一种平面度检测装置以及方法制造方法及图纸

技术编号:19238842 阅读:45 留言:0更新日期:2018-10-24 02:59
本发明专利技术公开了一种平面度检测装置,包括检测PCB板、排线、采集卡和AD转换模块,所述检测PCB板上设置有多个光耦合器,且多个光耦合器沿待测工件周壁对应的位置排布;所述采集卡通过所述排线与所述检测PCB板连接;所述AD转换模块与所述采集卡信号连接。本发明专利技术还公开了一种采用所述的平面度检测装置进行平面度检测的方法,包括以下步骤:S1、在检测PCB板上设置多个光耦合器,并使多个光耦合器围成的形状与待测工件周壁的形状一致;S2、将工件放置在光耦合器上,使所有光耦合器通电,并用采集卡采集各个光耦合器测得的电压值;S3、将各个电压值传输至AD转换模块,AD转换模块将采集卡收集到的电压值计算转换为可直接显示工件平面度的测量数值。

Flatness detection device and method

The invention discloses a flatness detection device, which comprises a detection PCB board, a wiring, a collection card and an AD conversion module. The detection PCB board is provided with a plurality of optical couplers, and the plurality of optical couplers are arranged along the position corresponding to the perimeter wall of the workpiece to be measured; the collection card is connected with the detection PCB board through the wiring; and the AD rotates. The exchange module is connected with the acquisition card signal. The invention also discloses a flatness detection method using the flatness detection device, which comprises the following steps: S1, setting a plurality of optical couplers on the detection PCB board, and making the shape of the plurality of optical couplers coincide with the shape of the perimeter of the workpiece to be measured; S2, placing the workpiece on the optical coupler to make all the light. Coupler power, and use the acquisition card to collect the voltage values measured by each optical coupler; S3, the voltage values will be transmitted to the AD conversion module, the AD conversion module will collect the voltage values collected by the acquisition card can be converted to directly display the measured values of workpiece flatness.

