单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备技术方案

本发明专利技术公开了一种单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备，该方法包括：当对单片机的参数进行保存时，将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内；当对单片机的参数进行读取时，根据预设校验规则依次对第一区域和第二区域内存储的参数信息进行校验；当第一区域和第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时，读取使用校验成功的区域内存储的参数信息，并将其写入至校验失败的区域内，以替换校验失败的区域内存储的参数信息。本发明专利技术提供的单片机参数处理方法解决了现有的单片机参数写入读取时准确性不高的问题。

Singlechip parameter processing method, system, readable storage medium and terminal equipment

The invention discloses a single-chip microcomputer parameter processing method, a system, a readable storage medium and a terminal device. The method comprises: when the parameters of the single-chip microcomputer are saved, the parameters information to be saved is written into the first region and the second region in turn; when the parameters of the single-chip microcomputer are read, the parameters of the single-chip microcomputer are written in accordance with the preset calibration rules. The parameter information stored in the first region and the second region is checked in turn; when the parameter information stored in the first region and one of the second regions fails to check, the parameter information stored in the region using the checking success is read and written into the region where the checking fails to replace the checking loss. The parameter information stored in the failed area. The single-chip microcomputer parameter processing method provided by the invention solves the problem of low accuracy when the existing single-chip microcomputer parameters are written and read.

