具自我检测功能的测试电路板及其自我检测方法技术

本发明专利技术公开一种具自我检测功能的测试电路板及其自我检测方法，通过联合测试工作组芯片以进行待测试电路板的检测以及测试电路板的自我检测，在自我测试通过时，再将第一联合测试工作组接口以及第二联合测试工作组接口通过控制器、数据多工器、开关芯片导通以串接测试电路板，藉此可以达成提供方便且快速解决串接联合测试工作组芯片自我故障检测的技术功效。

【技术实现步骤摘要】
具自我检测功能的测试电路板及其自我检测方法
本专利技术涉及一种测试电路板及其自我检测方法，尤其是指一种通过联合测试工作组芯片以进行待测试电路板的检测以及测试电路板的自我检测，在自我测试通过时，在将第一联合测试工作组接口以及第二联合测试工作组接口通过控制器、数据多工器、开关芯片导通以串接测试电路板的具自我检测功能的测试电路板及其自我检测方法。
技术介绍
在电路板测试检测技术中，采用边界扫描技术越来越广泛的应用，在实际使用边界扫描时，其中一种方式是将多个测试电路板串接在一起以形成一个联合测试工作组炼，以进行大量联合测试工作组接口的测试。在通过多个测试电路板串接在一起，是通过将联合测试工作组芯片的联合测试工作组信号串联在一起，即测试时钟(TestClock，TCK)以及测试模式选择(TestModeSelect，TMS)是采用并接方式，而测试数据输入(TestDataInput，TDI)以及测试数据输出(TestDataOutput，TDO)是采用串接方式，藉以形成一个联合测试工作组链，以进行大量联合测试工作组接口的测试。但若是在联合测试工作组炼中有联合测试工作组芯片出现故障时，在现有测试架构下将很难找出是哪一个联合测试工作组芯片出现故障，若是要确认故障的联合测试工作组芯片，必然会耗费庞大的检测时间方能找出出现故障的联合测试工作组芯片。综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在现有串接联合测试工作组芯片方式具有故障检测不便且费时的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。
技术实现思路
有鉴于现有技术存在现有串接联合测试工作组芯片方式具有故障检测不便且费时的问题，本专利技术遂揭露一种具自我检测功能的测试电路板及其自我测试方法，其中：本专利技术所揭露的具自我检测功能的测试电路板，其包含：第一联合测试工作组(JointTestActionGroup)接口、联合测试工作组芯片、控制器、数据多工器(multiplexer，MUX)、开关芯片、缓冲寄存器(Buffer)、第二联合测试工作组接口以及测试接口，其中，第一联合测试工作组接口包含第一测试时钟(TestClock，TCK)引脚、第一测试模式选择(TestModeSelect，TMS)引脚、第一测试数据输入(TestDataInput，TDI)引脚以及第一测试数据输出(TestDataOutput，TDO)引脚；以及第二联合测试工作组接口包含第二测试时钟引脚、第二测试模式选择引脚、第二测试数据输入引脚以及第二测试数据输出引脚。第一联合测试工作组接口是用以与联合测试工作组控制器或是其他的测试电路板电性连接；联合测试工作组芯片与第一测试时钟引脚、第一测试模式选择引脚以及第一测试数据输入引脚电性连接，联合测试工作组控制器控制联合测试工作组芯片以进行测试电路板的自我检测，以及当联合测试工作组芯片通过测试电路板的自我检测时产生通讯信号；控制器与联合测试工作组芯片电性连接；数据多工器与联合测试工作组芯片的数据输出引脚以及控制器电性连接，在预设设定中，第一测试数据输出引脚会通过数据多工器与联合测试工作组芯片的数据输出引脚电性连接；开关芯片与第一测试数据输出引脚、控制器、数据多工器电性连接；缓冲寄存器与第一测试时钟引脚以及第一测试模式选择引脚电性连接；第二联合测试工作组接口，用以与其他的测试电路板的第一联合测试工作组接口电性连接，第二测试时钟引脚以及第二测试模式选择引脚与缓冲寄存器电性连接，第二测试数据输入引脚与数据多工器电性连接，第二测试数据输出引脚与开关芯片电性连接；及测试接口分别与联合测试工作组芯片以及待测试电路板电性连接，联合测试工作组芯片通过测试接口以对待测试电路板的进行检测。当联合测试工作组芯片产生通讯信号时，控制器自联合测试工作组芯片接收通讯信号以生成选择信号(Select，SEL)，数据多工器依据选择信号导通第一测试数据输入引脚与第二测试数据输入引脚，开关芯片依据选择信号中断第一测试数据输出引脚与联合测试工作组芯片的数据输出引脚的电性连接，并导通第二测试数据输出引脚与联合测试工作组芯片的数据输出引脚，以使第一联合测试工作组接口以及第二联合测试工作组接口相互导通，并提供测试电路板彼此之间通过第一联合测试工作组接口以及第二联合测试工作组接口相互串接。