内嵌式触控显示装置以及相关测试系统与测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种内嵌式触控显示装置，具有触控显示区与周边区，内嵌式触控显示装置包括第一基板、第二基板、多条扫描线、多条数据线、多个触控电极以及多个基板连接垫。第二基板与第一基板相对设置。扫描线与数据线设置在第一基板上且位于触控显示区内。触控电极位于第一基板与第二基板之间，并位于触控显示区内。基板连接垫设置在第一基板上且位于周边区内，并且基板连接垫包括多个第一连接垫以及多个第二连接垫，第一连接垫分别与数据线的其中一条电连接，第二连接垫分别与触控电极的其中一个电连接。其中第一连接垫与第二连接垫分别都具有接合部以及延伸部，接合部的面积小于延伸部的面积。

【技术实现步骤摘要】
内嵌式触控显示装置以及相关测试系统与测试方法
本专利技术涉及一种内嵌式触控显示装置、内嵌式触控显示装置测试系统以及内嵌式触控显示装置测试方法，特别是涉及一种可供独立测试触控功能与显示功能的内嵌式触控显示装置、内嵌式触控显示装置测试系统以及内嵌式触控显示装置测试方法。
技术介绍
在各式电子产品中，显示屏幕已广泛的搭配使用触控组件而形成触控显示装置，藉此让使用户可直接与电子产品沟通而取代键盘与鼠标等传统输入设备，以缩减电子产品的体积并提升人机在沟通上的便利性，而现今产业目前致力于开发一种将触控组件设置在显示板中的内嵌式(in-cell)触控显示装置，以达到触控显示装置的最小化。然而，在内嵌式触控显示装置的制作过程中，仍会有因制作上的缺陷而导致内嵌式触控显示装置无法正常工作，因此须对内嵌式触控显示装置进行测试，目前一般常使用短路棒测试方法(shortingbar)或是薄膜晶体管开关测试方法(switchingTFT)并同时搭配外部的测试设备进行测试，但由于上述测试方法须额外多设置测试线路或测试薄膜晶体管，因此会影响内嵌式触控显示装置中电路的负载，进而影响内嵌式触控显示装置触控功能、显示功能以及产品的生产成本，其中在较大尺寸的内嵌式触控显示装置中影响尤甚，故仍须提供一种较佳的内嵌式触控显示装置的测试方法。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是现有技术中内嵌式触控显示装置的测试问题，本专利技术藉由提供具有特殊设计的基板连接垫的内嵌式触控显示装置以及对应的测试系统与测试方法，以解决上述技术问题。本专利技术提供一种内嵌式触控显示装置，其基板连接垫具有面积相较于接合部与芯片连接垫较大的延伸部，以提供与测试系统接触而电连接的空间，达到可独立探测电子组件以测试触控功能与显示功能的目的。本专利技术还提供一种内嵌式触控显示装置测试系统，其测试盘的导电针脚在测试时可对应接触本专利技术所提供的内嵌式触控显示面板的延伸部，以独立探测内嵌式触控显示装置的电子组件。本专利技术更提供一种内嵌式触控显示装置测试方法，其透过本专利技术的内嵌式触控显示装置测试系统对本专利技术的内嵌式触控显示装置进行触控显示测试，以独立探测内嵌式触控显示装置的电子组件，进行触控功能与显示功能的检测。为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种内嵌式触控显示装置，具有触控显示区与周边区，内嵌式触控显示装置包括第一基板、第二基板、多条扫描线、多条数据线、多个触控电极以及多个基板连接垫。第二基板与第一基板相对设置。扫描线与数据线设置在第一基板上且位于触控显示区内。触控电极位于第一基板与第二基板之间，并位于触控显示区内。基板连接垫设置在第一基板上且位于周边区内，并且基板连接垫包括多个第一连接垫以及多个第二连接垫，第一连接垫分别与数据线的其中一条电连接，第二连接垫分别与触控电极的其中一个电连接。其中第一连接垫与第二连接垫分别都具有接合部以及延伸部，接合部的面积小于延伸部的面积。另外，为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种内嵌式触控显示装置测试系统用来对内嵌式触控显示装置进行测试，其中内嵌式触控显示装置具有触控显示区与周边区，内嵌式触控显示装置包括第一基板；多条扫描线与多条数据线，设置在第一基板上且位于触控显示区内；多个触控电极，位于触控显示区内；以及多个基板连接垫，设置在第一基板上且位于周边区内，基板连接垫包括多个第一连接垫与多个第二连接垫，第一连接垫分别与数据线的其中一条电连接，第二连接垫分别与触控电极的其中一个电连接。