光学模组像素缺陷检测方法、装置及设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光学模组像素缺陷检测方法、装置及设备，其中，方法包括：对测试二值图在暗室环境下经光学模组所成的像进行灰度化，以得到第一灰度图；从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域；从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，作为像素缺陷点；根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷。本发明专利技术提供的技术方案，能够准确地检测出光学模组的像素缺陷，有利于优化光学模组的加工工艺。

【技术实现步骤摘要】
光学模组像素缺陷检测方法、装置及设备
本专利技术涉及装配
，尤其涉及一种光学模组像素缺陷检测方法、装置及设备。
技术介绍
现如今，市场上存在越来越多的具备独立功能的光学模组，以满足多样化的市场需求。这些光学模组可以嵌入到其他设备中发挥其功能，例如摄像头模组、投影模组、LED(LightEmittingDiode，发光二极管)光学模组以及VR(VirtualReality，虚拟现实)/AR(AugmentedReality，增强现实)光学模组等。但是，由于生产工艺的限制，一些光学模组中可能存在不能正常工作的像素点，这些不能正常工作的像素点被称为像素缺陷。为了进一步优化光学模组的性能，需要对光学模组中的像素缺陷的面积大小进行控制。在这种需求下，一种检测像素缺陷的方法亟待提出。
技术实现思路
本专利技术的多个方面提供一种光学模组像素缺陷检测方法、装置及设备，用以对光学模组的像素缺陷点进行检测。本专利技术提供一种光学模组像素缺陷检测方法，包括：对测试二值图在暗室环境下经光学模组所成的像进行灰度化，以得到第一灰度图；从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域；从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，作为像素缺陷点；根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷。进一步可选地，根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷，包括：定位所述像素缺陷点组成的像素缺陷区域的轮廓；根据所述像素缺陷区域的轮廓，计算所述像素缺陷区域的面积以及质心坐标；根据所述像素缺陷区域的面积以及质心坐标，在所述光学模组的显示屏幕上确定所述光学模组的像素缺陷。进一步可选地，从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域，包括：逐行分析所述第一灰度图的灰度分布；基于所述灰度分布，确定灰度变化大于设定的灰度对比度的像素点，作为边界像素点；根据所述边界像素点，将所述第一灰度图划分为所述第一灰度区域和所述第二灰度区域。进一步可选地，所述测试二值图包含：灰度等级为1的白色图样以及灰度等级为0的黑色图样；所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域分别为所述测试二值图中的白色图样以及黑色图样在所述第一灰度图上对应的图像区域。进一步可选地，从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，包括：从所述第一灰度区域中，确定灰度值小于第一设定阈值的像素点，作为与所述第一灰度区域的灰度特征不匹配的像素点；以及，从所述第二灰度区域中，确定灰度值大于第二设定阈值的像素点，作为与所述第二灰度区域的灰度特征不匹配的像素点。进一步可选地，所述测试二值图包括：第一测试二值图以第二测试二值图；其中，在所述第一测试二值图中，所述白色图样为位于所述第一测试二值图中央的白色矩形，所述黑色图样为包裹在所述白色矩形周围的黑色矩形框；在所述第二测试二值图中，所述黑色图样为位于所述第二测试二值图样中央的黑色矩形，所述白色图样为包裹在所述黑色矩形周围的白色矩形框。进一步可选地，白色矩形在所述第一测试二值图中的占比，与黑色矩形在所述第二测试二值图中的占比不相等。本专利技术还提供一种光学模组像素缺陷检测装置，包括：图像采集模块，用于对测试二值图在暗室环境下经光学模组所成的像进行灰度化，以得到第一灰度图；灰度区域划分模块，用于从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域；像素缺陷点检测模块，用于从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，作为像素缺陷点；像素缺陷确定模块，用于根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷。进一步可选地，所述像素缺陷确定模块，具体用于：定位所述像素缺陷点组成的像素缺陷区域的轮廓；根据所述像素缺陷区域的轮廓，计算所述像素缺陷区域的面积以及质心坐标；根据所述像素缺陷区域的面积以及质心坐标，在所述光学模组的显示屏幕上确定所述光学模组的像素缺陷。本专利技术还提供一种电子设备，包括：存储器以及处理器；其中，存储器用于存储至少一条计算机指令；所述处理器与所述存储器耦合，以用于执行本专利技术提供的光学模组像素缺陷检测方法。在本专利技术中，采用二值图作为测试图像使光学模组成像，并对光学模组的成像结果进行灰度分析，确定光学模组所成的像中非正常的像素点。基于像中非正常的像素点，可确定光学模组中的像素缺陷。