【技术实现步骤摘要】
一种平面度检测装置以及方法
本专利技术涉及平面度检测
,尤其涉及一种平面度检测装置以及方法。
技术介绍
在移动电话、平板电脑、个人数字助理及MP4等电子装置的生产中,通常需要生产多个框架式或片状的小型工件,这些工件包括多个周壁,在生产时需要检测各个周壁的平面度。现有的测量方法一般是将工件的多个周壁的端面放置于检测平台上,由操作员使用塞规对工件的各个周壁的端面与检测平台之间的间隙进行量测,并判断是否达到检测要求。然而,待测量的大部分工件尺寸较小,工件周壁端面与检测平台之间的间隙较小,人工检测非常不易且容易产生误差,需要反复测量,耗费较多的人力和时间,不利于提高生产效率。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是:提供一种平面度检测装置以及采用该平面度检测装置进行平面度检测的方法,不仅结构简单,成本较低,而且测量精度高,测量速度快。为了解决上述技术问题,本专利技术采用的技术方案一为:一种平面度检测装置,包括检测PCB板、排线、采集卡和AD转换模块,所述检测PCB板上设置有多个光耦合器,且多个光耦合器沿待测工件周壁对应的位置排布;所述采集卡通过所述排线与所述检测PCB板连接;所述AD转换模块与所述采集卡信号连接。为了解决上述技术问题,本专利技术采用的技术方案二为:一种采用技术方案一所述的平面度检测装置进行平面度检测的方法,包括以下步骤:S1、在检测PCB板上设置多个光耦合器,并使多个光耦合器围成的形状与待测工件周壁的形状一致;S2、将工件放置在光耦合器上,使所有光耦合器通电,并用采集卡采集各个光耦合器测得的电压值;S3、将各个电压值传输至AD转换模块,AD转换模块将采集卡收集到的电压值计算转换为可直接显示工件平面度的测量数值。本专利技术的有益效果在于:本专利技术的平面度测试装置,结构简单,无需特殊无件,成本较低;使用该平面度检测装置的进行平面度检测的方法测量效率高,对测量人员没有技术要求,测量精度高。附图说明图1为本专利技术实施例的平面度检测装置的整体结构示意图;图2为本专利技术实施例的检测PCB板的结构示意图;标号说明:1、检测PCB板;11、光耦合器;2、PLC控制器;3、控制箱;31、采集卡;32、触发继电器;33、输出继电器;4、AD转换模块;5、治具板;6、气缸。具体实施方式为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图予以说明。本专利技术最关键的构思在于:在检测PCB板上设置多个光耦合器,且多个光耦合器沿待测元件的周壁排布;设置采集卡与检测PCB板相连,可采集各个光耦合器的模拟信号,设置AD转换模块与采集卡相连,可将模拟信号转换为显示平面度的数值信号。请参照图1以及图2,一种平面度检测装置,包括检测PCB板、排线、采集卡和AD转换模块,所述检测PCB板上设置有多个光耦合器,且多个光耦合器沿待测工件周壁对应的位置排布;所述采集卡通过所述排线与所述检测PCB板连接;所述AD转换模块与所述采集卡信号连接。工作原理:将待测工件放置在光耦合器上,工件的待测面与周边的各个光耦合器接触,各个光耦合器会根据待测面与光耦合器之间透光量的多少转换成相应的电压值,采集卡采集到这些模拟的电压值后,将这些模拟信号传输至AD转换模块,AD转换模块将模拟信号转算为可直接显示平面度的数值信号。从上述描述可知,本专利技术的有益效果在于:本专利技术的平面度测试装置,结构简单,无需特殊无件,成本较低;测量效率高,对测量人员没有技术要求,测量精度高,而且可直接地得到测量数据,不需要人工进行记录和计算。进一步的,所述光耦合器包括二极管端和三极管端,所述光耦合器的三极管端靠近所述检测PCB板的外侧设置,所述光耦合器的二极管端靠近所述检测PCB板的内侧设置。由上述描述可知,所述三极管端为光子接收端,将光耦合器的接收端置于光耦排布的外侧,使光耦的检测状态相近,以提高检测精度。进一步的,还包括PLC控制器和触发继电器,所述触发继电器连接于所述PLC控制器和所述采集卡之间。由上述描述可知,可直接设置PLC控制程序,通过触发继电器自动控制采集卡实时采集模拟信号。进一步的,还包括用于移除不良品的气缸和输出继电器,所述气缸设置于所述检测PCB板的侧边;所述输出继电器连接于所述PLC控制器和气缸之间,所述PLC控制器与所述AD转换模块通讯连接。由上述描述可知,所述PLC控制器会根据AD转换模块的计算结果发出相应的控制信号,当AD转换模块计算出的数值信号符合要求时,PLC控制器输出OK信号,气缸保持不动;当AD转换模块计算出的数值信号不符合要求时,PLC控制器输出NG信号,气缸的活塞杆伸出,将检测PCB上的工件顶出至不良品区。进一步的,所述采集卡包括多个采集端口,所述多个采集端口与所述多个光耦合器一一对应连接。由上述描述可知,多个光耦合器的电压值被多个采集端口分别采集,后面再通过AD转换模块单独进行计算,检测人员可根据AD转换模块测得的数值直接地判断出工件各个位置对应的平面度。进一步的,还包括两个以上的用于校验检测精度的标准块,所述标准块与待测工件的外形相同。由上述描述可知,在检测工件之前,可先用标准块对该检测装置整体进行检测和标定,以保证工件检测时的精确度。进一步的,还包括存储装置和显示装置,所述存储装置和显示装置均连接于所述计算装置。由上述描述可知,所述存储装置可将所测过的工件的相关数值进行记录和保存,以便检测人员对一批工件进行比对和分析;所述显示装置可直接将测得的结果进行屏幕显示,以便检测人员进行实时监控。一种采用上述的平面度检测装置进行平面度检测的方法,包括以下步骤:S1、在检测PCB板上设置多个光耦合器,并使多个光耦合器围成的形状与待测工件周壁的形状一致;S2、将工件放置在光耦合器上,使所有光耦合器通电,并用采集卡采集各个光耦合器测得的电压值;S3、将各个电压值传输至AD转换模块,AD转换模块将采集卡收集到的电压值计算转换为可直接显示工件平面度的测量数值。由上述描述可知,该检测方法对检测人员的技术要求较低,检测精度高,且检测速度快,有利于提高生产效率。进一步的,在步骤S1之前还包括步骤S0:将三个标准块分别放置到光耦合器上,分别用采集卡采集光耦合器的电压值,并用AD转换模块计算各个标准块的测量数值,同时AD转换模块将三个测量数值分别进行标定,然后取其中一个标准块再次放置于光耦合器上进行测量,看得到的测量数值是否与之前标定的数值一致,若不一致,则对AD转换模块或光耦合器进行调整,然后重复上述步骤;若一致,则进行下一步。由上述描述可知,在测量工件之前,用标准块对检测装置整体进行校验,看该检测装置的灵敏度和精确度如何,在保证检测装置的灵敏度和精确度的前提下在进行工件的测量,保证工件测量的准确性。进一步的,还包括步骤S4:将得到的测量数值与预先设定的数值范围进行对比,若得到的测量数值落在预先设定的数值范围内,则将该工件放入合格品区;若得到的测量数值超出预先设定的数值范围,则将该工件放入不良品区。实施例一请参照图1和图2,本专利技术的实施例一为:一种平面度检测装置,用于检测待测工件周壁的平面度。该平面度检测装置包括控制箱3、排线、检测PCB板1、多个光耦合器11、治具板5和电脑。所述治具板5固定于一机台上,所述检测PCB板1固定于所述治具板5上,所述多个光耦本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种平面度检测装置,其特征在于,包括检测PCB板、排线、采集卡和AD转换模块,所述检测PCB板上设置有多个光耦合器,且多个光耦合器沿待测工件周壁对应的位置排布;所述采集卡通过所述排线与所述检测PCB板连接;所述AD转换模块与所述采集卡信号连接。

