基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置制造方法及图纸

技术编号:19213836 阅读:43 留言:0更新日期:2018-10-20 06:06
本发明专利技术公开了一种基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置,该方法包括:以横向错位吸收光栅布置Talbot‑Lau三维锥束层析成像结构;以上述结构获取X射线穿过物体后的二维强度图像序列;以傅里叶分析法从采集到的二维强度图像中分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种图像序列;利用吸收衬度、差分相位衬度和散射衬度滤波反投影重建算法分别对三种衬度图像序列进行图像重建获得物体三种衬度CT切片图像。本发明专利技术无需对吸收光栅进行步进,以传统基于X射线衰减的CT扫描方法即可获得三种衬度CT切片图像,大幅减小了成像时间,降低了成像剂量,提高了系统成像效率和稳定性。

【技术实现步骤摘要】
基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置
本专利技术涉及X射线计算机层析成像
,尤其涉及一种基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置。
技术介绍
在X射线计算机层析成像(ComputedTomography,简称CT)系统中,X射线源发出X射线,从不同角度穿过被检测物体的某一区域,放置于射线源对面的探测器在相应角度接收。然后,根据各角度射线不同程度的衰减,利用一定的重建算法和计算机进行运算,重建出物体被扫描区域的射线线衰减系数分布映射图像,从而实现由投影重建图像,无损地再现物体在该区域内的介质密度、成分和结构形态等特征。传统基于X射线衰减原理的CT技术仅能获得物体内部结构的吸收衬度图像,对低原子序数材料结构样品难以获得高对比度图像。近年,相位衬度成像技术被提出来提高这些低衰减样品的成像衬度。如,袁清习等,同步辐射硬X射线衍射增强峰位成像CT研究,ChinesePhysicsC,vol.29.No.10,pp:1023-1026,2005,实现了一种衍射增强相衬成像方法;PfeifferF等,Phaseretrievaldifferentialphase-contrastimagingwithlow-brilliancex-raysources,NaturePhysics,vol.2,no.4,pp.258-261,2006,提出了一种基于光栅的差分相衬方法;ZanetteI等,Speckle-basedx-rayphase-contrastimagingusingagratinginterferometer,Physicalreviewletter,vol.112,no.25,2014,提出了一种散斑相衬成像技术。这其中,基于光栅的差分相衬方法能采用普通X光管实现,具有重大工程应用前景,得到了广泛研究。但现有基于光栅的差分相衬方法大都是基于吸收光栅平移步进的传统方法,成像时间长,剂量大,稳定性低,效率不高,制约了其进一步工程应用。目前,尚未发现基于横向错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像装置。
技术实现思路
本专利技术为了克服现有技术的缺陷,提供一种基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置。本专利技术采用的技术方案为:一种基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法,包括如下步骤:步骤1、以基于横向错位光栅的Talbort-Lau三维层析成像结构获取X射线穿过物体后的二维投影图像序列;所述二维投影图像序列是物体沿轴向转动过程中,所属探测器周期性采集X射线穿过物体后的二维投影,且在一个采集周期中采集得到一幅所述物体的二维投影图像;步骤2、对所述二维投影图像序列进行傅里叶变换分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种衬度图像;步骤3、使用吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度滤波反投影重建算法分别对三种衬度二维图像序列进行图像重建,获得所述物体吸收衬度、相位衬度和散射衬度三种CT切片图像。