【技术实现步骤摘要】
使用存储器内置自测的存储器保护电路测试和存储器擦洗
本公开涉及数据处理系统的领域。更具体地,本公开涉及使用存储器内置自测电路的数据处理系统内的存储器保护电路和存储器擦洗的现场测试。
技术介绍
已知的是,提供了一种数据处理设备(例如,所谓的片上系统(SoC)设备),该数据处理设备具有各种不同形式的一个或多个存储器,用于存储待操作的数据值以及用于指定待执行的数据处理操作的程序指令。数据处理操作可以由诸如CPU(中央处理器)之类的所谓IP核心(可作为逻辑电路实现的单独许可的处理操作块)来执行。存储器的形式可以包括:例如主存储器、缓存存储器(包括例如,1级(L1)缓存、2级(L2)缓存等);用于存储指定虚拟-物理存储器地址转换和/或存储器许可数据的数据转换后备缓存器;以及存储用于数据处理系统内的其他用途的数据的存储器,例如用于分支预测的分支历史数据。已知在数据处理系统内提供存储器内置自测(MBIST)电路,用于对数据处理系统内的存储器执行存储器测试操作。这样的存储器内置自测电路可以被用来在数据处理系统的初始制造时执行初始测试和/或在数据处理系统的寿命期间执行连续测试时。识别存储器操作中的错误可以被用来触发适当的响应,例如,使存储器的相关部分不被使用,使得不会整体上损坏或减慢系统的操作。对检测到的错误的许多其他不同形式的响应也是可能的。在数据处理系统中也已知提供存储器保护电路,其用于在存储器的操作使用期间防止存储器中的错误。例如,可以使用错误校正码电路和/或奇偶校验码电路来存储与存储器内的存储的数据值相关联的错误校正码和/或奇偶校验位。然后可以使用这些错误校正码和/ ...
【技术保护点】
1.一种用于处理数据的装置,包括:存储器;存储器保护电路,用于提供到所述存储器的操作访问路径并且在所述存储器操作使用期间防止所述存储器中的错误;以及存储器内置自测电路,用于对所述存储器执行测试操作;其中所述存储器内置自测电路提供通过所述存储器保护电路到所述存储器的间接测试访问路径和绕过所述存储器保护电路到所述存储器的直接测试访问路径。
【技术特征摘要】
2017.03.23 US 15/467,0421.一种用于处理数据的装置,包括:存储器;存储器保护电路,用于提供到所述存储器的操作访问路径并且在所述存储器操作使用期间防止所述存储器中的错误;以及存储器内置自测电路,用于对所述存储器执行测试操作;其中所述存储器内置自测电路提供通过所述存储器保护电路到所述存储器的间接测试访问路径和绕过所述存储器保护电路到所述存储器的直接测试访问路径。2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述存储器在所述操作使用期间存储至少一个保护数据值和相关联的保护码值,该相关联的保护码值由所述存储器保护电路生成并且基于所述保护数据值。3.根据权利要求2所述的装置,其中,所述保护码值包括奇偶校验值和错误校正码值中的一个。4.根据权利要求1所述的装置,其中,所述存储器保护电路执行检测错误和校正错误中的至少一者。5.根据权利要求2所述的装置,其中,所述存储器保护电路包括写入侧存储器保护电路,用于在所述操作使用期间将所述保护数据值写入所述存储器时,根据所述保护数据值生成所述相关联的保护码值。6.根据权利要求2所述的装置,其中,所述存储器保护电路包括读取侧存储器保护电路,用于在所述操作使用期间读取所述保护数据值时,使用所述保护码值来执行检测所述保护数据值中的错误和校正所述保护数据值中的错误中的至少一者。7.根据权利要求2所述的装置,其中,所述直接测试访问路径允许所述存储器内置自测电路在所述测试操作期间执行以下中的至少一者:将测试保护数据值和独立于所述测试保护数据值的测试保护码值写入所述存储器中;以及从所述存储器中读取存储在所述存储器中的所述测试保护数据值和所述测试保护码值。8.根据权利要求2所述的装置,其中,所述间接测试访问路径允许所述存储器内置自测电路在所述测试操作期间通过所述存储器保护电路将以下各项写入所述存储器中:(i)测试保护数据值;以及(ii)测试保护码值,该测试保护码值由所述存储器保护电路生成并且基于所述测试保护数据值。9.根据权利要求2所述的装置,其中,所述间接测试访问路径允许所述存储器内置自测电路在所述测试操作期间通过所述存储器保护电路从所述存储器读取以下中的至少一者:经受由所述存储器保护电路执行的任何错误校正的测试保护数据值;存储在所述存储器中的测试保护数据值;存储在所述存储器中的测试保护码值;错误检测值,其指示所述存储器保护电路检测到所述测试保护码值指示存储在所述存储器中的所述测试保护数据值内的至少一个错误;以及并发位值,其指示存储在所述存储器中的所述测试保护数据值内的一个或多个位位置,所述存储器保护电路在该一个或多个位位置处检测到错误。10.根据权利要求1所述的装置,包括至少一个存储器访问源,用于在所述存储器的所述操作使用期间生成对所述存储器的存储器访问,其中所述至少一个存储器访问源对所述存储器的访问在所述测试操作期间被阻止。11.根据权利要求10所述的装置,其中,所述至少一个存储器访问源在所述测试操作期间继续进行独立于对所述存储器的访问的操作。12.根据权利要求1所述的装置,包括多个存储器,所述多个存储器经受由所述存储器内置自测电路控制的测试操作。13.一种对存储器进行内置自测的方法,所述存储器具有存储器保护电路,所述存储器保护电路提供到所述存储器的操作访问路径并且在所述存储器操作使用期间防止所述存储器中的错误,所述方法包括:使用通过所述存储器保护电路的间接测试访问路径来访问所述存储器;以及使用绕过所述存储器保护电路的直接测试访问路径来访问所述存储器。14.根据权利要求13所述的方法,其中,所述存储器在所述操作使用期间存储至少一个保护数据值和相关联的保护码值,该相关联的保护码值由所述存储器保护电路生成并且基于所述保护数据值。15.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员:艾伦·杰里米·贝克尔,彼得·洛根·哈罗德,
申请(专利权)人:ARM有限公司,安谋科技中国有限公司,
类型:发明
国别省市:英国,GB
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