过压保护单元、方法、采样模组、像素电路和显示装置制造方法及图纸

技术编号:19145588 阅读:21 留言:0更新日期:2018-10-13 09:31
本发明专利技术提供一种过压保护单元、方法、采样模组、像素电路和显示装置。过压保护单元包括比较子电路和输出控制子电路;所述比较子电路分别接入预定最大电压和实际采样电压,所述比较子电路用于比较所述预定最大电压和所述实际采样电压,并当比较得到所述预定最大电压大于所述实际采样电压时向所述输出控制子电路输出导通控制信号,当比较得到所述预定最大电压小于所述实际采样电压时向所述输出控制子电路输出截止控制信号;所述输出控制子电路与所述比较子电路连接,并接入所述实际采样电压,用于当接收到所述导通控制信号时输出所述实际采样电压,并当接收到所述截止控制信号时不输出所述实际采样电压。本发明专利技术可以防止过压击穿的现象发生。

Overvoltage protection unit, method, sampling module, pixel circuit and display device

The invention provides an overvoltage protection unit, a method, a sampling module, a pixel circuit and a display device. The overvoltage protection unit comprises a comparison subcircuit and an output control subcircuit; the comparison subcircuit is connected to a predetermined maximum voltage and an actual sampling voltage respectively, and the comparison subcircuit is used to compare the predetermined maximum voltage with the actual sampling voltage, and when the comparison is made, the predetermined maximum voltage is greater than the actual sampling voltage. A turn-on control signal is output to the output control sub-circuit at voltage, and a cut-off control signal is output to the output control sub-circuit when the predetermined maximum voltage is less than the actual sampling voltage is obtained by comparison; the output control sub-circuit is connected to the comparison sub-circuit and is connected to the actual sampling voltage for use when The actual sampling voltage is output when the on-control signal is received, and the actual sampling voltage is not output when the cut-off control signal is received. The invention can prevent overvoltage breakdown.

