一种高速扫频激光光源的扫频参数测量仪制造技术

本发明专利技术公开了一种高速扫频光源的扫频参数测量仪，包括：光源接收装置，所述光源接收装置用于接收被测高速扫频激光光源，且将所述被测高速扫频激光光源色散后出射；设置于所述光源接收装置出光光路上的狭缝挡板，所述狭缝挡板的狭缝处标有波长刻度；设置于所述狭缝挡板出光光路上的采集处理装置，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度，进而达到测量高速扫频激光光源的波长调谐范围和扫频速度的目的。

A scanning parameter measuring instrument for high speed swept laser source

The invention discloses a frequency sweeping parameter measuring instrument for a high-speed frequency sweeping light source, which comprises a light source receiving device for receiving a high-speed frequency sweeping laser light source to be measured, and a slit baffle arranged on the light path of the light source receiving device for receiving the high-speed frequency sweeping laser light source to be measured and emitting after dispersing the high-speed frequency sweeping laser light source to be measured. The slit of the slit baffle plate is marked with a wavelength scale, and the acquisition and processing device is arranged on the light path of the slit baffle plate. The acquisition and processing device collects the slit light emitted from the slit baffle plate, and determines the range of the slit light corresponding to the wavelength scale to determine the wavelength tuning standard of the high-speed sweep laser source under test. The scanning frequency at the preset wavelength in the wavelength tuning range collected by the acquisition and processing device is determined to be the sweeping speed of the high-speed sweeping laser source to be measured, thereby achieving the purpose of measuring the wavelength tuning range and sweeping speed of the high-speed sweeping laser source.

