一种新型阶梯式结构测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种新型阶梯式结构测试装置，包括装置机架，所述装置机架包括上层测试平台和下层测试平台，上层测试平台和下层测试平台构成一个阶梯式结构测试平台，上层测试平台包括上层扫码机构和上层测试机构，上层扫码机构设置在上层测试平台上方，上层扫码机构包括扫码体，且对准上层测试平台上的测试工位，上层测试机构设置在上层测试平台同一水平面上，上层测试机构包括测试端口，且对准上层测试平台上的测试工位；下层测试平台包括下层扫码机构和下层测试机构，下层扫码机构设置在下层测试平台上方，下层扫码机构包括扫码体，且对准下层测试平台上的测试工位，下层测试机构设置在下层测试平台同一水平面上，下层测试机构包括测试端口。

A new type of ladder type structure test device

The utility model discloses a new type of stepped structure testing device, which comprises a device rack. The device rack comprises an upper test platform and a lower test platform. The upper test platform and the lower test platform constitute a stepped structure testing platform. The upper test platform comprises an upper scanner and an upper test mechanism. The upper scanner is set above the upper test platform, and the upper scanner includes the scanner, and aligns with the test station on the upper test platform. The upper test mechanism is set on the same level of the upper test platform, and the upper test mechanism includes the test port, and aligns with the test station on the upper test platform. Layer test platform includes lower sweep mechanism and lower test mechanism. The lower sweep mechanism is set above the lower test platform. The lower sweep mechanism includes sweep code, and it is aimed at the test station on the lower test platform. The lower test mechanism is set on the same level of the lower test platform. The lower test mechanism includes test. Port.