【技术实现步骤摘要】
单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备
本专利技术涉及电子
，特别是涉及一种单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备。
技术介绍
随着电子技术的发展和生活水平的提高，越来越多电子产品受到消费者的普及使用，为满足各式各样的消费者的需求，其生产厂商生产的电子产品也各式各样，其中搭载单片机系统的电子产品也受到广泛的使用，其中电子产品中存在各种功能参数的设置，用户可对其电子产品的参数进行个性化的更改，以满足其使用需求，因此在对电子产品中的单片机系统进行参数更改后，其对更改后的参数进行保存为必不可少的一步。现有参数的保存方法中，存在写入flash时出现错误，或写入一半时断电等情况导致保存出错的问题，从而使得在后续需要用该参数时，没能得到准确的参数值或者丢失数据后而只能使用系统的默认值。因此在参数保存时需要对参数的准确性进行确定。现有参数的准确性的确定主要包括：在保存参数时，参数保存后就马上再读取出来判断是否跟刚才保存的数据一致的方法或者在保存的数据中增加数据的校验值，通过校验方法校验数据的准确性。然而其上述方案只能够保证在保存的那一刻，是正确的将数据写入了flash，但是无法保证后续的读取数据的正确性。同时，假如保存的时候断电了，数据就基本丢失，只能使用默认值。通过校验的方法中，虽然能够保证读取出来的数据是否准确；但是，假如保存的时候断电时，其数据也会丢失，只能使用默认值；因此在断电的情况下，其保存的数据会产生丢失，因此其保存的参数数据与真实需保存的参数数据之间存在比较大的偏差值。
技术实现思路
基于此，本专利技术实施例提出一种单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备，解决现有的单片机参数写入读取时准确性不高的问题。本专利技术实施例提供一种单片机参数处理方法，具体技术方案如下：一种单片机参数处理方法，所述方法包括：当对单片机的参数进行保存时，将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内；当对所述单片机的参数进行读取时，根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验；当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时，读取使用校验成功的区域内存储的参数信息，并将其写入至校验失败的区域内，以替换校验失败的区域内存储的参数信息。本专利技术实施例，通过在对单片机参数进行保存时，分别保存至第一区域和第二区域内，使得其第二区域可作为第一区域的备份区域，在对单片机参数进行读取时，通过采用预设校验规则进行校验使得可以确定出第一区域和第二区域内存储的参数信息是否完整，通过对第一区域和第二区域的参数信息的校验使得可减少读取错误的参数信息的可能性。同时通过设置的第一区域和第二区域，使得当其中一区域中写入的参数信息由于受到掉电等外界因素的影响导致的参数信息有误时，其可读取校验成功的另一区域内的参数信息，此时提高单片机的参数信息读取的准确性，解决现有的单片机参数写入读取时准确性不高的问题。同时通过将校验成功的另一区域内的参数信息写入至目标区域内，使得可实现对第一区域和第二区域内存储的参数信息的校对。进一步地，所述根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验的步骤之后，还包括：当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验成功时，将所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行比对；当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息一致时，对所述参数信息进行读取；当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息不一致时，读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息，并将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内。进一步地，所述根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验的步骤之后，还包括：当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验失败时，读取使用所述单片机的默认参数信息，并将所述默认参数依次写入至所述第一区域和所述第二区域。进一步地，所述将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内的步骤包括：将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域，并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第一区域内存储的所述参数信息进行读取校验；当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功时，将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域，并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第二区域内存储的所述参数信息进行读取校验；当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败时，继续将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域，直至所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功；当所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时，继续将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域，直至所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功。进一步地，所述读取使用校验成功的区域内存储的参数信息，并将其写入至校验失败的区域内的步骤包括：当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败，且所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功时，读取使用所述第二区域内存储的所述参数信息，且将所述第二区域内存储的所述参数信息写入至所述第一区域内；当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功，且所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时，读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息，且将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内。进一步地，所述预设校验规则为CRC校验规则。本专利技术的另一个实施例提出一种单片机参数处理系统，所述系统包括：保存模块，用于当对单片机的参数进行保存时，将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内；校验模块，用于当对所述单片机的参数进行读取时，根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验；第一读取模块，用于当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时，读取使用校验成功的区域内存储的参数信息，并将其写入至校验失败的区域内，以替换校验失败的区域内存储的参数信息。进一步地，所述系统还包括：比对模块，用于当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验成功时，将所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行比对；第二读取模块，用于当所述比对模块比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息一致时，对所述参数信息进行读取；第三读取模块，用于当所述比对模块比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息不一致时，读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息，并将所述第一区域内存储的所述参数写入至所述第二区域内；第四读取模块，用于当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验失败时，读取使用所述单片机的默认参数信息，并将所述默认参数依次写入至所述第一区域和所述第二区域。本专利技术的另一个实施例提出一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述实施例提出的方法的步骤。本专利技术的另一个实施例提出一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述实施例提出的方法的步骤。附图说明图1为本专利技术第一实施例提出的单片机参数处理方法的流程图。图2为本专利技术第二实施例提出的单片机参数处理方法的流程图。图3为本专利技术一实本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种单片机参数处理方法，其特征在于，所述方法包括：当对单片机的参数进行保存时，将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内；当对所述单片机的参数进行读取时，根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验；当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时，读取使用校验成功的区域内存储的参数信息，并将其写入至校验失败的区域内，以替换校验失败的区域内存储的参数信息。

【技术特征摘要】
1.一种单片机参数处理方法，其特征在于，所述方法包括：当对单片机的参数进行保存时，将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内；当对所述单片机的参数进行读取时，根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验；当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时，读取使用校验成功的区域内存储的参数信息，并将其写入至校验失败的区域内，以替换校验失败的区域内存储的参数信息。2.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法，其特征在于，所述根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验的步骤之后，还包括：当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验成功时，将所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行比对；当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息一致时，对所述参数信息进行读取；当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息不一致时，读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息，并将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内。3.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法，其特征在于，所述根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验的步骤之后，还包括：当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验失败时，读取使用所述单片机的默认参数信息，并将所述默认参数依次写入至所述第一区域和所述第二区域。4.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法，其特征在于，所述将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内的步骤包括：将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域，并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第一区域内存储的所述参数信息进行读取校验；当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功时，将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域，并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第二区域内存储的所述参数信息进行读取校验；当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败时，继续将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域，直至所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功；当所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时，继续将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域，直至所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功。5.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨伟庆，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，广州睿鑫电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44