【技术特征摘要】
1.一种平面度检测装置,其特征在于,包括检测PCB板、排线、采集卡和AD转换模块,所述检测PCB板上设置有多个光耦合器,且多个光耦合器沿待测工件周壁对应的位置排布;所述采集卡通过所述排线与所述检测PCB板连接;所述AD转换模块与所述采集卡信号连接。2.如权利要求1所述的平面度检测装置,其特征在于,所述光耦合器包括二极管端和三极管端,所述光耦合器的三极管端靠近所述检测PCB板的外侧设置,所述光耦合器的二极管端靠近所述检测PCB板的内侧设置。3.如权利要求1所述的平面度检测装置,其特征在于,还包括PLC控制器和触发继电器,所述触发继电器连接于所述PLC控制器和所述采集卡之间。4.如权利要求3所述的平面度检测装置,其特征在于,还包括用于移除不良品的气缸和输出继电器,所述气缸设置于所述检测PCB板的侧边;所述输出继电器连接于所述PLC控制器和气缸之间,所述PLC控制器与所述AD转换模块通讯连接。5.如权利要求1所述的平面度检测装置,其特征在于,所述采集卡包括多个采集端口,所述多个采集端口与所述多个光耦合器一一对应连接。6.如权利要求1所述的平面度检测装置,其特征在于,还包括两个以上的用于校验检测精度的标准块,所述标准块与待测工件的外形相同。7.如权利要求1所述的平面度检测装置,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:周强杨宾伟
申请(专利权)人:深圳市信维通信股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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