一种ESD测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及显示技术领域，所述的ESD测试装置包括测试治具本体，所述测试治具本体上设有若干测试位，所述测试位与电性连接组件电连接，所述电性连接组件用于与所述IC引脚电连接。当需要对邦定在屏体上的IC引脚进行ESD检测时，只需要对测试治具本体上的测试位进行检测即可实现对IC引脚的ESD检测，避免了传统的通过静电枪打击屏体FPC连接器，由于静电枪枪头较大而导致的FPC多个引脚同时被打击，影响IC引脚检测的问题。本发明专利技术提供的ESD测试装置可有效对邦定在屏体上的IC引脚进行ESD检测，并且可靠性高，使用较为方便，结构也较为简单。

【技术实现步骤摘要】
一种ESD测试装置
本专利技术涉及显示
，具体涉及一种ESD测试装置。
技术介绍
静电放电(Electro-Staticdischarge，ESD)是指当两个带不同静电电位的物件相互接近到某程度或接触时，静电从一个物件突然流放到另一物件上的现象。静电的产生在工业生产中是不可避免的，并且容易造成各种危害，例如引起电子设备的故障或误动作，造成电磁干扰；击穿集成电路和精密的电子元件，或促使元件老化，降低生产成品率等。尤其是在显示
中，由于显示屏基板大多以绝缘的玻璃材质为主，静电消除速度较慢，基板表面容易堆积大量的静电荷，存在较大的安全隐患，势必影响屏体的整体性能。因此，对屏体的抗ESD能力的要求越来越高，即对显示屏上IC的抗ESD可靠性测试要求越来越高。目前，对IC的ESD测试方法主要是直接对IC引脚进行测试，但是该测试方法不适用于与屏体邦定(bonding)后的IC引脚测试。还有一种测试方法是使用静电枪打击屏体FPC连接器，从而进行ICESD测试，但是由于静电枪枪头较大，容易造成FPC连接器上多个引脚被同时打击，不利于对IC每个引脚进行检测。综上，如何对邦定在屏体上的IC进行ESD测试是本领域急需解决的问题。
技术实现思路
为此，本专利技术所要解决的技术问题是如何对邦定在屏体上的IC进行ESD测试。为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案如下：本专利技术提供了一种ESD测试装置，包括测试治具本体，所述测试治具本体上设有若干测试位，所述测试位与电性连接组件电连接，所述电性连接组件用于与所述IC引脚电连接。可选地，所述电性连接组件包括设置在所述测试治具本体的第一内部引线。可选地，所述测试治具本体上还设置有第一预设连接位，所述第一预设连接位与所述电性连接组件电连接；所述第一预设连接位用于与所述IC引脚电连接。可选地，所述电性连接组件还包括转接板，所述转接板与所述第一预设连接位电连接；所述转接板用于与所述IC引脚电连接。可选地，所述转接板上配置有第二预设连接位，所述第二预设连接位与所述第一预设连接位电连接；所述第二预设连接位用于与所述IC引脚电连接。可选地，所述电性连接组件还包括柔性电路板，所述柔性电路板与所述转接板电连接；所述柔性电路板用于与所述IC引脚电连接。可选地，所述第一预设连接位与所述第二预设连接位一一对应设置。可选地，所述第一预设连接位与所述第二预设连接位通过导电连接件电连接。可选地，各个所述测试位间距大于等于5mm。本专利技术的技术方案，具有如下优点：1、本专利技术提供的ESD测试装置，在测试治具本体上设置测试位，再通过电性连接组件将测试位与邦定在屏体上的IC引脚电性连接。当需要对邦定在屏体上的IC引脚进行ESD检测时，只需要对测试治具本体上的测试位进行检测即可实现对IC引脚的ESD检测，无需通过静电枪打击屏体FPC连接器，避免了由于静电枪枪头较大而导致的FPC多个引脚同时被打击，影响IC引脚检测的问题。本专利技术提供的ESD测试装置可有效对邦定在屏体上的IC引脚进行ESD检测，并且可靠性高，使用较为方便，结构也较为简单。2、本专利技术的提供的ESD测试装置，电性连接件包括测试治具本体的第一内部引线，通过治具本体的第一内部引线将测试位电连接至IC引脚，有利于将治具本体上的测试位与邦定在屏体上的IC引脚保持一定的距离，避免检测时，静电枪直接打击到IC引脚上。