【技术实现步骤摘要】
一种高速扫频激光光源的扫频参数测量仪
本专利技术涉及光学相干层析成像系统的扫频光源领域，更为具体的说，涉及一种高速扫频光源的扫频参数测量仪。
技术介绍
光学相干层析成像是近年来迅速发展起来的一种成像技术，基于低相干干涉原理获得深度方向的层析能力，通过扫描可以重构出生物组织或材料内部结构的二维或三维图像，可进行活体组织显微镜结构的非接触式、非侵入性断层成像，已经在临床诊疗与科学研究中获得了广泛的应用。扫频激光器是光学相干层析成像系统的关键部件，扫频激光器的扫频速度决定系统的成像速度，扫频激光器的调谐范围决定轴向分辨率，如何测量扫频激光光源的波长调谐范围和扫频速度，具有重要的现实意义。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种高速扫频光源的扫频参数测量仪，通过将被测高速扫频激光光源色散后出射至狭缝挡板，而后采集狭缝挡板出射的狭缝光，且确定狭缝光对应波长刻度的范围为被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定采集处理装置采集波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为被测高速扫频激光光源的扫频速度，进而达到测量高速扫频激光光源的波长调谐范围和扫频速度的目的。为实现上述目的，本专利技术提供的技术方案如下：一种高速扫频激光光源的扫频参数测量仪，包括：光源接收装置，所述光源接收装置用于接收被测高速扫频激光光源，且将所述被测高速扫频激光光源色散后出射；设置于所述光源接收装置出光光路上的狭缝挡板，所述狭缝挡板的狭缝处标有波长刻度；设置于所述狭缝挡板出光光路上的采集处理装置，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度。可选的，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，包括：所述采集处理装置沿所述波长刻度自小至大方向采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，其中，在初次采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最小值，以及，在最后采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最大值，以此确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围。可选的，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，包括：所述采集处理装置沿所述波长刻度自大至小方向采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，其中，在初次采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最大值，以及，在最后采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最小值，以此确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围。可选的，分析所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度，包括：所述采集处理装置确定所述波长调谐范围后，采集所述波长调谐范围中预设波长处在所述被测高速扫频激光光源的相邻两次沿所述波长调谐范围的最小值至所述波长调谐范围的最大值变化过程的间隔时间的倒数，为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度。可选的，所述光源接收装置包括：光纤接口，所述光纤接口用于接收所述被测高速扫频激光光源；设置于所述光纤接口出光光路上的准直透镜，所述准直透镜用于将所述被测高速扫频激光光源准直；以及，设置于所述准直透镜出光光路上的光栅，所述光栅用于将所述被测高速扫频激光光源色散后出射。可选的，所述光栅为反射光栅。可选的，所述采集处理装置包括：光电传感器，所述光电传感器用于采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且转换为电信号输出；与所述光电传感器相连的高速数据采集卡，所述高速数据采集卡用于采集所述光电传感器输出的电信号；以及，与所述高速数据采集卡相连的工控机，所述工控机用于接收所述光电传感器输出的电信号，并确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度。可选的，所述光电传感器为硅光电探测器。可选的，所述狭缝挡板的波长刻度根据所述被测高速扫频激光光源色散后的出射角度标定。可选的，所述被测高速扫频激光光源由可调垂直腔面发射激光器提供。相较于现有技术，本专利技术提供的技术方案至少具有以下优点：本专利技术提供了一种高速扫频光源的扫频参数测量仪，包括：光源接收装置，所述光源接收装置用于接收被测高速扫频激光光源，且将所述被测高速扫频激光光源色散后出射；设置于所述光源接收装置出光光路上的狭缝挡板，所述狭缝挡板的狭缝处标有波长刻度；设置于所述狭缝挡板出光光路上的采集处理装置，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度。由上述内容可知，本专利技术提供的技术方案，通过将被测高速扫频激光光源色散后出射至狭缝挡板，而后采集狭缝挡板出射的狭缝光，且确定狭缝光对应波长刻度的范围为被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定采集处理装置采集波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为被测高速扫频激光光源的扫频速度，进而达到测量高速扫频激光光源的波长调谐范围和扫频速度的目的。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本申请实施例提供的一种高速扫频光源的扫频参数测量仪的结构示意图；图2为本申请实施例提供的另一种高速扫频光源的扫频参数测量仪的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。正如
技术介绍
所述，扫频激光器是光学相干层析成像系统的关键部件，扫频激光器的扫频速度决定系统的成像速度，扫频激光器的调谐范围决定轴向分辨率，如何测量扫频激光光源的波长调谐范围和扫频速度，具有重要的现实意义。基于此，本申请实施例提供了一种高速扫频光源的扫频参数测量仪，通过将被测高速扫频激光光源色散后出射至狭缝挡板，而后采集狭缝挡板出射的狭缝光，且确定狭缝光对应波长刻度的范围为被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定采集处理装置采集波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为被测高速扫频激光光源的扫频速度，进而达到测量高速扫频激光光源的波长调谐范围和扫频速度的目的。为实现上述目的，本申请实施例提供的技术方案如下，具体结合图1和图2对本申请实施例提供的技术方案进行详细的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高速扫频激光光源的扫频参数测量仪，其特征在于，包括：光源接收装置，所述光源接收装置用于接收被测高速扫频激光光源，且将所述被测高速扫频激光光源色散后出射；设置于所述光源接收装置出光光路上的狭缝挡板，所述狭缝挡板的狭缝处标有波长刻度；设置于所述狭缝挡板出光光路上的采集处理装置，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度。

【技术特征摘要】
1.一种高速扫频激光光源的扫频参数测量仪，其特征在于，包括：光源接收装置，所述光源接收装置用于接收被测高速扫频激光光源，且将所述被测高速扫频激光光源色散后出射；设置于所述光源接收装置出光光路上的狭缝挡板，所述狭缝挡板的狭缝处标有波长刻度；设置于所述狭缝挡板出光光路上的采集处理装置，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度。2.根据权利要求1所述的高速扫频激光光源的扫频参数测量仪，其特征在于，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，包括：所述采集处理装置沿所述波长刻度自小至大方向采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，其中，在初次采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最小值，以及，在最后采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最大值，以此确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围。3.根据权利要求1所述的高速扫频激光光源的扫频参数测量仪，其特征在于，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，包括：所述采集处理装置沿所述波长刻度自大至小方向采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，其中，在初次采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最大值，以及，在最后采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最小值，以此确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围。4.根据权利要求1所述的高速扫频激光光源的扫频参数测...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹军胜，任绍敬，孙振宇，宁永强，高志坚，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：吉林,22