【技术实现步骤摘要】
过压保护单元、方法、采样模组、像素电路和显示装置
本专利技术涉及过压保护
,尤其涉及一种过压保护单元、方法、采样模组、像素电路和显示装置。
技术介绍
现有的像素电路包括发光元件、数据写入模块、存储电容模块、驱动模块和补偿控制模块。所述数据写入模块用于在第一扫描线的控制下,控制导通或断开数据线与驱动模块的控制端之间的连接;驱动模块的第一端与电源电压端连接,驱动模块的第二端与所述发光元件连接;所述存储电容模块的第一端与所述驱动模块的控制端连接,所述存储电容模块的第二端与所述驱动模块的第二端连接;所述补偿控制模块的控制端与第二扫描线连接,所述补偿控制模块的第一端与所述驱动模块的第二端连接,所述补偿控制模块的第二端与所述感测线连接,所述补偿控制模块用于在所述第二扫描线的控制下控制导通或断开所述驱动模块的第二端与所述感测线之间的连接。在显示面板制造过程中或者显示面板点亮的过程中,由于线路之间可能出现的某种短接,以至于感测线上的电压超过模数转换器的最大工作电压,那么就可能对数模转换器造成不可恢复的致命损害,以致显示面板不能正常显示画面。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种过压保护单元、方法、采样模组、像素电路和显示装置,解决现有技术中感测线上的电压超过模数转换器的最大工作电压,那么就可能对数模转换器造成不可恢复的致命损害,以致显示面板不能正常显示画面的问题。为了达到上述目的,本专利技术提供了一种过压保护单元,包括比较子电路和输出控制子电路;所述比较子电路分别接入预定最大电压和实际采样电压,所述比较子电路用于比较所述预定最大电压和所述实际采样电压,并当比较得到所述预定最大电压大于所述实际采样电压时向所述输出控制子电路输出导通控制信号,当比较得到所述预定最大电压小于所述实际采样电压时向所述输出控制子电路输出截止控制信号;所述输出控制子电路与所述比较子电路连接,并接入所述实际采样电压,用于当接收到所述导通控制信号时输出所述实际采样电压,并当接收到所述截止控制信号时不输出所述实际采样电压。实施时,所述比较子电路包括比较器;所述比较器的第一输入端接入所述预定最大电压,所述比较器的第二输入端接入所述实际采样电压,所述比较器的输出端与所述输出控制子电路连接;所述导通控制信号为第一电压信号,所述截止控制信号为第二电压信号。实施时,所述输出控制子电路包括反相器和传输门;所述反相器的输入端与所述比较器的输出端连接,所述反相器的输出端与所述传输门的第一控制端连接;所述反相器用于对其输入端接入的电压信号进行反相,并通过该反相器的输出端输出反相后的电压信号;所述传输门的第二控制端与所述比较器的输出端连接,所述传输门的输入端接入所述实际采样电压;所述传输门用于在所述比较器通过其输出端输出所述第一电压信号时,通过该传输门的输出端输出所述实际采样电压,并用于在所述比较器通过其输出端输出所述第二电压信号时,不输出所述实际采样电压。实施时,所述第一输入端为正相输入端,所述第二输入端为反相输入端,所述第一电压信号为高电压信号,所述第二电压信号为低电压信号,所述第一控制端为反相控制端,所述第二控制端为正相控制端。实施时,所述第一输入端为反相输入端,所述第二输入端为正相输入端,所述第一电压信号为低电压信号,所述第二电压信号为高电压信号,所述第一控制端为正相控制端,所述第二控制端为反相控制端。实施时,所述输出控制子电路包括输出控制晶体管;所述输出控制晶体管的栅极与所述比较器的输出端连接,所述输出控制晶体管的第一极接入所述实际采样电压;所述输出控制晶体管用于在所述比较器通过其输出端输出所述第一电压信号时导通,以通过该输出控制晶体管的第二极输出所述实际采样电压,并用于在所述比较器通过其输出端输出所述第二电压信号时截止,以不输出所述实际采样电压。实施时,所述第一输入端为正相输入端,所述第二输入端为反相输入端,所述第一电压信号为高电压信号,所述第二电压信号为低电压信号,所述输出控制晶体管为N型晶体管。实施时,所述第一输入端为反相输入端,所述第二输入端为正相输入端,所述第一电压信号为低电压信号,所述第二电压信号为高电压信号,所述输出控制晶体管为P型晶体管。本专利技术还提供了一种过压保护方法,应用于上述的过压保护单元,所述过压保护方法包括:比较子电路比较预定最大电压和实际采样电压,并当比较得到所述预定最大电压大于所述实际采样电压时向所述输出控制子电路输出导通控制信号,当比较得到所述预定最大电压小于所述实际采样电压时向所述输出控制子电路输出截止控制信号;当输出控制子电路接收到所述导通控制信号时输出所述实际采样电压,当所述输出控制子电路接收到所述截止控制信号时不输出所述实际采样电压。本专利技术还提供了一种采样模组,包括感测线,其特征在于,还包括上述的过压保护单元;所述过压保护单元包括比较子电路和输出控制子电路;所述感测线与所述比较子电路和所述输出控制子电路连接,用于向所述比较子电路和所述输出控制子电路发送所述实际采样电压。实施时,本专利技术所述的采样模组还包括处理子电路;所述处理子电路与所述输出控制子电路连接,用于当所述输出控制子电路接收到导通控制信号时接收所述实际采样电压,并对所述实际采样电压进行处理;所述比较子电路接入的预定最大电压为所述处理子电路的最大工作电压。实施时,所述处理子电路包括模数转换器,所述模数转换器用于当所述输出控制子电路接收到导通控制信号时接收所述实际采样电压,并对所述实际采样电压进行模数转换。本专利技术还提供了一种像素电路,所述像素电路包括像素驱动子电路和上述的采样模组;所述像素驱动子电路与和所述采样模组包括的感测线连接。实施时,本专利技术所述的像素电路还包括发光元件,所述像素驱动子电路包括数据写入模块、存储电容模块、驱动模块和补偿控制模块;所述数据写入模块的控制端与第一扫描线连接,所述数据写入模块的第一端与数据线连接,所述数据写入模块的第二端与所述驱动模块的控制端连接,所述数据写入模块用于在所述第一扫描线的控制下,控制导通或断开所述数据线与所述驱动模块的控制端之间的连接;所述驱动模块的第一端与电源电压端连接,所述驱动模块的第二端与所述发光元件连接;所述驱动模块用于在其控制端的控制下控制导通或断开所述电源电压端与所述发光元件之间的连接;所述存储电容模块的第一端与所述驱动模块的控制端连接,所述存储电容模块的第二端与所述驱动模块的第二端连接;所述补偿控制模块的控制端与第二扫描线连接,所述补偿控制模块的第一端与所述驱动模块的第二端连接,所述补偿控制模块的第二端与所述感测线连接,所述补偿控制模块用于在所述第二扫描线的控制下控制导通或断开所述驱动模块的第二端与所述感测线之间的连接。本专利技术还提供了一种显示装置,包括上述的像素电路。与现有技术相比,本专利技术所述的过压保护单元、方法、采样模组、像素电路和显示装置通过比较子电路比较实际采样电压和预定最大电压,当该实际采样电压小于预定最大电压时才控制输出控制子电路输出该实际采样电压,从而可以防止过压击穿的现象发生。附图说明图1是本专利技术实施例所述的过压保护单元的结构图;图2是本专利技术所述的过压保护单元的第一具体实施例的电路图;图3是本专利技术所述的过压保护单元的第二具体实施例的电路图;图4是本专利技术所述的过压保护单元的第三具体实施例的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种过压保护单元,其特征在于,包括比较子电路和输出控制子电路;所述比较子电路分别接入预定最大电压和实际采样电压,所述比较子电路用于比较所述预定最大电压和所述实际采样电压,并当比较得到所述预定最大电压大于所述实际采样电压时向所述输出控制子电路输出导通控制信号,当比较得到所述预定最大电压小于所述实际采样电压时向所述输出控制子电路输出截止控制信号;所述输出控制子电路与所述比较子电路连接,并接入所述实际采样电压,用于当接收到所述导通控制信号时输出所述实际采样电压,并当接收到所述截止控制信号时不输出所述实际采样电压。

