【技术实现步骤摘要】
一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法
本专利技术涉及一种使用光学方法快速判断近似均匀的非透明介质中是否存在异质体并确定异质体位置的方法,属于光学无损检测领域。
技术介绍
对近似均匀的非透明被测物体中的异质体进行无创检测是光学无损检测领域的主要研究内容之一,被测物体的光学性质和光学参数可反映其生理病理状态。近年来,基于近红外光的组织成分检测方法因其快速、无创、技术简单等优势得到广泛关注,已经运用于肿瘤检测、脑功能成像和脑血肿检测等多个方面,并逐步进入临床使用。目前,用于异质体检测的方法多为基于多个光源和多个探测器的阵列方式获取含有异质体的被测物体的光强或差分光密度数据,进而反算吸收系数、散射系数和衰减系数来获取近似均匀的被测物体内的光学参数的三维分布,从而确定异质体的大小和位置。没有研究者考虑使用差分光密度差异ΔOD’这一参数,并通过差分光密度差异曲线提取特征参数进而直接得到异质体大小和位置的方法。US656407681公开了一种用计算含有异质体的均匀被测物的差分光密度确定异质体分布的方法。采用单个光源和单个探测器的成像方法,探测器获得含有近似均匀的被测物体的光学信息的差分光密度,判断该均匀介质内是否含有异质体。CN201310198484.0公开了一种用于带异质体的组织光学参数重建的快速蒙特卡罗成像方法。上述成像方法通过多个探测器阵列检测不同扫描位置下的漫反射光强分布,进而计算出异质体的位置及其光学参数。201610204224.3公开了一种光学投影断层成像中的吸收和散射系数重建方法,上述成像方法通过获取成像系统中的传输光强计算被测物体的 ...
【技术保护点】
1.一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法,包括:使用多个检测器对光源经近似均匀的非透明被测物体后的出射光进行检测,在多检测器获得被测物体差分光密度ΔOD的基础上,对差分光密度差异ΔOD’进行计算,并对差分光密度差异曲线的特征参数进行提取,根据所提取的特征参数判定介质中是否存在异质体以及异质体的横向和纵向位置。其特征在于包括以下步骤:第一步:对近似均匀的非透明被测物体进行检测时,采用“一光源‑多探测器”或“多光源‑多探测器”的阵列方式,各个检测器依次排开或交替排开,不限于各个检测器间的距离。第二步:在多个检测器获得被测物体差分光密度ΔOD的基础上,将相邻位置检测器得到的差分光密度ΔOD相减,得到差分光密度差异ΔOD′,表示在该位置时差分光密度的变化趋势,如公式1;ΔOD′=ΔODi+1‑ΔODi,(i=1,2,...,n‑1) (1)第三步:将多探测器得到的差分光密度差异ΔOD′依次连接,得到差分光密度差异曲线;当差分光密度差异曲线为一条恒等于0或平直的直线时,说明被测物体内无异质体。当差分光密度差异曲线不为0或趋势变化明显时,说明被测物体内有异质体;第四步:采用高斯 ...
【技术特征摘要】
1.一种用于检测近似均匀的非透明介质中异质体的快速定位方法,包括:使用多个检测器对光源经近似均匀的非透明被测物体后的出射光进行检测,在多检测器获得被测物体差分光密度ΔOD的基础上,对差分光密度差异ΔOD’进行计算,并对差分光密度差异曲线的特征参数进行提取,根据所提取的特征参数判定介质中是否存在异质体以及异质体的横向和纵向位置。其特征在于包括以下步骤:第一步:对近似均匀的非透明被测物体进行检测时,采用“一光源-多探测器”或“多光源-多探测器”的阵列方式,各个检测器依次排开或交替排开,不限于各个检测器间的距离。第二步:在多个检测器获得被测物体差分光密度ΔOD的基础上,将相邻位置检测器得到的差分光密度ΔOD相减,得到差分光密度差异ΔOD′,表示在该位置时差分光密度的变化趋势,如公式1;ΔOD′=ΔODi+1-ΔODi,(i=1,2,...,n-1)(1)第三步:将多探测器得到的差分光密度差异ΔOD′依次连接,得到差分光密度差异曲线;当差分光密度差异曲线为一条恒等于0或平直的直线时,说明被测物体内无异质体。当差分光密度差异曲线不为0或趋势变化明显时,说明被测物体内有异质体;第四步:采用高斯等曲线拟合的方法,提取差分光密度差异曲线拟合的特征参数来判定被测物体是否含有异质体及其位置,具体参数包括峰值、峰值所在位置和峰宽。通过差分光密度差异曲线的峰值大小,可判定被测物体内的异质体的纵向位置;通过差分光密度差异曲线的峰值所在位置,可判定被测物体内的...
【专利技术属性】
技术研发人员:王慧泉,任丽娜,赵喆,
申请(专利权)人:天津工业大学,
类型:发明
国别省市:天津,12
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