电路装置、物理量测定装置、电子设备以及移动体制造方法及图纸

技术编号:19185721 阅读:14 留言:0更新日期:2018-10-17 02:06
电路装置、物理量测定装置、电子设备以及移动体,能够降低在逐次比较型的A/D转换电路中码移位对阿伦方差特性造成影响的可能性。电路装置(100)包含:码数据生成电路(110),其生成在时间上变化的码数据(CS);以及逐次比较型的A/D转换电路(120),其进行基于码数据(CS)的码移位,对输入信号(VIN)进行A/D转换。码数据生成电路(110)生成频率特性具有整形特性的误差数据(ERR),并将误差数据(ERR)转换为码数据(CS)。

Circuit device, physical quantity measuring device, electronic device and mobile body

Circuit devices, physical measurement devices, electronic devices, and mobile devices can reduce the possibility of code shifting affecting the Allen variance characteristics in successive comparative A/D conversion circuits. The circuit device (100) includes a code data generation circuit (110), which generates code data (CS) varying in time, and a successive comparative A/D conversion circuit (120) which performs code shift based on code data (CS) and A/D conversion of an input signal (VIN). The code data generation circuit (110) generates error data (ERR) with shaping characteristics of frequency characteristics, and converts the error data (ERR) into code data (CS).

【技术实现步骤摘要】
电路装置、物理量测定装置、电子设备以及移动体
本专利技术涉及电路装置、物理量测定装置、电子设备以及移动体等。
技术介绍
以往,公知有通过逐次比较动作对输入信号的采样信号进行A/D转换的逐次比较型的A/D转换电路。在这样的A/D转换电路中,公知有通过使用在时间上变化的码数据进行码移位,来改善微分非线性(DNL:DifferentialNonLinearity)和积分非线性(INL:IntegralNonLinearity)的方法。例如在专利文献1中公开了一种A/D转换电路,该A/D转换电路包含:比较电路;逐次比较用寄存器,其根据比较结果来更新寄存器值;第1D/A转换电路,其对寄存器值进行D/A转换;码数据生成电路,其生成在时间上变化的码数据;以及第2D/A转换电路,其对码数据进行D/A转换。专利文献1:日本特开2010-263399号公报在上述那样的A/D转换电路中,在对码数据进行D/A转换的D/A转换电路存在非线性的情况下,由该非线性导致的误差可能会进入到A/D转换数据中。码数据例如通过线性反馈移位寄存器(LFSR:LinearFeedbackShiftRegister)等生成,因此,由于该线性反馈移位寄存器的码循环一次的周期而使码数据产生周期性。于是,由于码数据的周期性而使A/D转换数据的误差产生周期性,可能成为特性频率的噪声成分。该特性频率的噪声成分可能对A/D转换电路的阿伦方差特性(例如比较长的τ的特性)造成影响。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述的课题的至少一部分而完成的,能够作为以下的方式或者形态而实现。本专利技术的一个方式涉及一种电路装置,其包含:码数据生成电路,其生成在时间上变化的码数据;以及逐次比较型的A/D转换电路,其进行基于所述码数据的码移位,对输入信号进行A/D转换,所述码数据生成电路生成频率特性具有整形特性的误差数据,并将所述误差数据转换为所述码数据。根据本专利技术的一个方式,生成频率特性具有整形特性的误差数据,将该误差数据转换为码数据,进行基于该码数据的码移位,对输入信号进行A/D转换。由此,能够使由码移位导致的A/D转换数据的误差成为与误差数据对应的误差,能够使A/D转换数据的误差具有整形特性。由于由码移位导致的A/D转换数据的误差具有整形特性,因此,在逐次比较型的A/D转换电路中,能够降低码移位对阿伦方差特性造成影响的可能性。此外,在本专利技术的一个方式中,可以是,所述码数据生成电路通过将所述码数据转换为所述误差数据的函数的反函数,将所述误差数据转换为所述码数据。这样,通过适当设定将码数据转换为误差数据的函数,能够使A/D转换数据的误差的频率特性与误差数据的频率特性相同(大致相同)。由此,能够对A/D转换数据的误差赋予整形特性。此外,在本专利技术的一个方式中,可以是,所述A/D转换电路具有对所述码数据进行D/A转换的码数据用D/A转换电路,所述函数是基于所述码数据用D/A转换电路的转换特性的函数。将码数据转换为误差数据的函数的反函数是将误差数据转换为码数据的函数。通过根据码数据用D/A转换电路的转换特性来设定将该码数据转换为误差数据的函数,能够使系统的误差传递函数大致为1(或者常数)。由此,由码移位导致的A/D转换数据的误差具有与误差数据相同(大致相同)的频率特性。此外,在本专利技术的一个方式中,可以是,当设所述码数据为CS,与所述码数据的范围对应的规定值为CM、CA,所述误差数据为ERR,所述函数为f时,满足当CS>0时,ERR=f(CS)=(CM-CS)/CA当CS=0时,ERR=f(CS)=0当CS<0时,ERR=f(CS)=-(CM+CS)/CA。通过采用这样的函数f,能够设定与估计为码数据用D/A转换电路所具有的非线性对应的函数f。即,能够将基于码数据用D/A转换电路的转换特性的函数设定为函数f。此外,在本专利技术的一个方式中,可以是,所述码数据生成电路包含:数据生成电路;调制电路,其对来自所述数据生成电路的生成数据进行调制而生成所述误差数据;以及转换电路,其将所述误差数据转换为所述码数据。这样,由于码数据生成电路包含调制电路,因此,能够生成频率特性具有整形特性的误差数据。此外,由于码数据生成电路包含转换电路,因此,能够将误差数据转换为码数据。此外,在本专利技术的一个方式中,可以是,所述调制电路对所述生成数据进行n次(n是1以上的整数)的ΔΣ调制而生成所述误差数据。这样,通过对生成数据进行n次ΔΣ调制,能够生成具有整形特性的误差数据。而且,通过该误差数据的整形特性,能够对由码移位导致的A/D转换数据的误差赋予整形特性。此外,在本专利技术的一个方式中,可以是,所述数据生成电路生成伪随机数数据作为所述生成数据。这样,通过对伪随机数数据进行调制而生成码数据。由于使用伪随机数数据,因此,能够降低码数据的周期性,但可能由于数据生成电路的动作周期而在码数据中残留有周期性。在本实施方式中,通过对伪随机数数据进行调制,能够降低码数据的周期性对A/D转换数据的阿伦方差特性造成的影响。此外,在本专利技术的一个方式中,可以是,所述数据生成电路根据所述伪随机数数据和第2随机数数据输出所述生成数据。这样,能够生成随机性更高的生成数据。例如,在生成数据的各码的出现频率不均匀的情况下,能够使该出现频率更均匀。此外,在本专利技术的一个方式中,可以是,所述A/D转换电路包含:比较电路;控制电路,其具有逐次比较寄存器,输出逐次比较用数据,该逐次比较寄存器的寄存器值是根据来自所述比较电路的比较结果信号而设定的,逐次比较用数据用D/A转换电路,其对来自所述控制电路的所述逐次比较用数据进行D/A转换,输出与所述逐次比较用数据对应的D/A输出信号;以及码数据用D/A转换电路,其对所述码数据进行D/A转换,输出与所述码数据对应的码信号,所述比较电路进行比较所述输入信号的采样信号和所述码信号相加而得的信号与所述D/A输出信号的处理,或者进行比较所述D/A输出信号和所述码信号相加而得的信号与所述采样信号的处理,所述控制电路将根据所述逐次比较寄存器的逐次比较结果数据和所述码数据而求出的输出数据作为所述输入信号的A/D转换数据而输出。在逐次比较用数据用D/A转换电路具有非线性的情况下,该非线性可能成为使A/D转换特性产生非线性的原因。根据本专利技术的一个方式,通过使用在时间上变化的码数据,能够使相对于输入信号的逐次比较结果数据发生变化。由此,非线性在时间上分散,能够改善以时间平均的方式观察到的A/D转换电路的特性。例如,能够使产生遗漏码的码在时间上分散。此外,在本专利技术的一个方式中,可以是,包含:驱动电路,其驱动物理量换能器;以及检测电路,其接受来自所述物理量换能器的检测信号,并检测与物理量对应的物理量信号,所述检测电路具有对基于所述检测信号的所述输入信号进行A/D转换的所述A/D转换电路。这样,能够进行基于码数据的码移位,对基于检测信号的输入信号进行A/D转换,所述码数据是根据具有整形特性的误差数据而生成的。由此,能够通过改善了阿伦方差特性之后的A/D转换电路来检测物理量信号,能够高精度地检测物理量。此外,本专利技术的其他方式涉及包含上述电路装置和所述物理量换能器在内的物理量测定装置。此外,本专利技术另一其他方式涉及包含上述任意一项所述的电路装置在内的电子设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路装置,其特征在于,包含:码数据生成电路,其生成在时间上变化的码数据;以及逐次比较型的A/D转换电路,其进行基于所述码数据的码移位,对输入信号进行A/D转换,所述码数据生成电路生成频率特性具有整形特性的误差数据,并将所述误差数据转换为所述码数据。