【技术特征摘要】
1.一种过压保护单元,其特征在于,包括比较子电路和输出控制子电路;所述比较子电路分别接入预定最大电压和实际采样电压,所述比较子电路用于比较所述预定最大电压和所述实际采样电压,并当比较得到所述预定最大电压大于所述实际采样电压时向所述输出控制子电路输出导通控制信号,当比较得到所述预定最大电压小于所述实际采样电压时向所述输出控制子电路输出截止控制信号;所述输出控制子电路与所述比较子电路连接,并接入所述实际采样电压,用于当接收到所述导通控制信号时输出所述实际采样电压,并当接收到所述截止控制信号时不输出所述实际采样电压。2.如权利要求1所述的过压保护单元,其特征在于,所述比较子电路包括比较器;所述比较器的第一输入端接入所述预定最大电压,所述比较器的第二输入端接入所述实际采样电压,所述比较器的输出端与所述输出控制子电路连接;所述导通控制信号为第一电压信号,所述截止控制信号为第二电压信号。3.如权利要求1所述的过压保护单元,其特征在于,所述输出控制子电路包括反相器和传输门;所述反相器的输入端与所述比较器的输出端连接,所述反相器的输出端与所述传输门的第一控制端连接;所述反相器用于对其输入端接入的电压信号进行反相,并通过该反相器的输出端输出反相后的电压信号;所述传输门的第二控制端与所述比较器的输出端连接,所述传输门的输入端接入所述实际采样电压;所述传输门用于在所述比较器通过其输出端输出所述第一电压信号时,通过该传输门的输出端输出所述实际采样电压,并用于在所述比较器通过其输出端输出所述第二电压信号时,不输出所述实际采样电压。4.如权利要求3所述的过压保护单元,其特征在于,所述第一输入端为正相输入端,所述第二输入端为反相输入端,所述第一电压信号为高电压信号,所述第二电压信号为低电压信号,所述第一控制端为反相控制端,所述第二控制端为正相控制端。5.如权利要求3所述的过压保护单元,其特征在于,所述第一输入端为反相输入端,所述第二输入端为正相输入端,所述第一电压信号为低电压信号,所述第二电压信号为高电压信号,所述第一控制端为正相控制端,所述第二控制端为反相控制端。6.如权利要求1所述的过压保护单元,其特征在于,所述输出控制子电路包括输出控制晶体管;所述输出控制晶体管的栅极与所述比较器的输出端连接,所述输出控制晶体管的第一极接入所述实际采样电压;所述输出控制晶体管用于在所述比较器通过其输出端输出所述第一电压信号时导通,以通过该输出控制晶体管的第二极输出所述实际采样电压,并用于在所述比较器通过其输出端输出所述第二电压信号时截止,以不输出所述实际采样电压。7.如权利要求6所述的过压保护单元,其特征在于,所述第一输入端为正相输入端,所述第二输入端为反相输入端,所述第一电压信号为高电压信号,所述第二电压信号为低电压信号,所述输出控制晶体管为N型晶体管。8.如权利要求6所述的过压保护单元,其特征在于,所述第一输入端为反...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹春何敏
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司合肥鑫晟光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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