进一步地,所述的横向错位吸收光栅布置Talbot-Lau成像结构,包括:所述Talbot-Lau成像结构光路一共包括六个部分:X射线源、源光栅G0、测试物体、相位光栅G1、吸收光栅G2、探测器;所述Talbot-Lau成像结构光路参数应满足如下公式(1)-(4):kg1=2g2,(2)g0=g2·L/d,(3)s<g2·L/2d,(4)其中,d表示相位光栅G1和吸收光栅G2之间的距离;k=(L+d)/L为放大比,L为源光栅G0与相位光栅G1直接的距离;m表示第m阶分数Talbot距离;g1为相位光栅G1的周期,λ为所用X射线的波长,g2为吸收光栅G2的周期,g0为源光栅G0的周期,s为源光栅中在每个周期下允许X射线透过的宽度;所述横向错位吸收光栅,指的是所述Talbot-Lau成像结构光路中吸收光栅G2,其与探测器探元的相对位置出现横向周期性错位,使得横向多个相邻探测器探元获得的强度信号,能够等效于传统成像方法中一个探测器探元在多个不同位置时获得的强度信号;对于4个横向相邻探测器探元,分别标记为p1、p2、p3、p4,每个探元px(x=1,2,3,4)宽度为w,在横向错位吸收光栅中,对应一段长为w的光栅gpx,每一段光栅gpx的光栅周期为g2,相邻探测器探元对应的光栅存在着距离为f的位置差,如相邻探测器探元p1和p2对应的光栅段gp1与gp2存在着f的位置差,其中f=g2/4,gpx光栅的位置相当于吸收光栅在移动到x时的位置,相邻4个探测器探元对应的各段吸收光栅的位置各不同,相互错开距离f,称之为横向错位光栅,探测器探元px获得的X射线强度信号值是吸收光栅G2移动到位置x时采集到的强度值。进一步地,步骤1还包括:在所述Talbot-Lau成像结构中,当转台未放置物体时,转台沿旋转中心匀速转动360度,且在转动过程中成像区被锥束覆盖,由探测器采集二维投影图像;在所述Talbot-Lau成像结构中,当转台放置物体时,转台沿旋转中心匀速转动360度,且在转动过程中成像区被锥束覆盖,由探测器采集二维投影图像。进一步地,还包括:依据公式(5)-(14)对所述的二维投影图像序列进行图像解析得到三种衬度二维投影图像序列:I1(x,z,θ)=I(x-1,z,θ),(5)I2(x,z,θ)=I(x,z,θ),(6)I3(x,z,θ)=I(x+1,z,θ),(7)I4(x,z,θ)=I(x+2,z,θ),(8)phase(x,z,θ)=φs(x,z,θ)-φr(x,z,θ),(13)其中,x为二维投影图点的横坐标;z为二维投影图点的纵坐标,θ为此二维投影图像所在投影角度;I(x,z,θ)为二维投影图中点(x,z)在投影角度θ的强度值;I1(x,z,θ)、I2(x,z,θ)、I3(x,z,θ)、I4(x,z,θ)分别表示点(x,z)在投影角度θ的4个不同的强度值,模拟传统光栅差分相位衬度图像中点(x,z)在投影角度θ当吸收光栅在4个不同的步进位置时的强度值;M表示一个点(x,z)中不同的强度值的个数,M=4;a0(x,z,θ)为点(x,z)在投影角度θ的4个不同的强度值拟合出的正弦曲线的均值;a1(x,z,θ)为点(x,z)在投影角度θ的4个不同的强度值拟合出的正弦曲线的振幅大小;φ(x,z,θ)为点(x,z)在投影角度θ的4个不同的强度值拟合出的正弦曲线的相位值;表示在投影角度θ不放测试物体时的a0(x,z,θ)值,表示在投影角度θ放置测试物体时的a0(x,z,θ)值;表示在投影角度θ不放测试物体时的a1(x,z,θ)值,表示在投影角度θ放置测试物体时的a1(x,z,θ)值;φr(x,z,θ)表示在投影角度θ不放测试物体时的φ(x,z,θ)值,φs(x,z,θ)表示在投影角度θ放置测试物体时的φ(x,z,θ)值;abs(x,z,θ)为在投影角度θ点(x,z)吸收衬度的值;phase(x,z,θ)为在投影角度θ点(x,z)差分相位衬度的值;dark(x,z,θ)为在投影角度θ点(x,z)散射衬度成像的值。进一步地,使用吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度滤波反投影重建算法分别对三种衬度二维图本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、以基于横向错位光栅的Talbort‑Lau三维层析成像结构获取X射线穿过物体后的二维投影图像序列,所述二维投影图像序列是物体沿轴向转动过程中,探测器周期性采集X射线穿过物体后的二维投影,且在一个采集周期中采集得到一幅所述物体的二维投影图像;步骤2、对所述二维投影图像序列进行傅里叶变换分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种衬度图像;步骤3、使用吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度滤波反投影重建算法分别对三种衬度二维图像序列进行图像重建,获得所述物体吸收衬度、相位衬度和散射衬度三种CT切片图像。