【技术实现步骤摘要】
一种新型阶梯式结构测试装置
本技术属于自动化机械设备领域，具体涉及一种新型阶梯式结构测试装置。
技术介绍
在完成手机整机组装之后，需要对手机的各种功能进行测试，包括物理按键测试、虚拟按键测试、双击唤醒功能测试、NFC卡模式测试、手机手电筒测试、OTG功能测试、FM测试、耳机按键测试、电声发送测试、电子罗盘测试、NFC读模式测试、光敏测试、触屏自检测试、屏亮度测试等等，保证手机各性能达到产品质量要求。现有技术中，上述测试项目大多为人工通过肉眼去判断，导致测试结果不准确。同时，现阶段，也有采用独立的测试设备分别对不同的测试项目进行测试，自动化程度低，大大的增加了人力及时间，由此导致了测试效率低下、人力成本高等缺陷。因此，研发出一种自动化程度高、测试准确、兼容多功能测试项的测试设备，显得较为迫切。
技术实现思路
本技术是针对现有技术中的不足，提供一种新型阶梯式结构测试装置，结构设计合理，稳定性高，将多种测试器件集成在同一在线测试设备中，提升测试器件的利用率，实现了快速多批量测试，同时保证提高测试结果准确度，减少机械设备分散化，提高测试效率，大大的减少了人力及时间，提高了测试效率，降低了人力成本。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：一种新型阶梯式结构测试装置，包括装置机架，所述装置机架包括上层测试平台和下层测试平台，所述上层测试平台和下层测试平台构成一个阶梯式结构测试平台，所述上层测试平台包括上层扫码机构和上层测试机构，所述上层扫码机构设置在上层测试平台上方，所述上层扫码机构包括扫码体，且对准上层测试平台上的测试工位，所述上层测试机构设置在上层测试平台同一水平面上，所述上层测试机构包括测试端口，且对准上层测试平台上的测试工位；所述下层测试平台包括下层扫码机构和下层测试机构，所述下层扫码机构设置在下层测试平台上方，所述下层扫码机构包括扫码体，且对准下层测试平台上的测试工位，所述下层测试机构设置在下层测试平台同一水平面上，所述下层测试机构包括测试端口，且对准下层测试平台上的测试工位。作为本技术进一步优选，所述上层扫码机构和下层扫码机构还包括刻度杆，所述刻度杆设置在扫码机构上，所述扫码机构上的扫码体穿设在该刻度杆上。作为本技术进一步优选，所述扫码体外侧设置旋转角度刻度值。作为本技术进一步优选，所述测试工位是由多个测试治具围设而成的一个能够供手机放置的测试腔。作为本技术进一步优选，所述上层测试平台和下层测试平台还包括状态灯，所述状态灯对应设置在每个测试工位，且与测试机构电连接。作为本技术进一步优选，所述测试装置还包括感应器组件，所述感应器组件设置在测试平台上，所述感应器组件包括产品感应器与测试载具感应器。作为本技术进一步优选，所述测试装置还包括显示器，所述显示器设置在上层扫码机构的上方。本技术的有益效果为：结构设计合理，稳定性高，将多种测试器件集成在同一在线测试设备中，提升测试器件的利用率，实现了快速多批量测试，同时保证提高测试结果准确度，减少机械设备分散化，提高测试效率，大大的减少了人力及时间，提高了测试效率，降低了人力成本。为更清楚地阐述本技术的结构特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对其进行详细说明。附图说明图1所示为本技术新型阶梯式结构测试装置结构示意图；图2所述为图1中的局部放大图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。参阅附图1至附图2。本实施例提供的一种新型阶梯式结构测试装置，包括装置机架1，装置机架1包括上层测试平台2和下层测试平台3，上层测试平台2和下层测试平台3构成一个阶梯式结构测试平台，上层测试平台2包括上层扫码机构4和上层测试机构5，上层扫码机构4设置在上层测试平台2上方，上层扫码机构4包括扫码体9，且对准上层测试平台2上的测试工位，上层测试机构5设置在上层测试平台2同一水平面上，上层测试机构5包括测试端口10，且对准上层测试平台2上的测试工位；下层测试平台3包括下层扫码机构6和下层测试机构7，下层扫码机构6设置在下层测试平台3上方，下层扫码机构6包括扫码体9，且对准下层测试平台3上的测试工位，下层测试机构7设置在下层测试平台3同一水平面上，下层测试机构7包括测试端口10，且对准下层测试平台3上的测试工位。本实施例测试装置，上层扫码机构4和下层扫码机构6还包括刻度杆8，刻度杆8设置在扫码机构上，扫码机构上的扫码体9穿设在该刻度杆8上。本实施例测试装置，扫码体9外侧设置旋转角度刻度值。本实施例测试装置，测试工位是由多个测试治具11围设而成的一个能够供手机放置的测试腔。本实施例测试装置，上层测试平台2和下层测试平台3还包括状态灯，所述状态灯12对应设置在每个测试工位，且与测试机构电连接。本实施例测试装置，测试装置还包括感应器组件，感应器组件设置在测试平台上，所述感应器组件包括产品感应器与测试载具感应器。本实施例测试装置，测试装置还包括显示器13，显示器设置在上层扫码机构4的上方。本新型阶梯式结构测试装置结构设计合理，稳定性高，将多种测试器件集成在同一在线测试设备中，提升测试器件的利用率，实现了快速多批量测试，同时保证提高测试结果准确度，减少机械设备分散化，提高测试效率，大大的减少了人力及时间，提高了测试效率，降低了人力成本。以上所述，仅是本技术的较佳实施例而已，并非对本技术作任何形式上的限制。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本技术技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和
技术实现思路
对本技术技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。故凡是未脱离本技术技术方案的内容，依据本技术之形状、构造及原理所作的等效变化，均应涵盖于本技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型阶梯式结构测试装置，包括装置机架，其特征在于，所述装置机架包括上层测试平台和下层测试平台，所述上层测试平台和下层测试平台构成一个阶梯式结构测试平台，所述上层测试平台包括上层扫码机构和上层测试机构，所述上层扫码机构设置在上层测试平台上方，所述上层扫码机构包括扫码体，且对准上层测试平台上的测试工位，所述上层测试机构设置在上层测试平台同一水平面上，所述上层测试机构包括测试端口，且对准上层测试平台上的测试工位；所述下层测试平台包括下层扫码机构和下层测试机构，所述下层扫码机构设置在下层测试平台上方，所述下层扫码机构包括扫码体，且对准下层测试平台上的测试工位，所述下层测试机构设置在下层测试平台同一水平面上，所述下层测试机构包括测试端口，且对准下层测试平台上的测试工位。

【技术特征摘要】
1.一种新型阶梯式结构测试装置，包括装置机架，其特征在于，所述装置机架包括上层测试平台和下层测试平台，所述上层测试平台和下层测试平台构成一个阶梯式结构测试平台，所述上层测试平台包括上层扫码机构和上层测试机构，所述上层扫码机构设置在上层测试平台上方，所述上层扫码机构包括扫码体，且对准上层测试平台上的测试工位，所述上层测试机构设置在上层测试平台同一水平面上，所述上层测试机构包括测试端口，且对准上层测试平台上的测试工位；所述下层测试平台包括下层扫码机构和下层测试机构，所述下层扫码机构设置在下层测试平台上方，所述下层扫码机构包括扫码体，且对准下层测试平台上的测试工位，所述下层测试机构设置在下层测试平台同一水平面上，所述下层测试机构包括测试端口，且对准下层测试平台上的测试工位。2.根据权利要求1所述的新型阶梯式结构测试装置，其特征在于，所述上层...

【专利技术属性】
技术研发人员：李炎林，邓建荣，蓝文俊，
申请(专利权)人：广东每通测控科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44