用于检查基板的基准数据生成方法技术

本发明专利技术涉及用于检查基板的基准数据生成方法。所述方法包括：扫描裸基板而获得关于所述裸基板的影像信息的步骤；利用从所述影像信息提取的衬垫坐标信息与预先存储的设计信息上的衬垫坐标信息，生成补偿矩阵的步骤；把所述补偿矩阵应用于所述影像信息而生成包括特征客体的坐标信息的基准数据的步骤。根据所述方法，不生成基板检查时需要的CAD信息，而是迅速地生成基准数据，从而能够使作业效率实现最大化。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于检查基板的基准数据生成方法
本专利技术涉及用于检查基板的基准数据生成方法，更详细而言，涉及一种利用裸基板的影像信息上的衬垫坐标信息与设计信息上的衬垫坐标信息，生成补偿矩阵，将其应用于所述影像信息，生成用于检查基板的基准数据的方法。
技术介绍
一般而言，在电子装置内，具备至少一个印刷电路板(printedcircuitboard；PCB)，在这种印刷电路板上，贴装有电路图案、连接衬垫部、与所述连接衬垫部电气连接的驱动芯片等多样的电路元件。一般而言，为了确认如上所述的多样的电路元件是否在所述印刷电路板上正确形成或配置，使用基板检查装置。一般而言，为了执行基板检查而获得基准数据。所述基准数据可以是关于基板的理论性平面图像。所述基准数据可以从记录了关于所述基板的形状的计算机辅助设计(CAD)信息获得。所述CAD信息包括所述基板的设计基准信息，一般包括衬垫、电路图案、孔图案等相关配置信息。但是，为了生成关于基板的CAD信息，需要相当的处理时间，一旦生成CAD信息时发生错误，则需要重新进行CAD信息生成作业，因此，CAD信息生成拉低了基板检查的作业效率。
技术实现思路
解决的技术问题为了解决所述技术课题，本专利技术的目的在于提供一种用于检查基板的基准数据生成方法，利用关于裸基板的影像信息上的衬垫坐标信息与预先设置的设计信息上的衬垫坐标信息，生成补偿矩阵，把所述补偿矩阵应用于关于所述裸基板的影像信息，生成包括特征客体的坐标信息的基准数据，从而无需CAD信息的生成。本专利技术的目的不限于以上言及的内容，未言及的其它目的是本专利技术所属
的技术人员可以从以下记载而明确理解的。技术方案旨在实现所述课题的本专利技术一种形态的用于检查基板的基准数据生成方法包括：扫描裸基板而获得关于所述裸基板的影像信息的步骤；利用从所述影像信息提取的衬垫坐标信息与预先存储的设计信息上的衬垫坐标信息，生成补偿矩阵的步骤；把所述补偿矩阵应用于所述影像信息而生成包括特征客体的坐标信息的基准数据的步骤。所述生成基准数据的步骤可以包括：从所述影像信息提取特征客体的坐标信息的步骤；把所述补偿矩阵应用于所述提取的特征客体的坐标而生成基准数据的步骤。所述特征客体可以是所述裸基板上的孔图案、圆形图案或弯曲图案的角落部分中至少一种。所述基准数据可以是把所述生成的补偿矩阵应用于所述影像信息而生成的图像信息。所述影像信息可以是关于所述裸基板的二维影像信息。用于执行所述方法的能够在计算机中驱动的程序可以存储于记录介质。专利技术效果根据本专利技术实施例的用于检查基板的基准数据生成方法及利用其的基板检查方法，无需为了基板检查而生成关于印刷电路板的CAD数据，能够生成可以替代所述CAD数据的基准数据，因而能够节约CAD数据生成所需的时间，能够显著提高作业效率性。本专利技术的效果并非限定于以上言及的内容，未言及的其它效果是本专利技术所属
的技术人员可以从以下记载明确理解的。附图说明图1是用于执行本专利技术一个实施例的基板检查时的测量区域补偿方法的基板检查装置的构成图。图2是本专利技术一个实施例的用于检查基板的基准数据生成方法的顺序图。图3是用于说明本专利技术一个实施例的用于检查基板的基准数据生成方法的裸基板的俯视图。具体实施方式如果参照后面的与附图一同详细说明的实施例，本专利技术的目的、效果以及用于达成其的技术构成将会明确。在说明本专利技术方面，在判断认为对公知功能或构成的具体说明可能混淆本专利技术要旨的情况下，省略其详细说明。而且，后面说明的术语作为考虑在本专利技术中的结构、作用及功能等而定义的术语，其会因使用者、运用者的意图或惯例而不同。但是，本专利技术并非限定于以下公开的实施例，可以以互不相同的多样的形态体现。本实施例只提供用于使得本专利技术的公开更完整，向本专利技术所属