内嵌式触控显示装置测试系统包括测试盘以及测试电路板。测试盘具有多个导电针脚，当进行测试时，测试盘是用来置放在内嵌式触控显示装置的周边区上，第一连接垫与第二连接垫分别与导电针脚的其中一个对应设置并相接触。测试电路板与导电针脚电连接。另外，为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种内嵌式触控显示装置的测试方法。首先，提供内嵌式触控显示装置，其中内嵌式触控显示装置具有触控显示区与周边区，内嵌式触控显示装置包括第一基板、多条扫描线、多条数据线、多个触控电极以及多个基板连接垫，扫描线与数据线设置在第一基板上且位于触控显示区内，触控电极位于触控显示区内，基板连接垫设置在第一基板上且位于周边区内，基板连接垫包括多个第一连接垫与多个第二连接垫，第一连接垫分别与数据线的其中一条电连接，且第二连接垫分别与多个触控电极的其中一个电连接。并且，提供内嵌式触控显示装置测试系统，其包括测试盘以及测试电路板，测试盘具有多个导电针脚，测试电路板与导电针脚电连接。然后，将测试盘置放在内嵌式触控显示装置的周边区上，使第一连接垫与第二连接垫分别与导电针脚的其中一个对应设置并相接触。其后，进行一触控显示测试，内嵌式触控显示装置测试系统对内嵌式触控显示装置提供测试信号，以测试触控功能与显示功能。为更进一步解决上述技术问题，本专利技术还可选择性地采用以下的
技术实现思路
。在前述内嵌式触控显示装置中，还可包括至少一集成电路芯片，设置在第一基板上且位于周边区内，集成电路芯片包括多个芯片连接垫，且接合部分别与对应的芯片连接垫重叠并且电连接。在前述内嵌式触控显示装置中，还可包括至少一集成电路芯片，设置在第一基板上且位于周边区内，集成电路芯片包括多个芯片连接垫，第一连接垫与第二连接垫分别与对应的芯片连接垫重叠并且电连接，其中第一连接垫的面积大于对应的芯片连接垫的面积，并且第二连接垫的面积大于对应的芯片连接垫的面积。在前述内嵌式触控显示装置中，基板连接垫还可包括多个第三连接垫，分别与扫描线的其中一条电连接，其中第三连接垫具有接合部以及延伸部，且接合部的面积小于延伸部的面积。在前述内嵌式触控显示装置中，还可包括液晶层，设置在第一基板与第二基板之间，触控电极设置在液晶层与第一基板之间或设置在液晶层与第二基板之间。在前述内嵌式触控显示装置中，还可包括至少一驱动电路，设置在第一基板上并位于第一基板与第二基板之间，驱动电路电连接扫描线，且基板连接垫还可包括多个第四连接垫，驱动电路电连接第四连接垫，其中第四连接垫具有接合部以及延伸部，且接合部的面积小于延伸部的面积。在前述内嵌式触控显示装置中，接合部与延伸部可分别为矩形。在前述内嵌式触控显示装置中，接合部的宽度可小于或等于延伸部的宽度。在前述内嵌式触控显示装置中，延伸部的长度可为300至1000微米，延伸部的宽度可为12至40微米。在前述内嵌式触控显示装置中，接合部的面积可为600至3000平方微米，延伸部的面积可为8000至20000平方微米。在前述内嵌式触控显示装置测试系统中，基板连接垫还包括多个第三连接垫，分别与扫描线的其中一条电连接，当进行测试时，第三连接垫与导电针脚的其中一个对应设置并相接触。在前述内嵌式触控显示装置测试系统中，内嵌式触控显示装置还包括至少一驱动电路，基板连接垫还包括多个第四连接垫，驱动电路电连接扫描线与第四连接垫，当进行测试时，第四连接垫与导电针脚的其中一个对应设置并相接触。在前述内嵌式触控显示装置测试系统中，第一连接垫与第二连接垫分别都具有一接合部以及一延伸部，且当进行测试时，导电针脚接触延伸部。在前述内嵌式触控显示装置测试系统中，测试盘可具有一字型、L字型或凹字型形状。在前述内嵌式触控显示装置的测试方法中，基板连接垫还包括多个第三连接垫，分别与扫描线的其中一个电连接，而当进行触本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种内嵌式触控显示装置，具有一触控显示区与一周边区，其特征在于，包括：一第一基板；一第二基板，与所述第一基板相对设置；多条扫描线与多条数据线，设置在所述第一基板上且位于所述触控显示区内；多个触控电极，位于所述第一基板与所述第二基板之间，并位于所述触控显示区内；以及多个基板连接垫，设置在所述第一基板上且位于所述周边区内，并且所述多个基板连接垫包括：多个第一连接垫，分别与所述多条数据线的其中一条电连接；以及多个第二连接垫，分别与所述多个触控电极的其中一个电连接；其中所述第一连接垫与所述第二连接垫分别都具有一接合部以及一延伸部，所述接合部的面积小于所述延伸部的面积。

