为其中芯片处于非定位状态的测试插座的顶部示意图。图2B为沿着图2A中的2B-2B的横截面图。图2C为沿着图2A中的2C-2C的横截面图。图3A为其中芯片处于定位状态的测试插座的顶部示意图。图3B为沿着图3A中的3B-3B的横截面图。图3C为沿着图3A中的3C-3C的横截面图。具体实施方式前述说明和随后的详细描述为示范性的，其是出于进一步解释本专利技术的范围的目的。将在后续描述和附图中说明与本专利技术有关的其它目标和优点。图1A为根据本专利技术的实施例的测试插座1以及芯片5和按压装置6的透视示意图。测试插座1包括用于接纳芯片5的凹部2、第一推动机构3、第二推动机构4和按压装置6。如图1A中所展示，凹部2被如下四个区段包围：第一区段11、第二区段12、第三区段13和第四区段14。第一区段11连接到其相邻区段，例如第二区段12和第四区段14。同样地，第三区段13连接到其相邻区段，例如第二区段12和第四区段14。凹部2用于接纳芯片5。用于测试芯片5的多个探针15(参考图2B、2C、3B和3C)安置于凹部2内。当芯片5放置于凹部2内并置于适当位置时，探针15将与芯片5的端子51电接触并测试芯片5(参考图3B)。此外，为了易于将芯片5放置到凹部2中并防止芯片5被凹部2的区段刮擦，凹部2的大小大于芯片5的大小。凹部2进一步包括第一定位部件131和第二定位部件141。第一定位部件131布置于凹部2内并抵靠第三区段13。第二定位部件141布置于凹部2内并抵靠第四区段14。第一定位部件131和第二定位部件141彼此连接以便为L形。第一定位部件131和第二定位部件141用以为芯片5提供适当位置。当芯片5放置于凹部2中并同时与第一定位部件131和第二定位部件141接触时，芯片5位于用于测试的适当位置处。如图1A中所展示，第一推动机构3布置于第一区段11处，且第二推动机构4布置于第二区段12处。精确地，第一推动机构3实质上布置于第一区段11内，且第二推动机构4实质上布置于第二区段12内。图1B为推动机构的透视截面示意图。参考图1B，第一推动机构3包括第一推按按钮31、第一垂直弹性部件32、第一推动器33和第一横向弹性部件34。第一推按按钮31具有在其顶部处的第一突出部311以及第一楔形表面315。第一推动器33具有会与芯片5接触的第一推动端331，并且具有第一邻接端332，所述第一邻接端332具有邻靠着第一推按按钮31的第一楔形表面315的第一楔形表面335。第一邻接端332与第一推动端331相对。第一垂直弹性部件32连接到第一推按按钮31的底部，其可向上推动第一推按按钮31。在本专利技术的实施例中，第一垂直弹性部件32可为弹簧，但不限于前述弹簧。此外，第一垂直弹性部件32的数量不限于一个弹簧。也就是说，第一垂直弹性部件32的数量可为两个或甚至更多个弹簧。第一横向弹性部件34连接到第一推动器33的第一邻接端332，其可朝向凹部2推动第一推动器33。在本专利技术的实施例中，第一横向弹性部件34可为弹簧，但不限于前述弹簧。此外，第一横向弹性部件34的数量不限于一个弹簧。也就是说，第一横向弹性部件34的数量可为两个或甚至更多个弹簧。同样地，第二推动机构4的结构可与第一推动机构(3)的结构相同。同样参考图1B，第二推动机构4包括第二推按按钮41、第二垂直弹性部件42、第二推动器43和第二横向弹性部件44。第二推按按钮41具有在其顶部处的第二突出部411以及第二楔形表面415。第二推动器43具有会与芯片5接触的第二推动端431，并且具有第二邻接端432，所述第二邻接端具有邻靠着第二推按按钮41的第二楔形表面4本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于芯片的测试插座，其包括：凹部，其用于放置所述芯片，所述凹部被第一区段、第二区段、第三区段和第四区段包围，其中所述第一区段连接到所述第二区段和所述第四区段，且其中所述第三区段连接到所述第二区段和所述第四区段；第一推动机构，其布置于所述第一区段处，所述第一推动机构包括：第一推按按钮，其中所述第一推按按钮具有在其顶部处的第一突出部；第一垂直弹性部件，其连接到所述第一推按按钮的底部；第一推动器，其与所述第一推按按钮相互配合运作，其中所述第一推动器具有延伸到所述凹部中的第