的技术人员完整地告知专利技术的范围，本专利技术只根据权利要求书中记载的权利要求项的范畴而定义。因此，其定义应以本说明书通篇内容为基础作出。在通篇说明书中，当说某部分“包括”某构成要素时，只要没有特别反对的记载，这意味着并非排除其它构成要素，可以还包括其它构成要素。下面参照附图，更加详细地说明本专利技术的优选实施例。图1是用于执行本专利技术一个实施例的基板检查时的测量区域补偿方法的基板检查装置的构成图，图2是本专利技术一个实施例的用于检查基板的基准数据生成方法的顺序图，图3是用于说明本专利技术一个实施例的用于检查基板的基准数据生成方法的裸基板的俯视图。参照所述图1，基板检查装置100可以包括：控制部110，其控制基板检查装置100的运转，处理执行各种功能所需的演算；平台部120，其移送及搭载并固定作为检查对象的基板；测量部130，其用于对搭载于所述平台部120的基板执行检查；存储器部140，其存储用于驱动基板检查装置100的程序及数据；显示部150，其用于输出基板检查装置100的运转状态及检查结果等；及用户界面部160，其用于接受输入使用者的命令；等。参照所述图2及图3，首先，通过测量部130扫描裸基板200，获得关于所述裸基板的影像信息(S100)。裸基板200如图3所示，作为涂布铅之前的基板，意味着形成有诸如将实际涂布铅的衬垫区域210和不涂布铅的孔220及丝230的特征客体的基板。所述特征客体可以是在裸基板上形成的孔图案、圆形图案或弯曲图案的角落部分中至少一种。此时，所述影像信息可以是关于所述裸基板200的二维影像信息。然后，控制部110利用从所述影像信息提取的衬垫210的坐标信息与预先存储的设计信息上的衬垫坐标信息，生成补偿矩阵(S110)。此时，所述补偿矩阵可以是仿射变换(affinetransformation)行列或投影变换(projectivetransformation)行列之一。然后，所述控制部110把所述补偿矩阵应用于所述影像信息，生成包括特征客体的坐标信息的基准数据(S120)。此时，基准数据可以以特征客体的坐标信息生成，或以包括特征客体的坐标信息的图像信息生成。例如，可以在所述影像信息中提取特征客体的坐标信息，而后把所述补偿矩阵应用于所述提取的特征客体的坐标，生成基准数据。此时，特征客体的坐标信息生成为基准数据。另一方面，也可以把所述生成的补偿矩阵应用于关于所述裸基板的影像信息，对所述影像信息进行补偿而生成的图像生成为基准数据。替代生成CAD信息，通过所述说明的本专利技术一个实施例的生成包括特征客体的坐标信息的基准数据，从而能够使基板检查时的作业效率性实现最大化。另一方面，可以把根据所述说明的本专利技术一个实施例的用于检查基板的基准数据生成方法而生成的基准数据，在基板检查时使用。在对检查对象基板进行检查时，可以从基板上提取特征客体，利用相应特征客体的坐标信息与所述基准数据上的特征客体的坐标信息，生成补偿矩阵。然后，可以把生成的补偿矩阵应用于预先存储的设计信息上的衬垫的坐标信息，生成将在所述基板上检查的衬垫的坐标信息。可以在所述衬垫的坐标信息上的位置，执行基板检查。所述说明的本专利技术实施例的用于检查基板的基准数据生成方法，可以以能够通过多样的计算机手段执行的程序命令形态体现，记录于计算机可读介质。所述计算机可读介质可以单独或组合地包括程序命令、数据文件、数据结构等。在所述介质中记录的程序命令可以是为了本专利技术而特别设计构成的，也可以是计算机软件技术人员公知并本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检查基板的基准数据生成方法，其中，包括：扫描裸基板而获得关于所述裸基板的影像信息的步骤；利用从所述影像信息提取的衬垫坐标信息与预先存储的设计信息上的衬垫坐标信息，生成补偿矩阵的步骤；从所述影像信息提取特征客体的坐标信息的步骤；把所述补偿矩阵应用于所述影像信息而生成基准数据，并且将所述补偿矩阵应用于从所述影像信息提取的特定客体的坐标信息而生成所述基准数据的步骤。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.09.12 KR 10-2013-01099091.一种用于检查基板的基准数据生成方法，其中，包括：扫描裸基板而获得关于所述裸基板的影像信息的步骤；利用从所述影像信息提取的衬垫坐标信息与预先存储的设计信息上的衬垫坐标信息，生成补偿矩阵的步骤；从所述影像信息提取特征客体的坐标信息的步骤；把所述补偿矩阵应用于所述影像信息而生成基准数据，并且将所述补偿矩阵应用于从所述影像信息提取的特定客体的坐标信息而生成所述基准数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑升源，崔钟镇，柳希昱，
申请(专利权)人：株式会社高永科技，
类型：发明
国别省市：韩国,KR