【技术特征摘要】
1.一种基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、以基于横向错位光栅的Talbort-Lau三维层析成像结构获取X射线穿过物体后的二维投影图像序列,所述二维投影图像序列是物体沿轴向转动过程中,探测器周期性采集X射线穿过物体后的二维投影,且在一个采集周期中采集得到一幅所述物体的二维投影图像;步骤2、对所述二维投影图像序列进行傅里叶变换分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种衬度图像;步骤3、使用吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度滤波反投影重建算法分别对三种衬度二维图像序列进行图像重建,获得所述物体吸收衬度、相位衬度和散射衬度三种CT切片图像。2.根据权利要求1所述的基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法,其特征在于,所述的横向错位吸收光栅布置Talbot-Lau成像结构,包括:所述Talbot-Lau成像结构光路一共包括六个部分:X射线源、源光栅G0、测试物体、相位光栅G1、吸收光栅G2、探测器;所述Talbot-Lau成像结构光路参数应满足如下公式(1)-(4):kg1=2g2,(2)g0=g2·L/d,(3)s<g2·L/2d,(4)其中,d表示相位光栅G1和吸收光栅G2之间的距离;k=(L+d)/L为放大比,L为源光栅G0与相位光栅G1直接的距离;m表示第m阶分数Talbot距离;g1为相位光栅G1的周期,λ为所用X射线的波长,g2为吸收光栅G2的周期,g0为源光栅G0的周期,s为源光栅中在每个周期下允许X射线透过的宽度;所述横向错位吸收光栅,指的是所述Talbot-Lau成像结构光路中吸收光栅G2,其与探测器探元的相对位置出现横向周期性错位,使得横向多个相邻探测器探元获得的强度信号,能够等效于传统成像方法中一个探测器探元在多个不同位置时获得的强度信号;对于4个横向相邻探测器探元,分别标记为p1、p2、p3、p4,每个探元px(x=1,2,3,4)宽度为w,在横向错位吸收光栅中,对应一段长为w的光栅gpx,每一段光栅gpx的光栅周期为g2,相邻探测器探元对应的光栅存在着距离为f的位置差,如相邻探测器探元p1和p2对应的光栅段gp1与gp2存在着f的位置差,其中f=g2/4,gpx光栅的位置相当于吸收光栅在移动到x时的位置,相邻4个探测器探元对应的各段吸收光栅的位置各不同,相互错开距离f,称之为横向错位光栅,探测器探元px获得的X射线强度信号值是吸收光栅G2移动到位置x时采集到的强度值。3.根据权利要求1所述的基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法,其特征在于,步骤1还包括:在所述Talbot-Lau成像结构中,当转台未放置物体时,转台沿旋转中心匀速转动360度,且在转动过程中成像区被锥束覆盖,由探测器采集二维投影图像;在所述Talbot-Lau成像结构中,当转台放置物体时,转台沿旋转中心匀速转动360度,且在转动过程中成像区被锥束覆盖,由探测器采集二维投影图像。4.根据权利要求1所述的基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法,其特征在于,以傅里叶分析法从采集到的二维强度图像中分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种图像,包括:依据公式(5)-(14)对所述的二维投影图像序列进行图像解析得到三种衬度二维投影图像序列:I1(x,z,θ)=I(x-1,z,θ),(5)I2(x,z,θ)=I(x,z,θ),(6)I3(x,z,θ)=I(x+1,z,θ),(7)I4(x,z,θ)=I(x+2,z,θ),(8)phase(x,z,θ)=φs(x,z,θ)-φr(x,z,θ),(13)其中,x为二维投影图点的横坐标;z为二维投影图点的纵坐标,θ为此二维投影图像所在投影角度;I(x,z,θ)为二维投影图中点(x,z)在投影角度θ的强度值;I1(x,z,θ)、I2(x,z,θ)、I3(x,z,θ)、I4(x,z,θ)分别表示点(x,z)在投影角度θ的4个不同的强度值,模拟传统光栅差分相位衬度图像中点(x,z)在投影角度θ当吸收光栅在4个不同的步进位置时的强度值;M表示一个点(x,z)中不同的强度值的个数,M=4;a0(x,z,θ)为点(x,z)在投影角度θ的4个不同的强度值拟合出的正弦曲线的均值;a1(x,z,θ)为点(x,z)在投影角度θ的4个不同的强度值拟合出的正弦曲线的振幅大小;φ(x,z,θ)为点(x,z)在投影角度θ的4个不同的强度值拟合出的正弦曲线的相位值;表示在投影角度θ不放测试物体时的a0(x,z,θ)值,表示在投影角度θ放置测试物体时的a0(x,z,θ)值;表示在投影角度θ不放测试物体时的a1(x,z,θ)值,表示在投影角度θ放置测试物体时的a1(x,z,θ)值;φr(x,z,θ)表示在投影角度θ不放测试物体时的φ(x,z,θ)值,φs(x,z,θ)表示在投影角度θ放置测试物体时的φ(x,z,θ)值;abs(x,z,θ)为在投影角度θ点(x,z)吸收衬度的值;phase(x,z,θ)为在投影角度θ点(x,z)差分相位衬度的值;dark(x,z,θ)为在投影角度θ点(x,z)散射衬度成像的值。5.根据权利要求1所述的基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法,其特征在于,使用吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度滤波反投影重建算法分别对三种衬度二维图像序列进行图像重建,获得所述物体吸收衬度、相位衬度和散射衬度三种CT切片图像,包括:依据公式(15)-(17)对所述的二维投影图像序列进行图像解析得到三种衬度二维投影图像序列:其中,a(x,y,z)、p(x,y,z)和d(x,y,z)分别为重建的吸收衬度切片图像、相位衬度切片图像和散射衬度切片图像;abs(s,v,θ)、phase(s,v,θ)和dark(s,v,θ)分别表示投影角θ下的吸收衬度、差分相位衬度和散射衬度二维投影,s,v分别是探测器上像素点与射线源的连线和放置在旋转轴处的虚拟探测器的交点坐标;ξ为射线与中心射线的夹角;D为射线源到虚拟探测器平面的距离;y′为重建图像像素点到虚拟探测器平面的距离;ha(s)、hp(s)和hd(s)分别为吸收衬度、差分相位衬度和散射衬度二维投影的滤波器,其定义为公式(18)-(19):ha(s)=|s...

【专利技术属性】
技术研发人员:傅健胡棪君
申请(专利权)人:北京航空航天大学
类型:发明
国别省市:北京,11

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