本专利技术所揭露的具自我检测功能测试电路板的自我检测方法，其包含下列步骤：首先，提供包含有第一联合测试工作组(JointTestActionGroup)接口、联合测试工作组芯片、控制器、数据多工器(multiplexer，MUX)、开关芯片、缓冲寄存器(Buffer)、第二联合测试工作组接口以及测试接口的测试电路板；接着，第一联合测试工作组接口包含第一测试时钟(TestClock，TCK)引脚、第一测试模式选择(TestModeSelect，TMS)引脚、第一测试数据输入(TestDataInput，TDI)引脚以及第一测试数据输出(TestDataOutput，TDO)引脚；接着，第二联合测试工作组接口包含第二测试时钟引脚、第二测试模式选择引脚、第二测试数据输入引脚以及第二测试数据输出引脚；接着，第一联合测试工作组接口与联合测试工作组控制器或是其他的测试电路板的第二联合测试工作组接口电性连接；接着，联合测试工作组芯片与第一测试时钟引脚、第一测试模式选择引脚以及第一测试数据输入引脚电性连接；接着，控制器与联合测试工作组芯片电性连接；接着，数据多工器与联合测试工作组芯片的数据输出引脚以及控制器电性连接，在预设设定中，第一测试数据输出引脚会通过数据多工器与联合测试工作组芯片的数据输出引脚电性连接；接着，开关芯片与第一测试数据输出引脚、控制器、数据多工器电性连接；接着，缓冲寄存器与第一测试时钟引脚以及第一测试模式选择引脚电性连接；接着，第二测试时钟引脚以及第二测试模式选择引脚与缓冲寄存器电性连接，第二测试数据输入引脚与数据多工器电性连接，第二测试数据输出引脚与开关芯片电性连接；接着，测试接口分别与联合测试工作组芯片以及待测试电路板电性连接；接着，联合测试工作组控制器控制联合测试工作组芯片以通过测试接口以对待测试电路板的进行检测；接着，联合测试工作组控制器控制联合测试工作组芯片以进行测试电路板的自我检测；接着，当联合测试工作组芯片通过测试电路板的自我检测时产生通讯信号；接着，控制器自联合测试工作组芯片接收通讯信号以生成选择信号(Select，SEL)；最后，数据多工器依据选择信号中断第一测试数据输出引脚与联合测试工作组芯片的数据输出引脚的电性连接，并导通第二测试数据输入引脚与联合测试工作组芯片的数据输出引脚，开关芯片依据选择信号导通第一测试数据输出引脚与第二测试数据输出引脚，以使第一联合测试工作组接口以及第二联合测试工作组接口相互导通，并提供测试电路板彼此之间通过第一联合测试工作组接口以及第二联合测试工作组接口相互串接。本专利技术所揭露的测试电路板以及自我检测方法如上，与现有技术之间的差异在于本专利技术通过联合测试工作组芯片以进行待测试电路板的检测以及测试电路板的自我检测，在自我测试通过时，在将第一联合测试工作组接口以及第二联合测试工作组接口通过控制器、数据多工器、开关芯片导通以串接测试电路板。通过上述的技术手段，本专利技术可以达成提供方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种具自我检测功能的测试电路板，其特征在于，包含：一第一联合测试工作组接口，用以与联合测试工作组控制器或是其他的所述测试电路板电性连接，所述第一联合测试工作组接口包含一第一测试时钟引脚、一第一测试模式选择引脚、一第一测试数据输入引脚以及一第一测试数据输出引脚；一联合测试工作组芯片，所述联合测试工作组芯片与所述第一测试时钟引脚、所述第一测试模式选择引脚以及所述第一测试数据输入引脚电性连接，联合测试工作组控制器控制所述联合测试工作组芯片以进行所述测试电路板的自我检测，以及当所述联合测试工作组芯片通过所述测试电路板的自我检测时产生一通讯信号；一控制器，所述控制器与所述联合测试工作组芯片电性连接；一数据多工器，所述数据多工器与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚以及所述控制器电性连接，在预设设定中，所述第一测试数据输出引脚通过所述数据多工器与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚电性连接；一开关芯片，所述开关芯片与所述第一测试数据输出引脚、所述控制器、所述数据多工器电性连接；一缓冲寄存器，所述缓冲寄存器与所述第一测试时钟引脚以及所述第一测试模式选择引脚电性连接；一第二联合测试工作组接口，用以与其他的所述测试电路板的所述第一联合测试工作组接口电性连接，所述第二联合测试工作组接口包含一第二测试时钟引脚、一第二测试模式选择引脚、一第二测试数据输入引脚以及一第二测试数据输出引脚，所述第二测试时钟引脚以及所述第二测试模式选择引脚与所述缓冲寄存器电性连接，所述第二测试数据输入引脚与所述数据多工器电性连接，所述第二测试数据输出引脚与所述开关芯片电性连接；及一测试接口，所述测试接口分别与所述联合测试工作组芯片以及待测试电路板电性连接，所述联合测试工作组芯片通过所述测试接口以对待测试电路板的进行检测；其中，当所述联合测试工作组芯片产生所述通讯信号时，所述控制器自所述联合测试工作组芯片接收所述通讯信号以生成一选择信号，所述数据多工器依据所述选择信号中断所述第一测试数据输出引脚与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚的电性连接，并导通所述第二测试数据输入引脚与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚，所述开关芯片依据所述选择信号导通所述第一测试数据输出引脚与所述第二测试数据输出引脚，以使所述第一联合测试工作组接口以及所述第二联合测试工作组接口相互导通，并提供所述测试电路板彼此之间通过所述第一联合测试工作组接口以及所述第二联合测试工作组接口相互串接。...