【技术特征摘要】
1.一种内嵌式触控显示装置，具有一触控显示区与一周边区，其特征在于，包括：一第一基板；一第二基板，与所述第一基板相对设置；多条扫描线与多条数据线，设置在所述第一基板上且位于所述触控显示区内；多个触控电极，位于所述第一基板与所述第二基板之间，并位于所述触控显示区内；以及多个基板连接垫，设置在所述第一基板上且位于所述周边区内，并且所述多个基板连接垫包括：多个第一连接垫，分别与所述多条数据线的其中一条电连接；以及多个第二连接垫，分别与所述多个触控电极的其中一个电连接；其中所述第一连接垫与所述第二连接垫分别都具有一接合部以及一延伸部，所述接合部的面积小于所述延伸部的面积。2.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置，其特征在于，还包括至少一集成电路芯片，设置在所述第一基板上且位于所述周边区内，所述集成电路芯片包括多个芯片连接垫，且所述接合部分别与对应的所述芯片连接垫重叠并且电连接。3.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置，其特征在于，还包括至少一集成电路芯片，设置在所述第一基板上且位于所述周边区内，所述集成电路芯片包括多个芯片连接垫，所述第一连接垫与所述第二连接垫分别与对应的所述芯片连接垫重叠并且电连接，其中所述第一连接垫的面积大于对应的所述芯片连接垫的面积，并且所述第二连接垫的面积大于对应的所述芯片连接垫的面积。4.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置，其特征在于，所述多个基板连接垫还包括多个第三连接垫，分别与所述多条扫描线的其中一条电连接，其中所述第三连接垫具有一接合部以及一延伸部，且所述接合部的面积小于所述延伸部的面积。5.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置，其特征在于，还包括一液晶层，设置在所述第一基板与所述第二基板之间，所述触控电极设置在所述液晶层与所述第一基板之间或设置在所述液晶层与所述第二基板之间。6.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置，其特征在于，还包括至少一驱动电路，设置在所述第一基板上并位于所述第一基板与所述第二基板之间，所述驱动电路电连接所述扫描线，且所述多个基板连接垫还包括多个第四连接垫，所述驱动电路电连接所述第四连接垫，其中所述第四连接垫具有一接合部以及一延伸部，且所述接合部的面积小于所述延伸部的面积。7.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置，其特征在于，所述接合部与所述延伸部分别为矩形。8.如权利要求7所述的内嵌式触控显示装置，其特征在于，所述接合部的宽度小于或等于所述延伸部的宽度。9.如权利要求7所述的内嵌式触控显示装置，其特征在于，所述延伸部的长度为300至1000微米，所述延伸部的宽度为12至40微米。10.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置，其特征在于，所述接合部的面积为600至3000平方微米，所述延伸部的面积为8000至20000平方微米。11.一种内嵌式触控显示装置测试系统，用来对一内嵌式触控显示装置进行测试，其中所述内嵌式触控显示装置具有一触控显示区与一周边区，所述内嵌式触控显示装置包括一第一基板；多条扫描线与多条数据线，设置在所述第一基板上且位于所述触控显示区内；多个触控电极，位于所述触控显示区内；以及多个基板连接垫，设置在所述第一基板上且位于所述周边区内，所述多个基板连接垫包括多个第一连接垫与多个第二连接垫，各个所述第一连接垫分别与所述多条数据线的其中一条电连接，且各个所述第二连接垫分别与所述多个触控电极的其中一个电连接；所述内嵌式触...

【专利技术属性】
技术研发人员：李杏樱，林松君，蔡瑞鑫，
申请(专利权)人：南京瀚宇彩欣科技有限责任公司，瀚宇彩晶股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32