【技术特征摘要】
2017.03.28 JP 2017-0620561.一种电路装置,其特征在于,包含:码数据生成电路,其生成在时间上变化的码数据;以及逐次比较型的A/D转换电路,其进行基于所述码数据的码移位,对输入信号进行A/D转换,所述码数据生成电路生成频率特性具有整形特性的误差数据,并将所述误差数据转换为所述码数据。2.根据权利要求1所述的电路装置,其特征在于,所述码数据生成电路通过将所述码数据转换为所述误差数据的函数的反函数,将所述误差数据转换为所述码数据。3.根据权利要求2所述的电路装置,其特征在于,所述A/D转换电路具有对所述码数据进行D/A转换的码数据用D/A转换电路,所述函数是基于所述码数据用D/A转换电路的转换特性的函数。4.根据权利要求2或3所述的电路装置,其特征在于,当设所述码数据为CS,与所述码数据的范围对应的规定值为CM、CA,所述误差数据为ERR,所述函数为f时,满足当CS>0时,ERR=f(CS)=(CM-CS)/CA当CS=0时,ERR=f(CS)=0当CS<0时,ERR=f(CS)=-(CM+CS)/CA。5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的电路装置,其特征在于,所述码数据生成电路包含:数据生成电路;调制电路,其对来自所述数据生成电路的生成数据进行调制而生成所述误差数据;以及转换电路,其将所述误差数据转换为所述码数据。6.根据权利要求5所述的电路装置,其特征在于,所述调制电路对所述生成数据进行n次ΔΣ调制而生成所述误差数据,n是1以上的整数。7.根据权利要求5或6所述的电路装置,其特征在于,所述数据生成电路生成伪随机数数...

【专利技术属性】
技术研发人员:羽田秀生田中敦嗣
申请(专利权)人:精工爱普生株式会社
类型:发明
国别省市:日本,JP

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