在这样的技术方案中，有效地对光学模组的像素缺陷进行了检测，有利于光学模组加工工艺的优化。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是本专利技术一实施例提供的光学模组像素缺陷检测方法的方法流程图；图2a是本专利技术另一实施例提供的光学模组像素缺陷检测方法的方法流程图；图2b是本专利技术一实施例提供的应用场景示意图；图2c是本专利技术另一实施例提供的应用场景示意图；图2d是本专利技术一实施例提供的第一测试二值图的一示意图；图2e是本专利技术一实施例提供的第二测试二值图的一示意图；图3是本专利技术一实施例提供的光学模组像素缺陷检测装置的结构示意图；图4是本专利技术一实施例提供的电子设备的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术具体实施例及相应的附图对本专利技术技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例的核心在于，对光学模组所成的像进行拍摄，根据该像的像素特征来确定光学模组的像素特征。其中，光学模组的像素，是光学模组中的显示屏上的最小显示单元，其尺寸由显示屏的硬件结构决定。采集到的光学模组所成的像的像素，指的是采集到的像上的最小分辨率单元，其尺寸由对光学模组所成的像进行采集的图样采集器的分辨率决定。本实施例中，为了对上述两种涉及到的像素做区分，以像素点来描述采集到的像上的像素。以像素单元来描述光学模组的像素，后续不再解释。图1是本专利技术一实施例提供一种光学模组像素缺陷检测方法的方法流程图，如图1所示，该方法包括：步骤101、对测试二值图在暗室环境下经光学模组所成的像进行灰度化，以得到第一灰度图。步骤102、从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域。步骤103、从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，作为像素缺陷点。步骤104、根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷。本实施例中，在暗室环境下使光学模组成像，能够避免环境光对光学模组的成像效果造成干扰，提升像素缺陷检测结果的准确性和可靠性。当光学模组成像时，存在像素缺陷的光学模组的显示屏上存在处于非工作状态的部分像素单元，这部分像素单元不能发出图像光。进而导致光学模组所成的像中，与显示屏上的像素缺陷对应的像素点的亮度与其理论上对应的亮度不同。为获取这种亮度差异，本实施例中采用亮度较为单一的二值图作本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学模组像素缺陷检测方法，其特征在于，包括：对测试二值图在暗室环境下经光学模组所成的像进行灰度化，以得到第一灰度图；从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域；从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，作为像素缺陷点；根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷。

【技术特征摘要】
1.一种光学模组像素缺陷检测方法，其特征在于，包括：对测试二值图在暗室环境下经光学模组所成的像进行灰度化，以得到第一灰度图；从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域；从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，作为像素缺陷点；根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述像素缺陷点，确定所述光学模组的像素缺陷，包括：定位所述像素缺陷点组成的像素缺陷区域的轮廓；根据所述像素缺陷区域的轮廓，计算所述像素缺陷区域的面积以及质心坐标；根据所述像素缺陷区域的面积以及质心坐标，在所述光学模组的显示屏幕上确定所述光学模组的像素缺陷。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述第一灰度图中，确定与所述测试二值图中的两个灰度等级对应的第一灰度区域以及第二灰度区域，包括：逐行分析所述第一灰度图的灰度分布；基于所述灰度分布，确定灰度变化大于设定的灰度对比度的像素点，作为边界像素点；根据所述边界像素点，将所述第一灰度图划分为所述第一灰度区域和所述第二灰度区域。4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述测试二值图包含：灰度等级为1的白色图样以及灰度等级为0的黑色图样；所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域分别为所述测试二值图中的白色图样以及黑色图样在所述第一灰度图上对应的图像区域。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，从所述第一灰度区域以及所述第二灰度区域中，分别确定与各自灰度区域的灰度特征不匹配的像素点，包括：从所述第一灰度区域中，确定灰度值小于第一设定阈值的像素点，作为与所述第一灰度区域的灰度特征不匹配的像素点；以及，从所...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩欣欣，赵志勇，董南京，孙德波，
申请(专利权)人：歌尔股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37