【技术特征摘要】
1.一种具自我检测功能的测试电路板，其特征在于，包含：一第一联合测试工作组接口，用以与联合测试工作组控制器或是其他的所述测试电路板电性连接，所述第一联合测试工作组接口包含一第一测试时钟引脚、一第一测试模式选择引脚、一第一测试数据输入引脚以及一第一测试数据输出引脚；一联合测试工作组芯片，所述联合测试工作组芯片与所述第一测试时钟引脚、所述第一测试模式选择引脚以及所述第一测试数据输入引脚电性连接，联合测试工作组控制器控制所述联合测试工作组芯片以进行所述测试电路板的自我检测，以及当所述联合测试工作组芯片通过所述测试电路板的自我检测时产生一通讯信号；一控制器，所述控制器与所述联合测试工作组芯片电性连接；一数据多工器，所述数据多工器与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚以及所述控制器电性连接，在预设设定中，所述第一测试数据输出引脚通过所述数据多工器与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚电性连接；一开关芯片，所述开关芯片与所述第一测试数据输出引脚、所述控制器、所述数据多工器电性连接；一缓冲寄存器，所述缓冲寄存器与所述第一测试时钟引脚以及所述第一测试模式选择引脚电性连接；一第二联合测试工作组接口，用以与其他的所述测试电路板的所述第一联合测试工作组接口电性连接，所述第二联合测试工作组接口包含一第二测试时钟引脚、一第二测试模式选择引脚、一第二测试数据输入引脚以及一第二测试数据输出引脚，所述第二测试时钟引脚以及所述第二测试模式选择引脚与所述缓冲寄存器电性连接，所述第二测试数据输入引脚与所述数据多工器电性连接，所述第二测试数据输出引脚与所述开关芯片电性连接；及一测试接口，所述测试接口分别与所述联合测试工作组芯片以及待测试电路板电性连接，所述联合测试工作组芯片通过所述测试接口以对待测试电路板的进行检测；其中，当所述联合测试工作组芯片产生所述通讯信号时，所述控制器自所述联合测试工作组芯片接收所述通讯信号以生成一选择信号，所述数据多工器依据所述选择信号中断所述第一测试数据输出引脚与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚的电性连接，并导通所述第二测试数据输入引脚与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚，所述开关芯片依据所述选择信号导通所述第一测试数据输出引脚与所述第二测试数据输出引脚，以使所述第一联合测试工作组接口以及所述第二联合测试工作组接口相互导通，并提供所述测试电路板彼此之间通过所述第一联合测试工作组接口以及所述第二联合测试工作组接口相互串接。2.如权利要求1所述的具自我检测功能的测试电路板，其特征在于，联合测试工作组控制器是通过边界扫描技术对所述联合测试工作组芯片进行控制以对待测试电路板进行检测或是对所述测试电路板进行自我检测。3.如权利要求2所述的具自我检测功能的测试电路板，其特征在于，联合测试工作组控制器扫描所述联合测试工作组芯片的身份识别码以检测联合测试工作组边界扫描链的稳定性。4.如权利要求3所述的具自我检测功能的测试电路板，其特征在于，联合测试工作组控制器将归零所述联合测试工作组芯片的边界扫描链，读取所述联合测试工作组芯片的身份识别码并判断是否一致，通过边界扫描技术推送边界扫描样本以及大量数据并判断输出结果是否一致，以对所述测试电路板进行自我检测。5.如权利要求1所述的具自我检测功能的测试电路板，其特征在于，所述缓冲寄存器用以提供所述第一测试时钟引脚以及所述第一测试模式选择引脚与所述第二测试时钟引脚以及所述第二测试模式选择引脚之间信号的信号强度增强以及信号干扰抵抗，进一步防止其他测试电路板的信号反射影响。6.一种具自我检测功能测试电路板的自我...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋平，
申请(专利权)人：英业达科技有限公司，英业达股份有限公司，英业达集团天津电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31