一推动端；和第一横向弹性部件，其连接到所述第一推动器的第一邻接端，其中所述第一邻接端与所述第一推动端相对；其中当没有力施加到所述第一推按按钮时，所述第一垂直弹性部件向上推动所述第一推按按钮，使得所述第一突出部从所述第一区段的顶部表面突出，且所述第一推按按钮与所述第一推动器接合，使得所述第一横向弹性部件无法推动所述第一推动器，且其中当按压所述第一推按按钮的所述第一突出部时，所述第一推按按钮向下移动，且所述第一横向弹性部件推动所述第一推动器朝向所述凹部移动；第二推动机构，其布置于所述第二区段处，所述第二推动机构包括：第二推按按钮，其中所述第二推按按钮具有在其顶部处的第二突出部；第二垂直弹性部件，其连接到所述第二推按按钮的底部；第二推动器，其与所述第二推按按钮相互配合运作，其中所述第二推动器具有延伸到所述凹部中的第二推动端；和第二横向弹性部件，其连接到所述第二推动器的第二邻接端，其中所述第二邻接端与所述第二推动端相对；其中当没有力施加到所述第二推按按钮时，所述第二垂直弹性部件向上推动所述第二推按按钮，使得所述第二突出部从所述第二区段的顶部表面突出，且所述第二推按按钮与所述第二推动器接合，使得所述第二横向弹性部件无法推动所述第二推动器，且其中当按压所述第二推按按钮的所述第二突出部时，所述第二推按按钮向下移动，且所述第二横向弹性部件推动所述第二推动器朝向所述凹部移动。...

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片的测试插座，其包括：凹部，其用于放置所述芯片，所述凹部被第一区段、第二区段、第三区段和第四区段包围，其中所述第一区段连接到所述第二区段和所述第四区段，且其中所述第三区段连接到所述第二区段和所述第四区段；第一推动机构，其布置于所述第一区段处，所述第一推动机构包括：第一推按按钮，其中所述第一推按按钮具有在其顶部处的第一突出部；第一垂直弹性部件，其连接到所述第一推按按钮的底部；第一推动器，其与所述第一推按按钮相互配合运作，其中所述第一推动器具有延伸到所述凹部中的第一推动端；和第一横向弹性部件，其连接到所述第一推动器的第一邻接端，其中所述第一邻接端与所述第一推动端相对；其中当没有力施加到所述第一推按按钮时，所述第一垂直弹性部件向上推动所述第一推按按钮，使得所述第一突出部从所述第一区段的顶部表面突出，且所述第一推按按钮与所述第一推动器接合，使得所述第一横向弹性部件无法推动所述第一推动器，且其中当按压所述第一推按按钮的所述第一突出部时，所述第一推按按钮向下移动，且所述第一横向弹性部件推动所述第一推动器朝向所述凹部移动；第二推动机构，其布置于所述第二区段处，所述第二推动机构包括：第二推按按钮，其中所述第二推按按钮具有在其顶部处的第二突出部；第二垂直弹性部件，其连接到所述第二推按按钮的底部；第二推动器，其与所述第二推按按钮相互配合运作，其中所述第二推动器具有延伸到所述凹部中的第二推动端；和第二横向弹性部件，其连接到所述第二推动器的第二邻接端，其中所述第二邻接端与所述第二推动端相对；其中当没有力施加到所述第二推按按钮时，所述第二垂直弹性部件向上推动所述第二推按按钮，使得所述第二突出部从所述第二区段的顶部表面突出，且所述第二推按按钮与所述第二推动器接合，使得所述第二横向弹性部件无法推动所述第二推动器，且其中当按压所述第二推按按钮的所述第二突出部时，所述第二推按按钮向下移动，且所述第二横向弹性部件推动所述第二推动器朝向所述凹部移动。2.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述第一推动器推动所述芯片在X轴方向上移动，且所述第二推动器推动所述芯片在Y轴方向上移动。3.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述第一推按按钮和所述第一推动器分别具有邻靠着彼此的第一楔形表面。4.根据权利要求1所述的测试插座，...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈裕欣，高合助，
申请(专利权)人：环旭电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31