3、本专利技术提供的ESD测试装置，测试治具本体的第一内部引线一端连接测试位，另一端连接测试治具本体上的第一预设连接位，第一预设连接位同时连接着邦定在屏体上的IC引脚。当静电枪打击测试位时，电信号通过测试治具本体第一内部引线传递到第一预设连接位，经由第一预设连接位传递给IC引脚。由于每个测试位均具有相对应的第一预设连接位，第一预设连接位又具有相对应的IC引脚，因此测试位与IC引脚相互对应，有利于对IC引脚有针对性的进行检测。4、本专利技术提供的ESD测试装置，通过转接板将测试治具本体上的第一预设连接位与邦定在屏体上的IC引脚电性连接，转接板的设置有助于第一预设连接位与IC引脚之间的连接，有利于电信号的传递。5、本专利技术提供的ESD测试装置，测试位间距大于等于5mm，将测试位的间距设置在该范围内，有利于保持每个测试位之间的安全距离，避免静电枪打击单个测试位时对两侧的测试位造成干扰，从而提高该ESD测试装置的准确性和可靠性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术提供的ESD测试装置的结构示意图；附图标记：1-测试治具本体；11-测试位；12-第一预设连接位；21-第一内部引线；22-转接板；221-第二内部引线；222-第二预设连接位；23-导电连接件；24-柔性电路板；3-屏体；31-IC引脚。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。此外，下面所描述的本专利技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。实施例本专利技术实施例提供一种ESD测试装置，如图1所示，包括测试治具本体1，测试治具本体1上设有若干测试位11，测试位11与电性连接组件电连接，电性连接组件用于与邦定在屏体3上的IC引脚31电连接。其中，测试治具本体1为电木材质制成，测试位11为设置在测试治具本体1上的金属ESD打击点。本实施例提供的ESD测试装置，在测试治具本体1上设置测试位11，再通过电性连接组件将测试位11与邦定在屏体3上的IC引脚31电性连接。当需要对邦定在屏体3上的IC引脚31进行ESD检测时，只需要对测试治具本体1上的测试位11进行检测即可实现对IC引脚31的ESD检测，避免了传统的通过静电枪打击屏体3FPC连接器由于静电枪枪头较大而导致的FPC多个引脚同时被打击，从而影响IC引脚31检测的问题。本专利技术提供的ESD测试装置可有效对邦定在屏体3上的IC引脚31进行ESD检测，并本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种ESD测试装置，其特征在于，包括测试治具本体(1)，所述测试治具本体(1)上设有若干测试位(11)，所述测试位(11)与电性连接组件电连接，所述电性连接组件用于与所述IC引脚(31)电连接。

【技术特征摘要】
1.一种ESD测试装置，其特征在于，包括测试治具本体(1)，所述测试治具本体(1)上设有若干测试位(11)，所述测试位(11)与电性连接组件电连接，所述电性连接组件用于与所述IC引脚(31)电连接。2.根据权利要求1所述的ESD测试装置，其特征在于，所述电性连接组件包括设置在所述测试治具本体(1)的第一内部引线(21)。3.根据权利要求2所述的ESD测试装置，其特征在于，所述测试治具本体(1)上还设置有第一预设连接位(12)，所述第一预设连接位(12)与所述电性连接组件电连接；所述第一预设连接位(12)用于与所述IC引脚(31)电连接。4.根据权利要求3所述的ESD测试装置，其特征在于，所述电性连接组件还包括转接板(22)，所述转接板(22)与所述第一预设连接位(12)电连接；所述转接板(22)用于与所述IC引脚(31)电连接。5.根据权利要求4所述的ESD测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁来生，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32